專利名稱：外圈深滾道的簡易校對裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型屬于軸承檢測技術領域，尤其是一種外圈深滾道的簡易校對裝置。
背景技術：
在軸承的生產(chǎn)加工中，外圈的滾道加工是不可缺少的一道工序，在滾道加工后常常要使用專用儀器測量來校對所加工滾道是否符合設計要求。對于滾道較深的外圈，專用儀器常常伸不到滾道的底部，校對起來非常不便。
發(fā)明內(nèi)容為解決上述問題，本實用新型設計了一種外圈深滾道的簡易校對裝置，該簡易校對裝置制作簡單，只要更換測頭就能快速校對不同深度的外圈滾道，同批量校對時間得到縮短，提高了校對效率。為了實現(xiàn)上述發(fā)明目的，本實用新型采用如下技術方案:一種外圈深滾道的簡易校對裝置，包括測臺和測頭，被測外圈的設計滾道形狀已確定，測臺由底座和支撐體構成，所述支撐體配置在所述底座的一端并形成倒L狀，在所述支撐體上端聯(lián)接測頭，測頭分為聯(lián)接段和校對段，其中所述校對段的水平中心線與所述底座的上平面保持平行，其中所述聯(lián)接段用于聯(lián)接所述支撐體，所述校對段的水平中心線距所述底座的上平面之間距等于被測外圈寬度的1/2。上述所述校對段與被測外圈的設計滾道形狀相匹配。由于采用如上所述技術方案，本實用新型產(chǎn)生如下效果:1、本實用新型的簡易校對裝置制作簡單，安裝容易，方便了檢查員的校對工作。2、只要更換測頭就能快速校對不同深度的外圈滾道，使同批量校對時間得到縮短，提高了校對效率，降低了校對成本。

圖1是本實用新型的結構示意簡圖。圖1中:1-測臺；2 -測頭。
具體實施方式
本實用新型是一種外圈深滾道的簡易校對裝置，該簡易校對裝置主要用于校對被測外圈深滾道是否符合其設計滾道形狀，被測外圈的所述設計滾道形狀已確定。結合圖1，本實用新型包括測臺I和測頭2，測臺I由底座和支撐體構成，所述支撐體配置在所述底座的一端并形成倒L狀，在所述支撐體上端聯(lián)接測頭2，測頭2分為聯(lián)接段和校對段，其中所述校對段的水平中心線與所述底座的上平面保持平行，其中所述聯(lián)接段用于聯(lián)接所述支撐體，所述校對段的水平中心線距所述底座的上平面之間距等于被測外圈寬度的1/2，所述校對段與被測外圈的設計滾道形狀相匹配，當被測外圈更換型號時，測頭的所述校對段也要及時更換，以便與更換型號被測外圈的設計滾道形狀相匹配，所述間距也要作出對應調整。將被測外圈套在所述支撐體之中并置于所述底座上，測頭的聯(lián)接段是被測外圈的設計滾道外形，將被測外圈的深滾道推向測頭的聯(lián)接段，如果所述聯(lián)接段完全與被測外圈的深滾道重合并達到規(guī)定的深度，說明被測外圈的深滾道符合該外圈的設計滾道，反之說明被測外圈的深滾道不符合該外圈的設計滾道。
權利要求1.一種外圈深滾道的簡易校對裝置，包括測臺(I)和測頭(2)，被測外圈的設計滾道形狀已確定，其特征是:測臺(I)由底座和支撐體構成，所述支撐體配置在所述底座的一端并形成倒L狀，在所述支撐體上端聯(lián)接測頭(2)，測頭(2)分為聯(lián)接段和校對段，其中所述校對段的水平中心線與所述底座的上平面保持平行，其中所述聯(lián)接段用于聯(lián)接所述支撐體，所述校對段的水平中心線距所述底座的上平面之間距等于被測外圈寬度的1/2。
2.根據(jù)權利要求1所述外圈深滾道的簡易校對裝置，其特征是:所述校對段與被測外圈的設計滾道形狀相匹配。
專利摘要一種外圈深滾道的簡易校對裝置，包括測臺(1)和測頭(2)，被測外圈的設計滾道形狀已確定，測臺由底座和支撐體構成，所述支撐體配置在所述底座的一端并形成倒L狀，在所述支撐體上端聯(lián)接測頭，測頭分為聯(lián)接段和校對段，其中所述校對段的水平中心線與所述底座的上平面保持平行，其中所述聯(lián)接段用于聯(lián)接所述支撐體，所述校對段的水平中心線距所述底座的上平面之間距等于被測外圈寬度的1/2，所述校對段與被測外圈的設計滾道形狀相匹配，當被測外圈更換型號時，測頭的所述校對段也要及時更換，以便與更換型號被測外圈的設計滾道形狀相匹配，所述間距也要作出對應調整，具有制作簡單，安裝容易，方便校對，降低校對成本。
文檔編號G01B21/20GK202947721SQ201220547778
公開日2013年5月22日 申請日期2012年10月24日 優(yōu)先權日2012年10月24日
發(fā)明者張娟娟, 王蔚霞, 曾莉, 左菲 申請人:洛陽軸研科技股份有限公司