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一種電容測(cè)試夾具的制作方法

文檔序號(hào):6183089閱讀:757來源:國(guó)知局
一種電容測(cè)試夾具的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種電容測(cè)試夾具,屬于電容自動(dòng)測(cè)試領(lǐng)域,其包括底板、電極和多個(gè)被測(cè)電容,所述底板的上端面上設(shè)置有印制板,所述印制板上設(shè)置有多個(gè)電容裝載區(qū),所述底板的上方設(shè)置有電容固定板,所述電容固定板的上方設(shè)置有電容壓持件。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,容量大,裝拆方便,測(cè)試靈活,尤其適用于對(duì)貼片式鉭電容和陶瓷電容進(jìn)行固定和加電,進(jìn)行電容各個(gè)參數(shù)的檢測(cè)和篩選以達(dá)到各個(gè)不同級(jí)別的電容自動(dòng)測(cè)試的目的。
【專利說明】一種電容測(cè)試夾具
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種電容測(cè)試夾具,屬于電容自動(dòng)測(cè)試領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]宇航級(jí)電容的應(yīng)用環(huán)境相對(duì)于其他電容更為惡劣,需要進(jìn)行一 55°C的模擬低溫、 125°C的高溫下的電容測(cè)試,使得宇航級(jí)電容測(cè)試更為復(fù)雜和繁瑣,而且宇航級(jí)電容也存在 民品級(jí)電容檢測(cè)和篩選過程中存在的使用量大、因各器件都要進(jìn)行高低溫篩選、試驗(yàn)及測(cè) 試而非常耗費(fèi)時(shí)間及人力物力的問題。將宇航級(jí)電容應(yīng)用到航天電子線路前的篩選工作極 為重要,因此宇航級(jí)電容測(cè)試成為航天事業(yè)發(fā)展的重要組成部分,而如何提高試驗(yàn)過程中 的測(cè)試效率也成為人們面臨的一大難題。
[0003]宇航級(jí)電容的檢測(cè)和篩選過程為:將出廠電容裝載到測(cè)試夾具上,在將其放置到 高低溫試驗(yàn)箱中進(jìn)行老化和加壓測(cè)試,在高低溫試驗(yàn)后,取出夾具板,將電容從夾具上取 出;之后,將電容裝載到特殊的夾具上,然后將該夾具放到特定的試驗(yàn)箱中做溫度系數(shù)試 驗(yàn),然后再將夾具取出,拆卸電容;完成電容的高低溫試驗(yàn)后,再進(jìn)行常溫下的各種指標(biāo)的 測(cè)試。目前,有些單位采用人工手動(dòng)的方式對(duì)電容的絕緣電阻值、電容值逐一進(jìn)行測(cè)試,為 了滿足進(jìn)度要求,提高測(cè)試速度,他們通常需要有很多測(cè)試人員同時(shí)進(jìn)行測(cè)試,增加了勞動(dòng) 成本的同時(shí)因測(cè)試人員的經(jīng)驗(yàn)不同得到的測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性也不盡相同。
[0004]傳統(tǒng)的電容測(cè)試夾具采用凹槽固定電容,金屬?gòu)椈杉犹结樀姆绞竭M(jìn)行加電,這種 方式存在以下方面的缺陷:電容的固定和加電的夾具過大,在一塊測(cè)試板上放120個(gè)測(cè)試 夾具,在設(shè)計(jì)上造成困難,而且夾具的焊接不夠牢固;由于要在很寬的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè) 試,金屬?gòu)椈呻S溫度的變化會(huì)給宇航級(jí)電容各個(gè)參數(shù)的測(cè)試帶來誤差,造成電容參數(shù)測(cè)試 的準(zhǔn)確性降低;電容夾持比較麻煩且容易對(duì)電容電極造成傷害;在試驗(yàn)過程中由于涉及到 多個(gè)試驗(yàn)環(huán)節(jié),還需要進(jìn)行電容的多次裝夾和拆裝,電容頻繁的拆裝,不但過程麻煩而且容 易對(duì)電容造成損傷,影響宇航級(jí)電容的成品率;在測(cè)試過程中,需進(jìn)行各種溫度試驗(yàn),然后 再進(jìn)行常溫下的檢測(cè),而傳統(tǒng)的電容測(cè)試夾具并不能對(duì)電容進(jìn)行各種溫度下的指標(biāo)進(jìn)行測(cè) 試。
[0005]現(xiàn)有的電容測(cè)試夾具的各項(xiàng)性能指標(biāo)雖然有所提高,但依然存在功能比較單一, 無法滿足大批量的自動(dòng)測(cè)試功能,即不能形成對(duì)電容、電感、電阻等通用電子元器件的統(tǒng)一 測(cè)試,且溫度、絕緣性、測(cè)試精度、靈活性都比較差等問題。
[0006]由此可見,現(xiàn)有技術(shù)有待于進(jìn)一步的改進(jìn)和提聞。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明為避免上述現(xiàn)有技術(shù)存在的不足之處,提供了 一種電容測(cè)試夾具。
[0008]本發(fā)明所采用的技術(shù)方案為:
[0009]一種電容測(cè)試夾具,包括底板、電極和多個(gè)被測(cè)電容,所述底板的上端面上設(shè)置 有印制板,所述印制板上設(shè)置有多個(gè)電容裝載區(qū),各電容裝載區(qū)均設(shè)置有兩列數(shù)量相等且一一對(duì)應(yīng)的電容裝載孔,屬于同一電容裝載區(qū)的兩列電容裝載孔之間設(shè)置有多個(gè)極性點(diǎn), 所述底板上設(shè)置有與上述電容裝載孔相對(duì)應(yīng)的金屬觸點(diǎn);所述底板的上方設(shè)置有電容固定 板,所述電容固定板上設(shè)置有與上述電容裝載區(qū)一一對(duì)應(yīng)的電容固定區(qū),電容固定區(qū)內(nèi)設(shè) 置有與上述電容裝載孔數(shù)量相等且一一對(duì)應(yīng)的電容固定孔,各電容固定區(qū)的兩列電容固定 孔之間設(shè)置有第一電極插孔,電容固定區(qū)內(nèi)第一電極插孔的數(shù)量與上述極性點(diǎn)的數(shù)量相等 且位置相對(duì),屬于同一電容固定區(qū)的兩列電容固定孔之間還設(shè)置有第一螺紋孔;各被測(cè)電 容依次穿過上述電容固定孔和電容裝載孔后與上述金屬觸點(diǎn)相接觸,所述電容固定板的上 方設(shè)置有與上述電容固定區(qū)數(shù)量相等且一一對(duì)應(yīng)的電容壓持件。
[0010]所述各電容壓持件包括橫梁,所述橫梁上開設(shè)有與上述第一螺紋孔相對(duì)應(yīng)的第二 螺紋孔及與上述第一電極插孔相對(duì)應(yīng)的第二電極插孔,上述電極依次穿經(jīng)第二電極插孔和 第一電極插孔,所述橫梁通過定位銷釘與上述電容固定板相連;所述橫梁的下方均布有與 上述每列電容裝載孔數(shù)量相等且位置相對(duì)的簧片,所述各簧片的兩端分別用于壓持被測(cè)電容。
[0011]所述電容裝載區(qū)有六個(gè),每列電容裝載孔的數(shù)量為十二個(gè)。
[0012]屬于同一電容裝載區(qū)的兩列電容裝載孔之間設(shè)置有兩個(gè)極性點(diǎn),與之相對(duì)應(yīng)的, 各電容固定區(qū)的兩列電容固定孔之間設(shè)置有兩個(gè)第一電極插孔,橫梁上設(shè)置有兩個(gè)第二電 極插孔。
[0013]屬于同一電容固定區(qū)的兩列電容固定孔之間設(shè)置有三個(gè)第一螺紋孔,與之相對(duì)應(yīng) 的,所述橫梁上開設(shè)有三個(gè)第二螺紋孔。
[0014]所述印制板的一側(cè)設(shè)置有接插件,所述接插件的共極性端串接有保險(xiǎn)絲。
[0015]所述印制板是由聚四氟乙烯制成的。
[0016]所述橫梁是由鋁鎂合金制成的。
[0017]所述簧片是由鈹青銅制成的。
[0018]所述簧片與被測(cè)電容相接觸的面經(jīng)過表面拋光處理或在其上鍍有硬金。
[0019]由于采用了上述技術(shù)方案,本發(fā)明所取得的有益效果為:
[0020]1、本發(fā)明采用分層結(jié)構(gòu)對(duì)電容進(jìn)行固定、加電,其中,固定板的厚度及其他規(guī)格尺 寸可根據(jù)電容型號(hào)的不同而不同,即固定板也有多種型號(hào),在需要對(duì)不同型號(hào)的元器件進(jìn) 行測(cè)量時(shí),只需更換不同型號(hào)的固定板,再將元器件填裝到固定板上的固定孔內(nèi)即可,給元 器件的裝夾和拆卸都帶來了極大的便利。
[0021]2、本發(fā)明采用由高絕緣性材料聚四氟乙烯制成的印制板作為電路板,滿足了宇航 級(jí)電容所需的高絕緣性和寬溫度范圍的測(cè)試要求。
[0022]3、本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,容量大,裝拆方便,測(cè)試靈活,尤其適用于對(duì)貼片式鉭電容和 陶瓷電容進(jìn)行固定和加電,進(jìn)行電容各個(gè)參數(shù)的檢測(cè)和篩選以達(dá)到各個(gè)不同級(jí)別的電容自 動(dòng)測(cè)試的目的。
[0023]4、本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了民品級(jí)、軍品級(jí)和宇航級(jí)電容的電容值及溫度系數(shù)等多種參數(shù)的測(cè)量。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0024]圖1為本發(fā)明中印制板的結(jié)構(gòu)示意圖。[0025]圖2為本發(fā)明中固定板的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0026]圖3為本發(fā)明中電容壓持件的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0027]圖4為本發(fā)明的裝配結(jié)構(gòu)示意圖。
[0028]其中,
[0029]1、印制板2、電容裝載孔3、極性點(diǎn)4、接插件5、保險(xiǎn)絲6、電容固定板7、 電容固定孔8、第一電極插孔9、第一螺紋孔10、橫梁U、第二螺紋孔12、定位銷釘 13、電極14、簧片15、被測(cè)電容16、第二電極插孔
【具體實(shí)施方式】
[0030]下面結(jié)合附圖和具體的實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明,但本發(fā)明并不限于 這些實(shí)施例。
[0031]如圖1、圖2及圖4所示,一種電容測(cè)試夾具,包括底板、電極13和多個(gè)被測(cè)電容 15,所述底板的上端面上設(shè)置有印制板1,所述印制板I上設(shè)置有六個(gè)電容裝載區(qū),各電容 裝載區(qū)均設(shè)置有兩列數(shù)量相等且一一對(duì)應(yīng)的電容裝載孔2,每列電容裝載孔的數(shù)量為十二 個(gè),屬于同一電容裝載區(qū)的兩列電容裝載孔2之間設(shè)置有兩個(gè)極性點(diǎn)3,所述底板上設(shè)置有 與上述電容裝載孔2相對(duì)應(yīng)的金屬觸點(diǎn),用于對(duì)電容進(jìn)行加電測(cè)試;所述底板的上方設(shè)置 有電容固定板6,所述電容固定板6上設(shè)置有與上述電容裝載區(qū)相對(duì)應(yīng)的六個(gè)電容固定區(qū), 電容固定區(qū)內(nèi)設(shè)置有與上述電容裝載孔2數(shù)量相等且一一對(duì)應(yīng)的電容固定孔7,各電容固 定區(qū)的兩列電容固定孔7之間設(shè)置有第一電極插孔8,電容固定區(qū)內(nèi)第一電極插孔8的數(shù)量 與上述極性點(diǎn)3的數(shù)量相等且位置相對(duì),用于實(shí)現(xiàn)電容另一極的加電,屬于同一電容固定 區(qū)的兩列電容固定孔7之間還設(shè)置有三個(gè)第一螺紋孔9 ;各被測(cè)電容15依次穿過上述電容 固定孔7和電容裝載孔2后與上述金屬觸點(diǎn)相接觸,所述電容固定板6的上方設(shè)置有與上 述六個(gè)電容固定區(qū)位置相對(duì)的六個(gè)電容壓持件。
[0032]如圖3所示,所述各電容壓持件包括橫梁10,所述橫梁10用作與之相對(duì)應(yīng)的電容 固定區(qū)和電容裝載區(qū)的公共電極,所述橫梁10上開設(shè)有與上述三個(gè)第一螺紋孔9相對(duì)應(yīng)的 三個(gè)第二螺紋孔11及與上述第一電極插孔8相對(duì)應(yīng)的第二電極插孔16,每條橫梁10上的 第二電極插孔16均位于所述橫梁10的兩端,上述電極13依次穿經(jīng)第二電極插孔16和第 一電極插孔8,所述橫梁10通過定位銷釘12與上述電容固定板6相連。
[0033]如圖3所示,現(xiàn)有的電容夾持操作比較麻煩,容易對(duì)電極造成傷害,本發(fā)明為了減 小電容壓持件對(duì)電容的損害及對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響,在各橫梁10的下方均布有與上述每 列電容裝載孔2數(shù)量相等且位置相對(duì)的簧片14,所述各簧片14的兩端分別用于壓持被測(cè)電 容15 ;簧片14與被測(cè)電容15之間具有恒定的機(jī)械接觸,有固定的接觸面和接觸壓力,從而 保證了測(cè)量值的復(fù)現(xiàn)性。
[0034]如圖1及圖4所示,所述印制板I的一側(cè)設(shè)置有接插件4,所有的電極引出線均通 過該接插件4引向公共接口部位;所述接插件4的共極性端串接有保險(xiǎn)絲5,以對(duì)測(cè)試過程 進(jìn)行保護(hù)。
[0035]由于宇航級(jí)電容需要在很寬的溫度范圍,即一 55°C?125°C內(nèi)進(jìn)行測(cè)試,為避免 隨溫度變化給宇航級(jí)電容各個(gè)參數(shù)的測(cè)試帶來誤差,造成電容參數(shù)測(cè)試不夠準(zhǔn)確,上述印 制板I選擇具有高絕緣性的材料聚四氟乙烯,其絕緣特性為IO14Q、溫度適應(yīng)性為一 70°C?200°C,在實(shí)際操作過程中,可通過增加電路走線之間寬度的方式來滿足高絕緣電阻的測(cè)試。
[0036]所述橫梁10是由鋁鎂合金制成的,其材質(zhì)較輕,從而使得制作而成的電容壓持件 較輕,減小了電容壓持件的誤差。
[0037]所述簧片14是由鈹青銅制成的高彈性彈片,既可以保證彈性又不損傷電容,而且 鈹青銅良好的電導(dǎo)率減少了電容壓持件所引入的誤差。
[0038]所述簧片14與被測(cè)電容15相接觸的面經(jīng)過表面拋光處理或在其上鍍有硬金,從 而避免了污物碎屑的產(chǎn)生,不僅提高了測(cè)試的準(zhǔn)確性而且延長(zhǎng)了夾具的使用壽命。
[0039]實(shí)際操作過程中,對(duì)被測(cè)電容15采用立式裝載的方式進(jìn)行固定,以使被測(cè)電容15 的放置更加穩(wěn)固;對(duì)于極性電容測(cè)試采用共極性的方法,這樣既可以方便極性電容加電,不 會(huì)造成裝載混亂,而且可減少電纜上的連接,減小電纜連接本身給測(cè)試帶來的誤差。
[0040]本發(fā)明通過底板、電容固定板6和電容壓持件相互配合對(duì)被測(cè)電容15進(jìn)行固定和 加電,被測(cè)電容15加電的總過程為:將被測(cè)電容15放置到電容固定孔7內(nèi),使其正確的電 極接觸到底板上的金屬觸點(diǎn),放置被測(cè)電容15后,檢查其電極,然后將電容壓持件的簧片 14對(duì)應(yīng)于被測(cè)電容15的另一極,加固橫梁14上的定位銷釘12,以保證簧片14上的電極接 觸到底板上的金屬觸點(diǎn)。當(dāng)被測(cè)電容15安置完成后,將其放到試驗(yàn)箱中可配合系統(tǒng)進(jìn)行測(cè) 試。
[0041]本發(fā)明中的電容固定板6可根據(jù)被測(cè)電容15型號(hào)的不同而設(shè)置不同的型號(hào),以實(shí) 現(xiàn)不同型號(hào)的被測(cè)電容15的測(cè)試。
[0042]本發(fā)明尤其適用于對(duì)鉭電容和陶瓷電容進(jìn)行測(cè)試。
[0043]需要說明的是,本發(fā)明也可用于對(duì)電感、電阻等通用電子元器件的參數(shù)進(jìn)行測(cè)試, 以滿足多種電子元器件的測(cè)試需求。
[0044]此外,為提高測(cè)試精度,可將上述六個(gè)電容裝載區(qū)中的一個(gè)電容裝載區(qū)作為校準(zhǔn) 通路,進(jìn)行空載下的系統(tǒng)校準(zhǔn),而其余五個(gè)電容裝載區(qū)負(fù)載電容。
[0045]盡管本文中較多的使用了諸如印制板1、電容裝載孔2、接插件4、電容固定板6、橫 梁10、簧片14等術(shù)語,但并不排除使用其它術(shù)語的可能性。使用這些術(shù)語僅僅是為了更方 便地描述和解釋本發(fā)明的本質(zhì);把它們解釋成任何一種附加的限制都是與本發(fā)明精神相違 背的。
[0046]需要進(jìn)一步說明的是,本文中所描述的具體實(shí)施例僅僅是對(duì)本發(fā)明的精神所作的 舉例說明。本發(fā)明所屬【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員可以對(duì)所描述的具體實(shí)施例做各種各樣的修改 或補(bǔ)充或采用類似的方式替代,但并不會(huì)偏離本發(fā)明的精神或者超越所附權(quán)利要求書所定 義的范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種電容測(cè)試夾具,其特征在于:包括底板、電極和多個(gè)被測(cè)電容,所述底板的上端面上設(shè)置有印制板,所述印制板上設(shè)置有多個(gè)電容裝載區(qū),各電容裝載區(qū)均設(shè)置有兩列數(shù)量相等且一一對(duì)應(yīng)的電容裝載孔,屬于同一電容裝載區(qū)的兩列電容裝載孔之間設(shè)置有多個(gè)極性點(diǎn),所述底板上設(shè)置有與上述電容裝載孔相對(duì)應(yīng)的金屬觸點(diǎn);所述底板的上方設(shè)置有電容固定板,所述電容固定板上設(shè)置有與上述電容裝載區(qū)一一對(duì)應(yīng)的電容固定區(qū),電容固定區(qū)內(nèi)設(shè)置有與上述電容裝載孔數(shù)量相等且一一對(duì)應(yīng)的電容固定孔,各電容固定區(qū)的兩列電容固定孔之間設(shè)置有第一電極插孔,電容固定區(qū)內(nèi)第一電極插孔的數(shù)量與上述極性點(diǎn)的數(shù)量相等且位置相對(duì),屬于同一電容固定區(qū)的兩列電容固定孔之間還設(shè)置有第一螺紋孔;各被測(cè)電容依次穿過上述電容固定孔和電容裝載孔后與上述金屬觸點(diǎn)相接觸,所述電容固定板的上方設(shè)置有與上述電容固定區(qū)數(shù)量相等且一一對(duì)應(yīng)的電容壓持件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電容測(cè)試夾具,其特征在于:所述各電容壓持件包括橫梁,所述橫梁上開設(shè)有與上述第一螺紋孔相對(duì)應(yīng)的第二螺紋孔及與上述第一電極插孔相對(duì)應(yīng)的第二電極插孔,上述電極依次穿經(jīng)第二電極插孔和第一電極插孔,所述橫梁通過定位銷釘與上述電容固定板相連;所述橫梁的下方均布有與上述每列電容裝載孔數(shù)量相等且位置相對(duì)的簧片,所述各簧片的兩端分別用于壓持被測(cè)電容。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電容測(cè)試夾具,其特征在于:所述電容裝載區(qū)有六個(gè),每列電容裝載孔的數(shù)量為十二個(gè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電容測(cè)試夾具,其特征在于:屬于同一電容裝載區(qū)的兩列電容裝載孔之間設(shè)置有兩個(gè)極性點(diǎn),與之相對(duì)應(yīng)的,各電容固定區(qū)的兩列電容固定孔之間設(shè)置有兩個(gè)第一電極插孔,橫梁上設(shè)置有兩個(gè)第二電極插孔。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電容測(cè)試夾具,其特征在于:屬于同一電容固定區(qū)的兩列電容固定孔之間設(shè)置有三個(gè)第一螺紋孔,與之相對(duì)應(yīng)的,所述橫梁上開設(shè)有三個(gè)第二螺紋孔。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的一種電容測(cè)試夾具,其特征在于:所述印制板的一側(cè)設(shè)置有接插件,所述接插件的共極性端串接有保險(xiǎn)絲。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電容測(cè)試夾具,其特征在于:所述印制板是由聚四氟乙烯制成的。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電容測(cè)試夾具,其特征在于:所述橫梁是由鋁鎂合金制成的。
9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電容測(cè)試夾具,其特征在于:所述簧片是由鈹青銅制成的。
10.根據(jù)權(quán)利要求2或9任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的一種電容測(cè)試夾具,其特征在于:所述簧片與被測(cè)電容相接觸的面經(jīng)過表面拋光處理或在其上鍍有硬金。
【文檔編號(hào)】G01R1/04GK103592471SQ201310560392
【公開日】2014年2月19日 申請(qǐng)日期:2013年11月12日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月12日
【發(fā)明者】喬宏志, 薛沛祥, 秦贊 申請(qǐng)人:中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所
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