一種鐵磁共振參數測量用的測試夾具的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種鐵磁共振參數測量用的測試夾具，包括外殼，測試接頭以及固定于外殼內的共面波導，所述外殼的頂面具有一個對被測樣品進行定位的測試孔，其左右兩個側面各形成有一用于安裝測試接頭的安裝孔，其前側面具有一用于固定測試探頭的固定槽；所述測試接頭的內導體穿過外殼的安裝孔與外殼內的共面波導的內導體接觸連接；所述共面波導包括信號線以及平行設于其兩側的兩根接地線，所述信號線的中間段呈倒S型，且中間倒S段的信號線的寬度為0.25mm，信號線兩端的線寬為0.4mm，信號線與接地線的距離為0.1mm，所述共面波導的兩端還設有實現共面波導到同軸電纜的轉換轉的接插頭。具有結構小巧、易于有效固定等特定，進一步提升了測量靈敏度。
【專利說明】 一種鐵磁共振參數測量用的測試夾具
【技術領域】
[0001 ] 本實用新型涉及一種鐵磁共振參數測量用的測試夾具。
【背景技術】
[0002]固體在恒定磁場和微波場的共同作用下，在某一頻率附近會產生對微波場的共振吸收現象。鐵磁測試裝置在測量鐵磁材料的共振參數時，需要通過測試夾具使得待測樣品實現精準定位，整個夾具固定于磁場中，并提供激勵信號的輸入接口和響應信號的輸出接口，且實現測試中信號傳輸的共面波導要求靈敏度高，駐波比?。还裁娌▽⒉ㄍ凡挥绊憸y試磁場。然而，現有的測試夾具，結構較為復雜，不易固定，從而導致測量靈敏度不高。實用新型內容
[0003]本實用新型的目的在于克服現有技術的不足，提供一種結構小巧，易于固定，且具有高測量靈敏度的用于測量鐵磁共振參數用的測試夾具。
[0004]為實現上述目的，本實用新型通過以下技術方案實現:
[0005]一種鐵磁共振參數測量用的測試夾具，包括外殼，測試接頭以及固定于外殼內的共面波導，所述外殼的頂面具有一個對被測樣品進行定位的測試孔，其左右兩個側面各形成有一用于安裝測試接頭的安裝孔，其前側面具有一用于固定測試探頭的固定槽；所述測試接頭的內導體穿過外殼的安裝孔與外殼內的共面波導的內導體接觸連接；所述共面波導包括信號線以及平行設于其兩側的兩根接地線，所述信號線的中間段呈倒S型，且中間倒S段的信號線的寬度為0.25mm，信號線兩端的線寬為0.4mm,信號線與接地線的距離為
0.1mm，所述共面波導的兩端還設有實現共面波導到同軸電纜的轉換轉的接插頭。
[0006]優(yōu)選的是:所述信號線為特性阻抗為50 Ω的共面波導微帶線。
[0007]優(yōu)選的是:所述共面波導的基片為厚度0.3mm的聞阻GaAs基片。
[0008]優(yōu)選的是:所述共面波導的基片表面鍍有金層。
[0009]優(yōu)選的是:所述測試接頭為SMA接頭。
[0010]優(yōu)選的是:所述測試接頭通過一連接座安裝于外殼的安裝孔處，所述連接座呈倒L型，包括相互垂直的水平座和豎直座，所述豎直座端面的中心處設有一供測試接頭的內導體穿過的導體孔，所述豎直座的內側面上還設有一縱向卡槽。
[0011]優(yōu)選的是:所述連接座為銅連接座，且其表面鍍有銀層。
[0012]優(yōu)選的是:所述外殼包括頂板、前板、后板以及底座，所述底座由一相互垂直的水平塊和豎直塊構成的T型塊以及對稱設于水平塊下方、豎直塊兩側的一對階梯塊組合而成，所述共面波導固定于T型塊的頂面上，且所述T型塊的寬度小于階梯塊的寬度；所述前、后板分別通過緊固件設置于階梯塊的第一階梯面上，所述前板對應于T型塊的豎直塊處，從底部垂直向上設有一與豎直塊尺寸相適配的縱向開口 ；所述頂板的中心處設有一貫穿頂板上下表面的測試孔，且頂板下表面沿其長度方向在左右兩端還各向下形成一凸塊，使得連接后的外殼的左右兩個側面上各形成一用于安裝測試接頭的安裝孔。
[0013]優(yōu)選的是:所述測試夾具還包括設于第一階段面上方、水平塊兩側的、用于固定共面波導的夾片和夾片座，所述夾片座的上表面向下形成有一用于放置夾片的沉臺，所述夾片座的相對與水平塊外側面上還設有一與縱向卡槽相適配的卡塊。
[0014]優(yōu)選的是:所述測量夾具上設有屏蔽共面波導及所在的高頻板材部分，降低測試噪聲的屏蔽銅盒。
[0015]本實用新型的有益效果在于，本實用新型的測試夾具具有結構小巧、易于有效固定等特定，應用于鐵磁共振參數測試時，由于共面波導信號線的特定形狀，不僅保證了微波接頭與信號線阻抗的良好匹配，而且進一步提升了測量靈敏度。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]圖1示出了本實用新型所述測試夾具的外形圖，其中，圖1a為測試夾具的正視圖，圖1b為測試夾具的后視圖；
[0017]圖2示出了本實用新型所述測試夾具的分解示意圖；
[0018]圖3示出了本實用新型所述測試夾具去除外殼后的內部結構示意圖；
[0019]圖4示出了本實用新型所述測試夾具中共面波導電路板的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0020]下面結合附圖對本實用新型的【具體實施方式】做進一步說明。
[0021]如圖1-圖4所示，本實用新型所述的鐵磁共振參數測量用的測試夾具，包括外殼1，測試接頭2以及固定于外殼I內的共面波導3，其中，所述外殼I由頂板11、前板12、后板13及底座14通過緊固件如螺釘連接固定而成，所述底座14由一相互垂直的水平塊和豎直塊構成的T型塊141以及對稱設于水平塊下方、豎直塊兩側的一對階梯塊142組合而成，且所述T型塊141的寬度小于階梯塊142的寬度，所述前、后板分別通過螺釘設置于階梯塊142的第一階梯面1421上,所述前板11對應于T型塊141的豎直塊處,從底部垂直向上設有一與豎直塊尺寸相適配的縱向開口 121，從而使得連接后的外殼I的前側面形成有一用于固定測試探頭的固定槽，所述頂板11的中心處設有一貫穿頂板11上下表面的測試孔111，頂板11下表面沿其長度方向在左右兩端還各向下形成一凸塊112，使得連接后的外殼I的左右兩個側面上各形成一用于安裝測試接頭的安裝孔，即:所述外殼I通過緊固件如螺釘將頂板11、前板12、后板13及底座14對應連接完成后，外殼I的頂面具有一對被測樣品進行精準定位的測試孔111，左右兩個側面各具有一安裝孔，其前側面形成一用于固定測試探頭的固定槽。
[0022]所述測試接頭2優(yōu)選SMA接頭，本實用新型中共設置有I對，分別通過連接座21設置于外殼I的安裝孔處，所述連接座21為倒L型，包括相互垂直的水平座211和豎直座212，其中，所述豎直座212端面的中心處設有一供測試接頭2的內導體穿過的導體孔，所述豎直座212的內側面上還設有一縱向卡槽(圖中未示出)。本實施例中，SMA接頭的內導體穿過豎直座212上的導體孔與共面波導3接頭的內導體接觸連接，并通過緊固件例如螺釘將SMA接頭與連接座21相固定。
[0023]共面波導3設于兩連接座21之間，并通過螺釘固定于底座14的T型塊141的上頂面上，其兩端裝有轉接插頭，實現共面波導到同軸電纜的轉換，用于傳輸激勵信號和響應信號。如圖4所示，所述共面波導3選用厚度為0.3mm的高阻GaAs作為基片，以降低測試噪聲，采用微細加工工藝通過制備；包括信號線31以及平行設于其兩側的兩根接地線32，所述信號線31優(yōu)選特性阻抗為50 Ω的共面波導微帶線，并通過接地線33將電路板正反面的地可靠地連接起來，以達到較好的屏蔽效果，本實施例中，為保證微波接頭與信號線阻抗的匹配良好，對信號線31采用多次平滑加寬，信號線31兩端的線寬0.4mm ;為增強信號強度及靈敏度，信號線31的中間段做成倒S型，且信號線31中間倒S段的寬度為0.25mm ;信號線32與接地線32間的距離為0.1mm。
[0024]進一步地，本實施例中還通過設于第一階段面1421上方、水平塊兩側的夾片22和夾片座23來進一步固定共面波導3。其中，所述夾片座23的上表面向下形成有一用于放置夾片22的沉臺，所述夾片座23的相對與水平塊的外側面上還設有一卡塊，所述卡塊與豎直座212內側面上的縱向卡槽相適配。從而在固定共面波導3時，通過夾片座23與連接座21的相互卡合來壓緊壓片22和共面波導3，使得共面波導3緊固于底座14上。進一步地，本實用新型所述的測試夾具上還設置了屏蔽銅盒(圖中未示出)，用于屏蔽共面波導3及所在的高頻板材部分，降低測試噪聲。此外為了保證其電氣特性，防止氧化，使其可靠連接，所述連接座21采用銅材制成，且其表面鍍銀；所述共面波導電路板銅皮表面鍍金。
[0025]綜上所述僅為本實用新型較佳的實施例，并非用來限定本實用新型的實施范圍。即凡依本實用新型申請專利范圍的內容所作的等效變化及修飾，皆應屬于本實用新型的技術范疇。
【權利要求】
1.一種鐵磁共振參數測量用的測試夾具，包括外殼，測試接頭以及固定于外殼內的共面波導，其特征在于:所述外殼的頂面具有一個對被測樣品進行定位的測試孔，其左右兩個側面各形成有一用于安裝測試接頭的安裝孔，其前側面具有一用于固定測試探頭的固定槽；所述測試接頭的內導體穿過外殼的安裝孔與外殼內的共面波導的內導體接觸連接；所述共面波導包括信號線以及平行設于其兩側的兩根接地線，所述信號線的中間段呈倒S型，且中間倒S段的信號線的寬度為0.25mm，信號線兩端的線寬為0.4mm，信號線與接地線的距離為0.1mm，所述共面波導的兩端還設有實現共面波導到同軸電纜的轉換轉的接插頭。
2.根據權利要求1所述的測試夾具，其特征在于:所述信號線為特性阻抗為50Ω的共面波導微帶線。
3.根據權利要求1所述的測試夾具，其特征在于:所述共面波導的基片為厚度0.3mm的高阻GaAs基片。
4.根據權利要求3所述的測試夾具，其特征在于:所述共面波導的基片表面鍍有金層。
5.根據權利要求1所述的測試夾具，其特征在于:所述測試接頭為SMA接頭。
6.根據權利要求1所述的測試夾具，其特征在于:所述測試接頭通過一連接座安裝于外殼的安裝孔處，所述連接座呈倒L型，包括相互垂直的水平座和豎直座，所述豎直座端面的中心處設有一供測試接頭的內導體穿過的導體孔，所述豎直座的內側面上還設有一縱向卡槽。
7.根據權利要求6所述的測試夾具，其特征在于:所述連接座為銅連接座，且其表面鍍有銀層。
8.根據權利要求1所述的測試夾具，其特征在于:所述外殼包括頂板、前板、后板以及底座，所述底座由一相互垂直的水平塊和豎直塊構成的T型塊以及對稱設于水平塊下方、豎直塊兩側的一對階梯塊組合而成，所述共面波導固定于T型塊的頂面上，且所述T型塊的寬度小于階梯塊的寬度；所述前、后板分別通過緊固件設置于階梯塊的第一階梯面上，所述前板對應于T型塊的豎直塊處，從底部垂直向上設有一與豎直塊尺寸相適配的縱向開口 ；所述頂板的中心處設有一貫穿頂板上下表面的測試孔，且頂板下表面沿其長度方向在左右兩端還各向下形成一凸塊，使得連接后的外殼的左右兩個側面上各形成一用于安裝測試接頭的安裝孔。
9.根據權利要求6或8所述的測試夾具，其特征在于:所述測試夾具還包括設于第一階段面上方、水平塊兩側的、用于固定共面波導的夾片和夾片座，所述夾片座的上表面向下形成有一用于放置夾片的沉臺，所述夾片座的相對與水平塊外側面上還設有一與縱向卡槽相適配的卡塊。
10.根據權利要求1-8任一項所述的測試夾具，其特征在于:所述測量夾具上設有降低測試噪聲的屏蔽銅盒。
【文檔編號】G01R33/30GK203658565SQ201320816276
【公開日】2014年6月18日 申請日期:2013年12月11日 優(yōu)先權日:2013年12月11日
【發(fā)明者】梁瓊崇 申請人:廣州賽寶計量檢測中心服務有限公司