專利名稱：測試電致發(fā)光片的探針的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及電致發(fā)光片測試領(lǐng)域，特別是涉及一種測試電致發(fā)光片的探針。
背景技術(shù)：
電致發(fā)光片(EL)是將發(fā)光粉置于兩個平板電極之間而構(gòu)成的。其為夾層式結(jié)構(gòu)，上下各有一個電極，上電極為透明導(dǎo)電膜(IT0膜)，光從此面射出，下電極為背電極，其材料主要為銀或碳，發(fā)光材料主要是硫化鋅(ZnS)，當(dāng)交流電壓加在兩個電極上時，電場使得(ZnS)粒子產(chǎn)生激發(fā)式躍遷，從而在每一個充放循環(huán)中發(fā)光，當(dāng)它含有不同的激活劑時，可發(fā)出不同顏色的光。EL的亮度隨電極間的電壓、頻率的改變而變化，一般情況下隨電壓及頻率的增加亮度也相應(yīng)增加?，F(xiàn)有的EL測試經(jīng)常在檢測組件時經(jīng)常出現(xiàn)“黑圖”現(xiàn)象，探針經(jīng)常燒毀需要進行更換，一般每天至少要更換10次，耽誤時間，增加測試成本，經(jīng)觀察發(fā)現(xiàn)探針工作時電流過大，探針里面的彈簧長時間的動作導(dǎo)致彈簧燒壞，不能正常使用。同時，更換電致發(fā)光片的板型后，還需要對測試電致發(fā)光片的探針進行調(diào)整，費時費力。因此，如何提高測試電致發(fā)光片的探針的可靠性，延長此探針的使用壽命，降低電致發(fā)光片的測試成本，是本領(lǐng)域技術(shù)人員目前需要解決的技術(shù)問題。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是提供一種測試電致發(fā)光片的探針，該探針可靠性高，使用壽命長，可以有效降低電致發(fā)光片的測試成本。為實現(xiàn)上述實用新型目的，本實用新型提供一種測試電致發(fā)光片的探針，包括支撐骨架和與所述支撐骨架固定連接的測試電極，所述測試電極包括耐高溫柔性絕緣基帶，以及與所述基帶鉸接的導(dǎo)流片，所述基帶與所述支撐骨架鉸接。優(yōu)選地，所述測試電極包括兩條所述基帶，兩所述基帶的一端均與所述支撐骨架鉸接，另一端均與所述導(dǎo)流片鉸接。優(yōu)選地，兩所述基帶與所述支撐骨架的兩個鉸接點之間的距離，等于兩所述基帶與所述導(dǎo)流片的兩個鉸接點之間的距離。優(yōu)選地，所述基帶具體為彈性層壓布。優(yōu)選地，所述基帶與所述支撐骨架通過螺柱連接，所述基帶具有容納所述螺柱的通孔，該通孔的直徑大于所述螺柱的外徑。優(yōu)選地，所述導(dǎo)流片與所述基帶通過螺柱連接，所述基帶具有容納所述螺柱的通孔，該通孔的直徑大于所述螺柱的外徑。本實用新型所提供的探針，用于檢測電致發(fā)光片，該探針包括支撐骨架和與所述支撐骨架固定連接的測試電極，與現(xiàn)有技術(shù)不同的是，所述測試電極包括耐高溫柔性絕緣基帶，以及與所述基帶鉸接的導(dǎo)流片，所述基帶與所述支撐骨架鉸接。測試電致發(fā)光片時，將兩個測試電極分別與電致發(fā)光片正、負電極相連，導(dǎo)流片將組件的正、負極導(dǎo)通，實現(xiàn)檢測功能。此探針中，實現(xiàn)導(dǎo)流片載體的是具有耐高溫性能的絕緣基帶，在檢測過程中不易損壞，可以延長探針的使用壽命。同時，由于基帶是柔性的，在檢測不同型號的電致發(fā)光片時，基帶可以變形，滿足不同型號的檢測需要。這樣，既不會像現(xiàn)有的探針那樣在支撐骨架上設(shè)置多個正、負極，簡化結(jié)構(gòu)，也不需要在檢測過程中將不需要使用的正、負壓短，更不需要在正、負極中設(shè)置彈簧，也就不會出現(xiàn)彈簧損壞的問題，從而避免更換探針，節(jié)省檢測時間，提高檢測效率，降低檢測成本。在一種優(yōu)選的實施方式中，所述測試電極包括兩條所述基帶，兩所述基帶的一端均與所述支撐骨架鉸接，另一端均與所述導(dǎo)流片鉸接。為了增大導(dǎo)流片與電致發(fā)光片的接觸面積，確保正、負極連接，提高檢測準(zhǔn)確率和可靠性，導(dǎo)流片需要有一定的長度，在每一個測試電極中設(shè)置兩條基帶，且兩條基帶均一端與支撐骨架鉸接，另一端與導(dǎo)流片鉸接，兩鉸接點之間均具有預(yù)定的距離，以提高導(dǎo)流片的長度，從而提高導(dǎo)流效率，提高檢測準(zhǔn)確率和可靠性。在另一種優(yōu)選的實施方式中，兩所述基帶與所述支撐骨架的兩個鉸接點之間的距離，等于兩所述基帶與所述導(dǎo)流片的兩個鉸接點之間的距離。即支撐骨架上的兩個鉸接點和導(dǎo)流片上的兩個鉸接點，一起形成平行四邊形，在檢測過程中，支撐骨架上的兩個鉸接點保持不動，由于基帶是柔性的，另兩個鉸接點可以移動，從而擴大探針的使用范圍，進一步提高探針的適用性。

圖1為本實用新型所提供測試電致發(fā)光片的探針一種具體實施方式
的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
本實用新型的核心是提供一種測試電致發(fā)光片的探針，該探針可靠性高，使用壽命長，可以有效降低電致發(fā)光片的測試成本。為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本實用新型方案，
以下結(jié)合附圖和具體實施方式
對本實用新型作進一步的詳細說明。請參考圖1，圖1為本實用新型所提供測試電致發(fā)光片的探針一種具體實施方式
的結(jié)構(gòu)示意圖。本實用新型所提供的探針，用于檢測電致發(fā)光片，該探針包括支撐骨架I和與支撐骨架I固定連接的測試電極，如圖1所示，每一個探針有兩個測試電極，分別連接電致發(fā)光片的正極和負極。本實用新型僅以一個測試電極為說明對象，說明探針的具體結(jié)構(gòu)。與現(xiàn)有技術(shù)不同的是，本實用新型所提供的探針的測試電極包括耐高溫柔性絕緣基帶2，以及與基帶2鉸接的導(dǎo)流片3基帶2與支撐骨架I鉸接。測試電致發(fā)光片時，將兩個測試電極分別與電致發(fā)光片正、負電極相連，導(dǎo)流片3將組件的正、負極導(dǎo)通，實現(xiàn)檢測功能。此探針中，實現(xiàn)導(dǎo)流片3載體的是具有耐高溫性能的絕緣基帶2，在檢測過程中不易損壞，可以延長探針的使用壽命。同時，由于基帶2是柔性的，在檢測不同型號的電致發(fā)光片時，基帶2可以變形，滿足不同型號的檢測需要。這樣，既不會像現(xiàn)有的探針那樣在支撐骨架I上設(shè)置多個正、負極，簡化結(jié)構(gòu)，也不需要在檢測過程中將不需要使用的正、負壓短，更不需要在正、負極中設(shè)置彈簧，也就不會出現(xiàn)彈簧損壞的問題，從而避免更換探針，節(jié)省檢測時間，提高檢測效率，降低檢測成本。在一種具體的實施方式中，測試電極可以包括兩條基帶2，兩基帶2的一端均與支撐骨架I鉸接，另一端均與導(dǎo)流片3鉸接。為了增大導(dǎo)流片3與電致發(fā)光片的接觸面積，確保正、負極連接，提高檢測準(zhǔn)確率和可靠性，導(dǎo)流片3需要有一定的長度，在每一個測試電極中設(shè)置兩條基帶2，且兩條基帶2均一端與支撐骨架I鉸接，另一端與導(dǎo)流片3鉸接，兩鉸接點之間均具有預(yù)定的距離，以提高導(dǎo)流片3的長度，從而提高導(dǎo)流效率，提高檢測準(zhǔn)確率和可靠性。進一步地，兩基帶2與支撐骨架I的兩個鉸接點之間的距離，等于兩基帶2與導(dǎo)流片3的兩個鉸接點之間的距離。即支撐骨架I上的兩個鉸接點和導(dǎo)流片3上的兩個鉸接點，一起形成平行四邊形，在檢測過程中，支撐骨架I上的兩個鉸接點保持不動，由于基帶2是柔性的，另兩個鉸接點可以移動，從而擴大探針的使用范圍，進一步提高探針的適用性。其中，上述的探針中基帶2具體可以為彈性層壓布。具有彈性的層壓布可以在測試過程中支持一定的形變，從而進一步擴大探針的使用范圍，提高探針的適用性。同時，基帶2與支撐骨架I可以通過螺柱4連接，導(dǎo)流片3也可以與基帶2通過螺柱4連接，基帶2具有容納螺柱4的通孔，該通孔的直徑大于螺柱4的外徑。這樣，基帶2可以繞螺柱4旋轉(zhuǎn)，導(dǎo)流片3也可以繞螺柱4旋轉(zhuǎn)，檢測過程中探針可檢測到的距離更長，使用范圍更廣，更便捷高效。而且，通過螺柱4連接簡單方便，易于實現(xiàn)，可以降低探針的成本。以上對本實用新型所提供的測試電致發(fā)光片的探針進行了詳細介紹。本文中應(yīng)用了具體個例對本實用新型的原理及實施方式進行了闡述，以上實施例的說明只是用于幫助理解本實用新型的方法及其核心思想。應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型原理的前提下，還可以對本實用新型進行若干改進和修飾，這些改進和修飾也落入本實用新型權(quán)利要求的保護范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種測試電致發(fā)光片的探針，包括支撐骨架和與所述支撐骨架固定連接的測試電極，其特征在于，所述測試電極包括耐高溫柔性絕緣基帶，以及與所述基帶鉸接的導(dǎo)流片， 所述基帶與所述支撐骨架鉸接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電致發(fā)光片的探針，其特征在于，所述測試電極包括兩條所述基帶，兩所述基帶的一端均與所述支撐骨架鉸接，另一端均與所述導(dǎo)流片鉸接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電致發(fā)光片的探針，其特征在于，兩所述基帶與所述支撐骨架的兩個鉸接點之間的距離，等于兩所述基帶與所述導(dǎo)流片的兩個鉸接點之間的距離。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項所述的測試電致發(fā)光片的探針，其特征在于，所述基帶具體為彈性層壓布。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項所述的測試電致發(fā)光片的探針，其特征在于，所述基帶與所述支撐骨架通過螺柱連接，所述基帶具有容納所述螺柱的通孔，該通孔的直徑大于所述螺柱的外徑。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項所述的測試電致發(fā)光片的探針，其特征在于，所述導(dǎo)流片與所述基帶通過螺柱連接，所述基帶具有容納所述螺柱的通孔，該通孔的直徑大于所述螺柱的外徑。
專利摘要本實用新型公開了一種測試電致發(fā)光片的探針，包括支撐骨架和與所述支撐骨架固定連接的測試電極，其特征在于，所述測試電極包括耐高溫柔性絕緣基帶，以及與所述基帶鉸接的導(dǎo)流片，所述基帶與所述支撐骨架鉸接。此探針中，實現(xiàn)導(dǎo)流片載體的是具有耐高溫性能的絕緣基帶，在檢測過程中不易損壞，可以延長探針的使用壽命。同時，由于基帶是柔性的，在檢測不同型號的電致發(fā)光片時，基帶可以變形，滿足不同型號的檢測需要。從而避免更換探針，節(jié)省檢測時間，提高檢測效率，降低檢測成本。
文檔編號G01R1/067GK202837353SQ201220546459
公開日2013年3月27日 申請日期2012年10月23日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月23日
發(fā)明者宋明亮, 張佳, 張宏彬, 蘇哲 申請人:蠡縣英利新能源有限公司