用于片式微波器件的調(diào)測(cè)架的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種用于片式微波器件的調(diào)測(cè)架，包括底座、矩形連接塊和壓條和調(diào)節(jié)螺栓。底座的頂面的兩個(gè)長(zhǎng)邊處各設(shè)有一道凹槽；在凹槽內(nèi)置有一個(gè)或一個(gè)以上的矩形連接塊；在矩形連接塊的頂部安置有壓條，通過(guò)調(diào)節(jié)螺栓將壓條與底座連接，從而將矩形連接塊可拆卸地固定在底座上。本產(chǎn)品的電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)潔、噪聲弱，省略掉了傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)中所必須的微波PCB板及相應(yīng)的傳輸線，駐波更??；矩形連接塊的位置可調(diào)節(jié)，能對(duì)端口數(shù)量及位置不同的多種片式微波器件進(jìn)行測(cè)試，通用性強(qiáng)，既有利于減少重復(fù)設(shè)計(jì)，節(jié)約資源，提升多種片式微波器件的研發(fā)效率。
【專利說(shuō)明】用于片式微波器件的調(diào)測(cè)架
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于檢測(cè)工件【技術(shù)領(lǐng)域】；具體涉及一種用于片式微波器件的調(diào)測(cè)架。技術(shù)背景
[0002]片式微波器件測(cè)試架用途十分廣泛。目前，微波系統(tǒng)正逐步向輕小型化方向發(fā)展，相應(yīng)的，構(gòu)成系統(tǒng)的各類微波器件也在朝著輕小型化、易集成方向發(fā)展。微波器件種類繁多，基于輕小型系統(tǒng)需求的片式微波器件更是不斷推陳出新，片式化水平及可集成水平逐步提升，這對(duì)測(cè)試技術(shù)、測(cè)試方法和測(cè)試手段也不斷的提出新的要求?？紤]易與系統(tǒng)集成的需求，片式微波器件通常以微帶傳輸線直接引出，不能直接與測(cè)試電纜連接，因此，需要設(shè)計(jì)專門的測(cè)試架以測(cè)試其電性能。但是，專門的測(cè)試架一般僅針對(duì)某特定型號(hào)片式微波器件設(shè)計(jì)，其測(cè)試接口與底座常常做成一體，相對(duì)位置固化，不能調(diào)節(jié)，導(dǎo)致測(cè)試架用途單一。對(duì)于新設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的片式器件，由于端口間距、電尺寸、結(jié)構(gòu)尺寸等的差異，常常需要設(shè)計(jì)制作新的測(cè)試架。這不僅會(huì)造成物資和精力的浪費(fèi)，也會(huì)降低片式微波器件的研發(fā)效率。
[0003]此外，常見(jiàn)的片式微波器件測(cè)試架，一般由相互固定連接的測(cè)試底座、射頻連接器和微波PCB板三個(gè)部分組成，接口的位置不能調(diào)節(jié)，僅能用于某特定端口間距、電尺寸、結(jié)構(gòu)尺寸的片式微波器件的測(cè)試，通用性差；而且測(cè)試時(shí)，待測(cè)器件必須經(jīng)過(guò)微波PCB板才能與射頻連接器連接，使用不便。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0004]本實(shí)用新型的目的，在于提供一種用于片式微波器件的調(diào)測(cè)架，實(shí)現(xiàn)對(duì)端口不同空間分布的多種片式微波器件的測(cè)試，既有利于減少重復(fù)設(shè)計(jì)，節(jié)約物資與精力，又能提升片式微波器件的研發(fā)效率。本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)具體如下:
[0005]用于片式微波器件的調(diào)測(cè)架，包括底座1。所述底座1為矩形塊，底座1的頂面的兩個(gè)長(zhǎng)邊處各設(shè)有一道凹槽11;在靠近凹槽11端部的底座1頂部開(kāi)有螺紋孔；
[0006]在凹槽11內(nèi)置有一個(gè)或一個(gè)以上的矩形連接塊4，所述的矩形連接塊4為矩形塊；矩形連接塊4的高度大于凹槽11的深度；矩形連接塊4的外側(cè)面上設(shè)有SMP射頻接口 41，矩形連接塊4的內(nèi)側(cè)面上設(shè)有金屬觸頭42，SMP射頻接口 41與金屬觸頭42之間通過(guò)導(dǎo)線相連接；此外還設(shè)有壓條2和調(diào)節(jié)螺栓3 ;壓條2為兩端開(kāi)有螺紋孔的長(zhǎng)條，且壓條2長(zhǎng)于凹槽11的長(zhǎng)度。在矩形連接塊4的頂部安置有壓條2，通過(guò)一對(duì)調(diào)節(jié)螺栓3將壓條2與底座1連接，從而將矩形連接塊4可拆卸地固定在底座1上。
[0007]此外，底座1為金屬材質(zhì)；矩形連接塊4的高度大于凹槽11的2倍深度；金屬觸頭42設(shè)置在矩形連接塊4內(nèi)側(cè)面的中心。
[0008]有益的技術(shù)效果:
[0009]本產(chǎn)品的電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)潔、噪聲弱，省略掉了傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)中所必須的微波PCB板及相應(yīng)的傳輸線，駐波更??；矩形連接塊4的位置可調(diào)節(jié)，能對(duì)端口數(shù)量及位置不同的多種片式微波器件進(jìn)行測(cè)試，通用性強(qiáng)，既有利于減少重復(fù)設(shè)計(jì)，節(jié)約資源，提升多種片式微波器件的研發(fā)效率。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0010]圖1為本產(chǎn)品的立體示意圖。
[0011]圖2為圖1的主視圖。
[0012]圖3為圖1的左視圖。
[0013]圖4為圖1的俯視圖。
[0014]圖5為圖1中底座的立體示意圖。
[0015]圖6為本產(chǎn)品的使用狀態(tài)示意圖。
[0016]圖中的序號(hào)為:底座1、壓條2、調(diào)節(jié)螺栓3、矩形連接塊4、待測(cè)片式微波器件5、凹槽11、SMP射頻接口 41、金屬觸頭42。
【具體實(shí)施方式】
[0017]下面結(jié)合附圖，通過(guò)實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步地說(shuō)明。
[0018]參見(jiàn)圖1，用于片式微波器件的調(diào)測(cè)架，包括底座I。所述底座I為矩形塊，底座I的頂面的兩個(gè)長(zhǎng)邊處各設(shè)有一道凹槽11;在靠近凹槽11端部的底座I頂部開(kāi)有螺紋孔；詳見(jiàn)圖5。
[0019]參見(jiàn)圖2，在凹槽11內(nèi)置有一個(gè)或一個(gè)以上的矩形連接塊4，所述的矩形連接塊4為矩形塊；矩形連接塊4的高度大于凹槽11的深度；矩形連接塊4的外側(cè)面上設(shè)有SMP射頻接口 41，矩形連接塊4的內(nèi)側(cè)面上設(shè)有金屬觸頭42，SMP射頻接口 41與金屬觸頭42之間通過(guò)導(dǎo)線相連接。
[0020]參見(jiàn)圖3，矩形連接塊4的外側(cè)面，即設(shè)有SMP射頻接口 41的矩形連接塊4的側(cè)面均朝向底座I的外側(cè)；矩形連接塊4的內(nèi)側(cè)面，即設(shè)有金屬觸頭42的矩形連接塊4的側(cè)面均朝向底座I的內(nèi)側(cè)、放置待測(cè)片式微波器件5的區(qū)域。
[0021]參見(jiàn)圖4，矩形連接塊4可在凹槽11內(nèi)水平移動(dòng)，針對(duì)待測(cè)片式微波器件5的具體形貌做適應(yīng)性調(diào)整。圖6即為一個(gè)具有三個(gè)檢測(cè)端口的待測(cè)片式微波器件5在本產(chǎn)品上進(jìn)行檢測(cè)的示意圖。
[0022]參見(jiàn)圖1，此外還設(shè)有壓條2和調(diào)節(jié)螺栓3 ;壓條2為兩端開(kāi)有螺紋孔的長(zhǎng)條，且壓條2長(zhǎng)于凹槽11的長(zhǎng)度。在矩形連接塊4的頂部安置有壓條2，通過(guò)一對(duì)調(diào)節(jié)螺栓3將壓條2與底座I連接，從而將矩形連接塊4可拆卸地固定在底座I上，詳見(jiàn)圖2。
[0023]參見(jiàn)圖2，底座I為金屬材質(zhì)。矩形連接塊4的高度大于凹槽11的2倍深度；金屬觸頭42設(shè)置在矩形連接塊4內(nèi)側(cè)面的中心。
[0024]使用時(shí)，將待測(cè)片式微波器件5置于底座I測(cè)試臺(tái)面的中部位置，使待測(cè)片式微波器件5的接地面與金屬底座3的臺(tái)面貼合；之后，將矩形連接塊4置于凹槽11內(nèi)且與待測(cè)片式微波器件5的端口位置相對(duì)應(yīng)，使得金屬觸頭42與待測(cè)片式微波器件5的射頻端口對(duì)正連接；之后，用調(diào)節(jié)螺栓3將壓條2連同矩形連接塊4 一同和底座I固定連接，確保金屬觸頭42與待測(cè)片式微波器件5的射頻端口緊密連接，隨后進(jìn)行電訊指標(biāo)測(cè)試。
【權(quán)利要求】
1.用于片式微波器件的調(diào)測(cè)架，包括底座(I)，其特征在于，所述底座(I)為矩形塊，底座(I)的頂面的兩個(gè)長(zhǎng)邊處各設(shè)有一道凹槽(11);在靠近凹槽(11)端部的底座(I)頂部開(kāi)有螺紋孔；在凹槽(11)內(nèi)置有一個(gè)或一個(gè)以上的矩形連接塊(4),所述的矩形連接塊(4)為矩形塊；矩形連接塊(4)的高度大于凹槽(11)的深度；矩形連接塊(4)的外側(cè)面上設(shè)有SMP射頻接口(41)，矩形連接塊(4)的內(nèi)側(cè)面上設(shè)有金屬觸頭(42)，SMP射頻接口(41)與金屬觸頭(42)之間通過(guò)導(dǎo)線相連接； 此外還設(shè)有壓條(2)和調(diào)節(jié)螺栓(3);壓條(2)為兩端開(kāi)有螺紋孔的長(zhǎng)條，且壓條(2)長(zhǎng)于凹槽(11)的長(zhǎng)度； 在矩形連接塊(4 )的頂部安置有壓條(2 )，通過(guò)一對(duì)調(diào)節(jié)螺栓(3 )將壓條(2 )與底座(I)連接，從而將矩形連接塊(4 )可拆卸地固定在底座(I)上。
2.如權(quán)利要求1所述的用于片式微波器件的調(diào)測(cè)架，其特征在于，底座(I)為金屬材質(zhì)。
3.如權(quán)利要求1所述的用于片式微波器件的調(diào)測(cè)架，其特征在于，矩形連接塊(4)的高度大于凹槽(11)的2倍深度；金屬觸頭(42)設(shè)置在矩形連接塊(4)內(nèi)側(cè)面的中心。
【文檔編號(hào)】G01R1/04GK203519667SQ201320649395
【公開(kāi)日】2014年4月2日 申請(qǐng)日期:2013年10月21日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月21日
【發(fā)明者】劉少輝, 周雁翎, 錢林 申請(qǐng)人:中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第三十八研究所