顯示面板及其測(cè)試方法
【專(zhuān)利摘要】一種顯示面板及其測(cè)試方法，顯示面板具有顯示區(qū)以及周邊線路區(qū)，且顯示面板包括主動(dòng)組件陣列基板、對(duì)向基板以及位于主動(dòng)組件陣列基板與對(duì)向基板之間的顯示介質(zhì)層。主動(dòng)組件陣列基板包括多條掃描線以及多條數(shù)據(jù)線、多個(gè)像素單元、共享電極層以及多條測(cè)試線。掃描線以及數(shù)據(jù)線交錯(cuò)設(shè)置以于顯示區(qū)中定義出多個(gè)像素區(qū)域。多個(gè)像素單元分別設(shè)置于像素區(qū)域中，各像素單元與對(duì)應(yīng)的掃描線以及數(shù)據(jù)線電性連接。共享電極層至少覆蓋數(shù)據(jù)線。測(cè)試線設(shè)置于顯示區(qū)中，各測(cè)試線至少與數(shù)據(jù)線重迭，且位于共享電極層與數(shù)據(jù)線之間。
【專(zhuān)利說(shuō)明】顯示面板及其測(cè)試方法【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明是有關(guān)于一種面板及其測(cè)試方法，且特別是有關(guān)于一種顯示面板及其測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】 [0002]一般而言，顯示面板是由主動(dòng)組件陣列基板、對(duì)向基板以及配置于此兩基板之間的顯示介質(zhì)層所構(gòu)成。其中，在完成主動(dòng)組件陣列基板的制程后通常會(huì)進(jìn)行電性檢測(cè)，以確保主動(dòng)組件陣列在制程過(guò)程中沒(méi)有產(chǎn)生影響顯示質(zhì)量的缺陷。并且，當(dāng)檢測(cè)出會(huì)影響顯示質(zhì)量的缺陷的情況下，可更進(jìn)一步的找出發(fā)生缺陷的位置并進(jìn)行修補(bǔ)，如此可提高制程的良率。
[0003]然而，當(dāng)主動(dòng)組件陣列基板中的數(shù)據(jù)線與共享電極發(fā)生短路情況時(shí)，由于共享電極通常以陣列方式電性相連分布于多條數(shù)據(jù)在線，因此無(wú)法從檢測(cè)結(jié)果判別發(fā)生缺陷的位置以進(jìn)行修補(bǔ)，而增加制程不良損耗的成本。因此，如何在數(shù)據(jù)線與共享電極發(fā)生短路情況下，可正確的判讀出發(fā)生缺陷的位置，為亟待解決的課題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明提供一種顯示面板及其測(cè)試方法，當(dāng)數(shù)據(jù)線與共享電極間發(fā)生短路時(shí)，可以檢測(cè)出發(fā)生短路位置所對(duì)應(yīng)的掃描線坐標(biāo)。
[0005]本發(fā)明的顯示面板，具有顯示區(qū)以及周邊線路區(qū)，且顯示面板包括主動(dòng)組件陣列基板、對(duì)向基板以及位于主動(dòng)組件陣列基板與對(duì)向基板之間的顯示介質(zhì)層。主動(dòng)組件陣列基板包括多條掃描線以及多條數(shù)據(jù)線、多個(gè)像素單元、共享電極層以及多條測(cè)試線。掃描線以及數(shù)據(jù)線交錯(cuò)設(shè)置以于顯示區(qū)中定義出多個(gè)像素區(qū)域。多個(gè)像素單元分別設(shè)置于像素區(qū)域中，各像素單元與對(duì)應(yīng)的掃描線以及數(shù)據(jù)線電性連接。共享電極層至少覆蓋數(shù)據(jù)線。測(cè)試線設(shè)置于顯示區(qū)中，各測(cè)試線至少與數(shù)據(jù)線重迭，且位于共享電極層與數(shù)據(jù)線之間。
[0006]本發(fā)明的顯示面板的測(cè)試方法，此方法包括提供如上所述的顯示面板。輸入測(cè)試信號(hào)至測(cè)試線的其中之一。從對(duì)應(yīng)于其中的一條測(cè)試線的數(shù)據(jù)線接收測(cè)試結(jié)果信號(hào)，其中，當(dāng)測(cè)試結(jié)果信號(hào)為致能時(shí)，判斷對(duì)應(yīng)于其中的一條測(cè)試線的數(shù)據(jù)線與共享電極層以及位于兩者之間的測(cè)試線電性連接，進(jìn)而得知對(duì)應(yīng)于其中的一條測(cè)試線的數(shù)據(jù)線與共享電極層發(fā)生短路的位置。
[0007]基于上述，因本發(fā)明在共享電極層與數(shù)據(jù)線之間設(shè)置測(cè)試線。當(dāng)數(shù)據(jù)線與共享電極間發(fā)生短路時(shí),可藉由輸入測(cè)試信號(hào)至測(cè)試線的其中之一,并同時(shí)從對(duì)應(yīng)測(cè)試線的數(shù)據(jù)線接收測(cè)試結(jié)果信號(hào)，其中，當(dāng)測(cè)試結(jié)果信號(hào)為致能時(shí)，則可判斷對(duì)應(yīng)測(cè)試線的數(shù)據(jù)線與共享電極層以及位于兩者之間的測(cè)試線電性連接，并且藉由得知測(cè)試線的數(shù)據(jù)線與共享電極層發(fā)生短路的位置，進(jìn)而判別出發(fā)生短路位置所對(duì)應(yīng)的掃描線坐標(biāo)。
[0008]為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合所附圖式作詳細(xì)說(shuō)明如下?！緦?zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0009]圖1是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的顯示面板的上視示意圖；
圖2是圖1沿著剖面線1-1’的剖面示意圖；
圖3是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的顯示面板數(shù)據(jù)線與共享電極發(fā)生短路的上視示意圖；
圖4是圖3沿著數(shù)據(jù)線與共享電極發(fā)生短路位置的剖面線11-11’的剖面示意圖。
[0010]【主要組件符號(hào)說(shuō)明】
Dl:第一方向
D2:第二方向
1-1’:剖面線位置
I1-11’:發(fā)生短路的剖面線位置 U:像素區(qū)域
10:顯示面板
100:主動(dòng)組件陣列基板
102:顯示區(qū)
110:基板
112:信號(hào)接墊
112a:第一信號(hào)接墊
112b:第二信號(hào)接墊
120a、120b、120c、120d:掃描線
130a、130b、130c、130d:數(shù)據(jù)線
140:像素單元
140a:主動(dòng)組件
140b:像素電極
150:共享電極層
160:測(cè)試線
160a:連接部
160b:手指部
160c:測(cè)試接墊
170:柵絕緣層
180:第一絕緣層
190:第二絕緣層
200:對(duì)向基板
300:顯示介質(zhì)層。
【具體實(shí)施方式】
[0011]圖1是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的顯示面板的上視示意圖。圖2是圖1沿著剖面線1-1’的剖面示意圖。請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D1及圖2,在本實(shí)施例中，顯示面板10具有顯示區(qū)102以及周邊線路區(qū)104，并且包括主動(dòng)組件陣列基板100、對(duì)向基板200以及位于主動(dòng)組件陣列基板100與對(duì)向基板200之間的顯示介質(zhì)層300。
[0012]主動(dòng)組件陣列基板100包括基板110、多條掃描線120a至120d、多條數(shù)據(jù)線130a至130d、多個(gè)像素單元140、共享電極層150以及多條測(cè)試線160。
[0013]詳細(xì)來(lái)說(shuō)，在主動(dòng)組件陣列基板100上的顯示區(qū)102中，各掃描線120a至120d彼此平行且沿第一方向Dl延伸，各數(shù)據(jù)線130a至130d彼此平行且沿第二方向D2延伸。第一方向Dl不同于第二方向D2，故掃描線120a至120d與數(shù)據(jù)線130a至130d為彼此交錯(cuò)，且藉由掃描線120a至120d與數(shù)據(jù)線130a至130d的彼此交錯(cuò)，可將顯示區(qū)102定義成多個(gè)像素區(qū)域U。像素區(qū)域U中分別對(duì)應(yīng)設(shè)置有一個(gè)像素單元140。像素單元140至少與掃描線120a至120d的其中的一條以及數(shù)據(jù)線130a至130d的其中的一條作電性連接。具體而言，像素單元140可包括主動(dòng)組件140a以及與主動(dòng)組件140a電性連接的像素電極140b，其中主動(dòng)組件140a與上述對(duì)應(yīng)的掃描線以及數(shù)據(jù)線電性連接。上述像素單元140的結(jié)構(gòu)僅為舉例說(shuō)明，本發(fā)明不限定像素單元140中主動(dòng)組件140a以及像素電極140b的數(shù)量以及形狀，而且也不限定與像素單元140電性連接的掃描線以及數(shù)據(jù)線的數(shù)量。
[0014]共享電極層150配置于所有像素區(qū)域U中且是被圖案化的。位于各像素區(qū)域U中的共享電極層150其例如是具有多個(gè)開(kāi)口以暴露出主動(dòng)組件140a以及部分的像素電極140b。由于位于相鄰像素區(qū)域U中的共享電極層150彼此連接，因此至少會(huì)有部份的共享電極層150與部份的數(shù)據(jù)線130a至130d以及部份的掃描線120a至120d重迭。在本實(shí)施例中，共享電極層150以及像素電極140b皆配置于同一基板110上，因此顯示面板10例如是邊際場(chǎng)切換式(Fringe Field Switching, FFS)顯示面板。
[0015]測(cè)試線160至少與數(shù)據(jù)線130a至130d重迭，且位于共享電極層150與數(shù)據(jù)線130a至130d之間。具體而言，測(cè)試線160包括多個(gè)連接部160a以及連接至連接部160a的多個(gè)手指部160b，如圖1中所示。連接部160a彼此平行排列且沿第一方向Dl延伸。這些連接部160a沿第二方向D2排列以大致布滿(mǎn)整個(gè)顯示區(qū)102，并且與各掃描線120a至120d為平行排列。
[0016]于連接部160a與各數(shù)據(jù)線130a至130d投影在同一平面上的交迭處，測(cè)試線160還自連接部160a沿第二方向D2朝向相鄰的連接部160a延伸而形成手指部160b。各手指部160b至少與其中一條數(shù)據(jù)線130a至130d的部份的重迭。換言之，測(cè)試線160的手指部160b位于數(shù)據(jù)線130c與共享電極層150之間，以使至少部份的共享電極層150與數(shù)據(jù)線130a至130d重迭。
[0017]在本實(shí)施例中，手指部160b與其中一連接部160a連接并往下一個(gè)連接部160a延伸且不連接至下一個(gè)連接部160a，因此各手指部160b的長(zhǎng)度實(shí)質(zhì)上約為一個(gè)像素單元140的長(zhǎng)度。以另一觀點(diǎn)來(lái)看，同一條測(cè)試線的這些手指部160b與其中一列的像素單元140交替排列，且與這些手指部160b連接的連接部160a與電性連接至上述該列像素單元140的掃描線120a至120d相鄰設(shè)置，因此，每一條測(cè)試線160的坐標(biāo)會(huì)對(duì)應(yīng)其中一條掃描線120a至120b的坐標(biāo)。
[0018]詳細(xì)來(lái)說(shuō)，圖2是圖1沿著剖面線1-1’的剖面示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D2，于基板110依序配置有柵絕緣層170、數(shù)據(jù)線130c、第一絕緣層180、測(cè)試線160的手指部160b、第二絕緣層190以及共享電極層150。測(cè)試線160的手指部160b位于數(shù)據(jù)線130c與共享電極層150之間，并且手指部160b與數(shù)據(jù)線130c間夾有第一絕緣層180，手指部160b與共享電極層150之間夾有第二絕緣層190。因此，在一般情況下，手指部160b、數(shù)據(jù)線130c以及共享電極層150為彼此電性獨(dú)立的狀態(tài)。
[0019]在本實(shí)施例中，主動(dòng)組件陣列基板100上的周邊線路區(qū)104可區(qū)分為驅(qū)動(dòng)組件設(shè)置區(qū)104a以及測(cè)試組件設(shè)置區(qū)104b。驅(qū)動(dòng)組件設(shè)置區(qū)104a以及測(cè)試組件設(shè)置區(qū)104b分別位于顯示區(qū)102的相對(duì)兩側(cè)，但并不限定于此，亦可位于顯示區(qū)102的相同一側(cè)。以下為方便描述，將只針對(duì)驅(qū)動(dòng)組件設(shè)置區(qū)104a以及測(cè)試組件設(shè)置區(qū)104b分別位于顯示區(qū)102的相對(duì)兩側(cè)的情況舉例說(shuō)明。
[0020]如圖1所示，測(cè)試組件設(shè)置區(qū)104b中配置有多個(gè)測(cè)試接墊160c。每一個(gè)測(cè)試接墊160c分別與對(duì)應(yīng)的其中一個(gè)連接部160a電性連接。在此，由于每一個(gè)測(cè)試接墊160c皆具有相同功能，因此用相同符號(hào)160c代表表示。在一般非檢測(cè)的情況下，測(cè)試線160為電性浮置狀態(tài)，無(wú)連接至其它信號(hào)輸入裝置，但并不限定于此，亦可將測(cè)試線160設(shè)計(jì)為在非檢測(cè)的情況下具有固定信號(hào)。以下為方便描述，將只針對(duì)測(cè)試線160為電性浮置的情況舉例說(shuō)明。
[0021]主動(dòng)組件陣列基板100上的周邊線路區(qū)104還配置有多個(gè)信號(hào)接墊112。信號(hào)接墊112可區(qū)分為串接奇數(shù)條數(shù)據(jù)線130a與130c的第一信號(hào)接墊112a，以及串接偶數(shù)條數(shù)據(jù)線130b與130d的第二信號(hào)接墊112b，但信號(hào)接墊的串接方法與數(shù)量并不限定于此。如圖1所示，信號(hào)接墊112與數(shù)據(jù)線130a至130d可以為不同膜層，以利彼此間的跨接需求，并且，信號(hào)接墊112分別與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線130a至130d電性連接。
[0022]當(dāng)主動(dòng)組件陣列基板100制作完成后，通常會(huì)開(kāi)始進(jìn)行電性檢測(cè)程序，檢測(cè)方法將依圖1的主動(dòng)組件陣列基板100舉例說(shuō)明。請(qǐng)參照?qǐng)D1以及圖2，可將測(cè)試信號(hào)分別輸入各測(cè)試接墊160c，并且由信號(hào)接墊112檢測(cè)是否有信號(hào)輸出，但測(cè)試信號(hào)的傳輸方法并不限定于此。也可以是將測(cè)試信號(hào)分別輸入各信號(hào)接墊112，并且由各測(cè)試接墊160c檢測(cè)是否有信號(hào)輸出。為方便描述，以下以將測(cè)試信號(hào)由輸入各測(cè)試接墊160c，并且由信號(hào)接墊112接收信號(hào)的方式舉例說(shuō)明。
[0023]舉例來(lái)說(shuō)，圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的顯示面板中，數(shù)據(jù)線與共享電極發(fā)生短路的上視示意圖。圖4是圖3沿著剖面線11-11’的剖面示意圖。請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D3及圖4，數(shù)據(jù)線130a與共享電極層150之間發(fā)生短路，其短路位置如圖3中所示11-11’的位置。此時(shí)，數(shù)據(jù)線130a與共享電極層150之間發(fā)生短路，亦即夾于數(shù)據(jù)線130a與共享電極層150之間的絕緣層180與190已被破壞，使得數(shù)據(jù)線130a與共享電極層150電性相連。而且，配置于在數(shù)據(jù)線130a與共享電極層150之間的測(cè)試線160的手指部160b亦與數(shù)據(jù)線130a以及共享電極層150電性相連。
[0024]對(duì)測(cè)試接墊160c依序輸入測(cè)試信號(hào)，并且同時(shí)于信號(hào)接墊112接收檢測(cè)信號(hào)。舉例而言，當(dāng)對(duì)第一條測(cè)試線160 (對(duì)應(yīng)至掃描線120a)輸入測(cè)試信號(hào)時(shí)，可由數(shù)據(jù)線130a接收到測(cè)試結(jié)果信號(hào)，此時(shí)測(cè)試結(jié)果信號(hào)為不致能(例如沒(méi)有從對(duì)應(yīng)的第一信號(hào)接墊112a接收到電流信號(hào))，因此可以得知與掃描線120a連接的該些像素單元140所對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線130a至130d的部分，并無(wú)短路情況發(fā)生。
[0025]當(dāng)對(duì)第三條測(cè)試線160 (對(duì)應(yīng)至掃描線120c)輸入測(cè)試信號(hào)時(shí)，可由數(shù)據(jù)線130a接收到測(cè)試結(jié)果信號(hào)，此時(shí)測(cè)試結(jié)訊信號(hào)為致能(例如從對(duì)應(yīng)的第一信號(hào)接墊112a接收到電流信號(hào))，因此可以判斷出第三條測(cè)試線160的手指部160b與數(shù)據(jù)線130a以及共享電極層150電性相連，因此可以得知短路發(fā)生位置的測(cè)試線160的坐標(biāo)，并進(jìn)而得知其所對(duì)應(yīng)的掃描線120c的坐標(biāo)。換言之，可以得知與掃描線120c連接的該些像素單元140所對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線130a至130d的部分有短路情況發(fā)生。
[0026]接著,例如可以再透過(guò)單元短路桿(Cell shorting bar, CST)的設(shè)計(jì)進(jìn)行目視檢查，即可得知發(fā)現(xiàn)短路的數(shù)據(jù)線130a的坐標(biāo)，因此可藉上述檢測(cè)方法精確的判別出發(fā)生短路的掃描線120c與數(shù)據(jù)線130a的坐標(biāo)。
[0027]綜上所述，在本發(fā)明顯示面板中的主動(dòng)組件陣列基板上對(duì)應(yīng)每一條掃描線的像素單元中，在數(shù)據(jù)線與共享電極層的結(jié)構(gòu)位置間重迭設(shè)置一測(cè)試線的手指部，并且利用測(cè)試線的連接部沿平行掃描線的方向相互串接，各測(cè)試線于非顯示區(qū)域中分別電性連接一測(cè)試接墊，而各數(shù)據(jù)線亦于非顯示區(qū)域中串接于信號(hào)接墊。由此可知，當(dāng)完成主動(dòng)組件陣列制作完成后欲進(jìn)行電性檢測(cè)，可于各測(cè)試接墊分別輸入一測(cè)試信號(hào)，并且于信號(hào)接墊檢測(cè)是否接收到信號(hào)。據(jù)此，當(dāng)主動(dòng)組件陣列基板中的數(shù)據(jù)線與共享電極發(fā)生短路的情況下，可精確的判別出發(fā)生短路的掃描線坐標(biāo)，藉此可方便進(jìn)行修補(bǔ)并提高制程的良率。
【權(quán)利要求】
1.一種顯示面板，具有顯示區(qū)以及周邊線路區(qū)，該顯示面板包括: 主動(dòng)組件陣列基板，包括: 多條掃描線以及多條數(shù)據(jù)線，交錯(cuò)設(shè)置以于該顯示區(qū)中定義出多個(gè)像素區(qū)域； 多個(gè)像素單元，分別設(shè)置于該些像素區(qū)域中，各該像素單元與對(duì)應(yīng)的該掃描線以及該數(shù)據(jù)線電性連接； 共享電極層，至少覆蓋該些數(shù)據(jù)線；以及 多條測(cè)試線，設(shè)置于該顯示區(qū)中，各該測(cè)試線至少與該些數(shù)據(jù)線重迭，且位于該共享電極層與該些數(shù)據(jù)線之間； 對(duì)向基板，與該主動(dòng)組件陣列基板對(duì)向設(shè)置；以及 顯示介質(zhì)層，設(shè)置于該主動(dòng)組件陣列基板與該對(duì)向基板之間。
2.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，各該測(cè)試線包括連接部以及連接至該連接部的多個(gè)手指部，各該手指部與該些數(shù)據(jù)線的其中一條重迭。
3.如權(quán)利要求2所述的顯示面板，其特征在于，該連接部的延伸方向與該掃描線的延伸方向平行。
4.如權(quán)利要求2所述的顯示面板，其特征在于，各該手指部的長(zhǎng)度實(shí)質(zhì)上為一個(gè)像素單元的長(zhǎng)度。
5.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，該些測(cè)試線為電性浮置。
6.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，該些測(cè)試線與該共享電極層之間夾有第一絕緣層，且該些測(cè)試線與該些數(shù)據(jù)線之間夾有第二絕緣層。
7.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，該周邊線路區(qū)包括位于該顯示區(qū)的不同側(cè)的驅(qū)動(dòng)組件設(shè)置區(qū)以及測(cè)試組件設(shè)置區(qū)，且該顯示面板還包括多個(gè)測(cè)試接墊，設(shè)置于該測(cè)試組件設(shè)置區(qū)，各該測(cè)試線從該顯示區(qū)延伸至該測(cè)試組件設(shè)置區(qū)以電性連接至其中一個(gè)測(cè)試接墊。
8.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，還包括多條匯流線以及多個(gè)信號(hào)接墊，設(shè)置于該周邊線路區(qū)中，各該匯流線電性連接至其中一個(gè)信號(hào)接墊，其中該些數(shù)據(jù)線分別電性連接至其中一條匯流線。
9.一種顯示面板的測(cè)試方法，其特征在于，包括: 提供顯示面板，具有顯示區(qū)以及周邊線路區(qū)，該顯示面板包括: 主動(dòng)組件陣列基板，包括: 多條掃描線以及多條數(shù)據(jù)線，交錯(cuò)設(shè)置以于該顯示區(qū)中定義出多個(gè)像素區(qū)域； 多個(gè)像素單元，分別設(shè)置于該些像素區(qū)域中，各該像素單元與對(duì)應(yīng)的該掃描線以及該數(shù)據(jù)線電性連接； 共享電極層，至少覆蓋該些數(shù)據(jù)線；以及 多條測(cè)試線，設(shè)置于該顯示區(qū)中，各該測(cè)試線至少與該些數(shù)據(jù)線重迭，且位于該共享電極層與該些數(shù)據(jù)線之間； 對(duì)向基板，與該主動(dòng)組件陣列基板對(duì)向設(shè)置；以及 顯示介質(zhì)層，設(shè)置于該主動(dòng)組件陣列基板與該對(duì)向基板之間； 輸入測(cè)試信號(hào)至該些測(cè)試線的其中之一； 從對(duì)應(yīng)于該其中的一條測(cè)試線的該數(shù)據(jù)線接收測(cè)試結(jié)果信號(hào)，其中，當(dāng)該測(cè)試結(jié)果信號(hào)為致能時(shí)，判斷對(duì)應(yīng)于該其中的一條測(cè)試線的該數(shù)據(jù)線與該共享電極層以及位于兩者之間的該測(cè)試線電性連接，進(jìn)而得知對(duì)應(yīng)于該其中的一條測(cè)試線的該數(shù)據(jù)線與該共享電極層發(fā)生短路的位置。
10.如權(quán)利要求9所述的顯示面板的測(cè)試方法，其特征在于，各該測(cè)試線包括連接部以及連接至該連接部的多個(gè)手指部，各該手指部與該些數(shù)據(jù)線的其中一重迭，且該連接部的延伸方向與該掃描線的延伸方向平行，所述的顯示面板的測(cè)試方法還包括: 輸入該測(cè)試信號(hào)至該其中的一條測(cè)試線的該連接部； 從對(duì)應(yīng)于該其中的一條測(cè)試線的該數(shù)據(jù)線接收該測(cè)試結(jié)果信號(hào)，其中，當(dāng)該測(cè)試結(jié)果信號(hào)為致能時(shí)，判斷對(duì)應(yīng)于該其中的一條測(cè)試線的該數(shù)據(jù)線與該共享電極層以及位于兩者之間的該測(cè)試線的該數(shù)據(jù)線連接，進(jìn)而得知對(duì)應(yīng)于該其中的一條測(cè)試線的該數(shù)據(jù)線與該共享電極層發(fā)生短 路的位置。
【文檔編號(hào)】G01R31/02GK103617772SQ201310559525
【公開(kāi)日】2014年3月5日 申請(qǐng)日期:2013年11月12日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月12日
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