基于脈沖捕獲的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種基于脈沖捕獲的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法,目的是解決現(xiàn)有方法檢測(cè)鍵合絲觸碰短路可能發(fā)生漏檢的問題。技術(shù)方案是:配置被測(cè)集成電路芯片的所有輸出引腳為高阻態(tài)；將被測(cè)集成電路芯片的所有引腳施加N+1種電壓中的一種；將被測(cè)集成電路芯片置于振動(dòng)環(huán)境中振動(dòng)并對(duì)被測(cè)集成電路芯片供電；實(shí)時(shí)監(jiān)控流過每一種電壓的電流，若發(fā)現(xiàn)電流脈沖則捕獲和記錄電流脈沖，并通過檢查N+1種電壓中任意兩種電壓是否同時(shí)出現(xiàn)運(yùn)動(dòng)方向相反的電流脈沖以判斷鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象是否發(fā)生。本發(fā)明能夠檢測(cè)出振動(dòng)環(huán)境下集成電路芯片內(nèi)鍵合絲的所有觸碰短路現(xiàn)象，不會(huì)發(fā)生漏檢。
【專利說明】基于脈沖捕獲的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種振動(dòng)環(huán)境下集成電路芯片鍵合絲發(fā)生觸碰短路的檢測(cè)方法，特別是基于脈沖捕獲的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]火箭、飛機(jī)等復(fù)雜系統(tǒng)往往會(huì)工作于振動(dòng)環(huán)境中，如火箭發(fā)射、飛機(jī)降落等，此時(shí)復(fù)雜系統(tǒng)內(nèi)安裝的集成電路芯片也將工作于振動(dòng)環(huán)境中。如果該集成電路芯片內(nèi)部裸片與引腳采用鍵合絲連接，則振動(dòng)環(huán)境下鍵合絲會(huì)發(fā)生振動(dòng)。當(dāng)兩根鍵合絲距離小于鍵合絲振動(dòng)振幅的兩倍時(shí)，可能會(huì)發(fā)生觸碰，如果這兩根鍵合絲所帶電壓不同，則會(huì)發(fā)生短路，有可能使集成電路芯片或與集成電路芯片連接的電路發(fā)生邏輯錯(cuò)誤或功能異常，甚至對(duì)復(fù)雜系統(tǒng)造成致命的損害。因此，工作在振動(dòng)環(huán)境的具有鍵合絲的集成電路芯片有必要進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)，判斷振動(dòng)環(huán)境下集成電路芯片內(nèi)部不同電壓的鍵合絲是否會(huì)發(fā)生觸碰短路現(xiàn)象。振動(dòng)環(huán)境如國(guó)軍標(biāo)548B-2005所述，包括機(jī)械沖擊、隨機(jī)振動(dòng)、掃頻振動(dòng)、恒定加速度等。
[0003]國(guó)軍標(biāo)548B-2005規(guī)定了集成電路芯片的振動(dòng)試驗(yàn)方法，先將集成電路芯片置于預(yù)定振動(dòng)環(huán)境中振動(dòng)預(yù)定時(shí)間，然后在非振動(dòng)環(huán)境中加電測(cè)試集成電路芯片，判斷功能性能是否正常。這些方法能夠檢測(cè)集成電路芯片在振動(dòng)環(huán)境下發(fā)生的結(jié)構(gòu)損壞，但不能檢測(cè)鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象。主要原因?yàn)?，鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象僅在振動(dòng)環(huán)境中發(fā)生，當(dāng)振動(dòng)停止后，鍵合絲振動(dòng)隨即停止，不會(huì)出現(xiàn)鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象，也無結(jié)構(gòu)損壞，測(cè)試不會(huì)發(fā)現(xiàn)異
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[0004]目前檢測(cè)振動(dòng)環(huán)境下集成電路芯片鍵合絲觸碰短路的方法主要有基于高速攝影的鍵合絲觸碰檢測(cè)方法和基于帶電工作的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法。
[0005]基于高速攝影的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法是對(duì)振動(dòng)環(huán)境下的集成電路芯片內(nèi)部鍵合絲進(jìn)行高速攝影，直接觀測(cè)鍵合絲觸碰的發(fā)生。該方法具有直觀的優(yōu)點(diǎn)，但可信度不足。當(dāng)集成電路芯片中鍵合絲很多時(shí)，發(fā)生觸碰的鍵合絲在高速攝影錄像中可能會(huì)被別的鍵合絲遮擋而無法看到，產(chǎn)生漏檢；當(dāng)發(fā)現(xiàn)高速攝影錄像中的鍵合絲發(fā)生重疊時(shí)，也不能直接判斷為鍵合絲觸碰，需要其它立體角度的高速攝影錄像支持，而其它立體角度高速攝影錄像中疑似觸碰的鍵合絲也可能會(huì)被別的鍵合絲遮擋，無法判斷是否真正發(fā)生了鍵合絲觸碰。
[0006]基于帶電工作的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法是將集成電路芯片安裝于電路板上，電路板上的電路先啟動(dòng)集成電路芯片工作于預(yù)定模式，然后與集成電路芯片一起置于振動(dòng)環(huán)境中，并實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)集成電路芯片功能是否正常，當(dāng)發(fā)現(xiàn)集成電路芯片功能異常時(shí)，判斷鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象發(fā)生。該方法具有方便易行的優(yōu)點(diǎn)，但是仍有漏檢的可能。I)鍵合絲發(fā)生觸碰短路的時(shí)刻集成電路芯片和電路板上的電路不使用這兩根鍵合絲傳輸?shù)男盘?hào)時(shí)(比如同步電路中時(shí)鐘信號(hào)未發(fā)生跳變的時(shí)段內(nèi))，觸碰短路造成的集成電路芯片輸入輸出信號(hào)變化不會(huì)被集成電路芯片和電路板上的電路采集，則集成電路芯片的功能保持正常，電路板上的電路也不會(huì)發(fā)現(xiàn)輸出數(shù)據(jù)錯(cuò)誤，從而發(fā)生漏檢；2)分別連接供電電源和地的鍵合絲發(fā)生觸碰短路時(shí)，如果電源供電能力較強(qiáng)，鍵合絲觸碰產(chǎn)生的短路現(xiàn)象僅影響供電電源性能，集成電路芯片功能保持正常，電路板上的電路也不會(huì)發(fā)現(xiàn)輸出數(shù)據(jù)錯(cuò)誤，從而發(fā)生漏檢。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是，針對(duì)基于高速攝影的鍵合絲觸碰檢測(cè)方法和基于帶電工作的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法可能發(fā)生漏檢的問題，提出基于脈沖捕獲的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法，用于檢測(cè)振動(dòng)環(huán)境下集成電路芯片內(nèi)鍵合絲的所有觸碰短路現(xiàn)象。
[0008]為了便于對(duì)本發(fā)明的理解，約定被測(cè)集成電路芯片正常工作時(shí)使用N種不同的電源電壓(N為大于等于I的自然數(shù))，即共使用(N+1)種電壓(N種電源電壓和地)。顯然，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的是，本發(fā)明并不限定被測(cè)集成電路芯片需要供電電壓的數(shù)量。
[0009]本發(fā)明提出基于脈沖捕獲的鍵合絲觸碰檢測(cè)方法，包括如下步驟:
[0010]第一步，配置被測(cè)集成電路芯片的所有輸出引腳為高阻態(tài)；方法包括I)根據(jù)被測(cè)集成電路的使用指南對(duì)被測(cè)集成電路芯片的配置引腳施加配置電壓實(shí)現(xiàn)其所有輸出引腳為高阻態(tài)；2)使用所有輸出引腳為高阻態(tài)的專用集成電路芯片；3)改變被測(cè)集成電路芯片內(nèi)部裸片的物理結(jié)構(gòu)，使被測(cè)集成電路芯片的所有輸出引腳為高阻態(tài)。
[0011]第二步，將被測(cè)集成電路芯片的所有引腳施加上述(N+1)種電壓中的一種；方法包括:將所有輸入引腳和輸出引腳分配(N+1)種電壓中的一種，分配原則為盡量使分配相同電壓的引腳對(duì)應(yīng)的鍵合金絲距離最遠(yuǎn)；各電源和地引腳分別按被測(cè)集成電路的使用指南要求連接分配給該引腳的電壓。如果在第一步中采用根據(jù)被測(cè)集成電路的使用指南對(duì)被測(cè)集成電路芯片的配置引腳施加配置電壓實(shí)現(xiàn)其所有輸出引腳為高阻態(tài)的方法來配置被測(cè)集成電路芯片的所有輸出引腳為高阻態(tài)，則上述配置引腳維持第一步施加的配置電壓，不再由第二步分配電壓。
[0012]第三步，將被測(cè)集成電路芯片置于振動(dòng)環(huán)境中振動(dòng)并對(duì)被測(cè)集成電路芯片供電。
[0013]第四步，實(shí)時(shí)監(jiān)控流過每一種電壓的電流，如果發(fā)現(xiàn)電流脈沖則轉(zhuǎn)第六步，否則轉(zhuǎn)
第五步。
[0014]第五步，如果振動(dòng)時(shí)間超過預(yù)定時(shí)間(預(yù)定時(shí)間滿足國(guó)軍標(biāo)548B-2005中對(duì)振動(dòng)時(shí)間的規(guī)定)，則轉(zhuǎn)第八步，否則返回第四步。
[0015]第六步，對(duì)電流脈沖進(jìn)行捕獲和記錄，并判斷鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象是否發(fā)生。如果被測(cè)集成電路芯片發(fā)生鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象，則轉(zhuǎn)第七步；如果電流脈沖并非鍵合絲觸碰短路導(dǎo)致(如電磁干擾等)，則返回第四步。
[0016]第七步，檢測(cè)結(jié)束，判定結(jié)果為鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象發(fā)生。
[0017]第八步，檢測(cè)結(jié)束，判定結(jié)果為無鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象發(fā)生。
[0018]第六步判斷鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象是否發(fā)生的方法為:如果(N+1)種電壓中任意兩種電壓同時(shí)出現(xiàn)運(yùn)動(dòng)方向相反的電流脈沖(即一種電壓的電流脈沖進(jìn)入被測(cè)集成電路芯片，另一種電壓的電流脈沖離開被測(cè)集成電路芯片)，則判定被測(cè)集成電路芯片發(fā)生鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象。
[0019]采用本發(fā)明可以達(dá)到以下技術(shù)效果:
[0020]本發(fā)明優(yōu)于基于高速攝影的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法和基于帶電工作的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法。主要原因在于:本發(fā)明利用了帶有不同電壓的鍵合絲在強(qiáng)振動(dòng)環(huán)境下觸碰短路時(shí)會(huì)產(chǎn)生電流脈沖的物理特性，通過捕獲運(yùn)動(dòng)方向相反的電流脈沖信號(hào)，能夠檢測(cè)出振動(dòng)環(huán)境下集成電路芯片內(nèi)鍵合絲的所有觸碰短路現(xiàn)象，不會(huì)發(fā)生漏檢。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0021]圖1為本發(fā)明基于脈沖捕獲的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法的流程圖。
[0022]圖2為本發(fā)明供電和電流測(cè)量系統(tǒng)的一種實(shí)施方式示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0023]圖1為本發(fā)明基于脈沖捕獲的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法的流程圖。作為一個(gè)實(shí)施例，約定被測(cè)集成電路芯片正常工作時(shí)使用3種不同的電源電壓VpV2和V3，即共使用4種電壓(3種電源電壓和地V4)。被測(cè)集成電路芯片的每個(gè)引腳分別通過一根鍵合絲與內(nèi)部裸片連接。被測(cè)集成電路芯片的使用指南規(guī)定，對(duì)被測(cè)集成電路芯片的輸入引腳Pp P2和P3施加電壓V4，可實(shí)現(xiàn)被測(cè)集成電路芯片的所有輸出引腳為高阻態(tài)。
[0024]所述的基于脈沖捕獲的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法，包括以下步驟:
[0025]第一步:由于被測(cè)集成電路芯片的使用指南規(guī)定對(duì)被測(cè)集成電路芯片的輸入引腳P1^ P2和P3施加電壓V4可以使被測(cè)集成電路芯片的所有輸出引腳為高阻態(tài)，所以對(duì)被測(cè)集成電路芯片的輸入引腳Pp P2和P3施加電壓V4，使被測(cè)集成電路芯片的所有輸出引腳為高阻態(tài)。
[0026]第二步:將被測(cè)集成電路所有引腳施加上述4種電壓中的一種。其中，？1、？2和卩3施加電壓V4，將除P p P2和P3以外的所有輸入引腳和輸出引腳分配并連接上述4種電壓中的一種，分配原則為盡量使分配相同電壓的引腳對(duì)應(yīng)的鍵合金絲距離最遠(yuǎn)；各電源和地引腳分別連接被測(cè)集成電路的使用指南要求該引腳連接的電壓。
[0027]第三步:將被測(cè)集成電路芯片置于振動(dòng)環(huán)境進(jìn)行振動(dòng)并對(duì)被測(cè)集成電路芯片供電。
[0028]第四步:實(shí)時(shí)監(jiān)控流過每一種電壓的電流，如果發(fā)現(xiàn)電流脈沖則進(jìn)入第六步，否則進(jìn)入第五步。
[0029]第五步，如果已振動(dòng)預(yù)定時(shí)間，則進(jìn)入第八步，否則返回第四步。
[0030]第六步:對(duì)電流脈沖進(jìn)行捕獲和記錄。如果4種電壓中任意兩種電壓同時(shí)出現(xiàn)運(yùn)動(dòng)方向相反的電流脈沖(即一種電壓的電流脈沖進(jìn)入被測(cè)集成電路芯片，另一種電壓的電流脈沖離開被測(cè)集成電路芯片)，則進(jìn)入第七步；如果電流脈沖并非鍵合絲觸碰短路導(dǎo)致(如電磁干擾等)，則返回第四步。
[0031]第七步，檢測(cè)結(jié)束，判定結(jié)果為鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象發(fā)生。
[0032]第八步，檢測(cè)結(jié)束，判定結(jié)果為無鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象發(fā)生。
[0033]所述第一步中對(duì)被測(cè)集成電路芯片的輸入引腳Pp P2和P3施加電壓V4、第二步中將被測(cè)集成電路的除PpP2和P3以外的所有引腳連接上述4種電壓中的一種和第四步中實(shí)時(shí)監(jiān)控流過每一種電壓的電流并發(fā)現(xiàn)電流脈沖可以由圖2所示的供電和測(cè)量系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)。
[0034]圖2所示供電和測(cè)量系統(tǒng)由供電電源、實(shí)時(shí)示波器和測(cè)試電路組成。供電電源的輸出端口連接測(cè)試電路，實(shí)時(shí)示波器的電流探頭連接供電電源的輸出端口。
[0035]供電電源通過如下方法構(gòu)成:將3臺(tái)美國(guó)安捷倫公司生產(chǎn)的6611C型程控電壓源的地并聯(lián)，組合成具有4路輸出端口的供電電源，提供被測(cè)集成電路芯片正常工作需要的4種電壓。4路輸出端口分別為3路電源通道Sp S2、S3和地S4。S1輸出電壓V1, S2輸出電壓V2, S3輸出電壓V3, S4輸出電壓V4。供電電源不限于米用3臺(tái)6611C型程控電壓源的組合，能夠提供被測(cè)集成電路芯片正常工作的3種電源電壓的電壓源或電池等供電電源或供電電源的組合也能采用。
[0036]實(shí)時(shí)示波器采用美國(guó)力科公司生產(chǎn)的SDA845Z 1-A高帶寬實(shí)時(shí)示波器，具有4路輸入通道C1X2X3和C4。4路輸入通道分別安裝了 4個(gè)電流探頭，分別連接供電電源的S1、S2、S3和S4,實(shí)時(shí)監(jiān)控S1、S2、S3和S4上流過的電流。實(shí)時(shí)示波器的觸發(fā)模式配置為4路輸入通道同時(shí)觸發(fā)，即4路輸入通道中任意一路輸入通道發(fā)生觸發(fā)事件則實(shí)時(shí)示波器捕獲和記錄上述4路輸入通道的波形。各輸入通道的觸發(fā)模式配置為監(jiān)控的電流大于非振動(dòng)環(huán)境下電流最大值的10%或小于非振動(dòng)環(huán)境下電流最小值的10%則發(fā)生觸發(fā)事件，即發(fā)現(xiàn)電流脈沖。實(shí)時(shí)示波器不限于采用SDA845Z1-A高帶寬實(shí)時(shí)示波器，任意可以提供4路輸入通道同時(shí)觸發(fā)功能的示波器或多臺(tái)示波器的組合也能采用。
[0037]測(cè)試電路由4路電源輸入端口和導(dǎo)線網(wǎng)絡(luò)組成。被測(cè)集成電路芯片安裝在測(cè)試電路上。測(cè)試電路的電源輸入端口 IR、IN2, IN3和IN4分別連接供電電源的輸出端口 Sp S2,S3和S4。導(dǎo)線網(wǎng)絡(luò)連接4路電源輸入端口和被測(cè)集成電路的所有引腳，施加第一步和第二步確定的電壓到被測(cè)集成電路芯片的每一個(gè)引腳。
[0038]本發(fā)明實(shí)施例第四步中實(shí)時(shí)監(jiān)控流過每一種電壓的電流并發(fā)現(xiàn)電流脈沖是通過圖2所示的供電和測(cè)量系統(tǒng)來實(shí)現(xiàn)的，即安裝電流探頭的實(shí)時(shí)示波器實(shí)時(shí)監(jiān)控各路電源通道的電流來發(fā)現(xiàn)電流脈沖。在本發(fā)明的實(shí)際應(yīng)用中，電流測(cè)量和實(shí)時(shí)監(jiān)控作為一種公知技術(shù)，本領(lǐng)域技術(shù)人員還可以采用其它方式來實(shí)時(shí)監(jiān)控流過每一種電壓的電流并發(fā)現(xiàn)電流脈沖，包括各類電流測(cè)量電路、電流測(cè)量?jī)x器等，相關(guān)文獻(xiàn)和專利眾多，在此不一一列舉。
[0039]本發(fā)明實(shí)施例的被測(cè)集成電路芯片正常工作時(shí)使用3種不同的電源電壓，且可以對(duì)輸入引腳PpP2和P3施加電壓V4來實(shí)現(xiàn)所有輸出引腳為高阻態(tài)。相應(yīng)地，圖2所示的供電和測(cè)量系統(tǒng)也提供3種不同的電源電壓，并對(duì)輸入引腳PpP2和P3施加電壓V4,并監(jiān)控該3種電源電壓和地上的電流。在本發(fā)明的實(shí)際應(yīng)用中，被測(cè)集成電路芯片電源電壓的種類可能是不同的，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以相應(yīng)改變供電電源的輸出端口數(shù)量、實(shí)時(shí)示波器的輸入通道數(shù)量和測(cè)試電路來適應(yīng)電源電壓種類的改變。此外，對(duì)于不同的被測(cè)集成電路芯片，配置其所有輸出引腳為高阻態(tài)的方式可能是不同的，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以根據(jù)被測(cè)集成電路芯片的使用指南來相應(yīng)修改供電和測(cè)量系統(tǒng)中的測(cè)試電路，實(shí)現(xiàn)被測(cè)集成電路芯片的所有輸出引腳為高阻態(tài)。
【權(quán)利要求】
1.一種基于脈沖捕獲的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法，其特征在于包括以下步驟: 第一步，配置被測(cè)集成電路芯片的所有輸出引腳為高阻態(tài)； 第二步，將被測(cè)集成電路芯片的所有引腳施加N+1種電壓中的一種；方法包括:將所有輸入引腳和輸出引腳分配N+1種電壓中的一種，分配原則為盡量使分配相同電壓的引腳對(duì)應(yīng)的鍵合金絲距離最遠(yuǎn)；各電源和地引腳分別按被測(cè)集成電路的使用指南要求連接分配給該引腳的電壓；所述N+1種電壓指被測(cè)集成電路芯片正常工作時(shí)使用N種不同的電源電壓和地，N為大于等于I的自然數(shù)； 第三步，將被測(cè)集成電路芯片置于振動(dòng)環(huán)境中振動(dòng)并對(duì)被測(cè)集成電路芯片供電； 第四步，實(shí)時(shí)監(jiān)控流過每一種電壓的電流，如果發(fā)現(xiàn)電流脈沖則轉(zhuǎn)第六步，否則轉(zhuǎn)第五ι K少； 第五步，如果振動(dòng)時(shí)間超過預(yù)定時(shí)間，則轉(zhuǎn)第八步，否則返回第四步； 第六步，對(duì)電流脈沖進(jìn)行捕獲和記錄，并判斷鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象是否發(fā)生，判斷方法為:如果N+1種電壓中任意兩種電壓同時(shí)出現(xiàn)運(yùn)動(dòng)方向相反的電流脈沖，則判定被測(cè)集成電路芯片發(fā)生鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象；如果被測(cè)集成電路芯片發(fā)生鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象，則轉(zhuǎn)第七步；如果電流脈沖并非鍵合絲觸碰短路導(dǎo)致，則返回第四步； 第七步，檢測(cè)結(jié)束，判定結(jié)果為鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象發(fā)生； 第八步，檢測(cè)結(jié)束，判定結(jié)果為無鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象發(fā)生。
2.如權(quán)利要求1所述的基于脈沖捕獲的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法，其特征在于配置被測(cè)集成電路芯片的所有輸出引腳為高阻態(tài)的方法是根據(jù)被測(cè)集成電路的使用指南對(duì)被測(cè)集成電路芯片的配置引腳施加配置電壓實(shí)現(xiàn)其所有輸出引腳為高阻態(tài)。
3.如權(quán)利要求1所述的基于脈沖捕獲的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法，其特征在于配置被測(cè)集成電路芯片的所有輸出引腳為高阻態(tài)的方法是使用所有輸出引腳為高阻態(tài)的專用集成電路芯片。
4.如權(quán)利要求1所述的基于脈沖捕獲的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法，其特征在于配置被測(cè)集成電路芯片的所有輸出引腳為高阻態(tài)的方法是改變被測(cè)集成電路芯片內(nèi)部裸片的物理結(jié)構(gòu)，使被測(cè)集成電路芯片的所有輸出引腳為高阻態(tài)。
5.如權(quán)利要求1或2所述的基于脈沖捕獲的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法，其特征在于所述配置引腳維持第一步施加的配置電壓，不再由第二步分配電壓。
6.如權(quán)利要求1所述的基于脈沖捕獲的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法，其特征在于所述兩種電壓同時(shí)出現(xiàn)運(yùn)動(dòng)方向相反是指一種電壓的電流脈沖進(jìn)入被測(cè)集成電路芯片，另一種電壓的電流脈沖離開被測(cè)集成電路芯片。
7.如權(quán)利要求1所述的基于脈沖捕獲的鍵合絲觸碰短路檢測(cè)方法，其特征在于所述預(yù)定時(shí)間滿足國(guó)軍標(biāo)548B-2005中對(duì)振動(dòng)時(shí)間的規(guī)定。
【文檔編號(hào)】G01R31/02GK103823147SQ201310537938
【公開日】2014年5月28日 申請(qǐng)日期:2013年11月4日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月4日
【發(fā)明者】池雅慶, 陳書明, 孫永節(jié), 郭陽, 王麗萍, 梁斌, 陳建軍 申請(qǐng)人:中國(guó)人民解放軍國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué)