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電子元器件老煉測試夾具的制作方法

文檔序號:6202159閱讀:371來源:國知局
電子元器件老煉測試夾具的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種電子元器件老煉測試夾具,屬于檢測工裝;旨在提供一種操作簡單高效、使用壽命長、通電接觸可靠的電子元器件測試夾具。它包括定位裝置和夾緊機構(gòu);定位裝置為固定在底座(3)上帶有若干定位腔(8)的定位塊(11),夾緊機構(gòu)由排列在底座(3)上的保險管(10)、固定在底座(3)上的導(dǎo)向塊(6)、設(shè)在底座(3)上的滑塊(1)、連接該滑塊與導(dǎo)向塊(6)的拉簧(5)、設(shè)在滑塊(1)與導(dǎo)向塊(6)之間的凸輪(4)、穿過導(dǎo)向孔固定在滑塊(1)上的正極頂針(7)、設(shè)在定位塊(11)上與各保險管(10)及各正極頂針(7)對應(yīng)的負極頂針(9)構(gòu)成。本實用新型是一種用于檢測電子元件老化性能的夾具。
【專利說明】電子元器件老煉測試夾具
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種工藝裝備,尤其涉及一種用于對電容器、電阻器等電子元器件進行老煉測試的夾具。
【背景技術(shù)】
[0002]電容器、電阻器等電子元器件在出廠前需要在高溫下進行老煉測試;通常采用專用夾具來完成電子元器件的定位和夾緊,以實現(xiàn)可靠通電。目前,專用的老煉夾具存在結(jié)構(gòu)復(fù)雜、操作麻煩、效率低、使用壽命短、通電接觸可靠性差等缺陷,不能大規(guī)模滿足生產(chǎn)的需要。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為了克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足,本實用新型旨在提供一種操作簡單高效、使用壽命長、通電接觸可靠的電子元器件老煉測試夾具。
[0004]為了實現(xiàn)上述目的,本實用新型采用以下技術(shù)方案:它包括設(shè)在底座上的定位裝置和夾緊機構(gòu);所述定位裝置為固定在底座上且分布有若干定位腔的定位塊,所述夾緊機構(gòu)由排列在底座上的若干保險管、固定在底座上且?guī)в腥舾蓪?dǎo)向孔的導(dǎo)向塊、設(shè)在底座上的滑塊、連接在該滑塊與導(dǎo)向塊之間的拉簧、通過手柄設(shè)在滑塊與導(dǎo)向塊之間的凸輪、分別穿過所述導(dǎo)向孔固定在滑塊上的若干正極頂針、設(shè)在定位塊上且與保險管位置對應(yīng)的若干負極頂針構(gòu)成。
[0005]與現(xiàn)有技術(shù)比較,本實用新型由于采用了上述技術(shù)方案,用拉簧和凸輪替代原來設(shè)在滑塊和導(dǎo)向塊之間的螺桿和壓簧,因此既提高了裝夾效率、又消除了通過螺桿帶動滑塊將被測樣件壓緊而難以控制力度大小的缺陷;另外,由于在各個定位腔的位置設(shè)置了保險管,因此不僅能夠有效地避免因短路而導(dǎo)致被測樣件損壞,而且還可利用保險管自帶的彈簧來確保通電接觸可靠。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0006]圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0007]圖2是圖1中的A— A剖視圖。
[0008]圖中:滑塊1、手柄2、底座3、凸輪4、拉簧5、導(dǎo)向塊6、正極頂針7、定位腔8、負極頂針9、保險管10、定位塊11。
【具體實施方式】
[0009]下面結(jié)合附圖和具體的實施例對本實用新型作進一步說明:
[0010]如圖1?2所示:在底座3上有定位裝置和夾緊機構(gòu),所述定位裝置為固定在底座3上的定位塊11,該定位塊上分布有若干定位腔8 ;所述夾緊機構(gòu)由固定排列于底座3上且位置與各定位腔8對應(yīng)的若干保險管10、固定在底座3上且?guī)в腥舾蓪?dǎo)向孔的導(dǎo)向塊6、設(shè)在底座3上的滑塊1、連接在該滑塊與導(dǎo)向塊6之間的至少兩根拉簧5、位于滑塊1與導(dǎo)向塊6之間并通過彎曲成L狀的手柄2設(shè)在底座3上的凸輪4、分別穿過所述導(dǎo)向孔固定在滑塊1上的若干正極頂針7、設(shè)在定位塊11上且與各保險管10以及各正極頂針7位置對應(yīng)的若干負極頂針9構(gòu)成。
[0011]使用時,將各正極頂針7分別獨立引出,將各保險管10的輸出端并聯(lián)于電源的負極,測量時,通過手柄2轉(zhuǎn)動凸輪4,在該凸輪的撥動下滑塊1便會帶動各正極頂針7后退,將被測樣件放置于各定位腔8中進行定位;然后反向轉(zhuǎn)動手柄2,滑塊1在拉簧5的作用下帶動各正極頂針7推動相應(yīng)的所述被測樣件向前移動,各被測樣件推動相應(yīng)的負極頂針9與對應(yīng)的保險管10實現(xiàn)接觸,夾緊完畢。檢測結(jié)束,轉(zhuǎn)動手柄2即可使各正極頂針7后退,取出被測樣件即可。
【權(quán)利要求】
1.一種電子元器件老煉測試夾具,包括設(shè)在底座上的定位裝置和夾緊機構(gòu);其特征在于:所述定位裝置為固定在底座(3 )上且分布有若干定位腔(8 )的定位塊(11),所述夾緊機構(gòu)由排列在底座(3)上的若干保險管(10)、固定在底座(3)上且?guī)в腥舾蓪?dǎo)向孔的導(dǎo)向塊(6)、設(shè)在底座(3)上的滑塊(1)、連接在該滑塊與導(dǎo)向塊(6)之間的拉簧(5)、通過手柄(2)設(shè)在滑塊(1)與導(dǎo)向塊(6)之間的凸輪(4)、分別穿過所述導(dǎo)向孔固定在滑塊(1)上的若干正極頂針(7)、設(shè)在定位塊(11)上且與各保險管(10)以及各正極頂針(7)位置對應(yīng)的若干負極頂針(9)構(gòu)成。
【文檔編號】G01R1/04GK203502441SQ201320638677
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2013年10月16日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月16日
【發(fā)明者】陳林, 楊彥林, 魯彬, 姚本林 申請人:中國振華(集團)新云電子元器件有限責任公司
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