一種平面檢測(cè)儀的校正裝置制造方法
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種平面檢測(cè)儀的校正裝置，所述的平面檢測(cè)儀的校正裝置包含一圓形的基盤(pán)，所述的基盤(pán)上設(shè)有一縱向設(shè)置的調(diào)節(jié)桿，所述的調(diào)節(jié)桿上設(shè)有一固定凸塊，所述的固定凸塊上設(shè)有一固定通孔，所述的固定通孔內(nèi)設(shè)有一手動(dòng)旋鈕，所述的手動(dòng)旋鈕包含一調(diào)節(jié)齒盤(pán)和一旋鈕樞軸，所述的旋鈕樞軸貫穿所述的固定通孔，所述的旋鈕樞軸的頭部設(shè)有一定位通孔，所述的定位通孔內(nèi)設(shè)有一定位探針。本實(shí)用新型的平面檢測(cè)儀的校正裝置利用“L”型的定位探針，使用者可以同時(shí)檢測(cè)橫向上和縱向上的平面度，簡(jiǎn)單方便，檢測(cè)效率高。另外，使用者可以根據(jù)待檢物的尺寸來(lái)調(diào)節(jié)固定凸塊的高度，設(shè)置靈活，實(shí)用性強(qiáng)。
【專(zhuān)利說(shuō)明】—種平面檢測(cè)儀的校正裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種檢測(cè)設(shè)備，更確切地說(shuō)，是一種平面檢測(cè)儀的校正裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]平面檢測(cè)儀是一種用于檢測(cè)物體平面度的儀器，現(xiàn)有的平面檢測(cè)儀只能單向進(jìn)行檢測(cè)，如果使用者想同時(shí)測(cè)量橫向和縱向上的平面度，則必須使用兩臺(tái)設(shè)備，誤差較大。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實(shí)用新型主要是解決現(xiàn)有技術(shù)所存在的技術(shù)問(wèn)題，從而提供一種平面檢測(cè)儀的校正裝置。
[0004]本實(shí)用新型的上述技術(shù)問(wèn)題主要是通過(guò)下述技術(shù)方案得以解決的:
[0005]一種平面檢測(cè)儀的校正裝置，所述的平面檢測(cè)儀的校正裝置包含一圓形的基盤(pán)，所述的基盤(pán)上設(shè)有一縱向設(shè)置的調(diào)節(jié)桿，所述的調(diào)節(jié)桿上設(shè)有一固定凸塊，所述的固定凸塊上設(shè)有一固定通孔，所述的固定通孔內(nèi)設(shè)有一手動(dòng)旋鈕，所述的手動(dòng)旋鈕包含一調(diào)節(jié)齒盤(pán)和一旋鈕樞軸，所述的旋鈕樞軸貫穿所述的固定通孔，所述的旋鈕樞軸的頭部設(shè)有一定位通孔，所述的定位通孔內(nèi)設(shè)有一定位探針。
[0006]作為本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例，所述的定位探針呈“L”形。
[0007]本實(shí)用新型的平面檢測(cè)儀的校正裝置利用“L”形的定位探針，使用者可以同時(shí)檢測(cè)橫向上和縱向上的平面度，簡(jiǎn)單方便，檢測(cè)效率高。另外，使用者可以根據(jù)待檢物的尺寸來(lái)調(diào)節(jié)固定凸塊的高度，設(shè)置靈活，實(shí)用性強(qiáng)。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0008]為了更清楚地說(shuō)明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0009]圖1為本實(shí)用新型的平面檢測(cè)儀的校正裝置的立體結(jié)構(gòu)示意圖；
[0010]圖2為圖1中的平面檢測(cè)儀的校正裝置的立體結(jié)構(gòu)分解示意圖；
[0011]圖3為圖2中的平面檢測(cè)儀的校正裝置的A區(qū)域的細(xì)節(jié)放大示意圖；
[0012]其中，
[0013]1、平面檢測(cè)儀的校正裝置；2、基盤(pán)；3、調(diào)節(jié)桿；4、固定凸塊；41、固定通孔；5、手動(dòng)旋鈕；51、調(diào)節(jié)齒盤(pán)；52、旋鈕樞軸；53、定位通孔；6、定位探針。
【具體實(shí)施方式】
[0014]下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)闡述，以使本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解，從而對(duì)本實(shí)用新型的保護(hù)范圍做出更為清楚明確的界定。
[0015]如圖1至圖3所示，本實(shí)用新型的平面檢測(cè)儀的校正裝置I包含一圓形的基盤(pán)2，該基盤(pán)2上設(shè)有一縱向設(shè)置的調(diào)節(jié)桿3，該調(diào)節(jié)桿3上設(shè)有一固定凸塊4，該固定凸塊4上設(shè)有一固定通孔41，該固定通孔41內(nèi)設(shè)有一手動(dòng)旋鈕5，該手動(dòng)旋鈕5包含一調(diào)節(jié)齒盤(pán)51和一旋鈕樞軸52，該旋鈕樞軸52貫穿該固定通孔41，該旋鈕樞軸52的頭部設(shè)有一定位通孔53，該定位通孔53內(nèi)設(shè)有一定位探針6。
[0016]定位探針6呈“L”形。
[0017]以上所述，僅為本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不局限于此，任何不經(jīng)過(guò)創(chuàng)造性勞動(dòng)想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求書(shū)所限定的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種平面檢測(cè)儀的校正裝置，其特征在于，所述的平面檢測(cè)儀的校正裝置(I)包含一圓形的基盤(pán)(2)，所述的基盤(pán)(2)上設(shè)有一縱向設(shè)置的調(diào)節(jié)桿(3)，所述的調(diào)節(jié)桿(3)上設(shè)有一固定凸塊(4)，所述的固定凸塊(4)上設(shè)有一固定通孔(41)，所述的固定通孔(41)內(nèi)設(shè)有一手動(dòng)旋鈕(5)，所述的手動(dòng)旋鈕(5)包含一調(diào)節(jié)齒盤(pán)(51)和一旋鈕樞軸(52)，所述的旋鈕樞軸(52)貫穿所述的固定通孔(41)，所述的旋鈕樞軸(52)的頭部設(shè)有一定位通孔(53)，所述的定位通孔(53)內(nèi)設(shè)有一定位探針(6)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面檢測(cè)儀的校正裝置，其特征在于，所述的定位探針(6)呈“L” 形。
【文檔編號(hào)】G01B21/30GK203572474SQ201320728307
【公開(kāi)日】2014年4月30日 申請(qǐng)日期:2013年11月19日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月19日
【發(fā)明者】佘峰 申請(qǐng)人:佘峰