編碼生物傳感器以及其制造和使用方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種具有被編碼在其上的信息的分析物測試傳感器條，以及形成所述分析物測試傳感器條和使用所述分析物測試傳感器條來進(jìn)行分析物測試的方法。與條或條的批次/批的屬性有關(guān)的信息可以基于與條的電方面有關(guān)系的電阻值而被編碼，所述條的電方面諸如初級電阻元件和次級電阻元件，所述次級電阻元件具有由閉合分接頭的位置所限定的多個狀態(tài)之一來為所述次級電阻元件形成唯一電阻路徑，所述唯一電阻路徑取決于所述閉合分接頭的位置而包括初級電阻元件的一部分?？梢栽谥圃鞐l時由次級處理步驟在所述條上形成所述狀態(tài)，其中多個分接頭被切斷，使只有一個分接頭處于閉合狀態(tài)。
【專利說明】編碼生物傳感器以及其制造和使用方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明一般地涉及用于測量生物流體中的分析物濃度的分析物測試傳感器，并且更具體地涉及具有在其上所形成的編碼信息的分析物測試條。
【背景技術(shù)】
[0002]生物傳感器提供生物流體分析，所述生物流體諸如全血、尿液或唾液。測量生物流體中的物質(zhì)濃度是用于診斷和治療許多身體狀況的重要手段。例如，測量體液、諸如血液中的葡萄糖對于有效治療糖尿病是極其重要的。生物流體樣本可以是被直接采集的或可以是生物流體的衍生物。通常，生物傳感器具有非一次性測量設(shè)備或測試儀，所述非一次性測量設(shè)備或測試儀用于分析被放置在測試條上的生物流體樣本。
[0003]許多生物傳感器系統(tǒng)在分析之前向測量設(shè)備提供校準(zhǔn)信息。測量設(shè)備通常使用該信息用以響應(yīng)于一個或多個參數(shù)而調(diào)整生物流體的分析。通過使用所述校準(zhǔn)信息，分析的準(zhǔn)確度和精確度被改進(jìn)。如果不使用所述校準(zhǔn)信息，測量設(shè)備可能完不成所述分析或可能做出生物流體中分析物濃度的錯誤分析。
[0004]在這種測試儀/測試條系統(tǒng)中的常見作法是確保測試條的正確識別以便確保正確測試結(jié)果。例如，單一測試儀可能能夠分析若干不同類型的測試條，其中每種類型的測試條被設(shè)計以對生物流體中不同分析物的存在或濃度進(jìn)行測試。為了正確地進(jìn)行測試，測試儀必須知道對于當(dāng)前在使用中的測試條將執(zhí)行哪種類型的測試。
[0005]同樣，測試條中的批與批差異(lot-to-lot variation)通常要求校準(zhǔn)信息被加載到測試儀中以便確保準(zhǔn)確的測試結(jié)果。用于將這種校準(zhǔn)信息下載到測試儀中的常見作法是使用被插入到測試儀的對應(yīng)槽或插口中的電子只讀存儲器鑰匙(ROM key)。由于該校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可能只對測試條的特定生產(chǎn)批是準(zhǔn)確的，用戶通常被要求確認(rèn)當(dāng)前在使用中的測試條批號與ROM鑰匙被編程所針對的批號匹配。
[0006]其中可期望具有與測試條有關(guān)的信息的許多其它實(shí)例對于本領(lǐng)域技術(shù)人員是已知的?，F(xiàn)有技術(shù)嘗試將信息編碼到測試條上用于由測試儀讀取已經(jīng)遭受許多問題，包括被嚴(yán)格限制的可以被編碼的信息量和使用相對大量的測試條表面面積用于信息編碼功能。
[0007]因而，需要一種系統(tǒng)和方法，其將允許信息被編碼到生物傳感器上用于由測試儀讀取信息。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明的一個方面公開一種分析物測試傳感器條，其被用于測量流體樣本中分析物的存在或濃度。所述測試傳感器條包括非導(dǎo)電襯底。另外，所述測試傳感器條包括在所述非導(dǎo)電襯底上所形成的、具有第一端部和第二端部的外部或初級電阻元件。所述初級電阻元件具有預(yù)定配置，所述預(yù)定配置在一種形式中是蛇形配置，具有多個近端和多個遠(yuǎn)端。另外，在所述非導(dǎo)電襯底上也形成內(nèi)部或次級電阻元件，所述內(nèi)部或次級電阻元件具有分接頭，所述分接頭在所述預(yù)定配置的預(yù)定連接點(diǎn)處被連接到初級電阻元件，因而限定通過所述預(yù)定配置的至少一部分的唯一電阻路徑。
[0009]所述通過預(yù)定配置的唯一電阻路徑與其相關(guān)聯(lián)具有電阻，所述電阻落在多個電阻范圍中相應(yīng)的一個內(nèi)?；诨蚋鶕?jù)預(yù)定連接點(diǎn)在預(yù)定配置上的位置來確定電阻。所述唯一電阻路徑與分析物測試傳感器條的屬性相關(guān)聯(lián)。所述條的屬性應(yīng)當(dāng)廣泛地被理解為意指與所述條有關(guān)的任何信息，諸如條類型、校準(zhǔn)信息、制造信息、國家信息等等?？梢允强善谕惠斔偷絻x表的、與所述條有關(guān)系的基本上任何信息，其中所述條與所述儀表一起使用。
[0010]為了提供從各自具有與不同屬性相關(guān)的關(guān)聯(lián)電阻的、多于一個的可能唯一電阻路徑之中限定唯一電阻路徑的機(jī)會，次級電阻元件包括多個分接頭。在預(yù)定連接點(diǎn)處與所述預(yù)定配置相連接的相應(yīng)分接頭以閉合狀態(tài)被形成或維持并且所述多個分接頭的所有其它分接頭是斷開的或以斷開狀態(tài)被形成。
[0011]初級電阻元件的第一端部與第一接觸焊盤相連接并且第二端部與第二接觸焊盤相連接。次級電阻元件具有與第三接觸焊盤相連接的第三端部。所述唯一電阻路徑從第三接觸焊盤通過次級電阻元件并且然后在預(yù)定連接點(diǎn)處進(jìn)入到初級電阻元件中并且然后通過初級電阻元件的至少一部分運(yùn)行至第一和第二接觸焊盤中之一。
[0012]本發(fā)明的另一方面公開一種分析物測試傳感器條，所述分析物測試傳感器條被用于測量流體樣本中的分析物濃度。所述測試傳感器條包括非導(dǎo)電襯底。初級電阻元件被形成在非導(dǎo)電襯底上，其具有預(yù)定配置，所述初級電阻元件具有與第一接觸焊盤相連接的第一端部和與第二接觸焊盤相連接的第二端部。在所述非導(dǎo)電襯底上也形成次級電阻元件，所述次級電阻元件具有多個分接頭。所述多個分接頭中的一個分接頭在預(yù)定位置處與初級電阻元件相連接，因而以閉合狀態(tài)被形成和/或維持并且限定通過初級電阻網(wǎng)絡(luò)的至少一部分的唯一電阻路徑。所述多個分接頭的剩余分接頭是斷開的或以斷開狀態(tài)被形成，因而從初級電阻網(wǎng)絡(luò)斷開。次級電阻元件的一部分與次級電阻元件接觸焊盤相連接。
[0013]在一種形式中，處于斷開狀態(tài)的分接頭是用激光燒蝕的。唯一電阻路徑與分析物測試傳感器條的屬性相關(guān)聯(lián)。在一種形式中，所述屬性與一個或多個與測試傳感器條相關(guān)聯(lián)的算法變量相關(guān)聯(lián)，所述一個或多個算法變量諸如用于線性相關(guān)性算法的斜率和/或截距。在又一種形式中，所述分析物測試傳感器條包括在所述非導(dǎo)電襯底上所形成的光學(xué)代碼。所述光學(xué)代碼可以包含與測試傳感器條有關(guān)的信息，諸如產(chǎn)品有效日期、產(chǎn)品標(biāo)識(國家或地區(qū))、血液和控制溶液的截取(interc印t)、條批標(biāo)識和其它特征。另外，所述測試傳感器條也可以包括在所述非導(dǎo)電襯底上所形成的第一電阻環(huán)路，所述第一電阻環(huán)路以從第一測量電極被間隔開的關(guān)系包括第一測量傳感電極。在一種形式中，所述第一測量電極與初級電阻元件的第二端部相連接。
[0014]本發(fā)明的另一方面公開一種形成生物傳感器測試條的方法，所述生物傳感器測試條被用于測量分析物的濃度。在該方面，初級電阻元件被形成在非導(dǎo)電襯底上，具有預(yù)定配置，所述初級電阻元件包括第一端部和第二端部。此外，在所述非導(dǎo)電襯底上形成次級電阻元件，所述次級電阻元件具有被連接到初級電阻元件上預(yù)定連接位置的至少一個分接頭，因而限定通過初級電阻元件的至少一部分的唯一電阻路徑，其與其相關(guān)聯(lián)地具有落在多個電阻范圍中相應(yīng)一個內(nèi)的電阻。
[0015]次級電阻元件被形成以包括多個分接頭。除被連接到初級電阻元件上預(yù)定位置的分接頭以外的所有所述多個分接頭被燒蝕，因而將被燒蝕的分接頭從初級電阻元件斷開。初級電阻元件包括多個預(yù)定連接位置。根據(jù)與生物傳感器測試條相關(guān)聯(lián)的屬性來選擇將與所述分接頭相連接的連接位置。通過次級和初級電阻元件的唯一電阻路徑與生物傳感器測試條的屬性相關(guān)聯(lián)。此外，被包含在所述多個電阻范圍中的每個電阻范圍與生物傳感器測試條的唯一屬性相關(guān)聯(lián)。
[0016]本方面的又一個方面公開一種分析物測試傳感器條，所述分析物測試傳感器條被用于測量分析物的濃度。所述測試傳感器條包括非導(dǎo)電襯底。另外，所述測試傳感器條包括用于進(jìn)行流體樣本中分析物的定量或定性分析的裝置。在所述非導(dǎo)電襯底上提供信息電路。所述信息電路包括在第一端部和第二端部之間的導(dǎo)電初級路徑，所述導(dǎo)電初級路徑在第一和第二端部之間具有預(yù)定配置。所述導(dǎo)電初級路徑具有落在第一預(yù)定范圍內(nèi)的電阻。所述信息電路也包括在第三端部和導(dǎo)電初級路徑的第一端部之間的導(dǎo)電次級路徑。所述導(dǎo)電次級路徑基本上由閉合分接頭和多個斷開分接頭所限定。所述閉合分接頭選擇性地在預(yù)定位置處連接第三端部與導(dǎo)電初級路徑，因而限定在第一端部和第三端部之間、通過導(dǎo)電初級路徑的至少一部分的唯一電阻路徑。所述唯一電阻路徑具有落在第二預(yù)定范圍內(nèi)的第二電阻。
[0017]在一種形式中，第一電阻和第二電阻的比選擇性地與分析物測試傳感器條的屬性相關(guān)。第一端部與第一接觸焊盤相連接，第二端部與第二接觸焊盤相連接，并且第三端部與第三接觸焊盤相連接。在一種形式中，所述預(yù)定配置包括蛇形配置，所述蛇形配置具有多個近端和多個遠(yuǎn)端。閉合分接頭被連接到所述蛇形配置的相應(yīng)近端。根據(jù)分析物測試傳感器條的屬性來選擇構(gòu)成閉合分接頭的分接頭。
[0018]另一方面公開一種用于測量流體樣本中分析物濃度的方法。所述方法包括以下步驟，提供測試儀；提供測試條，所述測試條包括:非導(dǎo)電襯底；在所述非導(dǎo)電襯底上的、可連接到測試儀的工作電極；在所述非導(dǎo)電襯底上的、可連接到測試儀的反電極；橋接在工作電極和反電極之間的試劑部分；在所述非導(dǎo)電襯底上的、具有可連接到測試儀的第一端部和可連接到測試儀的第二端部的初級電阻元件，其中所述初級電阻元件具有預(yù)定配置；和在所述非導(dǎo)電襯底上的、具有可連接到測試儀的第三端部的次級電阻元件，其中所述次級電阻元件具有在所述預(yù)定配置上預(yù)定連接點(diǎn)處被連接到初級電阻元件的分接頭，因而限定通過所述預(yù)定配置的至少一部分的唯一電阻路徑，所述唯一電阻路徑具有電阻值；將測試條接收(receiving)進(jìn)測試儀中；操作地將工作電極、反電極、初級電阻元件和次級電阻元件與測試儀相連接；并且根據(jù)至少與同唯一電阻路徑相關(guān)聯(lián)的電阻值相關(guān)聯(lián)的測量來確定與測試條相關(guān)聯(lián)的屬性。
[0019]在一種形式中，初級電阻元件具有初級元件電阻值并且根據(jù)通過比較所述唯一電阻路徑的電阻值與所述初級元件電阻值所確定的電阻比來確定所述屬性。根據(jù)所述屬性，測試儀被調(diào)整以輸出與分析物相關(guān)聯(lián)的濃度測量輸出。在一種形式中，初級電阻元件的端部與反電極相連接。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0020]以下根據(jù)在附圖中所示出的示范性實(shí)施例來進(jìn)一步闡明本發(fā)明。
[0021]圖1說明被插入到測試儀中的測試條。
[0022]圖2是代表性測試條的分解視圖。[0023]圖3a說明用于測量生物流體中感興趣的分析物的濃度的測試條。
[0024]圖3b和3c說明在圖3a中所說明的測試條的一部分的可替換實(shí)施例。
[0025]圖4說明在圖3a中所說明的測試條的一部分。
[0026]圖5a_g說明具有多個被燒蝕的分接頭的在圖3a中所說明的測試條的一部分。
[0027]圖6說明用于測量生物流體中感興趣的分析物的濃度的另一個代表性測試條。
[0028]圖7說明用于測量生物流體中感興趣的分析物的濃度的另一個代表性測試條。
[0029]圖8說明用于測量生物流體中感興趣的分析物的濃度的另一個代表性測試條。
[0030]圖9說明用于測量生物流體中感興趣的分析物的濃度的另一個代表性測試條的一部分。
[0031]圖10是被用于測量生物流體中分析物的代表性過程的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0032]為了促進(jìn)對本發(fā)明原理的理解，現(xiàn)在將參考在附圖中所說明的實(shí)施例，并且將使用特定語言來描述所述實(shí)施例。然而，將被理解的是，不意圖限制本發(fā)明的范圍。如通常將會由本發(fā)明涉及的領(lǐng)域的技術(shù)人員想到的，所說明的設(shè)備的變更和修改以及如此處所說明的本發(fā)明原理的另外應(yīng)用是預(yù)期的、期望被保護(hù)的。特別地，盡管在血糖儀方面討論本發(fā)明，但是預(yù)期的是本發(fā)明可以與用于測量其它分析物和其它樣本類型的設(shè)備一起使用。這樣的可替換實(shí)施例要求對此處所討論的實(shí)施例的某些改編(adaptation),所述改編對于本領(lǐng)域技術(shù)人員將會是明顯的。
[0033]參考圖1，公開了濃度測量設(shè)備或測試儀10，連同被安裝在其上的分析物測試傳感器條12，其被用于測量生物流體中分析物的存在或濃度，所述生物流體諸如全血、尿液或唾液。在該形式中，測試條12被可去除地插入到測試儀10的連接終端14中。在插入測試條12時，測試儀10被配置以自動開啟并且開始如以下所更詳細(xì)闡述的測量過程。測試儀10包括電子顯示器16，其被用于向用戶顯示各種類型的信息，包括測試結(jié)果。
[0034]參考圖2，通常的測試條12為了背景目的而被說明并且包括若干部件。測試條12包括小主體(small body),所述小主體限定腔室(chamber),在所述腔室中樣本流體被接收用于測試。通過適合的手段、優(yōu)選地通過毛細(xì)作用、但也可選地由壓力或真空輔助地來對所述樣本接收腔室填充樣本流體。所述樣本接收腔室包括電極和化學(xué)產(chǎn)品(chemistry),其適合于產(chǎn)生電化學(xué)信號，所述電化學(xué)信號指示樣本流體中的分析物。
[0035]在該所說明的形式中，測試條12包括基礎(chǔ)襯底20、間隔層22和覆蓋層24，所述覆蓋層24包括主體覆蓋物26和腔室覆蓋物28。間隔層22包括空隙部分30以提供在基礎(chǔ)襯底20和覆蓋層24之間延伸的樣本接收腔室?；A(chǔ)襯底20承載電極系統(tǒng)32，所述電極系統(tǒng)32包括多個電極34和在接觸焊盤38中終接(terminating)的電極軌道(electrodetrace)36。電極34被限定為電極軌道36的位于樣本接收腔室內(nèi)的那些部分。適合的試劑系統(tǒng)40在樣本接收腔室內(nèi)至少覆在電極34的一部分上。
[0036]覆在間隔層22上的主體覆蓋物26和腔室覆蓋物28在其之間限定槽，所述槽限定與樣本接收腔室連通的通風(fēng)口以當(dāng)樣本流體從邊緣口或流體接收口進(jìn)入腔室時允許空氣排出腔室。測試條12因此包括配料端42和儀表插入端44。配料端42的形狀通常與儀表插入端44是可區(qū)別的以便幫助用戶。主體覆蓋物26和腔室覆蓋物28優(yōu)選地通過粘合層46被固定到間隔層22。此外，第二粘合層48將間隔層22固定到基礎(chǔ)襯底20。在共同擁有的美國專利號7，829，023中可以找到在圖2中所說明的測試條12的更詳細(xì)討論，所述美國專利號7，829，023通過引用以其全部被結(jié)合于此。
[0037]參考圖3a，被配置供測試儀10使用的測試條50的一個優(yōu)選形式的更詳細(xì)圖像被說明，其使間隔物、覆蓋和粘合層被移除以揭示測試條50的電極系統(tǒng)32。如以下將更詳細(xì)討論的，測試條50包括非導(dǎo)電基礎(chǔ)襯底52，所述非導(dǎo)電基礎(chǔ)襯底52在其上形成了多個電極、軌道和接觸焊盤?？梢酝ㄟ^使用多個已知技術(shù)中的任何一項來實(shí)現(xiàn)這種形成，所述已知技術(shù)諸如絲網(wǎng)印刷、平版印刷、激光劃片或激光燒蝕。為了說明，此處通常描述使用廣域激光燒蝕技術(shù)的形成。
[0038]在形成電極、軌道和接觸焊盤之前，(例如通過濺射或氣相沉積)，非導(dǎo)電襯底在其上表面上涂有導(dǎo)電層。然后，電極、軌道和接觸焊盤通過激光燒蝕過程在非導(dǎo)電襯底上所形成的導(dǎo)電層中使用掩模(mask)被圖案化(pattern)，所述掩模限定用于測試條電方面的所期望的設(shè)計。在共同擁有的美國專利號7，601，299中闡述了激光燒蝕過程的更詳細(xì)討論，所述美國專利號7，601，299通過引用以其全部被結(jié)合于此。
[0039]導(dǎo)電層可以包含純金屬或合金或是金屬導(dǎo)體的其它材料。所述導(dǎo)電材料在被用于在非導(dǎo)電襯底52上形成電極、軌道和接觸焊盤的激光的波長處通常是吸收性的。非限制性示例包括鋁、碳、銅、鉻、金、銦錫氧化物、鈀、鉬、銀、錫氧化物/金、鈦、其混合物和這些元素的合金或金屬化合物。在一些形式中，所述導(dǎo)電材料包括貴金屬或合金或其氧化物。
[0040]測試條50包括在非導(dǎo)電襯底52上所形成的工作電極54、工作傳感軌道56、反電極58和反傳感軌道60。測試條50包括沿縱軸延伸的遠(yuǎn)端或反應(yīng)區(qū)62和近端或接觸區(qū)64。如以下更詳細(xì)闡述的，測試條50包括工作電極軌道54a，所述工作電極軌道54a被用于將工作電極54連接到接觸焊盤70。此外，測試條50包括反電極軌道58a，所述反電極軌道58a用于將反電極58連接到接觸焊盤80。如所說明的，測試條50的近端64包括多個接觸焊盤，所述多個接觸焊盤被配置以與測試儀10的連接終端14導(dǎo)電連接。在一種形式中，測試儀10被配置以基于接觸焊盤的包括例如任何互連的配置來確定被插入到測試儀10中的測試條50的類型。測試條12的遠(yuǎn)端62包括試劑層66，所述試劑層66至少覆蓋工作電極54和反電極58的一部分。
[0041]測試條50的試劑層66可以包括化學(xué)或生物化學(xué)性質(zhì)的試劑，用于與目標(biāo)分析物反應(yīng)以產(chǎn)生可檢測信號，所述可檢測信號表示樣本中目標(biāo)分析物的存在和/或濃度。如此處所使用的，術(shù)語“試劑”是化學(xué)、生物或生物化學(xué)試劑，用于與分析物和/或目標(biāo)反應(yīng)以產(chǎn)生可檢測信號，所述可檢測信號表示樣本中分析物的存在或濃度。用于不同檢測系統(tǒng)和方法中的適合的試劑包括各種活性組分，所述各種活性組分被選擇以確定各種分析物、諸如例如葡萄糖的存在和/或濃度。適當(dāng)試劑的選擇正好在本領(lǐng)域技術(shù)范圍內(nèi)。如本領(lǐng)域中眾所周知的，有許多可用于供各種目標(biāo)中的每一個使用的化學(xué)產(chǎn)品。關(guān)于將被評估的目標(biāo)來選擇試劑。例如，試劑可以包括可以被選擇用以確定血液中葡萄糖存在的一種或多種酶、輔酶和輔因子。
[0042]所述試劑化學(xué)產(chǎn)品可以包括各種佐劑以增強(qiáng)試劑特性或特征。例如，所述化學(xué)產(chǎn)品可以包括用以促進(jìn)試劑成分放置到測試條50上和改進(jìn)其到條50的粘附、或用于增大所述試劑成分由樣本流體水合的速率的材料。另外，試劑層可以包括被選擇用以增強(qiáng)所得出的干燥試劑層66的物理特性和用于分析的液體測試樣本的攝取的組分。將與試劑成分一起使用的佐劑材料的示例包括增稠劑、粘度調(diào)制劑、成膜劑、穩(wěn)定劑、緩沖劑、洗滌劑、膠凝齊U、填充劑、開膜劑(film opener)、著色劑和賦予觸變性的劑。
[0043]如此外在圖3a中所說明的，工作電極軌道54a的近端68與工作電極測量接觸焊盤70相連接。工作電極軌道54a的遠(yuǎn)端72與工作電極54相連接。工作傳感軌道56的近端74與工作傳感測量接觸焊盤75相連接。如此外所說明的，工作傳感軌道56的遠(yuǎn)端76與工作電極軌道54a的遠(yuǎn)端72相連接，因而限定工作電阻環(huán)路。
[0044]在一種形式中，工作電阻環(huán)路具有在預(yù)定電阻值范圍內(nèi)的電阻值，所述范圍對應(yīng)于測試條12的屬性。形成工作電阻環(huán)路以具有落在一個或另一預(yù)定電阻值范圍內(nèi)的電阻值是在形成薄導(dǎo)電層的本領(lǐng)域普通技術(shù)范圍內(nèi)的。然而，為了說明，已知諸如薄金屬層的導(dǎo)電材料具有取決于導(dǎo)電層厚度的特征片電阻(sheet resistance),其中所述金屬諸如金和鈀。片電阻基本上是用于為特定厚度的特定材料計算通過特定配置(例如長度和寬度)路徑的預(yù)測電阻的乘數(shù)。因而，片電阻和/或?qū)щ娷壍赖目膳渲梅矫婵梢员蛔兏员氵_(dá)到通過諸如工作電阻環(huán)路的特定路徑的所期望的電阻。
[0045]因而，例如，具有50nm的厚度的金層具有1.6歐姆/平方(ohms/square)的片電阻?！捌椒健笔菍?dǎo)電路徑的縱橫比的無單位量度，其被分解成可以在導(dǎo)電路徑中被實(shí)際或理論地確定的(基于寬度的)平方片數(shù)目。在一種意義上，導(dǎo)電路徑的有效表面面積近似為多個平方。可以在導(dǎo)電路徑中被確定的平方數(shù)目乘以片電阻以給出用于通過該導(dǎo)電路徑的預(yù)測電阻的計算。
[0046]在本發(fā)明的上下文中，將通常在50nm厚金層、因而1.6歐姆/平方的片電阻的上下文中描述說明性和示范性實(shí)施例。因而，為了操縱沿在(如對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將是清楚的)本公開的各種上下文中所描述的任何導(dǎo)電路徑的電阻，可以變更導(dǎo)電路徑的長度或?qū)挾?因而改變“平方”的數(shù)目)或可以更改導(dǎo)電層的厚度或材料(因而改變片電阻)以便增大或減小對于該特定導(dǎo)電路徑的預(yù)測電阻值以落在所期望的電阻值范圍內(nèi)，其中這種值的范圍指示測試條的屬性。為除了通常直線路徑以外的以各種圖案和配置的特定導(dǎo)電路徑確定平方的數(shù)目是在本領(lǐng)域普通技術(shù)范圍內(nèi)的并且此處不要求進(jìn)一步的解釋。
[0047]如此外將被描述的，為了指示測試條的一個或多個屬性，通過被包括在本發(fā)明的實(shí)施例中的各種所識別的導(dǎo)電路徑的實(shí)際所測量的電阻值以各種方式被使用。關(guān)于這點(diǎn)，將被理解的是，所測量的電阻值或所測量的電阻值所居于的預(yù)定電阻值范圍或在不同導(dǎo)電路徑之間的所測量的電阻值的比可以對應(yīng)于特定屬性。采用這些方式中哪一種用于將導(dǎo)電路徑的電阻值對應(yīng)于屬性是在本領(lǐng)域普通技術(shù)人員的判斷力范圍內(nèi)的。
[0048]通常，在實(shí)際、所測量的電阻值接近地對應(yīng)于(如上述所計算的)預(yù)測電阻值的情況下，所測量的電阻值本身是有用的。如果制造公差使得所測量的值不是很好地對應(yīng)于預(yù)測值，那么預(yù)定電阻值范圍可能是明智的，在所述電阻值范圍內(nèi)，具有特定預(yù)測電阻值的導(dǎo)電路徑將幾乎肯定地具有所測量的電阻值。在該情況下，系統(tǒng)測量導(dǎo)電路徑的實(shí)際電阻值、識別所述電阻值所居于的預(yù)定范圍并且將該所識別的預(yù)定范圍與測試條的屬性相對應(yīng)。最后，如果制造公差僅僅不有益于為導(dǎo)電路徑準(zhǔn)確地預(yù)測實(shí)際所測量的電阻值或僅僅如所期望的，可能有用的是，求出一個所測量的電阻值與通過不同導(dǎo)電路徑的另一個所測量的電阻值的比以便確定基本上正規(guī)化的值。所述正規(guī)化的值可以類似地被用作所測量的電阻值或與一個或多個預(yù)定值范圍相比較以便識別測試條的對應(yīng)屬性。通常處于所測量的、所預(yù)測的和所正規(guī)化的電阻值的該上下文中是，本發(fā)明將被進(jìn)一步描述和理解。
[0049]只為了說明性目的，在一種形式中，工作電阻環(huán)路具有大約380.8歐姆的電阻值。(在該說明性形式中，假定50nm厚的金被用于形成軌道和接觸焊盤并且與工作電阻環(huán)路的軌道和接觸焊盤相關(guān)聯(lián)的表面面積近似等于238平方。同樣地，工作電阻環(huán)路具有近似380.8歐姆的電阻值。)在一個實(shí)施例中，該電阻值在例如250-450歐姆的預(yù)定范圍內(nèi)并且對應(yīng)于諸如條類型的屬性，即被安放在被配置用于確定葡萄糖濃度的條上的試劑。通過示例，用于工作電阻環(huán)路的電阻值的不同預(yù)定范圍、例如550-750歐姆可以對應(yīng)于諸如用于確定酮濃度的不同條類型。與所有形式一樣并且如以上所描述的，工作電阻環(huán)路的電阻值以及此處所公開的所有電阻值可以通過各種方法而被調(diào)整，諸如例如通過調(diào)整工作傳感軌道56的長度、寬度和厚度以及制造工作傳感軌道56的材料。參見例如美國專利號7，601，299，所述美國專利號7，601，299的公開此處通過引用被結(jié)合于此。
[0050]反電極軌道58a的近端78與反電極測量接觸焊盤80相連接。反電極軌道58a的遠(yuǎn)端82與反電極58相連接。另外，反傳感軌道60的近端84與反傳感測量接觸焊盤86相連接。反傳感軌道60的遠(yuǎn)端88與反電極軌道58a的遠(yuǎn)端82相連接，因而限定反電阻環(huán)路。在一種形式中，反電阻環(huán)路具有在預(yù)定電阻值范圍內(nèi)的電阻值，所述范圍對應(yīng)于測試條50的屬性。只為了說明性目的，在一種形式中，基于50nm厚的金層和近似240平方的表面面積配置，反電阻環(huán)路具有近似384歐姆的電阻值。在一個實(shí)施例中，該電阻值在預(yù)定范圍、例如250-450歐姆之內(nèi)，該范圍對應(yīng)于測試條的屬性。在其它實(shí)施例中，將工作電阻環(huán)路的電阻值與反電阻環(huán)路的電阻值求比，其中比值對應(yīng)于條的屬性，諸如條類型或分布的地理市場。
[0051 ] 如通常將被理解的，將電極標(biāo)明為“工作”或“反”電極僅僅是指示在電化學(xué)測量方法期間在存在特定電場或所施加的電勢時電極作為陽極或陰極的特定預(yù)定功能性或所意欲的用途。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將類似地把對這種電極的參考一般地理解為第一和第二測量電極(和對應(yīng)的軌道、傳感軌道、接觸焊盤等等)，因?yàn)榕c例如根據(jù)已知技術(shù)可以被特定標(biāo)明只用作劑量檢測和/或樣本充足度電極的電極不同，這種電極參與特定分析物或目標(biāo)的測量；參見例如美國專利號7，905，997，所述專利的公開在此處通過引用被結(jié)合于此?？紤]到這些理解，所述標(biāo)明“工作”和“反”只用于上下文說明和描述，并且不意圖將無論是否在權(quán)利要求中所陳述的本發(fā)明的范圍限制到特定測量電極功能性。
[0052]一般而言，為了開始測定，測試傳感器50被插入到測試儀10的連接終端14中，使得測試傳感器50的所有接觸焊盤被連接到連接終端14內(nèi)的接觸引腳。工作電極54和反電極58相對于彼此保持在斷開狀態(tài)中(即通常與彼此電絕緣)直到足夠量的流體、諸如血液被放置在測試傳感器50上。將適當(dāng)量的流體施加到試劑層66上創(chuàng)建可以由測試儀10檢測的電化學(xué)反應(yīng)。
[0053]在通常意義上，測試儀10將預(yù)定電壓施加到工作電極測量接觸焊盤70和反電極測量接觸焊盤80的兩端以創(chuàng)建在工作電極54和反電極58之間的電勢差，并且然后測量所得出的電流?；谟糜谝粰z測的電測量種類的電化學(xué)活化電勢來選擇電壓的大小和方向，所述電化學(xué)活化電勢是從試劑66和所施加的流體的電化學(xué)反應(yīng)中生成的。對于葡萄糖，例如，當(dāng)使用DC電勢時，所施加的電勢差通常在大約+100 mV和+550 mV之間。當(dāng)使用AC電勢時，這些可以在大約+5 mV和+100 mV RMS之間，但是取決于施加AC電勢的目的，這些也可以具有更大振幅。特別是由DC電勢或充分大振幅的AC電勢得出的電流的所測量的量指示要測量的分析物的濃度。該過程起作用的確切方式超出本發(fā)明的范圍但是對于本領(lǐng)域技術(shù)人員是已知的。參見例如美國專利號7，727，467 ;5，122，244 ;和7，276，146，所述專利的公開在此處通過引用被結(jié)合于此。
[0054]為了補(bǔ)償在工作電極軌道54a和反電極軌道58a中的寄生1-R (電流x電阻)降，測試傳感器50包括工作傳感軌道56和反傳感軌道60。如以上所闡明的，工作傳感軌道56在測試傳感器50的遠(yuǎn)端62處與工作電極軌道54a連接并且在測試傳感器50的近端64處與工作傳感測量接觸焊盤75連接。反傳感軌道60在測試傳感器50的遠(yuǎn)端62處與反電極軌道58a連接并且在測試傳感器50的近端64處與反傳感測量接觸焊盤86連接。
[0055]在一種形式中，在測試進(jìn)程期間，電壓電勢被施加到反電極測量接觸焊盤80，其將在反電極58和工作電極54之間產(chǎn)生電流,所述電流與存在于被施加到試劑層66的生物樣本中的分析物的量成比例。為了確保適當(dāng)?shù)碾妷弘妱荼皇┘拥椒措姌O58，測試儀10包括電路系統(tǒng)(未示出)，所述電路系統(tǒng)確保被施加到反傳感軌道60的電壓電勢(或絕對電勢差)與在反電極58處的所期望的電壓電勢(或絕對電勢差)相同。通常，測試儀10將確保很少至沒有電流將流經(jīng)反傳感軌道60，從而保證在反電極58處所見的電壓電勢對應(yīng)于所期望的電壓電勢。對于對工作傳感軌道56和反傳感軌道60的補(bǔ)償功能性的更詳細(xì)討論，可以參考共同擁有的美國專利號7，569，126，所述專利通過引用以其全部被結(jié)合于此。
[0056]將信息直接編碼到測試條50上的能力可以顯著增大測試條50的容量并且增強(qiáng)其與測試儀10的交互。例如，在本領(lǐng)域眾所周知的是向測試儀10供應(yīng)可應(yīng)用于多批測試條50的校準(zhǔn)信息或數(shù)據(jù)?，F(xiàn)有技術(shù)系統(tǒng)依靠只讀存儲器鑰匙(ROM key)，所述只讀存儲器鑰匙例如與每瓶(vial)測試條一起被供應(yīng)并且當(dāng)可應(yīng)用的測試條瓶由用戶利用時被插入到測試儀10中的對應(yīng)插口或槽中。因?yàn)樵撨^程依靠用戶來執(zhí)行該任務(wù)，沒有辦法擔(dān)保這被完成或即使這被完成，也沒有辦法擔(dān)保這被正確完成或每當(dāng)使用新條瓶時被完成。為了消除人為誤差或疏忽的可能性，本發(fā)明提供各種方式，用所述各種方式，代碼(諸如對應(yīng)于預(yù)置和預(yù)存校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的代碼)可以被直接放置于測試條50上。該信息于是可以由測試儀10讀取以調(diào)整所述測試儀10以便其可以提供精確測量，其中所述測試儀10具有存儲在內(nèi)部存儲器中的預(yù)置或預(yù)存校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。
[0057]為了實(shí)現(xiàn)這種編碼，在一個實(shí)施例中，測試條50包括在襯底52的表面上形成基礎(chǔ)電阻網(wǎng)絡(luò)104的次級或內(nèi)部電阻元件100以及初級或外部電阻元件102。次級電阻元件100的端部與次級電阻元件接觸焊盤103連接。初級電阻元件102具有第一端部106、第二端部108和預(yù)定形狀或配置。在一種形式中，初級電阻元件102具有與測試條50的縱軸平行地延伸的蛇形形狀或配置。然而，預(yù)想的是，初級電阻元件102可以具有不同形式的其它形狀和配置。在一種形式中，初級電阻元件102具有與其相關(guān)聯(lián)的、落在預(yù)定電阻值范圍內(nèi)的預(yù)測電阻值，所述預(yù)定電阻值范圍可以指示測試條50的屬性。所述電阻值可以由測試儀10使用(如以下所限定的)第一和第二初級電阻元件接觸焊盤110和112來測量。
[0058]在圖3a的實(shí)施例中，初級電阻元件102的第二端部108由反電極軌道58a的近端78限定，并且因而接觸焊盤112通常是與反電極接觸焊盤80共同延伸的。除非為特定用途或目的而另外特別要求，將被理解的是初級電阻元件102的端部106或108是由工作電極軌道54a的近端68還是由反電極軌道58a的近端78限定是設(shè)計選擇的問題，并且本發(fā)明包括以下實(shí)施例，在所述實(shí)施例中端部106和108是與工作電極54和反電極58和軌道54a、58a和其近端68、78方面分離和不同的結(jié)構(gòu)。參見例如圖3b ;相反地，參見關(guān)于為了其中接觸焊盤110、112中之一或兩者可以與接觸焊盤70、80共同延伸的實(shí)施例中的電壓補(bǔ)償而使用一個或兩個傳感軌道56、60的以上描述。為了便于參考，試劑層66已經(jīng)從剩余圖中去除，但是應(yīng)當(dāng)被意識到的是，此處所公開的每個測試條50將包括與期望被執(zhí)行的特定分析有關(guān)的試劑層66。
[0059]特別地，測試儀10可以通過將電壓施加到初級電阻元件接觸焊盤110、112兩端并且然后測量流經(jīng)初級電阻元件102的電流量來測量初級電阻元件102的電阻值。在一種形式中，與初級電阻元件102相關(guān)聯(lián)的表面面積近似等于1372平方(square)。同樣地，只為了說明，對于50nm厚的金層，與初級電阻元件102相關(guān)聯(lián)的預(yù)測電阻值近似為2195.2歐姆。
[0060]參考圖3c，說明了此處所公開的測試條50的另一個代表性部分，其中次級電阻元件100和初級電阻元件102具有不同的預(yù)定配置。如以下詳細(xì)闡明的，次級電阻元件100包括多個分接頭102a_g，所述多個分接頭102a_g在多個預(yù)定連接點(diǎn)122a_g處被連接到初級電阻元件102。該代表性實(shí)施例的所有其它圖和方面與以下同結(jié)合圖3a、4和5a-g所說明的實(shí)施例相結(jié)合地所描述的保持相同。
[0061]參考圖4，其說明在圖3a中所說明的但沒有非導(dǎo)電襯底52的測試條50的電方面的極度簡化視圖，次級電阻元件100包括多個分接頭120a-g，所述多個分接頭120a-g在多個預(yù)定連接點(diǎn)122a-g處被連接到初級電阻元件102。在所說明的形式中，初級電阻元件102具有蛇形形狀或配置，所述蛇形形狀或配置包括近端124和遠(yuǎn)端126。所述分接頭120a-g在初級電阻元件102的近端124處被連接到連接點(diǎn)122a-g。特別地，分接頭120a_g在蛇形配置的每個橫檔(rung)的近端處被連接。然而，應(yīng)當(dāng)被意識到的是，分接頭120a-g也可以在其它位置處被連接到初級電阻元件102，諸如在圖3c和6中所說明的。
[0062]在圖4中所說明的形式中，初級電阻元件102的第一端部130與第一初級電阻元件接觸焊盤Iio連接。初級電阻元件102的第二端部132與反電極軌道58a連接，從而將初級電阻元件102的第二端部132連接到反電極接觸焊盤80。如以上所闡明的，在其它形式中，初級電阻元件102的第二端部132可以被連接到除反電極接觸焊盤80之外的不同接觸焊盤112。參見例如圖3b。
[0063]如在圖3a和4中所說明的，基礎(chǔ)電阻網(wǎng)絡(luò)104最初通過原始過程而被構(gòu)成在非導(dǎo)電襯底52上，所述原始過程諸如通過廣域激光燒蝕而在測試條50上形成整體電極、軌道和接觸焊盤。如以下更詳細(xì)闡明的，在次級處理期間，通過切斷除次級電阻網(wǎng)絡(luò)100的分接頭120a-g之一以外的所有分接頭，代碼可以被置于測試條50上。同樣地，120a-g之中被切斷的分接頭被置于斷開或非導(dǎo)電狀態(tài)，而所述一個剩余的分接頭120a-g相對于初級電阻元件102被置于閉合或?qū)щ姞顟B(tài)。切斷可以通過手動或其它手段實(shí)現(xiàn)，諸如利用適當(dāng)激光的燒蝕或劃片。
[0064]在制造期間，一旦相應(yīng)批的測試條50被生產(chǎn)，所述測試條50具有被形成于其上的基礎(chǔ)電阻網(wǎng)絡(luò)104，則所述批的一個或多個有關(guān)屬性被確定，以便相應(yīng)地對所述批中的每個測試條50編碼，用于將所述(一個或多個)屬性傳送給測試儀10。例如，在一個實(shí)施例中，利用具有已知濃度的目標(biāo)分析物來測試來自所述批的測試條50中的一個或多個。測試結(jié)果通常指示包括校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的屬性，所述校準(zhǔn)數(shù)據(jù)諸如用于基于通常線性關(guān)系、用于測量目標(biāo)分析物的算法的斜率和截距的值，所述校準(zhǔn)數(shù)據(jù)應(yīng)當(dāng)由測試儀10在使用測試條50的最終測量確定中采用。在測試條50的剩余批的次級處理中，基礎(chǔ)電阻網(wǎng)絡(luò)104被修改，以便將代碼置于測試條50上，所述代碼與用于該批測試條50的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)。
[0065]在一種形式中，包括用于該批測試條50的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的屬性允許測試儀10自動調(diào)整其自身以提供目標(biāo)分析物的精確測量。特別地，在次級處理期間被創(chuàng)建在測試條50上的電阻網(wǎng)絡(luò)被用于向測試儀10輸送與條性能有關(guān)的信息，所述條性能諸如算法斜率和產(chǎn)品類型。在一個特定實(shí)施例中，次級電阻元件100被修改以只呈現(xiàn)多個可能狀態(tài)中的一個，其中每個狀態(tài)至少包括測試條50上的代碼的一部分。
[0066]根據(jù)一個方面，基礎(chǔ)電阻網(wǎng)絡(luò)104被形成使得按制造默認(rèn)所有分接頭120a_g處于閉合狀態(tài)。所述默認(rèn)狀態(tài)向儀表10輸送所謂的用于特定測試條類型的標(biāo)稱代碼，例如用于線性相關(guān)性算法的標(biāo)稱斜率和/或截距值。通過稍后使除(如以下進(jìn)一步闡明的那樣所檢測到的)分接頭120a-g中之一以外的所有分接頭切斷或斷開所創(chuàng)建的多個其它可能狀態(tài)中的每一個于是可以將增量調(diào)整值輸送給所述標(biāo)稱代碼或使用所述標(biāo)稱代碼從算法所計算的值。例如，對于分接頭120a_g，有七個可能的狀態(tài)，其中只有一個分接頭保持閉合。每個這樣的狀態(tài)可以表示正或負(fù)因子(例如乘數(shù))，所述正或負(fù)因子當(dāng)被輸送給儀表10時由所述儀表采用以取決于特定條批相比較于標(biāo)稱代碼是如何被評價的而向上或向下調(diào)整所計算的輸出。因而，狀態(tài)1-3可以分別表示乘數(shù)-1%、-2%和-3%，而狀態(tài)4-7可以分別表示乘數(shù)+1%、+2%、+3%和+4%。這種實(shí)施例向各自表示被預(yù)存在儀表10中的然后由所述儀表在相關(guān)性算法中采用的一組代碼值(例如斜率和截距)的狀態(tài)提供可替換方案。
[0067]在可替換形式中，在初級處理期間，所有分接頭120a_g可以被燒蝕或被置于斷開狀態(tài)。在這種形式中，取決于該批測試條50的測試結(jié)果，相應(yīng)分接頭120a-g在次級處理期間被置于閉合狀態(tài)。要求被置于閉合狀態(tài)的分接頭120a-g可以在次級處理期間通過噴墨印刷、焊接、點(diǎn)滴分配(drop dispensing)、絲網(wǎng)印刷、導(dǎo)電包帶(conductive taping)等等而被置于閉合狀態(tài)。在其它可替換形式中，可以形成被用于形成測試條50的掩模，所述掩模已經(jīng)具有被置于閉合狀態(tài)的一個分接頭120a-g和處于斷開狀態(tài)的剩余分接頭，從而消除對于次級處理測試條50的需要。
[0068]參考圖5a，在測試條50的次級處理期間，基礎(chǔ)電阻網(wǎng)絡(luò)104被修改使得指示與測試條50相關(guān)聯(lián)的屬性的代碼信息被置于測試條50上。如以上所闡明的，被修改的基礎(chǔ)電阻網(wǎng)絡(luò)104可以被利用用于向測試儀10傳遞與條性能有關(guān)的基本信息，諸如算法斜率和產(chǎn)品類型。如在圖5a中所說明的，在次級處理期間，除分接頭120a_g中之一以外的所有分接頭(在本說明性示例中為分接頭120a-f)已經(jīng)由激光燒蝕，從而限定第一狀態(tài)(狀態(tài)1)，測試條50可以在所述第一狀態(tài)中被生產(chǎn)。特別地，在狀態(tài)I中，只有分接頭120g保持在位置122g處與初級電阻元件102連接，從而通過初級電阻元件102的一部分而為次級電阻元件100限定第一唯一電阻路徑。被燒蝕的分接頭120a-f從而被置于斷開狀態(tài)并且未被燒蝕的分接頭120g處于閉合狀態(tài)，從而允許電流流經(jīng)次級電阻元件100并且進(jìn)入到初級電阻元件102的選擇部分中。
[0069]如在圖5a中所說明的，從次級電阻元件接觸焊盤103通過包括未被燒蝕分接頭120g的次級電阻元件100以及在位置122g和接觸焊盤112之間的在第二端部132處的初級電阻元件102的一部分而限定第一唯一電阻路徑。所述第一唯一電阻路徑至少部分由未被燒蝕的分接頭120g和初級電阻元件102的一部分限定。在一種形式中，為了說明，在狀態(tài)I中，第一唯一電阻路徑具有與其相關(guān)聯(lián)的近似為38.4歐姆的電阻值。為了說明清楚性，在圖5a中，第一唯一電阻路徑以散列線陰影被示出在接觸焊盤103和112之間。
[0070]如以下所討論的所有形式一樣，與第一唯一電阻路徑相關(guān)聯(lián)的電阻值可以由測試儀10使用次級電阻元件接觸焊盤103和接觸焊盤112(所述接觸焊盤112如所說明的與反電極接觸焊盤80共同延伸)來測量。特別地，可以由測試儀10通過將預(yù)定電壓施加到次級電阻元件接觸焊盤103和接觸焊盤112的兩端并且然后通過測量所得出的流經(jīng)第一唯一電阻路徑的電流并且然后根據(jù)歐姆定律R=U/I計算電阻而測量所述電阻值。
[0071]可替換地，由狀態(tài)I從次級電阻元件接觸焊盤103通過包括未被燒蝕的分接頭120g的次級電阻元件100以及在位置122g和初級電阻元件接觸焊盤110之間的在第一端部130處的初級電阻元件102的一部分而限定第二唯一電阻路徑。在該可替換形式中，所述次級唯一電阻路徑具有與其相關(guān)聯(lián)的近似為2182.4歐姆的電阻值。如以下所討論的所有形式一樣，與對于每個狀態(tài)的第二唯一電阻路徑相關(guān)聯(lián)的電阻值可以由測試儀10使用次級電阻元件接觸焊盤103和初級電阻元件接觸焊盤110來測量?？梢杂蓽y試儀10通過將預(yù)定電壓施加到次級電阻元件接觸焊盤103和初級電阻元件接觸焊盤110的兩端并且然后通過測量所得出的流經(jīng)第二唯一電阻路徑的電流并且如以上所描述的那樣計算電阻來測量所述電阻值。
[0072]參考圖5b_5g，各自包括對于每個狀態(tài)的第一和第二唯一電阻路徑的附加狀態(tài)(例如狀態(tài)2-7)可以基于哪個分接頭120a-120f保持為被燒蝕來限定。在每個實(shí)例中，從次級電阻元件接觸焊盤103通過包括(諸如分別在圖5b-5g中所示出的)特定未被燒蝕的分接頭120f-120a的次級電阻 元件100和在(分別)特定位置122f_122a和接觸焊盤112之間的在第二端部132處的初級電阻元件102的一部分而限定第一唯一電阻路徑。(為了說明清楚性，在圖5b-5g中每個中的第一唯一電阻路徑以散列線陰影被示出在接觸焊盤103和112之間)。相反地，在每個實(shí)例中，從次級電阻元件接觸焊盤103通過包括(諸如分別在圖5b-5g中所示出的)特定未被燒蝕的分接頭120f-120a的次級電阻元件100和在(分別)特定位置122f-122a和接觸焊盤110之間的在第一端部130處的初級電阻元件102的一部分而限定第二唯一電阻路徑。
[0073]為了進(jìn)一步說明，表1闡明為與在圖5a_5g中所示出的狀態(tài)1_7中每一個所限定的第一(URP#1)和第二(URP#2)唯一電阻路徑(“URP”)相關(guān)聯(lián)的示范性電阻值(以歐姆Ω為單位)，其中所述路徑由具有50nm厚度的金形成。將被理解的是，其它材料、厚度和路徑配置對于每個狀態(tài)將具有不同的相關(guān)聯(lián)電阻值。
[0074]表1:對于第一(URP#1)和第二(URP#2)唯一電阻路徑的相關(guān)聯(lián)電阻值
一 I狀態(tài)I I狀態(tài)2 I狀態(tài)31狀態(tài)4 I狀態(tài)51狀態(tài)6 I狀態(tài)7
_URP#1 38.4 — 332.8 699.2 1068.1" 1440 1812.8 2182.T
URP#2 丨2182.4 |l812.8 |l440 |?068.8 丨699.2 丨332.8 丨38.4
[0075]如以上關(guān)于圖5a_g所闡明的，此處所公開的測試條50可以在制造期間被配置以傳輸來自測試傳感器條50上的電阻軌道的比較分析的產(chǎn)品性能和屬性信息的最少七(7)個基本狀態(tài)。盡管離散電阻值以上在說明性形式中和如以上關(guān)于預(yù)測電阻值所進(jìn)一步描述的那樣已經(jīng)被闡明，但應(yīng)當(dāng)被意識到的是，在一些實(shí)施例中，這些值由于在制造過程中的差異將稍微變化。同樣地，在次級處理期間可以制造測試條50所處于的每個狀態(tài)通常將落在電阻值范圍內(nèi)。因而，在一個實(shí)施例中，每個離散電阻值范圍、而不是離散電阻值自身將對應(yīng)于測試條50的狀態(tài)。例如，在一種形式中，第一唯一電阻路徑的電阻值在狀態(tài)I中可以落在20-150歐姆的范圍內(nèi)，在狀態(tài)2中可以落在310-450歐姆的范圍內(nèi)，等等。
[0076]被用于測量電阻和其它因素的方法也可以影響由測試儀10所測量的電阻并且因而最小化可以被使用的每個離散電阻范圍的大小，所述其它因素諸如測試條50的溫度和測試儀10的內(nèi)部電子配置。例如，所測量的電阻也可以包括在測試儀10內(nèi)部的至少一個開關(guān)的電阻，其中所述開關(guān)的電阻取決于開關(guān)溫度和制造公差而變化。在一個實(shí)施例中，內(nèi)部開關(guān)電阻以及接觸電阻(即來自儀表接觸引腳與特定接觸焊盤的接觸的電阻)被說明(accounted for)并且因而在為每個初級電阻元件102和次級電阻元件100計算電阻值時被自動補(bǔ)償。
[0077]在其它形式中，測試儀10可以被配置以用以下方式確定測試條50的狀態(tài)，其中求出所述電阻值與測試條50上至少一個其它電阻值的比或者將所述電阻值與測試條50上至少一個其它電阻值按比例地進(jìn)行比較。同樣地，測試儀10可以被配置以測量通過次級電阻元件100和初級電阻元件102的第一或第二唯一電阻路徑的電阻值并且然后將其與測試條50的另一個所測量的電阻值比較。例如，測試儀10可以求出次級電阻元件102和初級電阻元件102的第一或第二唯一電阻路徑的所測量的電阻值與初級電阻元件102、工作電阻環(huán)路和反電阻環(huán)路中的一個或多個的所測量的電阻的比用以確定測試條50的狀態(tài)。
[0078]參考回圖3a，在另一種形式中，測試條50在測試條50的近端64上裝備有光學(xué)二維代碼200。在一些形式中，測試儀10裝備有光學(xué)代碼讀取器(未示出)，所述光學(xué)代碼讀取器允許測試儀10讀取光學(xué)二維代碼200?？梢杂晒鈱W(xué)二維代碼200所提供的附加信息可以是產(chǎn)品有效日期、產(chǎn)品標(biāo)識(國家或地區(qū))、血液和控制溶液的截取(interc印t)、條批標(biāo)識和其它特征。
[0079]參考圖6，測試條50的另一個代表性形式被公開，其可以結(jié)合此處所公開的特征。在其中同樣編號的元件對應(yīng)于相同特征的這種形式中，初級電阻元件102被形成，其具有不同蛇形形狀。特別地，代替與測試條50的縱軸平行地運(yùn)行，所述蛇形配置與測試條50的縱軸垂直地運(yùn)行。該配置也修改次級電阻元件100的連接點(diǎn)122a-g連接到初級電阻元件102的地方。另外，次級電阻元件100的分接頭120a-g與測試條50的縱軸垂直地被定向。
[0080]在這種形式中，初級電阻元件102的第二端部132與第二初級電阻元件接觸焊盤210連接。在圖3a中所說明的先前形式中，初級電阻元件102的第二端部132與反電極軌道58a —起形成(其中反電極接觸焊盤80被示出為與接觸焊盤112共同延伸)。然而，如以上所討論的，初級電阻元件102的第二端部132可以與接觸焊盤210連接，與反電極軌道58a和反電極接觸焊盤80分離，如在圖6中所說明的。如在圖3a中所說明的形式一樣，在測試條50的次級處理期間，除分接頭120a-g中之一以外的所有分接頭被燒蝕以將測試條50置于預(yù)定義狀態(tài)(例如狀態(tài)1-7)中。在這種形式中，測試儀10被配置以通過使用第一初級電阻元件接觸焊盤110和第二初級電阻元件接觸焊盤210來確定初級電阻元件102的電阻。所有其它特征與結(jié)合在圖3a中說明的形式所討論的保持相同。
[0081]參考圖7，說明了測試條50的另一種形式，其在工作電阻環(huán)路中包括工作傳感蛇形件220。在這種形式中，所述工作傳感蛇形件220被用于將與測試條50的屬性有關(guān)的附加信息編碼到測試條50上。如所描繪的，工作傳感軌道56已經(jīng)被形成以包括工作傳感蛇形件220，所述工作傳感蛇形件220在所說明的實(shí)施例中位于測試條50的遠(yuǎn)端62上。工作傳感蛇形件220允許工作電阻環(huán)路被選擇性地形成，具有落在電阻范圍內(nèi)的預(yù)定電阻值。所述電阻值可以取決于工作傳感蛇形件220的存在或不存在而變化，并且在其存在時則也取決于寬度、長度、厚度和被用于在測試條上形成工作傳感蛇形件220的導(dǎo)電材料。所述工作電阻環(huán)路的電阻值可以由測試儀10通過將預(yù)定電壓施加到工作傳感測量接觸焊盤75和工作電極測量接觸焊盤70的兩端并且然后測量所得出的電流并且相應(yīng)地計算電阻而被測量。
[0082]參考圖8，說明了測試條50的另一種形式，其在反電阻環(huán)路中包括反傳感蛇形件230。如在圖7中所說明的形式一樣，在這種形式中，反傳感蛇形件230被用于將與測試條50的屬性有關(guān)的附加信息編碼到測試條50上。反傳感軌道60已經(jīng)被形成以包括反傳感蛇形件230，所述反傳感蛇形件230在所說明的實(shí)施例中位于測試條50的遠(yuǎn)端上。反傳感蛇形件230允許反電阻環(huán)路被選擇性地形成，具有落在電阻范圍內(nèi)的預(yù)定電阻值。所述反電阻環(huán)路的電阻值可以由測試儀10通過將預(yù)定電壓施加到反傳感測量接觸焊盤86和反電極測量接觸焊盤80的兩端并且然后測量所得出的電流而被測量。
[0083]參考圖9，公開了被配置以對于分析物濃度進(jìn)行測試的測試條50的可替換形式，其以與測試條50的至少兩個屬性有關(guān)系的信息被編碼。在這種形式中，第一電阻元件300被限定在第一接觸焊盤302和第二接觸焊盤304之間，所述第一接觸焊盤302諸如例如反電極接觸焊盤。如所說明的，包括第一組分接頭308a-l的第二電阻元件306與第一電阻元件300連接。如先前的形式一樣，除第一組分接頭308a-l之一以外的所有分接頭已經(jīng)被燒蝕，因而將分接頭308a-b和308d-l置于斷開狀態(tài)。分接頭308c處于閉合狀態(tài)，因而從第三接觸焊盤310通過第二電阻元件306和第一電阻元件300的至少一部分到第一接觸焊盤302限定第一唯一電阻路徑。也從第三接觸焊盤310通過第二電阻元件306和第一電阻元件300的至少一部分到第二接觸焊盤304限定第二唯一電阻路徑。在這種形式中，取決于哪個分接頭308a-l被置于閉合狀態(tài)，多達(dá)十二(12)個狀態(tài)可以由第一和第二唯一電阻路徑限定。
[0084]包括第二組分接頭314a_l的第三電阻元件312也與第一電阻元件300連接。再一次，除第二組分接頭314a-l中之一以外的所有分接頭已經(jīng)被燒蝕，因而將分接頭314a-d和314f-l置于斷開狀態(tài)。只為了說明性目的，分接頭314e已經(jīng)被置于閉合狀態(tài)，因而從第四接觸焊盤316通過第三電阻元件312和第一電阻元件300的至少一部分到第一接觸焊盤302而限定第三唯一電阻路徑。也從第四接觸焊盤316通過第三電阻元件312和第一電阻元件300的至少一部分到第二接觸焊盤304限定第四唯一電阻路徑。在這種形式中，取決于哪個分接頭314a-l被置于閉合狀態(tài)，多達(dá)十二(12)個狀態(tài)可以由第三和第四唯一電阻路徑限定。與第三電阻元件312相關(guān)聯(lián)的分接頭314a-l的數(shù)目規(guī)定在測試條50上可以限定多少狀態(tài)。在其它形式中，附加電阻元件、接觸焊盤和分接頭可以被置于測試條上以將附加息編碼在測試條上。
[0085]參考圖5a_g和10，闡明了允許測試儀10測量生物流體中分析物濃度的代表性過程的一般描述。所述過程由將測試條50插入(步驟340)到測試儀10中開始。在這種形式中，測試儀10被配置用以一旦測試條50被插入到測試儀10中則自動開啟。這里，測試儀10被配置以測量基礎(chǔ)電阻網(wǎng)絡(luò)104的導(dǎo)電率用以探知與測試條50相關(guān)聯(lián)的至少一個屬性，這被表示在步驟342處。在一種形式中，測試儀10被配置以將預(yù)定電壓施加到接觸焊盤110、112之一(取決于是第一還是第二唯一電阻路徑被詢問)和次級電阻元件接觸焊盤103的兩端并且然后測量所得出的電流來計算電阻并且確定測試條50的狀態(tài)(例如狀態(tài)1-7之一)。如以上所闡明的，根據(jù)與限定次級電阻元件的第一或第二唯一電阻路徑相關(guān)聯(lián)的第一電阻值來確定測試條50的狀態(tài)。
[0086]在其它形式中，測試儀10也被配置以確定與初級電阻元件102相關(guān)聯(lián)的第二電阻值。在這種形式中，測試儀10被配置以將預(yù)定電壓施加到初級電阻元件接觸焊盤110、112的兩端并且然后測量所得出的電流并且相應(yīng)地計算電阻。測試儀10于是計算第一電阻值(即與所選擇的唯一電阻路徑相關(guān)聯(lián)的電阻)與第二電阻值(即與初級電阻元件102相關(guān)聯(lián)的電阻)的比并且然后諸如通過被預(yù)存在測試儀10的存儲器中的查詢表來使所述比與測試條50的屬性相關(guān)。如以上所闡明的，在一種形式中，測試儀10在該過程期間確定的屬性與為特定批的測試條50所確定的算法斜率和截距相關(guān)。
[0087]一旦測試儀10確定了屬性，所述測試儀10被配置以自動利用與所述屬性有關(guān)的信息，這被表示在步驟344處。例如，在一個實(shí)施例中，測試儀10被命令以執(zhí)行特定于已經(jīng)被插入的測試條50的特定類型測試；或者測試儀10根據(jù)用于該批測試條的預(yù)存校準(zhǔn)信息來校準(zhǔn)所述儀表。根據(jù)在步驟342處所確定的屬性來配置測試儀10。因而，在校準(zhǔn)實(shí)施例中，取決于測試條50的所確定的狀態(tài)，測試儀10包括被存儲在存儲器中的算法斜率，所述算法斜率允許測試儀10對于已經(jīng)被插入到測試儀10中的特定類型測試條50而被調(diào)整。這允許測試儀10在不要求用戶必須在測試過程期間與測試儀10交互的情況下提供更精確的結(jié)果。
[0088]在根據(jù)所編碼的屬性信息配置測試儀10之后，測量序列諸如通過提示用戶將血液施加到例如測試條50而準(zhǔn)備好開始，這被表示在步驟346處。一旦血液已經(jīng)被施加到測試條50，測試儀10于是開始血糖測量循環(huán)，這被表示在步驟348處。在測試儀10執(zhí)行血糖測量循環(huán)之后，測試儀被配置以在顯示器16上顯示結(jié)果(步驟350)。應(yīng)當(dāng)被意識到的是，該說明性示例僅僅是基本示例并且測試儀10也被配置以完成許多其它任務(wù)。例如，測試儀10可以被配置以將測試結(jié)果存儲在存儲器中，以便用戶可以觀看過去的測試結(jié)果。
[0089]如此處所使用的，術(shù)語燒蝕應(yīng)當(dāng)被廣義地解釋為意味著移除或破壞，這可以通過例如切割、磨蝕或蒸發(fā)來完成。在一種形式中，分接頭120a_g中至少一部分由激光燒蝕，所述激光可以是二極管泵浦固態(tài)激光或纖維激光。在說明性形式中，所述二極管泵浦固態(tài)激光是355納米的二極管泵浦固態(tài)激光并且所述纖維激光是1090納米的纖維激光。
[0090]所說明的次級電阻元件100的實(shí)施例示出，取決于使得分接頭120a_g中哪一個是閉合的，七個狀態(tài)是可能的。將由本領(lǐng)域普通技術(shù)人員很好理解的是，通過從對于基礎(chǔ)電阻網(wǎng)絡(luò)104的設(shè)計添加或移除分接頭120可以如所期望的或所需要的那樣增加或減少狀態(tài)的數(shù)目，其中對應(yīng)增加或減少預(yù)定連接點(diǎn)122的數(shù)目。
[0091]盡管已經(jīng)使用特定術(shù)語描述了本發(fā)明的實(shí)施例，但是這樣的描述只是為了說明性目的，并且要被理解的是，對技術(shù)人員明顯的改變和變化將被認(rèn)為處于以下權(quán)利要求和其等同物的范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種分析物測試傳感器條(12，50),包括: 非導(dǎo)電襯底(29，52)； 在所述非導(dǎo)電襯底(29，52)上的、具有第一端部(106)和第二端部(108)的初級電阻元件(102)，其中所述初級電阻元件具有預(yù)定配置；和 在所述非導(dǎo)電襯底(29，52)上的、具有分接頭(120a-g)的次級電阻元件(100)，所述分接頭在所述預(yù)定配置上的預(yù)定連接點(diǎn)(122a-g)處被連接到所述初級電阻元件，因而限定通過所述預(yù)定配置的至少一部分的唯一電阻路徑。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分析物測試傳感器(12，50)，其中通過所述預(yù)定配置的所述唯一電阻路徑與其相關(guān)聯(lián)地具有落在多個電阻范圍中相應(yīng)一個內(nèi)的電阻。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的分析物測試傳感器(12，50)，其中根據(jù)所述預(yù)定連接點(diǎn)(122a-g)在所述預(yù)定配置上的位置來確定所述電阻。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分析物測試傳感器(12，50)，其中所述唯一電阻路徑與所述分析物測試傳感器條的屬性相關(guān)聯(lián)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分析物測試傳感器(12，50)，其中所述預(yù)定配置被形成，具有蛇形形狀，所述蛇形形狀限定多個近端和多個遠(yuǎn)端。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分析物測試傳感器(12，50)，其中所述次級電阻元件(100)包括多個分接頭(120a_g)，其中在所述預(yù)定連接點(diǎn)(122a_g)處與所述預(yù)定配置相連接的所述相應(yīng)分接頭以閉合狀態(tài)被形成，并且所述多個分接頭的所有其它分接頭以斷開狀態(tài)被形成。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分析物測試傳感器(12，50)，其中所述初級電阻元件(102)的所述第一端部(106)與第一接觸焊盤(110)相連接，并且所述第二端部(108)與第二接觸焊盤(112)相連接，并且其中所述次級電阻元件(100)的第三端部與第三接觸焊盤(103)相連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的分析物測試傳感器(12，50)，其中所述唯一電阻路徑從所述第三接觸焊盤(103)通過所述次級電阻元件(100)并且然后在所述預(yù)定連接點(diǎn)(122a-g)處進(jìn)入到所述初級電阻元件(102)中并且然后通過所述初級電阻元件(102)的至少一部分運(yùn)行至所述第一接觸焊盤(106)和第二接觸焊盤(108)中之一。
9.一種分析物測試傳感器條(12，50),包括: 非導(dǎo)電襯底(29，52)； 在所述非導(dǎo)電襯底(29，52)上的、具有預(yù)定配置的初級電阻元件(102)，其具有與第一接觸焊盤(110)相連接的第一端部(106)和與第二接觸焊盤(112)相連接的第二端部(108)； 在所述非導(dǎo)電襯底(29，52)上的、具有多個分接頭(120a-g)的次級電阻元件(100)，其中所述多個分接頭中的一個分接頭在預(yù)定位置處與所述初級電阻元件(102)相連接，因而以閉合狀態(tài)被形成并且限定通過所述初級電阻網(wǎng)絡(luò)的唯一電阻路徑，并且所述多個分接頭的剩余分接頭以斷開狀態(tài)被形成，因而從所述初級電阻網(wǎng)絡(luò)斷開，其中所述次級電阻元件(100)的一部分與次級電阻元件接觸焊盤(103)相連接。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的分析物測試傳感器條(12，50)，其中處于所述斷開狀態(tài)的所述分接頭是用激光燒蝕的。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的分析物測試傳感器條(12，50)，其中所述唯一電阻路徑與所述分析物測試傳感器條的屬性相關(guān)聯(lián)。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的分析物測試傳感器條(12，50)，此外在所述非導(dǎo)電襯底(29，52)上包括光學(xué)代碼(200)。
13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的分析物測試傳感器條(12，50)，此外在所述非導(dǎo)電襯底(29，52)上包括第一電阻環(huán)路，所述第一電阻環(huán)路以從第一測量電極被間隔開的關(guān)系包括第一測量傳感電極。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的分析物測試傳感器條(12，50)，其中所述第一測量電極與所述初級電阻元件(102)的所述第二端部(108)相連接。
15.根據(jù)權(quán)利要求9所述的分析物測試傳感器條(12，50)，其中所述預(yù)定配置包括蛇形配置。
16.一種形成生物傳感器測試條(12，50)的方法，包括: 在非導(dǎo)電襯底(29，52)上形成具有預(yù)定配置的初級電阻元件(102)，其包括第一端部(106)和第二端部(108);和 在所述非導(dǎo)電襯底(29，52)上形成次級電阻元件(100)，所述次級電阻元件(100)具有至少一個被連接到所述初級電阻元件(102)上的預(yù)定連接位置(122a-g)的分接頭(120a-g)，因而限定通過所述初級電阻元件(102)的至少一部分的唯一電阻路徑，所述唯一電阻路徑與其相關(guān)聯(lián)地具有落在多個電阻范圍中相應(yīng)一個內(nèi)的電阻。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中所述次級電阻元件(100)包括多個分接頭(120a-g)，其中除被連接到所述初級電阻元件(102)上的所述預(yù)定位置(122a-g)的所述分接頭以外的所有所述多個分接頭被燒蝕，因而將所述被燒蝕的分接頭從所述初級電阻元件(102)斷開。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中所述初級電阻元件(102)包括多個預(yù)定連接位置(122a-g)，所述方法此外包括以下步驟，即根據(jù)與所述生物傳感器測試條(12，50)相關(guān)聯(lián)的屬性來選擇將與所述分接頭(120a-g)相連接的連接位置。
19.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，此外包括在所述非導(dǎo)電襯底(29，52)上形成光學(xué)代碼(200)。
20.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中所述唯一電阻路徑與所述生物傳感器測試條的屬性相關(guān)聯(lián)。
21.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中所述預(yù)定配置包括蛇形配置。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的方法，其中所述蛇形配置包括多個近端和多個遠(yuǎn)端，其中在所述預(yù)定連接位置處被連接的所述分接頭與所述蛇形配置的相應(yīng)近端相連接。
23.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中被包含在所述多個電阻范圍中的每個電阻范圍與所述生物傳感器測試條(12，50)的唯一屬性相關(guān)聯(lián)。
24.—種分析物測試傳感器條(12，50)，包括 非導(dǎo)電襯底(29，52)； 用于進(jìn)行流體樣本中分析物的定量或定性分析的裝置；和 在所述非導(dǎo)電襯底(29，52)上所提供的信息電路，所述信息電路包括: 在第一端部和第二端部之間的導(dǎo)電初級路徑(102)，所述導(dǎo)電初級路徑(102)在所述第一和第二端部之間具有預(yù)定配置，其中所述導(dǎo)電初級路徑(102)具有落在第一預(yù)定范圍內(nèi)的電阻；和 在第三端部和所述導(dǎo)電初級路徑(102)的所述第一端部之間的導(dǎo)電次級路徑(100)，其中所述導(dǎo)電次級路徑(100)基本上由閉合分接頭和多個斷開分接頭所限定，其中所述閉合分接頭選擇性地在預(yù)定位置(122a-g)處連接所述第三端部與所述導(dǎo)電初級路徑(102)，因而限定在第一端部和第三端部之間的通過所述導(dǎo)電初級路徑(102)的至少一部分的唯一電阻路徑，其中所述唯一電阻路徑具有落在第二預(yù)定范圍內(nèi)的第二電阻。
25.根據(jù)權(quán)利要求24所述的分析物測試傳感器條(12，50)，其中所述第一電阻和所述第二電阻的比選擇性地與所述分析物測試傳感器條的屬性相關(guān)。
26.根據(jù)權(quán)利要求24所述的分析物測試傳感器條(12，50)，其中所述第一端部與第一接觸焊盤(302)相連接，所述第二端部與第二接觸焊盤(304)相連接，并且所述第三端部與第三接觸焊盤(310)相連接。
27.根據(jù)權(quán)利要求24所述的分析物測試傳感器條(12，50)，其中所述預(yù)定配置包括蛇形配置，所述蛇形配置具有多個近端和多個遠(yuǎn)端。
28.根據(jù)權(quán)利要求27所述的分析物測試傳感器條(12，50)，其中所述閉合分接頭被連接到相應(yīng)近端。
29.根據(jù)權(quán)利要求24所述的分析物測試傳感器條(12，50)，其中根據(jù)所述分析物測試傳感器條(12，50)的屬性來選擇哪個分接頭構(gòu)成所述閉合分接頭。
30.根據(jù)權(quán)利要求24所述的分析物測試傳感器條(12，50)，此外在所述非導(dǎo)電襯底(29，52)上包括光學(xué)代碼(200)。`
31.根據(jù)權(quán)利要求30所述的分析物測試傳感器條(12，50)，其中所述光學(xué)代碼(200)包含與所述分析物測試傳感器條(12，50)相關(guān)聯(lián)的至少一個信息屬性，所述與所述分析物測試傳感器條(12，50)相關(guān)聯(lián)的至少一個信息屬性是從包括產(chǎn)品有效日期、產(chǎn)品標(biāo)識、血液和控制溶液信息的截取、條批標(biāo)識和條性能算法標(biāo)識符的組中所選擇的。
32.一種用于測量流體樣本中分析物濃度的方法，包括: 提供測試儀(10); 提供測試條(12，50)，所述測試條包括: 非導(dǎo)電襯底(29，52)； 在所述非導(dǎo)電襯底(29，52)上的工作電極(54)，所述工作電極(54)可連接到所述測試儀； 在所述非導(dǎo)電襯底(29，52)上的反電極(58)，所述反電極(58)可連接到所述測試儀； 橋接在所述工作電極(54)和所述反電極(58)之間的試劑部分(66)； 在所述非導(dǎo)電襯底(29，52)上的初級電阻元件(102)，所述初級電阻元件(102)具有可連接到所述測試儀(10)的第一端部(106)和可連接到所述測試儀(10)的第二端部(108)，其中所述初級電阻元件(102)具有預(yù)定配置；和 在所述非導(dǎo)電襯底(29，52)上的次級電阻元件(100)，所述次級電阻元件(100)具有可連接到所述測試儀(10)的第三端部，其中所述次級電阻元件(100)具有在所述預(yù)定配置上的預(yù)定連接點(diǎn)(122a-g)處被連接到所述初級電阻元件(102)的分接頭(120a_g)，因而限定通過所述預(yù)定配置的至少一部分的具有電阻值的唯一電阻路徑；將所述測試條(12，50)接收進(jìn)所述測試儀(10)中； 操作地將所述工作電極(54)、所述反電極(58)、所述初級電阻元件(102)和所述次級電阻元件(100)與所述測試儀(10)相連接；和 根據(jù)至少與所述與所述唯一電阻路徑相關(guān)聯(lián)的電阻值相關(guān)聯(lián)的測量來確定與測試條(12，50)相關(guān)聯(lián)的屬性。
33.根據(jù)權(quán)利要求32所述的方法，其中所述初級電阻元件(102)具有初級元件電阻值并且所述屬性是根據(jù)通過比較所述唯一電阻路徑的所述電阻值與所述初級元件電阻值所確定的電阻比而被確定的。
34.根據(jù)權(quán)利要求32所述的方法，此外包括根據(jù)所述屬性來調(diào)整所述測試儀(10)以輸出與所述分析物相關(guān)聯(lián)的濃度測量輸出。
35.根據(jù)權(quán)利要求32所述的 方法，其中所述初級電阻元件(102)的端部與所述反電極(58)相連接。
【文檔編號】G01N27/327GK103733056SQ201280037783
【公開日】2014年4月16日 申請日期:2012年7月25日 優(yōu)先權(quán)日:2011年7月29日
【發(fā)明者】J.T.奧斯特拉, T.A.比蒂, A.D.約瑟夫, N.E.曼洛夫, S.K.摩爾, J.L.小保利, R.K.里格萊斯 申請人:霍夫曼-拉羅奇有限公司