高壓開關(guān)測試儀校驗裝置及校驗方法
【專利摘要】高壓開關(guān)測試儀校驗裝置及校驗方法。在國內(nèi)，還沒有專門的高壓開關(guān)測試儀的校驗裝置。一般都是采用多臺儀器、設(shè)備組合，這種方法結(jié)果穩(wěn)定性不高，重復(fù)性不好，對操作人員的要求也較高。本發(fā)明的組成包括：殼體（1），所述的殼體內(nèi)具有輸入單元（2）、時基電路（3），所述的時基電路與微處理器（4）連接，所述的微處理器與I/O接口電路（5）連接，所述的輸入單元分別與A/D轉(zhuǎn)換器（6）、所述的I/O接口電路連接，所述的A/D轉(zhuǎn)換器與光電隔離器（7）連接，所述的光電隔離器與所述的I/O接口電路連接，所述的I/O接口電路分別與輸出單元（8）、顯示屏（9）、控制按鍵（10）連接。本發(fā)明用于高壓開關(guān)測試儀校驗。
【專利說明】高壓開關(guān)測試儀校驗裝置及校驗方法
[0001]【技術(shù)領(lǐng)域】:
本發(fā)明涉及一種高壓開關(guān)測試儀校驗裝置及校驗方法。
[0002]【背景技術(shù)】:
隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，智能型高壓開關(guān)特性測試儀器不斷出新，但對應(yīng)的校驗技術(shù)和設(shè)備仍比較落后，存在著功能簡單，自動化程度不高，校驗接線復(fù)雜，附加誤差不確定，工作效率低等不足，影響了其發(fā)展和應(yīng)用。
[0003]在國內(nèi)，還沒有專門的高壓開關(guān)測試儀的校驗裝置。一般都是采用多臺儀器、設(shè)備組合，如時間檢定儀、數(shù)字電壓表、計頻計時分析儀等，完成對高壓開關(guān)測試儀的主要技術(shù)參數(shù)的校驗和調(diào)整。這種方法不但耗費很多的時間、人力和物力，而且校驗結(jié)果受很多因素的影響，導(dǎo)致結(jié)果穩(wěn)定性不高，重復(fù)性不好，對操作人員的要求也較高。另一方面，高壓開關(guān)測試儀規(guī)模不斷擴大，型號也越來越多，測量的功能也不盡相同，這種組合型的校驗方法越來越不能滿足市場的需求。
[0004]
【發(fā)明內(nèi)容】
:
本發(fā)明的目的是提供一種高壓開關(guān)測試儀校驗裝置及校驗方法。
[0005]上述的目的通過以下的技術(shù)方案實現(xiàn):
一種高壓開關(guān)測試儀校驗裝置，其組成包括:殼體，所述的殼體內(nèi)具有輸入單元、時基電路，所述的時基電路與微處理器連接，所述的微處理器與I/o接口電路連接，所述的輸入單元分別與A/D轉(zhuǎn)換器、所述的I/O接口電路連接，所述的A/D轉(zhuǎn)換器與光電隔離器連接，所述的光電隔離器與所述的I/O接口電路連接，所述的I/O接口電路分別與輸出單元、顯示屏、控制按鍵連接。
[0006]所述的高壓開關(guān)測試儀校驗裝置，所述的輸入單元包括采樣電路，所述的采樣電路與交直流轉(zhuǎn)換電路連接，所述的交直流轉(zhuǎn)換電路與所述的A/D轉(zhuǎn)換器連接。
[0007]—種高壓開關(guān)測試儀校驗裝置的校驗方法，所述的將被檢高壓開關(guān)測試儀與測試儀校驗裝置端子對應(yīng)相連，由所述的測試儀校驗裝置給出合、分閘時間，合、分閘同期性及彈跳時間等時間參數(shù)，同時記錄被測高壓開關(guān)測試儀各參數(shù)的顯示值，即實現(xiàn)被測高壓開關(guān)測試儀各參數(shù)的校準。
[0008]所述的高壓開關(guān)測試儀校驗裝置的校驗方法，所述的測試儀校驗裝置的輸入信號經(jīng)采樣電路、AC/DC電路接入A/D轉(zhuǎn)換電路，變?yōu)閿?shù)字信號，然后經(jīng)光電耦合器接入微處理器進行識別和運算，經(jīng)微處理器處理、加工后的數(shù)據(jù)、信號以程序代碼的形式分別傳送到顯示模塊和輸出單元；有顯示器進行顯示，有輸出電路去控制被校高壓開關(guān)特性測試儀的運行，進而自動完成校驗工作。
[0009]有益效果:
本發(fā)明的校驗裝置主要是對時間參量進行測量，包括合閘的六項參數(shù)(合閘端口時間、合閘時間、合閘順序、合閘三相不同期、合閘同相不同期、合閘彈跳時間)，分閘的六項參數(shù)(分閘端口時間、分閘時間、分閘順序、分閘三相不同期、分閘同相不同期、分閘彈跳時間)和重合閘五項參數(shù)(重合閘端口時間、重合閘時間、重合閘順序、重合閘三相不同期、重合閘同相不同期)；其次還對電參量進行校驗。
[0010]本發(fā)明校驗準確，對市場上眾多型號的高壓開關(guān)測試儀進行測量校準，保證高壓開關(guān)測試儀測量的準確性和測試功能的有效性，從而保障高壓開關(guān)的安全運行，減低事故率，保證運行系統(tǒng)的安全可靠，保護人身和財產(chǎn)安全。
[0011]【專利附圖】

【附圖說明】:
附圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0012]【具體實施方式】:
實施例1:
一種高壓開關(guān)測試儀校驗裝置，其組成包括:殼體1，所述的殼體內(nèi)具有輸入單元2、時基電路3，所述的時基電路與微處理器4連接，所述的微處理器與I/O接口電路5連接，所述的輸入單元分別與A/D轉(zhuǎn)換器6、所述的I/O接口電路連接，所述的A/D轉(zhuǎn)換器與光電隔離器7連接，所述的光電隔離器與所述的I/O接口電路連接，所述的I/O接口電路分別與輸出單元8、顯示屏9、控制按鍵10連接。
[0013]實施例2:
根據(jù)權(quán)利要求1所述的高壓開關(guān)測試儀校驗裝置，所述的輸入單元包括采樣電路11，所述的采樣電路與交直流轉(zhuǎn)換電路12連接，所述的交直流轉(zhuǎn)換電路與所述的A/D轉(zhuǎn)換器連接。
[0014]實施例3:
一種高壓開關(guān)測試儀校驗裝置的校驗方法，所述的將被檢高壓開關(guān)測試儀與測試儀校驗裝置端子對應(yīng)相連，由所述的測試儀校驗裝置給出合、分閘時間，合、分閘同期性及彈跳時間等時間參數(shù)，同時記錄被測高壓開關(guān)測試儀各參數(shù)的顯示值，即實現(xiàn)被測高壓開關(guān)測試儀各參數(shù)的校準。
[0015]實施例4:
根據(jù)實施例3所述的高壓開關(guān)測試儀校驗裝置的校驗方法，所述的測試儀校驗裝置的輸入信號經(jīng)采樣電路、AC/DC電路接入A/D轉(zhuǎn)換電路，變?yōu)閿?shù)字信號，然后經(jīng)光電耦合器接入微處理器進行識別和運算，經(jīng)微處理器處理、加工后的數(shù)據(jù)、信號以程序代碼的形式分別傳送到顯示模塊和輸出單元；有顯示器進行顯示，有輸出電路去控制被校高壓開關(guān)特性測試儀的運行，進而自動完成校驗工作。
【權(quán)利要求】
1.一種高壓開關(guān)測試儀校驗裝置，其組成包括:殼體，其特征是:所述的殼體內(nèi)具有輸入單元、時基電路，所述的時基電路與微處理器連接，所述的微處理器與I/O接口電路連接，所述的輸入單元分別與A/D轉(zhuǎn)換器、所述的I/O接口電路連接，所述的A/D轉(zhuǎn)換器與光電隔離器連接，所述的光電隔離器與所述的I/O接口電路連接，所述的I/O接口電路分別與輸出單元、顯示屏、控制按鍵連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高壓開關(guān)測試儀校驗裝置，其特征是:所述的輸入單元包括采樣電路，所述的采樣電路與交直流轉(zhuǎn)換電路連接，所述的交直流轉(zhuǎn)換電路與所述的A/D轉(zhuǎn)換器連接。
3.一種高壓開關(guān)測試儀校驗裝置的校驗方法，其特征是:所述的將被檢高壓開關(guān)測試儀與測試儀校驗裝置端子對應(yīng)相連，由所述的測試儀校驗裝置給出合、分閘時間，合、分閘同期性及彈跳時間等時間參數(shù)，同時記錄被測高壓開關(guān)測試儀各參數(shù)的顯示值，即實現(xiàn)被測高壓開關(guān)測試儀各參數(shù)的校準。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的高壓開關(guān)測試儀校驗裝置的校驗方法，其特征是:所述的測試儀校驗裝置的輸入信號經(jīng)采樣電路、AC/DC電路接入A/D轉(zhuǎn)換電路，變?yōu)閿?shù)字信號，然后經(jīng)光電耦合器接入微處理器進行識別和運算，經(jīng)微處理器處理、加工后的數(shù)據(jù)、信號以程序代碼的形式分別傳送到顯示模塊和輸出單元；有顯示器進行顯示，有輸出電路去控制被校高壓開關(guān)特性測試儀的運行，進而自動完成校驗工作。
【文檔編號】G01R35/00GK103675746SQ201310711946
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2013年12月20日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月20日
【發(fā)明者】關(guān)曉東, 張榮海 申請人:哈爾濱理大晟源科技開發(fā)有限公司