一種開放光路式氣體分析儀通量校正測量裝置及測量方法
【專利摘要】一種開放光路式氣體分析儀通量校正測量裝置及方法，包括：溫度探測器，用于探測氣體測量儀表面溫度；帕爾貼制冷元件，與光路底部外殼相接觸，用于調(diào)整儀器外殼溫度；裝有紅外濾光片的碼盤，所述碼盤周長邊沿刻有等間距排列的狹縫，所述碼盤在測量氣體的轉(zhuǎn)動過程中，通過狹縫產(chǎn)生斬波信號，用于同步觸發(fā)A/D模塊采集溫度探測器上的信號；基于DSP和CPLD的溫控電路，根據(jù)所述碼盤轉(zhuǎn)動的同步信號，采集所述溫度探測器的溫度數(shù)據(jù)，產(chǎn)生脈寬調(diào)制信號（PMW）驅(qū)動帕爾貼元件制冷；同時根據(jù)所述溫度數(shù)據(jù)進行運算處理，產(chǎn)生WPL通量校準項，對通量進行實時校準。本發(fā)明通過實時溫差數(shù)據(jù)計算出WPL通量校準項，可進一步提高氣體分析儀的測量精度和穩(wěn)定性。
【專利說明】一種開放光路式氣體分析儀通量校正測量裝置及測量方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種可提高開放光路式非分散紅外(NDIR)氣體分析儀通量測量精度的方法，具體為氣體測量儀儀器表面發(fā)熱引起通量測量誤差的校正方法及電路。
【背景技術】
[0002]了解陸地生態(tài)系統(tǒng)的碳水循環(huán)過程是認識全球氣候變化的重要途徑，可以為緩解淡水資源短缺、調(diào)控全球變暖進程和農(nóng)業(yè)生產(chǎn)生活等方面提供科學依據(jù)。國際上各通量站點通常采用開放光路式NDIR氣體分析儀，作為野外長期研究C02、H20和CH4等氣體在陸地和海洋生態(tài)系統(tǒng)中交換過程的設備。但由于開路式氣體分析儀儀器表面發(fā)熱會造成氣體通量測量誤差，儀器公司和各通量站點研究人員采用不同的方法對測量誤差進行校準。
[0003]目前L1-COR公司的L1-7500為世界上各氣體通量測量站點使用的主流氣體分析儀，該儀器通過內(nèi)部帕爾貼制冷，來控制儀器表面發(fā)熱，減小儀器發(fā)熱對氣體通量測量的影響。但該儀器只設定一檔+30°C固定溫控閾值，該閾值不能隨環(huán)境溫度進行調(diào)整，在環(huán)境溫度和該溫控閾值溫度相差較大時，表面發(fā)熱導致通量增加的現(xiàn)象仍然較為嚴重，尤其是在環(huán)境溫度低于0°C以下，造成的通量測量誤差更為嚴重。同時一些站點研究人員通過后期數(shù)據(jù)處理，來消除氣體分析儀表面熱現(xiàn)象造成的數(shù)據(jù)誤差，一般做法是在Webb-Pearman-Leuning(WPL)函數(shù)中增加溫差修正項,但該方法存在以下缺點:(1)不同外形的儀器修正項不同，不能通用；(2)修正項系數(shù)都是通過先驗數(shù)據(jù)生成，不能針對不同氣體分析儀，通過實時環(huán)境數(shù)據(jù)和氣體分析儀表面形狀數(shù)據(jù)匹配，進行誤差修正。
[0004]開路式氣體分析儀儀器表面熱效應，不僅僅跟內(nèi)部電子學電路發(fā)熱有關，還跟儀器光路的三維形狀，儀器安裝位置，太陽照射角度，儀器外殼的長波輻射都有很大關系，僅僅靠儀器外殼固定溫度設置或者以往經(jīng)驗模型匹配是無法完成精確修正氣體通量測量的誤差。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明技術解決方案:為了解決上述【背景技術】中存在的問題，本發(fā)明提出了一種開放光路式氣體測量儀儀器表面發(fā)熱引起通量測量誤差的校正方法及電路，可根據(jù)氣體分析儀光路結(jié)構安裝溫度探測器，提高數(shù)據(jù)獲取的準確率；溫度探測器最多支持8個通道，滿足復雜氣體分析儀的三維溫度數(shù)據(jù)獲取要求，為精確反演開路式氣體分析儀表面加熱現(xiàn)象提供依據(jù)；通過實時溫差數(shù)據(jù)計算出WPL通量校準項，可進一步提高氣體分析儀的測量精度和穩(wěn)定性。
[0006]本發(fā)明的技術方案包括:一種改善開放光路式氣體測量儀儀器表面發(fā)熱引起通量測量誤差的裝置，其包括一組溫度探測器，這些溫度探測器根據(jù)光路表面形狀，安裝在氣體分析儀外殼不同的位置，用于探測儀器表面溫度；一組帕爾貼制冷元件，安裝在儀器內(nèi)部，跟光路底部外殼相接觸，用于調(diào)整儀器外殼溫度；一個裝有紅外濾光片的碼盤，該碼盤周長邊沿刻有等間距排列的狹縫，該碼盤在測量氣體的轉(zhuǎn)動過程中，可通過狹縫產(chǎn)生斬波信號，用于同步觸發(fā)A/D模塊采集溫度探測器上的信號；
[0007]該裝置還包括一套基于DSP和CPLD的溫控電路。該電路根據(jù)碼盤轉(zhuǎn)動的同步信號，采集上述溫度探測器的溫度數(shù)據(jù)，產(chǎn)生脈寬調(diào)制信號(PMW)驅(qū)動帕爾貼元件制冷；同時根據(jù)該溫度數(shù)據(jù)，DSP進行運算處理，產(chǎn)生WPL通量校準項，對通量進行實時校準。
[0008]上述裝置中安裝的溫度探測器數(shù)量，最多可有8路同時工作；溫度探測器數(shù)量可根據(jù)所要安裝的氣體分析儀儀器發(fā)熱表面形狀來確定。
[0009]上述裝置中安裝的溫度探測器，其中必須有一路安裝在氣體分析儀光路外，作為環(huán)境溫度探測使用。
[0010]上述裝置中安裝的溫度探測器采用寬溫，熱慣性小的熱敏電阻。
[0011]上述裝置中安裝的帕爾貼制冷元件數(shù)量為2塊。
[0012]上述裝置中安裝的帕爾貼制冷元件所要達到的制冷溫度，根據(jù)溫度探測器獲得的氣體分析儀光路內(nèi)溫度、環(huán)境溫度和軟件設定的閾值溫度共同決定。
[0013]上述裝置中安裝的帕爾貼制冷元件，后面接有驅(qū)動電路，該驅(qū)動電路接收CPLD產(chǎn)生PMW脈沖進行制冷。
[0014]上述裝置中裝有紅外濾光片的碼盤，碼盤周邊等間距刻劃127個狹縫，且第一個狹縫缺失。碼盤轉(zhuǎn)動過程中，光信號透過狹縫產(chǎn)生連續(xù)的斬波信號，CPLD處理電路依據(jù)斬波信號產(chǎn)生同步觸發(fā)信號，觸發(fā)A/D電路采集溫度探測器的值。
[0015]上述裝置中碼盤上的紅外濾光片設置為4個，2個參考濾光片，2個所需測量氣體的濾光片，溫度測量只需發(fā)生在氣體測量時。
[0016]上述裝置中的CPLD內(nèi)設定兩個計數(shù)器，計數(shù)器I以斬波信號作為計數(shù)時鐘，當計數(shù)值等于對應氣體通道的設定值時，產(chǎn)生同步觸發(fā)信號給A/D采集模塊；計數(shù)器2對斬波方波的每個脈寬進行計數(shù)，當計數(shù)值為上述第一個缺失狹縫的寬度時，產(chǎn)生碼盤的圈同步信號。
[0017]上述裝置中碼盤斬波信號的產(chǎn)生，使用的是發(fā)光二極管和PIN光電探測器。
[0018]上述裝置中的PIN光電探測器后面接有放大器，放大器輸出信號經(jīng)過比較器進CPLD。
[0019]上述裝置中的DSP對接收到的A/D信號做如下處理，可獲得WPL通量的校準項:
[0020]A、獲得氣體分析儀光路內(nèi)溫度和環(huán)境溫度，算得溫差。
[0021]B、比較溫差和程序設定閾值，判斷是否需要驅(qū)動CPLD產(chǎn)生制冷信號。
[0022]C、當溫差在程序設定范圍內(nèi)，重新獲得氣體分析儀光路內(nèi)溫度和環(huán)境溫度，再次計算溫差，同時從氣體分析儀獲得平均風速變量。
[0023]D、計算WPL通量校準項。
[0024]E、把校準項帶入通量公式，計算校準后通量。
[0025]所述的方法，其中步驟A中溫差數(shù)據(jù)一般包括底部溫差，頂部溫差和支撐桿溫差。
[0026]所述的方法，其中步驟B在判斷是否需要制冷時，所需的溫差值選取底部溫差作為判定依據(jù)。
[0027]所述的方法，其中步驟B中程序設定的溫差，是固化在程序中的溫度閾值，該閾值可根據(jù)需要由使用者更改。
[0028]所述的方法，其中步驟D中WPL通量校準項主要包括底部校準項、頂部校準項和支撐桿校準項，且校準項不應以這三項為限，可根據(jù)氣體分析儀表面形狀增加或減少。
[0029]本發(fā)明與現(xiàn)有技術相比的優(yōu)點在于:可根據(jù)氣體分析儀光路結(jié)構安裝溫度探測器，提高數(shù)據(jù)獲取的準確率；最多可同時采集8個溫度探測器，滿足復雜氣體分析儀的三維溫度數(shù)據(jù)獲取要求，為精確反演開路式氣體分析儀表面加熱現(xiàn)象提供依據(jù)；通過實時溫差數(shù)據(jù)計算出WPL通量校準項，可進一步提高氣體分析儀的測量精度和穩(wěn)定性。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0030]圖1是安裝了本發(fā)明熱補償電路的氣體分析儀結(jié)構圖。
[0031]圖2是本發(fā)明基于DSP和CPLD的信號處理電路結(jié)構圖。
[0032]圖3是本發(fā)明的信號處理流程示意圖。
[0033]其中，圖1中各標號如下:1、氣體分析儀頂部外殼；2、安裝于頂部的熱探測器；3、氣體分析儀頂部光路接收窗口 ；4、光路；5、氣體分析儀支撐桿；6、安裝于氣體分析儀支撐桿上的熱探測器；7、安裝于氣體分析儀底部的熱探測器；8、氣體分析儀底部殼內(nèi)的帕爾貼
I;9、用于探測斬波信號的PIN管；10、氣體分析儀底部光路發(fā)射窗口 ；11、氣體分析儀底部殼內(nèi)的帕爾貼2 ;12、碼盤；13、電機；14、用于探測環(huán)境溫度的熱探測器；15、DSP數(shù)據(jù)處理板。
【具體實施方式】
[0034]以下結(jié)合附圖，通過實例對本發(fā)明進行更為詳細的說明。
[0035]如圖1所示，本發(fā)明是一種可通過安裝在氣體分析儀表面不同部位的快速響應熱探測器，實時探測儀器外殼溫度和環(huán)境溫度差異，通過信號處理器計算產(chǎn)生校準數(shù)據(jù)，快速的對氣體通量測量數(shù)據(jù)進行修正。
[0036]本發(fā)明中溫度數(shù)據(jù)采集的快速和實時性，是通過氣體分析儀內(nèi)部碼盤轉(zhuǎn)動產(chǎn)生斬波信號，在采集氣體信號時，同步觸發(fā)A/D采集溫度數(shù)據(jù)來保證的。
[0037]本發(fā)明中，在溫度數(shù)據(jù)獲得后，首先計算溫差數(shù)據(jù)，并和軟件內(nèi)部設定的閾值比較，大于閾值的啟動帕爾貼制冷，達到減小溫差的目的，在溫差小于閾值后，再獲得溫度數(shù)據(jù)，計算WPL校準項，進行通量校準；小于閾值的，不需要啟動帕爾貼，可直接計算WPL校準項。
[0038]本實施例中，本發(fā)明的氣體分析儀表面發(fā)熱熱補償裝置基本結(jié)構包括:使用了 4個溫度探測器，為2、6、7、14，分別安裝在氣體分析儀的儀器的頂部下表面(Top)、支撐桿上(Spar)、底部上表面(Bottom)和氣體分析儀周圍(Ambient),通過導線連接在DSP信號采集板15上；兩個制冷帕爾貼8、11，安裝在底部發(fā)射光路兩邊，通過導線連接在DSP信號采集板15上；一電機13，由電源驅(qū)動；一碼盤12，由所述電機13帶動按設定頻率旋轉(zhuǎn)；碼盤12上裝有四個濾光片，兩個測量濾光片和兩個參考濾光片，碼盤12的周邊等間距刻畫有127個槽，其中在兩個參考濾光片之間缺失一個槽；一個發(fā)光二極管和一個PIN管9 ;當碼盤12轉(zhuǎn)動時，PIN管9接收到斬波信號，通過信號放大器，輸入給信號處理電板15，信號處理板15在碼盤12轉(zhuǎn)到第48號和80號槽時，觸發(fā)A/D電路采集溫度探測器2、6、7、14 ;信號處理板15得到溫度數(shù)據(jù)，計算溫差數(shù)據(jù)，驅(qū)動帕爾貼8、11制冷，并計算WPL校準項。
[0039]如圖2所示，在上述斬波信號產(chǎn)生后，本發(fā)明信號處理和電路動作過程如下:碼盤轉(zhuǎn)動產(chǎn)生斬波信號，經(jīng)過放大、比較整形電路生成方波信號，輸入CPLD同步輸出模塊，CPLD通過計數(shù)，產(chǎn)生觸發(fā)脈沖，此脈輸入多通道A/D采集電路，A/D采集電路完成熱敏電阻信號采集，產(chǎn)生中斷，DSP進入中斷程序完成數(shù)據(jù)讀??；DSP根據(jù)程序設定的閾值，產(chǎn)生驅(qū)動信號，控制驅(qū)動模塊使帕爾貼制冷。
[0040]在本發(fā)明的CPLD同步輸出模塊內(nèi)，通過設定兩個計數(shù)器實現(xiàn)碼盤的圈同步和氣體信號與溫度采集的同步。計數(shù)器countl對碼盤斬波產(chǎn)生的每個方波寬度進行計數(shù)，產(chǎn)生圈同步信號；計數(shù)器count2對碼盤斬波產(chǎn)生的方波個數(shù)計數(shù)，產(chǎn)生溫度采集同步信號。
[0041]在本發(fā)明的CPLD同步輸出模塊內(nèi)，在本實施例中，countl的工作時鐘為40MHz，count2的工作時鐘為碼盤斬波頻率，約26KHz。
[0042]在本發(fā)明的CPLD同步輸出模塊內(nèi)，上述斬波產(chǎn)生的方波信號，為高電平時，countl計數(shù),為低電平時，countl清零。
[0043]在本發(fā)明的CPLD同步輸出模塊內(nèi)，上述斬波產(chǎn)生的方波信號觸發(fā)count2計數(shù)，程序設定count2計數(shù)器值為48和80,產(chǎn)生A/D觸發(fā)脈沖；計數(shù)器countl在計數(shù)值大于1540時，count2清零。
[0044]本實施例中，上述的Count2計數(shù)器值為48和80，是根據(jù)狹縫編號對應的氣體濾光片位置決定的，計數(shù)器countl計數(shù)值大于1540，是根據(jù)碼盤缺失槽寬度決定的，本發(fā)明countl和count2計數(shù)器計數(shù)值應不僅限于該數(shù)值。
[0045]在本發(fā)明的CPLD同步輸出模塊產(chǎn)生A/D觸發(fā)脈沖后，在本實施例中，DSP依次讀取A/D內(nèi)4個溫度傳感器的值，并設定熱敏電阻14的值為上述帕爾貼啟動需要判定的閾值。如果熱敏電阻7的溫度值與該閾值相差大于5°C，則產(chǎn)生驅(qū)動信號啟動帕爾貼制冷，在溫差小于5°C后，關閉CPLD驅(qū)動模塊。
[0046]在上述帕爾貼啟動需要判定的閾值階段，本實施例中，設定溫差為5°C，該溫差值根據(jù)功耗需求可調(diào)，本發(fā)明應不僅限于該數(shù)值。
[0047]在上述CPLD驅(qū)動模塊驅(qū)動帕爾貼制冷階段，CPLD產(chǎn)生78.12KHz方波信號，經(jīng)過積分放大器一端輸入，形成三角波信號；積分放大器另一端輸入為DSP設定電平，即為制冷目標值。放大器輸出經(jīng)過比較器，產(chǎn)生寬度可調(diào)的PWM信號，通過H橋驅(qū)動，使帕爾貼制冷。
[0048]在本發(fā)明的帕爾貼制冷啟動判定階段，DSP采集溫度信號，并在DSP內(nèi)進行信號處理，信號處理流程如圖3所示:
[0049]1、在本實施例中，獲取氣體分析儀4個部位的溫度值，光路連接桿溫度6 =Tspm，光路底部溫度7 =Tbtrttom，光路頂部溫度2:Tt()p，光路外圍溫14 =Ta ;并計算溫差項，連接桿溫差:Tspm-Ta，光路底部溫差:T

光路頂部溫差=Tttjp-Ta ；
[0050]2、在本實施例中，以Ttottrail-Ta作為溫差項，溫差大于5°C時，DSP產(chǎn)生驅(qū)動信號驅(qū)動帕爾貼制冷；帕爾貼處于關閉狀態(tài)，溫差小于5°C時，在碼盤盤旋轉(zhuǎn)進入下一輪測量時，重新獲得氣體分析儀4個部位的溫度值和溫差值，同時獲得風速變量U:
[0051]3、根據(jù)氣體分析儀結(jié)構，通過以下表達式獲得以下參數(shù):
【權利要求】
1.一種開放光路式氣體分析儀通量校正測量裝置，其特征在于包括: 一組溫度探測器，根據(jù)光路表面形狀，安裝在氣體測量儀外殼不同的位置，用于探測氣體測量儀表面溫度； 一組帕爾貼制冷元件，安裝在氣體測量儀內(nèi)部，與光路底部外殼相接觸，用于調(diào)整儀器外殼溫度； 一個裝有紅外濾光片的碼盤，所述碼盤周長邊沿刻有等間距排列的狹縫，所述碼盤在測量氣體的轉(zhuǎn)動過程中，通過狹縫產(chǎn)生斬波信號，用于同步觸發(fā)A/D模塊采集溫度探測器上的信號； 一套基于DSP和CPLD的溫控電路，根據(jù)所述碼盤轉(zhuǎn)動的同步信號，采集所述溫度探測器的溫度數(shù)據(jù)，產(chǎn)生脈寬調(diào)制信號(PMW)驅(qū)動帕爾貼元件制冷；同時根據(jù)所述溫度數(shù)據(jù)進行運算處理，產(chǎn)生WPL通量校準項，對通量進行實時校準。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種開放光路式氣體分析儀通量校正測量裝置，其特征在于:所述基于DSP和CPLD的溫控電路包括多通道A/D采集模塊、DSP數(shù)據(jù)處理與WPL校準模塊、CPLD驅(qū)動模塊、CPLD同步輸出模塊、整形電路；碼盤轉(zhuǎn)動使得PIN光電探測器產(chǎn)生斬波信號，經(jīng)過整形電路放 大、比較生成方波信號，輸入CPLD同步輸出模塊，CPLD同步輸出模塊通過計數(shù)產(chǎn)生觸發(fā)脈沖，此脈沖輸入多通道A/D采集模塊，多通道A/D采集模塊完成熱敏電阻信號采集，產(chǎn)生中斷，DSP數(shù)據(jù)處理與WPL校準模塊進入中斷程序完成溫度數(shù)據(jù)讀取，判斷溫差數(shù)據(jù)，溫差大于設定的閾值，產(chǎn)生驅(qū)動信號，控制CPLD驅(qū)動模塊使帕爾貼制冷元件制冷，溫差小于設定的閾值，計算光路通量校準項，并獲得氣體通量值。
3.根據(jù)權利要求1所述的一種開放光路式氣體分析儀通量校正測量裝置，其特征在于:所述溫度探測器數(shù)量根據(jù)所要安裝的氣體分析儀儀器發(fā)熱表面形狀來確定，數(shù)量最多為8路同時工作。
4.根據(jù)權利要求1所述的一種開放光路式氣體分析儀通量校正測量裝置，其特征在于:所述一組溫度探測器中必須有一路安裝在氣體分析儀光路外，作為環(huán)境溫度探測使用。
5.根據(jù)權利要求1所述的一種開放光路式氣體分析儀通量校正測量裝置，其特征在于:所述溫度探測器采用測量溫度范圍在-40~+150°C的熱敏電阻。
6.根據(jù)權利要求1所述的一種開放光路式氣體分析儀通量校正測量裝置，其特征在于:所述帕爾貼制冷元件數(shù)量為2塊。
7.根據(jù)權利要求1所述的一種開放光路式氣體分析儀通量校正測量裝置，其特征在于:所述帕爾貼制冷元件所要達到的制冷溫度，根據(jù)溫度探測器獲得的氣體分析儀光路內(nèi)溫度、環(huán)境溫度和軟件設定的閾值溫度共同決定。
8.根據(jù)權利要求1所述的一種開放光路式氣體分析儀通量校正測量裝置，其特征在于:所述帕爾貼制冷元件前接有驅(qū)動電路，該驅(qū)動電路接收CPLD驅(qū)動模塊產(chǎn)生PMW脈沖進行制冷。
9.根據(jù)權利要求1所述的一種開放光路式氣體分析儀通量校正測量裝置，其特征在于:所述紅外濾光片的碼盤周邊等間距刻劃127個狹縫，且第一個狹縫缺失。碼盤轉(zhuǎn)動過程中，光信號透過狹縫產(chǎn)生連續(xù)的斬波信號，CPLD同步輸出模塊依據(jù)斬波信號產(chǎn)生同步觸發(fā)信號，觸發(fā)多通道A/D采集模塊采集溫度探測器的值。
10.根據(jù)權利要求1所述的一種開放光路式氣體分析儀通量校正測量裝置，其特征在于:所述碼盤上的紅外濾光片設置為4個，其中2個參考濾光片，2個所需測量氣體的濾光片，溫度測量只需發(fā)生在氣體測量時。
11.根據(jù)權利要求2所述的一種開放光路式氣體分析儀通量校正測量裝置，其特征在于:所述CPLD同步輸出模塊內(nèi)設定兩個計數(shù)器，第一計數(shù)器以斬波信號作為計數(shù)時鐘，當計數(shù)值等于對應氣體通道的設定值時，產(chǎn)生同步觸發(fā)信號給多通道A/D采集模塊；第二計數(shù)器對斬波方波的每個脈寬進行計數(shù)，當計數(shù)值為上述第一個缺失狹縫的寬度時，產(chǎn)生碼盤的圈同步信號。
12.根據(jù)權利要求1所述的一種開放光路式氣體分析儀通量校正測量裝置，其特征在于:所述碼盤斬波信號的產(chǎn)生使用發(fā)光二極管和PIN光電探測器。
13.根據(jù)權利要求2所述的一種開放光路式氣體分析儀通量校正測量裝置，其特征在于:所述PIN光電探測器后面接有放大器，放大器輸出信號經(jīng)過比較器進CPLD同步輸出模塊。
14.一種開放光路式氣體分析儀通量校正測量方法，其特征在于實現(xiàn)步驟如下: A、獲得氣體分析儀光路內(nèi)溫度和環(huán)境溫度，算得溫差； B、比較溫差和程序設定閾值，判斷是否需要驅(qū)動CPLD驅(qū)動模塊產(chǎn)生制冷信號； C、當溫差在程序設定范圍內(nèi)，重新獲得氣體分析儀光路內(nèi)溫度和環(huán)境溫度，再次計算溫差，同時從氣體分析儀獲得平均風速變量； D、計算WPL通量校準項； E、把校準項帶入通量公式，計算校準后通量。
15.根據(jù)權利要求14所述的方法，其特征在于:所述步驟A中溫差數(shù)據(jù)一般包括底部溫差，頂部溫差和支撐桿溫差。
16.根據(jù)權利要求14所述的方法，其特征在于:所述步驟B在判斷是否需要制冷時，所需的溫差值選取底部溫差作為判定依據(jù)。
17.根據(jù)權利要求14所述的方法，其特征在于:所述步驟B中程序設定的溫差，是固化在程序中的溫度閾值，該閾值可根據(jù)需要由使用者更改。
18.根據(jù)權利要求14所述的方法，其特征在于:所述步驟D中WPL通量校準項主要包括底部校準項、頂部校準項和支撐桿校準項，且校準項不應以這三項為限，可根據(jù)氣體分析儀表面形狀增加或減少。
【文檔編號】G01N21/00GK103528952SQ201310512524
【公開日】2014年1月22日 申請日期:2013年10月25日 優(yōu)先權日:2013年10月25日
【發(fā)明者】趙欣, 桂華僑, 余同柱 申請人:中國科學院合肥物質(zhì)科學研究院