天線檢測裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明關(guān)于一種天線檢測裝置，其包括：基座；承載平臺，該承載平臺設(shè)置于該基座上，且該承載平臺具有承載面用于承載待測裝置，該待測裝置具有第一待測天線；以及測試結(jié)構(gòu)，該測試結(jié)構(gòu)設(shè)置于該承載平臺與該基座之間，且該測試結(jié)構(gòu)包括：第一框架；第一滑動件，該第一滑動件設(shè)置于該第一框架上，且該第一滑動件可相對該第一框架于第一方向往復移動；第一接地板，該第一接地板設(shè)置于該第一滑動件上；及第一測試探針，該第一測試探針設(shè)置于該接地板上，通過滑動該第一滑動件以使該第一測試探針與該第一待測天線的接觸點電性接觸。本發(fā)明的天線檢測裝置利用滑動結(jié)構(gòu)實現(xiàn)了對不同型號的待測裝置進行檢測，從而提高了檢測效率。
【專利說明】天線檢測裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種天線檢測裝置，尤其涉及一種是用不同尺寸移動通信裝置的天線檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]天線作為移動通信裝置的關(guān)鍵組件之一，在研發(fā)過程中或出廠前均需要進行參數(shù)測試?，F(xiàn)有技術(shù)中的天線測試過程大致為:將一待測天線放置至屏蔽箱內(nèi)，該待測天線的接觸點通過導線或電纜線電連接至天線測試裝置，如矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等。
[0003]近年來，隨著科技的不斷進步，快速發(fā)展出各式各樣不同尺寸和類型的移動通信裝置，因此在移動通信裝置的天線的檢測過程中，需要依移動通信裝置的尺寸和類型制作專屬的天線檢測裝置，同時配合網(wǎng)絡(luò)分析儀(Network Analyzer)以測試其天線的參數(shù)，因而容易造成資源的浪費和成本的增加。
[0004]如圖1所示，圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的天線檢測裝置，天線檢測裝置10包括基座11、承載框架12、接地板14、測試探針13及基座柱16，其中，基座11由木材或壓克力材質(zhì)所構(gòu)成，基座11的側(cè)邊設(shè)有基座柱16，基座11的上方依次設(shè)有接地板14及承載框架12，且接地板14與承載框架12的側(cè)邊分別依次固定于基座柱16上，接地板14位于承載框架12的下方，其中，承載框架12用以承載具有待測天線的待測移動通信裝置，接地板14上設(shè)置有至少一個測試探針13，測試探針13，例如:天線彈片，測試探針13與接地板14之間電性連接，測試時，測試探針13與 待測天線的接觸點電性接觸。
[0005]天線檢測裝置10還包括至少一個同軸電纜接口 15，電纜線通過同軸電纜接口 15將天線檢測裝置10與網(wǎng)絡(luò)分析儀電性連接，且這些同軸電纜接口 15與這些測試探針13之
間--對應。
[0006]天線檢測裝置10工作時，首先，將具有待測天線的移動通信裝置放置于承載框架12上，并使得待測天線的接觸點與測試探針13電性接觸；其次，將電纜線的一端連接至同軸電纜接口 15，將電纜線的一端連接至網(wǎng)絡(luò)分析儀。測試時，通過觀察網(wǎng)絡(luò)分析儀上的天線反射系數(shù)或者駐波比等天線特性參數(shù)，以判斷待測天線是否準確組裝置至移動通信裝置上，待測天線本身的品質(zhì)是否合格等。
[0007]然而，上述天線檢測裝置10在實際使用中存在如下問題:1)測試探針的位置固定，因而只能針對特定信號的移動通信裝置的待測天線進行測試；2)測試探針與同軸電纜接口之間以電纜線連接，由于電纜線的長度過長，或者測試探針與接地板之間接地不完全等因素，導致待測試天線的特性參數(shù)無法確認而產(chǎn)生誤判，進而造成人力及資源的浪費。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明的目的在于提供一種天線檢測裝置，以滿足各種不同尺寸和類型的移動通信裝置的天線測試，以提高檢測的效率，同時避免了使用專用測試治具，而降低了測試產(chǎn)品測試中資源的浪費和成本的增加。[0009]本發(fā)明提供一種天線檢測裝置，該天線測試裝置包括:基座；承載平臺，該承載平臺設(shè)置于該基座上，且該承載平臺具有承載面用于承載待測裝置，該待測裝置具有第一待測天線；以及測試結(jié)構(gòu)，該測試結(jié)構(gòu)設(shè)置于該承載平臺與該基座之間，且該測試結(jié)構(gòu)包括:第一框架；第一滑動件，該第一滑動件設(shè)置于該第一框架上，且該第一滑動件可相對該第一框架于第一方向往復移動；第一接地板，該第一接地板設(shè)置于該第一滑動件上；及第一測試探針，該第一測試探針設(shè)置于該接地板上，通過滑動該第一滑動件以使該第一測試探針與該第一待測天線的接觸點電性接觸。
[0010]作為可選的技術(shù)方案，該接地板可相對于該第一滑動件于第二方向上往復移動，該第一方向與該第二方向相異。
[0011]作為可選的技術(shù)方案，該天線測試裝置還包括基座柱，該基座柱設(shè)置于該基座的第一側(cè)邊，該基座柱具有滑槽，該第一框架具有凸起，該凸起可相對該滑槽上下移動地設(shè)置于該滑槽內(nèi)，以調(diào)節(jié)該測試結(jié)構(gòu)與該待測裝置之間的距離，使得該第一測試探針與該第一待測天線的接觸點相電性接觸。
[0012]作為可選的技術(shù)方案，該待測裝置具有第二待測天線。
[0013]作為可選的技術(shù)方案，該測試結(jié)構(gòu)還包括第二滑動件、第二接地板及第二測試探針，該第二滑動件設(shè)置于該第一框架上，該第二接地板設(shè)置于該第二滑動件上，該第二測試探針設(shè)置于該第二接地板上，通過滑動該第二滑動件以使該第二測試探針與該第二待測天線的接觸點電性接觸。
[0014]作為可選的技術(shù)方案，該第二滑動件可相對于該第一框架沿第三方向往復移動。
[0015]作為可選的技術(shù)方案，該第二接地板可相對于該第二滑動件沿第四方向往復移動，且該第四方向與該第三方向相異。
[0016]作為可選的技術(shù)方案，該承載平臺包括第二框架以及第三滑動件，該第三滑動件可相對該第二框架沿至少一個方向往復移`動，以使該第三滑動件與該第二框架形成大小可調(diào)解的容置空間以容置該待測裝置。
[0017]作為可選的技術(shù)方案，該待測裝置為手機、平板電腦或筆記本電腦。.[0018]作為可選的技術(shù)方案，該第一測試探針為金屬探針或者金屬彈片。
[0019]與現(xiàn)有技術(shù)相比，首先，本發(fā)明的天線檢測裝置通過滑動件的滑動，使得承載平臺具有大小可調(diào)解的容置空間以容置各種型號和尺寸的待測裝置，改善了現(xiàn)有技術(shù)中檢測裝置不能重復利用的問題；其次，本發(fā)明的天線檢測裝置中采用小尺寸的多個獨立的接地板，并藉由滑動件使接地板靈活的移動，使得接地板上的探針可以快速的與待測裝置的待測天線的接觸點進行電性接觸，因而提高了測試的效率。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0020]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的天線檢測裝置的示意圖。
[0021]圖2為本發(fā)明的天線檢測裝置的示意圖。
[0022]圖3為本發(fā)明另一實施例中測試探針的滑動結(jié)構(gòu)示意圖。
[0023]圖4為本發(fā)明又一實施例中第二框架與第三滑動件的示意圖。
【具體實施方式】[0024]以下結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明進行詳細描述，但不作為對本發(fā)明的限定。
[0025]請參照圖2，圖2為本發(fā)明的天線檢測裝置的示意圖，天線檢測裝置20包括:基座21、承載平臺23以及測試結(jié)構(gòu)，基座21上方設(shè)有測試結(jié)構(gòu)，測試結(jié)構(gòu)上方設(shè)有承載平臺23，亦即測試結(jié)構(gòu)設(shè)置于承載平臺23與基座21之間，承載平臺23用以承載待測裝置，待測裝置具有第一待測天線，其中，測試結(jié)構(gòu)包括:第一框架22、第一滑動件222、第一接地板224及第一測試探針223,第一滑動件222可相對于第一框架22沿SI方向往復移動,第一測試探針223設(shè)置于第一接地板224上，且通過滑動第一滑動件222可以使第一測試探針223移動并與第一待測天線的接觸點電性接觸。本實施方式中的待測裝置可以為手機、平板電腦或筆記本電腦等，除此之外，待測裝置也可以是電路板或者未完全組裝的通信裝置，其中，電路板上具有待測天線的接觸點。
[0026]上述實施方式中，第一滑動件222相對于第一框架22沿SI方向往復移動,藉由第一滑動件222在第一框架22的上的滑槽221中往復移動來實現(xiàn)。
[0027]為提高天線檢測裝置的靈活性，第一接地板224還可以相對于第一滑動件222沿S2方向往復移動，其中，SI方向與S2方向相異。在本實施方式中，第一接地板224例如設(shè)置于滑塊結(jié)構(gòu)225上，滑塊結(jié)構(gòu)225可相對于第一滑動件222沿S2方向往復移動，以帶動第一接地板224與第一測試探針223在S2方向上移動，并使得第一測試探針223與第一待測天線的接觸點電性接觸。在第一接地板224的下方設(shè)有同軸電纜接口 226，同軸電纜接口226通過電纜線與第一測試探針223之間電性連接。而且較佳地，本實施方式中SI方向與S2方向相互垂直。
[0028]請參照圖3，圖3為本發(fā)明另一實施例中測試探針的滑動結(jié)構(gòu)示意圖，接地板2213設(shè)置于滑塊組件2212上，滑塊組件2212包括底座2112b和柱體2212a，柱體2212a具有承載面(未示出)用以固定接地板2213，接地板2213上方設(shè)有測試探針2214，接地板2213的下方設(shè)有與測試探針2214相匹配的電纜轉(zhuǎn)接口 2215，本實施方式中，柱體2212a可相對于底座2212b沿圖中箭頭所示的方向進行旋轉(zhuǎn)。當對待測天線進行測試時，可通過旋轉(zhuǎn)柱體2212a，調(diào)整接地板2213及測試探針2214的位置，使得測試探針2214準確的與待測天線的接觸點電性接觸，從而縮短了測試探針2214與待測天線對位的時間，提高了天線檢測裝置20測試效率。
[0029]請繼續(xù)參照圖3，為更加準確且簡便的調(diào)整測試結(jié)構(gòu)中測試探針與待測天線之間相對位置，可相對于第一框架22沿SI方向往復滑動的滑動件2216具有滑槽2217，滑塊組件2212可在滑槽2217中進行滑動，而本實施方式中將滑塊組件2212的底座2212b設(shè)置為圓形，因此，在待測天線的測試過程中，藉由圓形的底座2212b在滑槽2217中的旋轉(zhuǎn)，使得滑塊組件2212旋轉(zhuǎn)，從而得以調(diào)整測試探針2214與待測天線的相對位置，進而縮短對位時間，提聞檢測效率。
[0030]圖3所示的實施方式中通過旋轉(zhuǎn)結(jié)構(gòu)調(diào)整測試探針與待測天線之間相對位置，其中，為使得測試探針與待測天線之間在位置調(diào)整后能夠更穩(wěn)定的進行電性接觸，底座2212b設(shè)有滑槽(未示出)，柱體2212a利用底座2212b上的滑槽進行滑動；滑槽2217上設(shè)有凹陷部2218，當測試探針與待測天線調(diào)整至合適位置，柱體2212a在底座2212b上的滑槽中移動，使得柱體2212a進入凹陷部2218中，利用凹陷部2218限制柱體2212a進一步移動，使得測試探針與待測天線之間實現(xiàn)穩(wěn)定可靠的接觸，以提高檢測結(jié)果的準確性。[0031 ] 此外，本發(fā)明的上述天線檢測裝置20還可以包括基座柱25，本實施例中以基座21為矩形進行說明，基座柱25設(shè)置于基座21的側(cè)邊，基座柱25用于固定承載平臺23和第一框架22，其中，基座柱25具有凹槽251，第一框架22具有第一凸起(未示出)，第一凸起可相對凹槽251上下移動，以調(diào)節(jié)第一框架22與待測裝置之間的距離，使得第一測試探針223與該第一待測天線的接觸點電性接觸。
[0032]在本實施方式中，承載平臺23與基座柱25固定的側(cè)邊還可以設(shè)有第二凸起(未示出)，第二凸起可相對凹槽251上下移動，使得承載平臺23能夠上下移動，以調(diào)節(jié)待測裝置與測試探針的距離，提高檢測裝置的靈活性和測試效率。
[0033]當然，為提高本發(fā)明的天線檢測裝置檢測效率，天線檢測裝置20包括第二滑動件227、第二接地板228及第二測試探針229，第二滑動件227設(shè)置于第一框架22上且可相對于滑槽221沿S3方向往復移動，其中，本實施方式中，S3方向與前述SI方向相同，第二測試探針229設(shè)置于第二接地板228，且第二接地板228可相對第二滑動件227沿S4方向往復移動，其中，本實施方式中S4方向與前述S2方向相同，因而S3與S4相異。而且較佳地，本實施方式中SI方向與S2方向相互垂直。在本實施方式中，第二接地板228可相對第二滑動件227沿S4方向往復移動，例如第二接地板228設(shè)置于滑塊結(jié)構(gòu)2210上，藉由滑塊結(jié)構(gòu)2210相對于第二滑動件227的往復移動，以使第二接地板228與第二測試探針229在S4方向上移動，并使得第二測試探針229與第二待測天線的接觸點電性接觸。進一步的，在本實施方式中，在第二接地板228的下方設(shè)有同軸電纜接口 2211，利用電纜線連接同軸電纜接口 2211，使得天線檢測裝置20與天線測試裝置，如矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀之間電性連接。值得注意的是，本實施例中將天線檢測裝置20的測試探針的數(shù)量設(shè)置為兩個，但是并不以此為限，在實際的檢測中測試探針的數(shù)量與待測天線的數(shù)量相適配。此外，本實施方式中設(shè)置多個測試探針，是對具有多個待測裝置的某一待測裝置進行檢測，但在本發(fā)明的其它實施例中，多個測試探針也可以是對多個待測裝置的待測天線進行檢測。
[0034]進一步，為使得本發(fā)明的天線檢測裝置可以適合各種不同型號或者尺寸的待測裝置，天線檢測裝置20還包括第二框架24和第三滑動件242，第二框架24設(shè)置于承載平臺23的上方，第三滑動件242可相對于第二框架24沿至少一個方向往復移動，以使第三滑動件242與第二框架形成大小可調(diào)的容置空間以容置待測裝置。具體而言，本實施方式中，第二框架24具有滑槽241a與241b ;第三滑動件242包括第一滑動桿243，第一滑動桿243的第一端固定于第一滑槽241a中，并可沿滑槽241a沿SI方向往復移動，以使第一滑動桿243與第二框架24形成大小的可調(diào)節(jié)的容置空間以容納不同型號或者尺寸的待測裝置。
[0035]此外，為使得能夠更靈活的調(diào)節(jié)待測裝置的容納空間，上述第三滑動件242還包括:第二滑動桿244，第二滑動桿244的第一端設(shè)置于滑槽241b中，第二滑動桿244上設(shè)有貫穿槽245，第一滑動桿243的第二端穿過貫穿槽245，使得第二滑動桿244在滑槽241b中沿S2方向往復移動，進而通過同時滑動第二滑動桿244及第一滑動桿243與第二框架24形成大小可調(diào)節(jié)的容置空間以容納不同型號或者尺寸的待測裝置。
[0036]當然，為使天線檢測裝置能夠更好的適應不同型號或者尺寸的待測裝置，請參照圖4，圖4為本發(fā)明的另一實施方式中第二框架與第三滑動件配合的示意圖，其中，圖4中具有與圖2相同號碼標記的元件，有相同或類似的結(jié)構(gòu)以及功能，在此不做贅述。
[0037]如圖4所示，本實施例中第二框架24具有滑槽241b，第三滑動件242還包括--第三滑動桿246，第三滑動桿246具有貫穿槽247，其中，第三滑動桿246的第一端固定于滑槽241b中，且第二滑動的桿244的第一端穿過貫穿槽247，藉由滑槽241b和貫穿槽247使得第三滑動件246可相對于第二框架24沿S2方向往復移動，從而能夠通過滑動第一滑動桿242、第二滑動桿244及第三滑動桿246與第二框架24形成大小可調(diào)節(jié)的容置空間以更好的容納待測裝置。
[0038]本發(fā)明的上述測試探針為金屬探針或者金屬彈片。
[0039]當采用天線檢測裝置20檢測待測天線的特性參數(shù)時，步驟1，將待測裝置放置于承載平臺23上，滑動第三滑動件242，并使其與第二框架24形成的容納空間對待測裝置進行固定；步驟2，滑動滑塊225使得測試探針223與待測天線的接觸點電性接觸；步驟3，利用電纜線將同軸電纜接口 226連接至天線測試裝置，如矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等，待測天線的測試數(shù)據(jù)通過測探針223、電纜線、同軸電纜接口 226傳送至天線測試裝置，如矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，操作者可以從天線測試裝置上讀取待測天線的特性參數(shù)，依據(jù)特性參數(shù)判斷待測天線的品質(zhì)。
[0040]上述檢測過程以檢測具有一個待測天線的待測裝置為例，但事實并不以此為限，當需要檢測多個待測天線時，可以同時滑動或者旋轉(zhuǎn)多個滑動件調(diào)整測試探針與多個待測天線接觸點之間的相對位置，以使多個測試探針與多個待測天線的接觸點電性接觸，以同時測試多個天線，節(jié)省了測試時間，提高了天線測試效率。
[0041 ] 綜上，本發(fā)明的天線檢測裝置已由上述實施方式說明，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明中采用小尺寸的多個獨立的接地板，并藉由滑動件使得接地板靈活的移動，使得接地板上的探針可以快速的與待測裝置的待測天線的接觸點進行電性接觸，因而提高了測試的效率。此外，本發(fā)明中通過移動滑動件使其與第二框架配合形成大小不同的容置空間以容納不同型號及尺寸的待測裝置，從而改善了現(xiàn)有技術(shù)中檢測裝置不能重復利用的問題。
[0042]當然，本發(fā)明還可有其他多種實施例，在不背離本發(fā)明精神及其實質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應的改變和變形，但這些相應的改變和變形都應屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種天線檢測裝置，其特征在于，該天線測試裝置包括: 基座; 承載平臺，該承載平臺設(shè)置于該基座上，且該承載平臺具有承載面用于承載待測裝置，該待測裝置具有第一待測天線；以及 測試結(jié)構(gòu)，該測試結(jié)構(gòu)設(shè)置于該承載平臺與該基座之間，且該測試結(jié)構(gòu)包括: 第一框架； 第一滑動件，該第一滑動件設(shè)置于該第一框架上，且該第一滑動件可相對該第一框架于第一方向往復移動； 第一接地板，該第一接地板設(shè)置于該第一滑動件上 '及 第一測試探針，該第一測試探針設(shè)置于該接地板上，通過滑動該第一滑動件以使該第一測試探針與該第一待測天線的接觸點電性接觸。
2.如權(quán)利要求1所述的天線檢測裝置，其特征在于，該第一接地板可相對于該第一滑動件于第二方向上往復移動，該第一方向與該第二方向相異。
3.如權(quán)利要求1所述的天線檢測裝置，其特征在于，該天線測試裝置還包括基座柱，該基座柱設(shè)置于該基座的第一側(cè)邊，該基座柱具有滑槽，該第一框架具有凸起，該凸起可相對該滑槽上下移動地設(shè)置于該滑槽內(nèi)，以調(diào)節(jié)該測試結(jié)構(gòu)與該待測裝置之間的距離，使得該第一測試探針與該第一待測天線的接觸點電性接觸。
4.如權(quán)利要求1所述的天線檢測裝置，其特征在于，該待測裝置具有第二待測天線。
5.如權(quán)利要求4所述的天線檢測裝置，其特征在于，該測試結(jié)構(gòu)還包括第二滑動件、第二接地板及第二測試探針，該第二滑動件設(shè)置于該第一框架上，該第二接地板設(shè)置于該第二滑動件上，該第二測試探針設(shè)置于該第二接地板上，通過滑動該第二滑動件以使該第二測試探針與該第二待測天線的接觸點電性接觸。
6.如權(quán)利要求5所述的天線檢測裝置，其特征在于，該第二滑動件可相對于該第一框架沿第三方向往復移動。
7.如權(quán)利要求6所述的天線檢測裝置，其特征在于，該第二接地板可相對于該第二滑動件沿第四方向往復移動，且該第四方向與該第三方向相異。
8.如權(quán)利要求1所述的天線檢測裝置，其特征在于，該承載平臺包括第二框架以及第三滑動件，該第三滑動件可相對該第二框架沿至少一個方向往復移動，以使該第三滑動件與該第二框架形成大小可調(diào)節(jié)的容置空間以容置該待測裝置。
9.如權(quán)利要求1所述的天線檢測裝置，其特征在于，該待測裝置為手機、平板電腦或筆記本電腦。
10.如權(quán)利要求1所述的天線檢測裝置，其特征在于，該第一測試探針為金屬探針或者金屬彈片。
【文檔編號】G01R27/06GK103575996SQ201310441564
【公開日】2014年2月12日 申請日期:2013年9月25日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月25日
【發(fā)明者】徐紹恩 申請人:蘇州佳世達電通有限公司, 佳世達科技股份有限公司