專(zhuān)利名稱(chēng)：基于超寬帶相控陣逐層聚焦的多材質(zhì)聯(lián)合識(shí)別裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及材質(zhì)識(shí)別技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及基于超寬帶相控陣逐層聚焦的多材質(zhì)聯(lián)合識(shí)別裝置。
背景技術(shù)：
材質(zhì)識(shí)別、質(zhì)量鑒定是工業(yè)材質(zhì)質(zhì)量檢測(cè)領(lǐng)域的重要課題。對(duì)于由多種材質(zhì)組成的物體，需分別鑒定出各材質(zhì)的類(lèi)別，從而對(duì)物體整體的材質(zhì)組成和質(zhì)量鑒定做出結(jié)論。例如，如何檢測(cè)物體的內(nèi)部分層結(jié)構(gòu)及各層的材質(zhì)，如何識(shí)別木制品、金屬制品等的內(nèi)部材質(zhì)真假及質(zhì)量?jī)?yōu)劣，如何辨別材質(zhì)內(nèi)部是否混有其他成分并識(shí)別其他成分的材質(zhì)種類(lèi)等。目前的材質(zhì)識(shí)別的常見(jiàn)方法有光熱法識(shí)別、顏色識(shí)別、電磁識(shí)別、回波信號(hào)識(shí)別、電渦流識(shí)別等。光熱法識(shí)別和顏色識(shí)別無(wú)法對(duì)物體內(nèi)部的材質(zhì)進(jìn)行識(shí)別和鑒定，電磁識(shí)別只適用于對(duì)電磁材料的識(shí)別。回波信號(hào)識(shí)別，如基于回波數(shù)據(jù)特征提取聯(lián)合神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的材質(zhì)識(shí)別(專(zhuān)利號(hào)CN1595195A)，其原理是向待測(cè)材質(zhì)發(fā)射超寬帶信號(hào)，然后從接收的回波中提取回波典型數(shù)據(jù)的特征值并進(jìn)行神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的訓(xùn)練和識(shí)別，完成材質(zhì)的識(shí)別。電渦流識(shí)別的方法，如基于電渦流識(shí)別復(fù)合材料(專(zhuān)利號(hào)CNlO 1413921A)，利用金屬導(dǎo)體電渦流特性，對(duì)金屬材質(zhì)進(jìn)行識(shí)別，并且通過(guò)調(diào)整探測(cè)深度，可實(shí)現(xiàn)上下兩層復(fù)合材料的材質(zhì)識(shí)別，還可實(shí)現(xiàn)臨界面的定位。上述方法，不能對(duì)含多層材質(zhì)的物體的各層材質(zhì)進(jìn)行識(shí)別，其具體不足體現(xiàn)在:1、不能有效實(shí)現(xiàn)多層材質(zhì)的識(shí)別，不能對(duì)待測(cè)物內(nèi)部材質(zhì)的質(zhì)量進(jìn)行鑒定。光熱法識(shí)別和顏色識(shí)別只對(duì)表層材料進(jìn)行識(shí)別，且精度不高。回波特征值提取將待測(cè)物視為一個(gè)整體識(shí)別，無(wú)法區(qū)分各層材質(zhì)的信息。而電渦流法則只能對(duì)上下兩層金屬材質(zhì)的物體進(jìn)行材質(zhì)識(shí)別。2、回波特 征值提取的方法，對(duì)影響回波特性的因素沒(méi)有全面考慮，因此制約了其材質(zhì)識(shí)別的精度。當(dāng)材質(zhì)不滿足半無(wú)限大條件時(shí)，反射系數(shù)曲線與材質(zhì)厚度有關(guān)，材質(zhì)厚度的變化會(huì)導(dǎo)致材質(zhì)的錯(cuò)誤識(shí)別。另外，當(dāng)材質(zhì)具有多層介質(zhì)時(shí)，某些介質(zhì)的改變也會(huì)使材質(zhì)整體的等效電磁參數(shù)發(fā)生變化，進(jìn)而使反射系數(shù)曲線發(fā)生變化。單一表層反射信號(hào)的特征值提取，無(wú)法發(fā)現(xiàn)這些變化，而是將材質(zhì)整體識(shí)別為另一種材質(zhì)。3、傳統(tǒng)的材質(zhì)識(shí)別方法，測(cè)量點(diǎn)較少，不能全面反映被測(cè)物各位置各深度的材質(zhì)種類(lèi)。若對(duì)被測(cè)物多點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量，則需發(fā)射裝置的機(jī)械移動(dòng)，增加設(shè)備的復(fù)雜度和制造成本。對(duì)于物體的材質(zhì)識(shí)別，可以考慮其固有屬性，如電磁參數(shù)中的介電常數(shù)σ、電導(dǎo)率ε、磁導(dǎo)率μ。信號(hào)在物質(zhì)中傳輸時(shí)，遇到電磁參數(shù)σ、ε、μ發(fā)生改變，會(huì)發(fā)生反射，即兩種材質(zhì)的臨界面處會(huì)發(fā)生反射。由電磁理論可知，在滿足半無(wú)限大條件下，反射系數(shù)由信號(hào)頻率f、臨界面兩側(cè)材質(zhì)的特征阻抗η和傳播常數(shù)Y共同決定。而η和Y則是由電磁參數(shù)σ、ε和μ決定的。因此，不同物質(zhì)的反射系數(shù)隨信號(hào)頻率變化的曲線，因攜帶的電磁參數(shù)信息而具有獨(dú)特性，可通過(guò)反射系數(shù)曲線提取電磁參數(shù)信息，實(shí)現(xiàn)材質(zhì)的識(shí)別。[0008]而對(duì)于含有多層材質(zhì)的物體，臨界面兩側(cè)的介質(zhì)不再滿足半無(wú)限大條件，反射系數(shù)曲線除了與臨界面兩側(cè)介質(zhì)的電磁參數(shù)有關(guān)外，還與其他各層介質(zhì)電磁參數(shù)及各層介質(zhì)的厚度有關(guān)。因此可通過(guò)各層際反射系數(shù)曲線聯(lián)合提取各層材質(zhì)的電磁參數(shù)σ、ε和μ。為了對(duì)含有多層材質(zhì)的物體精確識(shí)別各層的材質(zhì)，需要足夠多的反射系數(shù)和頻率關(guān)系信息，所以可以利用攜帶著豐富頻帶信息的超寬帶信號(hào)對(duì)物體進(jìn)行材質(zhì)識(shí)別。為提高材質(zhì)識(shí)別速度，用相控陣來(lái)發(fā)送和接收超寬帶信號(hào)。因?yàn)橄嗫仃嚲哂卸鄠€(gè)獨(dú)立的放射波束與接收波束，具有波束指向快速變化、波束形狀靈活變化的特點(diǎn)，可使掃描范圍全面覆蓋被測(cè)物體被檢部位，實(shí)現(xiàn)待測(cè)物各位置各深度材質(zhì)的全面識(shí)別。由此，將超寬帶探測(cè)和相控陣相結(jié)合，可實(shí)現(xiàn)材質(zhì)準(zhǔn)確全面的掃描和檢測(cè)。該方法也可擴(kuò)展應(yīng)用于農(nóng)產(chǎn)品及日常用品的質(zhì)量檢查。

實(shí)用新型內(nèi)容為了實(shí)現(xiàn)對(duì)材質(zhì)的鑒定，包括被測(cè)物表層及內(nèi)部各層材質(zhì)種類(lèi)的識(shí)別及質(zhì)量檢查，本實(shí)用新型提供了基于超寬帶相控陣逐層聚焦的多材質(zhì)聯(lián)合識(shí)別裝置。本實(shí)用新型以不同材質(zhì)具有不同的介電常數(shù)σ、電導(dǎo)率ε、磁導(dǎo)率μ為依據(jù)，通過(guò)提取各層際反射回波，建立各反射系數(shù)曲線與各層材質(zhì)的電磁參數(shù)(σ、ε、μ )的關(guān)系函數(shù)，通過(guò)各層際反射系數(shù)與電磁參數(shù)關(guān)系函數(shù)的聯(lián)合求解，實(shí)現(xiàn)材質(zhì)的鑒定。具體來(lái)說(shuō)，利用測(cè)得的反射系數(shù)曲線測(cè)量值與固有的反射系數(shù)經(jīng)驗(yàn)曲線，可提取出各層材質(zhì)的電磁參數(shù)，實(shí)現(xiàn)材質(zhì)的識(shí)別。本實(shí)用新型的各個(gè)技術(shù)方案如下。基于超寬帶相控陣逐層聚焦的多材質(zhì)聯(lián)合識(shí)別裝置，其包括設(shè)備控制模塊、信號(hào)收發(fā)模塊、信號(hào)處理模塊和曲線參數(shù)提取模塊，其中信號(hào)收發(fā)模塊與信號(hào)處理模塊相連，信號(hào)處理模塊與曲線參數(shù)提取模塊相連，信號(hào)收發(fā)模塊、信號(hào)處理模塊和曲線參數(shù)提取模塊均與設(shè)備控制模塊相連；所述的設(shè)備控制模塊主要用于對(duì)與其連接的各個(gè)模塊的控制并輸出處理結(jié)果，設(shè)備控制模塊包括中央控制單元、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器和顯示設(shè)備，其中，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器、顯示設(shè)備分別與中央控制單元相連接，中央控制單元用于控制信號(hào)收發(fā)模塊、信號(hào)處理模塊、曲線參數(shù)提取 塊的工作以及模塊之間的數(shù)據(jù)傳輸；數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)各模塊的處理結(jié)果，并提供信號(hào)處理模塊所需的輸入數(shù)據(jù)；顯示設(shè)備對(duì)處理進(jìn)程及結(jié)果進(jìn)行顯示；所述信號(hào)收發(fā)模塊為全雙工信號(hào)收發(fā)器，其向待測(cè)物發(fā)射超寬帶信號(hào)，并接收待測(cè)物各層際的反射回波；所述的信號(hào)處理模塊用于采集回波信號(hào)，并對(duì)其進(jìn)行時(shí)域、頻域處理，提取反射系數(shù)曲線測(cè)量值；所述的曲線參數(shù)提取模塊用于求解各層材質(zhì)的電磁參數(shù)信息，并將求解結(jié)果傳遞給設(shè)備控制模塊。進(jìn)一步的，所述信號(hào)收發(fā)模塊包括超寬帶發(fā)射器、功率分配器、波束控制器、P個(gè)波束子陣收發(fā)機(jī)和波束形成器；超寬帶發(fā)射器、功率分配器、波束控制器、P個(gè)波束子陣收發(fā)機(jī)、波束形成器順次相連接；功率分配器將超寬帶發(fā)射器功率進(jìn)行耦合，平均分配給各波束子陣；波束控制器用于實(shí)現(xiàn)不同角度不同深度的波束偏轉(zhuǎn)和聚焦，并通過(guò)逐層聚焦的深度變化，獲得各層材質(zhì)的厚度信息#個(gè)波束子陣收發(fā)機(jī)構(gòu)成相控陣收發(fā)器，用于對(duì)聚焦點(diǎn)發(fā)射超寬帶信號(hào)，并接收反射點(diǎn)的回波信號(hào)；波束形成器將各子陣接收到的回波信號(hào)進(jìn)行相位補(bǔ)償并合成為接收波束，P ^ 2。進(jìn)一步的，P個(gè)波束子陣呈中心散射線形布置，散射中心位于待測(cè)物垂直方向的中軸延長(zhǎng)線上。進(jìn)一步的，所述的信號(hào)處理模塊包括數(shù)據(jù)采樣器、信號(hào)預(yù)處理器、導(dǎo)波信號(hào)處理器和信號(hào)處理器，其中信號(hào)處理器包括了波段提取裝置、功率估計(jì)器、幅頻分析裝置和除法器；數(shù)據(jù)采樣器、信號(hào)預(yù)處理器和信號(hào)處理器順次相連接；信號(hào)預(yù)處理器與導(dǎo)波信號(hào)處理器相連接，導(dǎo)波信號(hào)處理器與設(shè)備控制模塊中的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器相連接；波段提取裝置、功率估計(jì)器、幅頻分析裝置和除法器順次相連接，除法器的除數(shù)由設(shè)備控制模塊中的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器提供；數(shù)據(jù)采樣器，用于實(shí)現(xiàn)發(fā)射信號(hào)和回波信號(hào)的模數(shù)轉(zhuǎn)換；信號(hào)預(yù)處理器用于實(shí)現(xiàn)對(duì)同一聚焦點(diǎn)的多次發(fā)射信號(hào)和回波信號(hào)的時(shí)間平均，并分別得到平均發(fā)射信號(hào)和平均回波信號(hào)；導(dǎo)波信號(hào)處理器用于記錄導(dǎo)波的回波時(shí)延和波峰數(shù)，獲得被測(cè)物類(lèi)別、外形、層數(shù)的初步信息，并將結(jié)果傳遞給數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器；信號(hào)處理器用于對(duì)平均回波信號(hào)進(jìn)行時(shí)域和頻域的處理，提取反射系數(shù)曲線測(cè)量值，其中，波段提取裝置用于在時(shí)域上提取出平均回波信號(hào)在聚焦點(diǎn)處的反射波段，功率估計(jì)器用于對(duì)平均發(fā)射信號(hào)和平均回波信號(hào)分別進(jìn)行功率譜估計(jì)，幅頻分析裝置用于獲取平均發(fā)射信號(hào)和平均回波信號(hào)頻域上的幅度譜，進(jìn)而得到幅頻特性曲線；除法器用于實(shí)現(xiàn)幅頻特性曲線與臨界面之上各層材質(zhì)的透射系數(shù)相除，得到反射系數(shù)曲線測(cè)量值，該結(jié)果傳遞給曲線參數(shù)提取模塊和設(shè)備控制模塊中的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器。進(jìn)一步的，所述曲線參數(shù)提取模塊包括順次連接的分析器和特征數(shù)據(jù)庫(kù)匹配模塊，分析器還與設(shè)備控制模塊中的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器相連接，分析器用于根據(jù)各層反射系數(shù)曲線測(cè)量值、反射系數(shù)經(jīng)驗(yàn)曲線，求得各層材質(zhì)的電磁參數(shù)信息；特征數(shù)據(jù)庫(kù)匹配模塊匹配模塊對(duì)計(jì)算結(jié)果進(jìn)行匹配，并將最終的材質(zhì)識(shí)別結(jié)果傳遞給設(shè)備控制模塊，由顯示設(shè)備顯示識(shí)別結(jié)果。進(jìn)一步優(yōu)化的，所述設(shè)備控制模塊還包括與中央控制單元相連接的操作設(shè)備，用于包括開(kāi)啟、關(guān)閉裝置、命名及保存某次識(shí)別的處理結(jié)果。上述基于超寬帶相控陣逐層聚焦的多材質(zhì)聯(lián)合識(shí)別裝置的識(shí)別方法包括以下步驟:步驟一，待測(cè)物置于P個(gè)波束子陣收發(fā)機(jī)下，P個(gè)波束子陣呈中心散射線形布置，散射中心位于待測(cè)物垂直方向的中軸延長(zhǎng)線上，各波束子陣由K個(gè)收發(fā)波束組成；步驟二，發(fā) 射引導(dǎo)波束，獲取被測(cè)物類(lèi)別、外形及層數(shù)信息:P*K個(gè)波束同時(shí)垂直向下發(fā)射單脈沖引導(dǎo)波束，根據(jù)各點(diǎn)回波信號(hào)的時(shí)延獲取被測(cè)物體的外形信息，根據(jù)回波的波峰數(shù)，獲取被測(cè)物體的類(lèi)別和各點(diǎn)處的層數(shù)信息；所述被測(cè)物的類(lèi)別分為低損耗材質(zhì)和良導(dǎo)材質(zhì)；步驟三，發(fā)射聚焦波束:超寬帶發(fā)射器采用頻率步進(jìn)信號(hào)或線性調(diào)頻信號(hào)，每個(gè)波束子陣發(fā)射機(jī)獨(dú)立發(fā)送聚焦波束，構(gòu)成多截面掃描，每個(gè)波束子陣從物體表面開(kāi)始聚焦，接收回波信號(hào)；將第P個(gè)波束子陣聚焦的某位置a下第(η-1)層與第η層臨界面處的聚焦點(diǎn)位置記為ap,n,設(shè)待測(cè)物含有N層材質(zhì),將各臨界面的聚焦點(diǎn)集ap>1、ap，2、…、ap；N記為Ap ;在ap,n處，聚焦M次，取M次發(fā)射信號(hào)的時(shí)間平均，得到平均發(fā)射信號(hào)，取M次回波信號(hào)的時(shí)間平均，得到平均回波信號(hào)凡 (0所述M > 1000。步驟四，計(jì)算某聚焦點(diǎn)處的傳遞函數(shù)的幅頻特性曲線:將和>’a (O通過(guò)信號(hào)處理模塊的進(jìn)行功率譜估計(jì)、幅頻特性分析得到各自頻域上的幅度譜',,(/)和凡 (/>，進(jìn)而得到ap,n點(diǎn)處傳遞函數(shù)的幅頻特性曲線
權(quán)利要求1.基于超寬帶相控陣逐層聚焦的多材質(zhì)聯(lián)合識(shí)別裝置，其特征在于包括設(shè)備控制模塊、信號(hào)收發(fā)模塊、信號(hào)處理模塊和曲線參數(shù)提取模塊，其中信號(hào)收發(fā)模塊與信號(hào)處理模塊相連，信號(hào)處理模塊與曲線參數(shù)提取模塊相連，信號(hào)收發(fā)模塊、信號(hào)處理模塊和曲線參數(shù)提取模塊均與設(shè)備控制模塊相連；所述的設(shè)備控制模塊主要用于對(duì)與其連接的各個(gè)模塊的控制并輸出處理結(jié)果，設(shè)備控制模塊包括中央控制單元、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器和顯示設(shè)備，其中，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器、顯示設(shè)備分別與中央控制單元相連接，中央控制單元用于控制信號(hào)收發(fā)模塊、信號(hào)處理模塊、曲線參數(shù)提取模塊的工作以及模塊之間的數(shù)據(jù)傳輸；數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)各模塊的處理結(jié)果，并提供信號(hào)處理模塊所需的輸入數(shù)據(jù)；顯示設(shè)備對(duì)處理進(jìn)程及結(jié)果進(jìn)行顯示；所述信號(hào)收發(fā)模塊為全雙工信號(hào)收發(fā)器，其向待測(cè)物發(fā)射超寬帶信號(hào)，并接收待測(cè)物各層際的反射回波；所述的信號(hào)處理模塊用于采集回波信號(hào)，并對(duì)其進(jìn)行時(shí)域、頻域處理，提取反射系數(shù)曲線測(cè)量值；所述的曲線參數(shù)提取模塊用于求解各層材質(zhì)的電磁參數(shù)信息，并將求解結(jié)果傳遞給設(shè)備控制模塊。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于超寬帶相控陣逐層聚焦的多材質(zhì)聯(lián)合識(shí)別裝置，其特征在于所述信號(hào)收發(fā)模塊包括超寬帶發(fā)射器、功率分配器、波束控制器、P個(gè)波束子陣收發(fā)機(jī)和波束形成器；超寬帶發(fā)射器、功率分配器、波束控制器、P個(gè)波束子陣收發(fā)機(jī)、波束形成器順次相連接；功率分配器將超寬帶發(fā)射器功率進(jìn)行耦合，平均分配給各波束子陣；波束控制器用于實(shí)現(xiàn)不同角度不同深度的波束偏轉(zhuǎn)和聚焦，并通過(guò)逐層聚焦的深度變化，獲得各層材質(zhì)的厚度信息；P個(gè)波束子陣收發(fā)機(jī)構(gòu)成相控陣收發(fā)器，用于對(duì)聚焦點(diǎn)發(fā)射超寬帶信號(hào)，并接收反射點(diǎn)的回波信號(hào)；波束形成器將各子陣接收到的回波信號(hào)進(jìn)行相位補(bǔ)償并合成為接收波束，P > 2。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于超寬帶相控陣逐層聚焦的多材質(zhì)聯(lián)合識(shí)別裝置，其特征在于P個(gè)波束子陣呈中心散射線形布置，散射中心位于待測(cè)物垂直方向的中軸延長(zhǎng)線上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于超寬帶相控陣逐層聚焦的多材質(zhì)聯(lián)合識(shí)別裝置，其特征在于所述的信號(hào)處理模塊包括數(shù)據(jù)采樣器、信號(hào)預(yù)處理器、導(dǎo)波信號(hào)處理器和信號(hào)處理器，其中信號(hào)處理器包括了波段提取裝置、功率估計(jì)器、幅頻分析裝置和除法器；數(shù)據(jù)采樣器、信號(hào)預(yù)處理器和信號(hào)處 理器順次相連接；信號(hào)預(yù)處理器與導(dǎo)波信號(hào)處理器相連接，導(dǎo)波信號(hào)處理器與設(shè)備控制模塊中的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器相連接；波段提取裝置、功率估計(jì)器、幅頻分析裝置和除法器順次相連接，除法器的除數(shù)由設(shè)備控制模塊中的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器提供；數(shù)據(jù)采樣器，用于實(shí)現(xiàn)發(fā)射信號(hào)和回波信號(hào)的模數(shù)轉(zhuǎn)換；信號(hào)預(yù)處理器用于實(shí)現(xiàn)對(duì)同一聚焦點(diǎn)的多次發(fā)射信號(hào)和回波信號(hào)的時(shí)間平均，并分別得到平均發(fā)射信號(hào)和平均回波信號(hào)；導(dǎo)波信號(hào)處理器用于記錄導(dǎo)波的回波時(shí)延和波峰數(shù)，獲得被測(cè)物類(lèi)別、外形、層數(shù)的初步信息，并將結(jié)果傳遞給數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器；信號(hào)處理器用于對(duì)平均回波信號(hào)進(jìn)行時(shí)域和頻域的處理，提取反射系數(shù)曲線測(cè)量值，其中，波段提取裝置用于在時(shí)域上提取出平均回波信號(hào)在聚焦點(diǎn)處的反射波段，功率估計(jì)器用于對(duì)平均發(fā)射信號(hào)和平均回波信號(hào)分別進(jìn)行功率譜估計(jì)，幅頻分析裝置用于獲取平均發(fā)射信號(hào)和平均回波信號(hào)頻域上的幅度譜，進(jìn)而得到幅頻特性曲線；除法器用于實(shí)現(xiàn)幅頻特性曲線與臨界面之上各層材質(zhì)的透射系數(shù)相除，得到反射系數(shù)曲線測(cè)量值，該結(jié)果傳遞給曲線參數(shù)提取模塊和設(shè)備控制模塊中的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于超寬帶相控陣逐層聚焦的多材質(zhì)聯(lián)合識(shí)別裝置，其特征在于所述曲線參數(shù)提取模塊包括順次連接的分析器和特征數(shù)據(jù)庫(kù)匹配模塊，分析器還與設(shè)備控制模塊中的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器相連接，分析器用于根據(jù)各層反射系數(shù)曲線測(cè)量值、反射系數(shù)經(jīng)驗(yàn)曲 線，求得各層材質(zhì)的電磁參數(shù)信息；特征數(shù)據(jù)庫(kù)匹配模塊匹配模塊對(duì)計(jì)算結(jié)果進(jìn)行匹配，并將最終的材質(zhì)識(shí)別結(jié)果傳遞給設(shè)備控制模塊，由顯示設(shè)備顯示識(shí)別結(jié)果。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了基于超寬帶相控陣逐層聚焦的多材質(zhì)聯(lián)合識(shí)別裝置，裝置包括設(shè)備控制模塊、信號(hào)收發(fā)模塊、信號(hào)處理模塊和曲線參數(shù)提取模塊，其中信號(hào)收發(fā)模塊與信號(hào)處理模塊相連，信號(hào)處理模塊與曲線參數(shù)提取模塊相連，信號(hào)收發(fā)模塊、信號(hào)處理模塊和曲線參數(shù)提取模塊均與設(shè)備控制模塊相連；該裝置利用測(cè)得的反射系數(shù)曲線測(cè)量值與固有的反射系數(shù)經(jīng)驗(yàn)曲線，可提取出各層材質(zhì)的電磁參數(shù)，實(shí)現(xiàn)材質(zhì)的識(shí)別。本實(shí)用新型的裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，具有識(shí)別精度高、安全、便攜式的特點(diǎn)。本實(shí)用新型能實(shí)現(xiàn)待測(cè)物多截面、多角度、多深度的材質(zhì)識(shí)別，且可實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)聚焦調(diào)節(jié)。本實(shí)用新型除用于工業(yè)材料的識(shí)別外，還可用于農(nóng)產(chǎn)品的質(zhì)量檢查。
文檔編號(hào)G01S13/02GK203083961SQ20122069513
公開(kāi)日2013年7月24日 申請(qǐng)日期2012年12月15日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月15日
發(fā)明者韋崗, 陳玉婷, 曹燕 申請(qǐng)人:華南理工大學(xué)