一種低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置，其特征在于，包括電波暗室，電波暗室內(nèi)設(shè)有轉(zhuǎn)臺(tái)，轉(zhuǎn)臺(tái)上設(shè)有絕緣測試桌，被測試品設(shè)于絕緣測試桌上，轉(zhuǎn)臺(tái)中心設(shè)有轉(zhuǎn)臺(tái)中心孔，轉(zhuǎn)臺(tái)中心孔中設(shè)有銅排，銅排一端連接供電設(shè)備的供電端，另一端通過軟連接線連接被測試品，供電設(shè)備設(shè)于屏蔽室中。本發(fā)明采用低壓大電流供電設(shè)備放置在轉(zhuǎn)臺(tái)地下，通過銅排在轉(zhuǎn)臺(tái)空軸區(qū)的可控升降的方式與試品相連，轉(zhuǎn)臺(tái)旋轉(zhuǎn)正負(fù)180°，完全滿足輻射發(fā)射測試考核試品最大輻射騷擾面的實(shí)質(zhì)要求;同時(shí)，定制的中心空軸轉(zhuǎn)臺(tái)與銅排的整體造價(jià)，遠(yuǎn)小于雙層轉(zhuǎn)臺(tái)造價(jià)，在制造成本上有極大優(yōu)勢，同時(shí)供電設(shè)備的維修也極為便利。
【專利說明】一種低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及一種低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置，用于低壓斷路器的輻射發(fā)射測試。
【背景技術(shù)】
[0002]萬能式斷路器的輻射發(fā)射測試依據(jù)的最新標(biāo)準(zhǔn)為國標(biāo)GB14048.2-2008《低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備第2部分:斷路器》及國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60947-2:2006+Al:2009《Low-voltageswitchgearandcontrolgear_Part2: Circuit-breakers》的條款 F.5.4。標(biāo)準(zhǔn)要求，進(jìn)行福射射頻騷擾(30MHz?IGHz)時(shí)，應(yīng)依據(jù)圖1進(jìn)行試驗(yàn)布置。
[0003]絕大部分的檢測機(jī)構(gòu)進(jìn)行萬能式斷路器的輻射發(fā)射測試時(shí)，并不是完全符合標(biāo)準(zhǔn)要求。由于試品應(yīng)放置在轉(zhuǎn)臺(tái)上，通過粗軟連接線從供電設(shè)備處獲得低壓大電流供電，轉(zhuǎn)臺(tái)需要轉(zhuǎn)360°，勢必會(huì)發(fā)生粗軟接線纏繞，從而容易短路，這樣就必然帶來了試品旋轉(zhuǎn)時(shí)大尺寸的供電設(shè)備如何放置的問題。當(dāng)前主要的幾種解決方案為:1)通過經(jīng)驗(yàn)判斷試品的最大騷擾面，直接將最大輻射騷擾面朝向天線測試，即試品與供電設(shè)備固定放置在轉(zhuǎn)臺(tái)上，不進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，缺點(diǎn):只能憑經(jīng)驗(yàn)，很難模擬實(shí)際情況；2)試品和供電設(shè)備同時(shí)放置在轉(zhuǎn)臺(tái)上，忽略供電設(shè)備造成的反射影響，進(jìn)行旋轉(zhuǎn)測試，缺點(diǎn):由于供電設(shè)備自身龐大，除搬運(yùn)不便夕卜，還會(huì)因電磁波反射造成測試數(shù)據(jù)不精確；3)試品放置在轉(zhuǎn)臺(tái)上，供電設(shè)備放置在轉(zhuǎn)臺(tái)夕卜，盡量延長軟連接部分，在保證軟連接線不纏繞的前提下盡可能最大限度地旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺(tái)，缺點(diǎn):粗軟接線需很長，轉(zhuǎn)臺(tái)正反轉(zhuǎn)時(shí)要做到不相互纏繞不現(xiàn)實(shí)；4)使用雙層轉(zhuǎn)臺(tái)方案，試品放置在第一層轉(zhuǎn)臺(tái)上，供電設(shè)備放置在第二層轉(zhuǎn)臺(tái)上，一同進(jìn)行旋轉(zhuǎn)測試，這一方案是少有的完全滿足標(biāo)準(zhǔn)測試要求的布置，但雙層轉(zhuǎn)臺(tái)的造價(jià)非常高，且供電設(shè)備維修極為不易，當(dāng)前國內(nèi)尚無這一成功方案。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是提供一種用于輻射發(fā)射測試場合的低壓大電流試驗(yàn)裝置，用于如萬能式斷路器的低壓大電流設(shè)備的輻射騷擾測試，相對于雙層轉(zhuǎn)臺(tái)方案，以較低的成本實(shí)現(xiàn)完全符合標(biāo)準(zhǔn)GB14048.2-2008及IEC60947-2:2006+A1:2009測試要求的配置方案。
[0005]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了 一種低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置，其特征在于，包括電波暗室，電波暗室內(nèi)設(shè)有轉(zhuǎn)臺(tái)，轉(zhuǎn)臺(tái)上設(shè)有絕緣測試桌，被測試品設(shè)于絕緣測試桌上，轉(zhuǎn)臺(tái)中心設(shè)有轉(zhuǎn)臺(tái)中心孔，轉(zhuǎn)臺(tái)中心孔中設(shè)有銅排，銅排一端連接供電設(shè)備的供電端，另一端通過軟連接線連接被測試品，供電設(shè)備設(shè)于屏蔽室中。
[0006]優(yōu)選地，所述的供電設(shè)備為低壓大電流供電設(shè)備。
[0007]優(yōu)選地，所述的軟連接線為銅編織帶。
[0008]優(yōu)選地，所述的電波暗室內(nèi)還設(shè)有接地平板。
[0009]優(yōu)選地，所述的供電設(shè)備位于轉(zhuǎn)臺(tái)的正下方。
[0010]優(yōu)選地，所述的屏蔽室位于地下。
[0011]優(yōu)選地，所述的銅排具有不同大小的接線柱。[0012]優(yōu)選地，所述的銅排連接可帶動(dòng)銅排作升降運(yùn)動(dòng)的升降機(jī)構(gòu)，升降機(jī)構(gòu)由電機(jī)18驅(qū)動(dòng)。
[0013]更優(yōu)選地，所述的升降機(jī)構(gòu)固定在三角支架上，三角支架固定于轉(zhuǎn)臺(tái)基座內(nèi)側(cè)壁上，電機(jī)固定在支架上，支架設(shè)于屏蔽室內(nèi)。
[0014]優(yōu)選地，所述的轉(zhuǎn)臺(tái)中心孔內(nèi)設(shè)有接口板(CP板)，轉(zhuǎn)臺(tái)中心孔上設(shè)有蓋板。
[0015]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是:
[0016]1、本發(fā)明的低壓大電流供電設(shè)備放置在電波暗室地下的屏蔽室內(nèi)，避免了供電設(shè)備對輻射發(fā)射測試的影響；
[0017]2、本發(fā)明的被測試品通過銅編織帶和銅排與地下供電設(shè)備相連，銅排處于轉(zhuǎn)臺(tái)中心位置處，故轉(zhuǎn)臺(tái)旋轉(zhuǎn)正負(fù)180°不會(huì)引起纏繞，測試布置完全滿足標(biāo)準(zhǔn)要求；
[0018]3、本發(fā)明的銅排可自動(dòng)升降，測試時(shí)銅排可升至40cm處，再經(jīng)由相對較短的銅編織帶與試品連接，極大地減輕了試驗(yàn)操作人員的工作量和連接負(fù)擔(dān)，縮短了試驗(yàn)布置所費(fèi)時(shí)間；平時(shí)升降銅排降至轉(zhuǎn)臺(tái)中心的接口板下方，然后用蓋板蓋住，形成完整的模擬開闊場反射面，符合標(biāo)準(zhǔn)場地要求，不影響常規(guī)產(chǎn)品試驗(yàn)；
[0019]4、大電流供電設(shè)備放置在轉(zhuǎn)臺(tái)正下方，以最短距離實(shí)現(xiàn)試品與供電設(shè)備的連接，避免了電能功率的大量損耗；
[0020]5、銅排具有不同大小的接線柱，更方便不同產(chǎn)品所使用不同接口的可操作性。
[0021]6、本發(fā)明的可升降裝置在不使用情況下用匹配大小的蓋板來蓋住，防止不慎操作引起的安全事故。以及裝置可以遠(yuǎn)程操控，實(shí)時(shí)監(jiān)視。對抗擾度測試其脫扣時(shí)間帶來極大便利。
[0022]7、相對于造價(jià)昂貴且供電設(shè)備維修不易的雙層轉(zhuǎn)臺(tái)方案，本發(fā)明在滿足標(biāo)準(zhǔn)測試要求的基礎(chǔ)上極大降低了建造成本，同時(shí)供電設(shè)備放置在地下屏蔽室內(nèi)，維修極為便利。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0023]圖1為輻射射頻騷擾實(shí)驗(yàn)圖；
[0024]圖2為低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置結(jié)構(gòu)示意圖；
[0025]圖3為轉(zhuǎn)臺(tái)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0026]圖4為銅排部分的剖面圖。
[0027]【專利附圖】

【附圖說明】:
[0028]1-電波暗室，2-被測試品，3-軟連接線，4-絕緣測試桌，5-銅排，6_三相大電流供電設(shè)備，7-轉(zhuǎn)臺(tái)，8-屏蔽室，9-接地平板，10-轉(zhuǎn)臺(tái)中心孔，11-支架，12-三角支架，15-轉(zhuǎn)臺(tái)基座，16-轉(zhuǎn)臺(tái)主體，17-銅排，18，電機(jī)，21-接收天線，22-天線塔，23-接地平板，24-被測試品，25-軟連接線，26-絕緣支架，27-轉(zhuǎn)臺(tái)，28-吸波材料。
【具體實(shí)施方式】
[0029]為使本發(fā)明更明顯易懂，茲以優(yōu)選實(shí)施例，并配合附圖作詳細(xì)說明如下。
[0030]實(shí)施例
[0031]如圖2所示，為低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置結(jié)構(gòu)示意圖，所述的低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置，包括電波暗室1，電波暗室I內(nèi)設(shè)有接地平板9以及嵌入接地平板9內(nèi)的轉(zhuǎn)臺(tái)7，轉(zhuǎn)臺(tái)7位于電波暗室I的一側(cè)，轉(zhuǎn)臺(tái)7上設(shè)有絕緣測試桌4，被測試品2設(shè)于絕緣測試桌4上，轉(zhuǎn)臺(tái)7中心設(shè)有轉(zhuǎn)臺(tái)中心孔10，轉(zhuǎn)臺(tái)中心孔10中設(shè)有銅排5，銅排5 —端連接低壓大電流供電設(shè)備6的供電端，另一端通過軟連接線3連接被測試品2，低壓大電流供電設(shè)備6設(shè)于屏蔽室8中位于轉(zhuǎn)臺(tái)7的正下方。屏蔽室8位于地下。所述的軟連接線3為銅編織帶。
[0032]如圖3所示,為轉(zhuǎn)臺(tái)結(jié)構(gòu)示意圖,所述的轉(zhuǎn)臺(tái)7包括轉(zhuǎn)臺(tái)基座15,轉(zhuǎn)臺(tái)基座15為正方形固定支架，轉(zhuǎn)臺(tái)基座15上設(shè)有轉(zhuǎn)臺(tái)主體16,轉(zhuǎn)臺(tái)主體16中空，由若干均分的扇形結(jié)構(gòu)組成，所述的轉(zhuǎn)臺(tái)中心孔10位于轉(zhuǎn)臺(tái)主體16的中間,所述的轉(zhuǎn)臺(tái)中心孔10內(nèi)設(shè)有接口板(即用于電纜連接的帶若干連接器的鋼板)，轉(zhuǎn)臺(tái)中心孔10上設(shè)有蓋板(即轉(zhuǎn)臺(tái)中心孔上所蓋的鋼板)。
[0033]如圖4所示，為銅排部分的剖面圖，所述的銅排共有三個(gè)，三個(gè)銅排17具有不同大小的接線柱。銅排17連接升降機(jī)構(gòu)，升降機(jī)構(gòu)由電機(jī)18驅(qū)動(dòng)以帶動(dòng)銅排17作升降運(yùn)動(dòng)，升降機(jī)構(gòu)固定在三角支架12上，三角支架12固定于轉(zhuǎn)臺(tái)基座15內(nèi)側(cè)壁上，電機(jī)18固定在支架11上，支架11設(shè)于屏蔽室8內(nèi)，電機(jī)18連接減速器。
[0034]本發(fā)明優(yōu)化設(shè)計(jì)了電波暗室內(nèi)的轉(zhuǎn)臺(tái)和地下低壓大電流供電設(shè)備的銜接部分，轉(zhuǎn)臺(tái)中心預(yù)留直徑50cm的圓柱形空軸區(qū)，轉(zhuǎn)臺(tái)正下方設(shè)置用于低壓大電流供電設(shè)備放置的屏蔽室，供電設(shè)備供電端連接到可自動(dòng)升降的銅排；當(dāng)電波暗室內(nèi)進(jìn)行斷路器的輻射發(fā)射測試時(shí)，控制升降銅排升至超過暗室高架地板約30?40cm處，用銅編織帶連接銅排和放置在0.8m高桌子上的被測試品，預(yù)留一定長度以保證能夠控制轉(zhuǎn)臺(tái)旋轉(zhuǎn)正負(fù)180° ;當(dāng)電波暗室內(nèi)進(jìn)行其余無需低壓大電流供電的試品測試時(shí)，銅排降至轉(zhuǎn)臺(tái)中心的接口板下方，不影響常規(guī)試驗(yàn)。
【權(quán)利要求】
1.一種低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置，其特征在于，包括電波暗室(I)，電波暗室(I)內(nèi)設(shè)有轉(zhuǎn)臺(tái)(7)，轉(zhuǎn)臺(tái)(7)上設(shè)有絕緣測試桌(4)，被測試品⑵設(shè)于絕緣測試桌⑷上，轉(zhuǎn)臺(tái)(7)中心設(shè)有轉(zhuǎn)臺(tái)中心孔(10)，轉(zhuǎn)臺(tái)中心孔(10)中設(shè)有銅排(5)，銅排(5) —端連接供電設(shè)備的供電端，另一端通過軟連接線(3)連接被測試品(2)，供電設(shè)備設(shè)于屏蔽室(8)中。
2.如權(quán)利要求1所述的低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述的供電設(shè)備為低壓大電流供電設(shè)備(6)。
3.如權(quán)利要求1所述的低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述的軟連接線(3)為銅編織帶。
4.如權(quán)利要求1所述的低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述的電波暗室(I)內(nèi)還設(shè)有接地平板(9)。
5.如權(quán)利要求1所述的低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述的供電設(shè)備位于轉(zhuǎn)臺(tái)(X)的正下方。
6.如權(quán)利要求1所述的低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述的屏蔽室(8)位于地下。
7.如權(quán)利要求1所述的低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述的銅排(5)具有不同大小的接線柱。
8.如權(quán)利要求1所述的低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述的銅排(17)連接可帶動(dòng)銅排(47)作升降運(yùn)動(dòng)的升降機(jī)構(gòu)，升降機(jī)構(gòu)由電機(jī)(18)驅(qū)動(dòng)。
9.如權(quán)利要求8所述的低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述的升降機(jī)構(gòu)固定在三角支架(12)上，三角支架(12)固定于轉(zhuǎn)臺(tái)基座(15)內(nèi)側(cè)壁上，電機(jī)(18)固定在支架(11)上，支架(11)設(shè)于屏蔽室(8)內(nèi)。
10.如權(quán)利要求1所述的低壓大電流旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述的轉(zhuǎn)臺(tái)中心孔內(nèi)設(shè)有接口板，轉(zhuǎn)臺(tái)中心孔上設(shè)有蓋板。
【文檔編號】G01R31/327GK103487751SQ201310432262
【公開日】2014年1月1日 申請日期:2013年9月22日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月22日
【發(fā)明者】葉瓊瑜, 劉媛, 宋江偉, 袁書傳, 鄭軍奇 申請人:上海電器科學(xué)研究所（集團(tuán)）有限公司, 上海電器科學(xué)研究院