專利名稱：一種led編帶機的極性測試座的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及LED編帶機技術領域，特別涉及應用于對LED芯片的LED編帶機的極性測試座。
背景技術：
許多LED芯片在具體的使用過程中有嚴格的極性要求。在LED芯片在安裝至相應的電器上或者為實現(xiàn)工業(yè)化的大批量生產(chǎn)對LED芯片進行編帶封裝之前，都應對LED芯片的極性進行相應的測試，以使生產(chǎn)出來的電子產(chǎn)品能夠正常使用。極性測試座一般是對LED芯片進行通電測試，以判斷其極性是否正常，以便于其他裝置是否可以把該LED芯片安裝至相應的電子產(chǎn)品上或封裝至編帶內(nèi)。而現(xiàn)有技術中，在對LED芯片進行極性測試的過程中，將LED芯片放置于極性測試座的過程是無緩沖設置，使得LED芯片與極性測試座之間的接觸為剛性接觸，導致LED芯片件容易損壞，同時，在測試導電針接觸該LED芯片的電極時，由于無緩沖設置，使得該LED芯片的電極容易損壞，而且在高速度的測試時，也常常使得測試導電針與該LED芯片的電極沒有充分接觸，導致漏掉了電極的測試，給出的測試結果容易出錯。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于避免上述現(xiàn)有技術中的不足之處而提供一種具有緩沖結構設置、對LED芯片及極性測試條不容易造成損壞、測試結果準確的一種LED編帶機的極性測試座。本實用新型的目的通過以下技術方案實現(xiàn):提供了一種LED編帶機的極性測試座，包括有第一夾緊塊、第二夾緊塊以及設置于所述第一夾緊塊和所述第二夾緊塊之間的固定塊，所述第一夾緊塊和所述固定塊之間以及所述第二夾緊塊和所述固定塊之間均設置有極性測試條，所述第一夾緊塊和所述第二夾緊塊朝向所述固定塊的一側分別開設有與所述極性測試條相滑動配合的滑槽，所述滑槽內(nèi)設置有支撐件，所述極性測試條開設有長孔，所述支撐件穿設并抵接于所述長孔的底端，所述長孔內(nèi)設置有緩沖彈簧，所述緩沖彈簧的一端觸接于所述長孔的頂端，所述緩沖彈簧的另一端觸接于所述支撐件；所述極性測試條的頂端外露于所述第一夾緊塊、所述第二夾緊塊以及所述固定塊所在的平面、并用于承托LED芯片以實現(xiàn)極性測試。其中，所述極性測試條設有四條，其中兩條極性測試條設置于所述固定塊的一側，另外兩條極性測試條設置于所述固定塊的另一側，四條極性測試條的頂端位于同一平面。其中，所述極性測試條的頂端具有向所述固定塊所在的方向傾斜的傾斜承托面。其中，所述長孔設置于所述極性測試條的中部。其中，所述支撐件為圓柱體的支撐件或者矩形體的支撐件。其中，所述第一夾緊塊、所述固定塊以及所述第二夾緊塊之間通過螺栓可拆卸地連接。其中，所述極性測試條的下部設置有用于與導線連接的連線孔。本實用新型的有益效果:當LED芯片被放置到極性測試座上進行極性測試，LED芯片先抵觸所述極性測試條，所述極性測試條受到LED芯片施加向下的壓力，所述極性測試條將沿所述滑槽向下滑動，當LED芯片極性測試完成之后，所述極性測試條在緩沖彈簧彈力的作用下，恢復到原來的裝置，因此所述緩沖彈簧在所述極性測試條受壓的過程中起到緩沖作用，避免了 LED芯片與所述極性測試條出現(xiàn)剛壓導致LED芯片的損壞或所述極性測試條的損壞，使得LED芯片及極性測試條都不易損壞，在極性測試條不損壞的情況下，LED芯片的電極與極性測試條每次都能夠充分接觸，而進一步的，避免了出現(xiàn)電極漏測及其導致的測試結果不正確的情況。

利用附圖對本實用新型作進一步說明，但附圖中的實施例不構成對本實用新型的任何限制，對于本領域的普通技術人員，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)以下附圖獲得其它的附圖。圖1為本實用新型的一種LED編帶機的極性測試座的爆炸結構示意圖。圖2為本實用新型的一種LED編帶機的極性測試座的結構示意圖。附圖標記:1-第一夾緊塊、2-第二夾緊塊、3-極性測試條、31-連線孔、32-長孔、4-滑槽、5-支撐件、6-固定塊、7-緩沖彈簧、8-LED 芯片。
具體實施方式
結合以下實施例對本實用新型作進一步描述。本實用新型的一種LED編帶機的極性測試座的具體實施方式
，如圖1和圖2所示，包括有第一夾緊塊1、第二夾緊塊2以及設置于所述第一夾緊塊I和所述第二夾緊塊2之間的固定塊6，所述第一夾緊塊I和所述固定塊6之間以及所述第二夾緊塊2和所述固定塊6之間均設置有極性測試條3，所述第一夾緊塊I和所述第二夾緊塊2朝向所述固定塊6的一側分別開設有與所述極性測試條3相滑動配合的滑槽4，所述滑槽4內(nèi)設置有支撐件5，所述極性測試條3開設有長孔32，所述支撐件5穿設并抵接于所述長孔32的底端，所述長孔32內(nèi)設置有緩沖彈簧7，所述緩沖彈簧7的一端觸接于所述長孔32的頂端，所述緩沖彈簧7的另一端觸接于所述支撐件5 ;所述極性測試條3的頂端外露于所述第一夾緊塊1、所述第二夾緊塊2以及所述固定塊6所在的平面、并用于承托LED芯片以實現(xiàn)極性測試。當LED芯片被放置到極性測試座上進行極性測試時，吸取LED芯片的裝置難免會對LED芯片產(chǎn)生一個向下的作用力，采用本實用新型的極性測試座，使得LED芯片先抵觸所述極性測試條3，所述極性測試條3受到LED芯片施加的向下的壓力時，所述極性測試條3將沿所述滑槽4向下滑動起到緩沖的作用，當LED芯片極性測試完成之后，所述極性測試條3在緩沖彈簧7彈力的作用下，恢復到原來的裝置，因此所述緩沖彈簧7在所述極性測試條3受壓的過程中起到緩沖作用，避免了 LED芯片與所述極性測試條3出現(xiàn)剛壓導致LED芯片的損壞或所述極性測試條3的損壞的情況，使得LED芯片及極性測試條3都不易損壞，而進一步的，在極性測試條3不損壞的情況下，LED芯片的電極與極性測試條3每次都能夠充分接觸，避免了出現(xiàn)電極漏測及其導致的測試結果不正確的情況。具體的，所述極性測試條3設有四條，其中兩條極性測試條3設置于所述固定塊6的一側，另外兩條極性測試條3設置于所述固定塊6的另一側，四條極性測試條3的頂端位于同一平面，所述極性測試條3的頂端具有向所述固定塊6所在的方向傾斜的傾斜承托面。具體的，所述長孔32設置于所述極性測試條3的中部。具體的，所述支撐件5為圓柱體的支撐件5或者矩形體的支撐件5。具體的，所述第一夾緊塊1、所述固定塊6以及所述第二夾緊塊2之間通過螺栓可拆卸地連接，使得可以根據(jù)需要更換極性測試條3。具體的，所述極性測試條3的下部設置有用于與導線連接的連線孔31。最后應當說明的是，以上實施例僅用以說明本實用新型的技術方案，而非對本實用新型保護范圍的限制，盡管參照較佳實施例對本實用新型作了詳細地說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本實用新型的技術方案進行修改或者等同替換，而不脫離本實用新型技術方案的實質(zhì)和范圍。
權利要求1.一種LED編帶機的極性測試座，其特征在于，包括有第一夾緊塊、第二夾緊塊以及設置于所述第一夾緊塊和所述第二夾緊塊之間的固定塊，所述第一夾緊塊和所述固定塊之間以及所述第二夾緊塊和所述固定塊之間均設置有極性測試條，所述第一夾緊塊和所述第二夾緊塊朝向所述固定塊的一側分別開設有與所述極性測試條相滑動配合的滑槽，所述滑槽內(nèi)設置有支撐件，所述極性測試條開設有長孔，所述支撐件穿設并抵接于所述長孔的底端，所述長孔內(nèi)設置有緩沖彈簧，所述緩沖彈簧的一端觸接于所述長孔的頂端，所述緩沖彈簧的另一端觸接于所述支撐件；所述極性測試條的頂端外露于所述第一夾緊塊、所述第二夾緊塊以及所述固定塊所在的平面、并用于承托LED芯片以實現(xiàn)極性測試。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種LED編帶機的極性測試座，其特征在于，所述極性測試條設有四條，其中兩條極性測試條設置于所述固定塊的一側，另外兩條極性測試條設置于所述固定塊的另一側，四條極性測試條的頂端位于同一平面。
3.根據(jù)權利要求1所述的一種LED編帶機的極性測試座，其特征在于，所述極性測試條的頂端具有向所述固定塊所在的方向傾斜的傾斜承托面。
4.根據(jù)權利要求1所述的一種LED編帶機的極性測試座，其特征在于，所述長孔設置于所述極性測試條的中部。
5.根據(jù)權利要求1所述的一種LED編帶機的極性測試座，其特征在于，所述支撐件為圓柱體的支撐件或者矩形體的支撐件。
6.根據(jù)權利要求1所述的一種LED編帶機的極性測試座，其特征在于，所述第一夾緊塊、所述固定塊以及所述第二夾緊塊之間通過螺栓可拆卸地連接。
7.根據(jù)權利要求1所述的一種LED編帶機的極性測試座，其特征在于，所述極性測試條的下部設置有用于與導線連接的連線孔。
專利摘要本實用新型涉及LED編帶機技術領域，特別涉及一種LED編帶機的極性測試座，其結構包括有第一夾緊塊、第二夾緊塊以及設置于所述第一夾緊塊和所述第二夾緊塊之間的固定塊，所述第一夾緊塊和所述固定塊之間以及所述第二夾緊塊和所述固定塊之間均設置有極性測試條，所述第一夾緊塊和所述第二夾緊塊朝向所述固定塊的一側分別開設有與所述極性測試條相滑動配合的滑槽，所述滑槽內(nèi)設置有支撐件，所述極性測試條開設有長孔，所述支撐件穿設并抵接于所述長孔的底端，所述長孔內(nèi)設置有緩沖彈簧；本實用新型提供一種具有緩沖結構設置、對LED芯片及極性測試條不容易造成損壞、測試結果準確的一種LED編帶機的極性測試座。
文檔編號G01R31/26GK203069737SQ20122067562
公開日2013年7月17日 申請日期2012年12月10日 優(yōu)先權日2012年12月10日
發(fā)明者吳濤, 李斌 申請人:廣東志成華科光電設備有限公司