專利名稱：Led光棒量測機(jī)具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型為有關(guān)于光棒量測技術(shù)領(lǐng)域，尤其是一種LED光棒量測機(jī)具。
背景技術(shù)：
本實用新型是用于量測光棒80 (light bar)光學(xué)特性的機(jī)臺，常見的光棒80是為如圖6所顯示的將各發(fā)光二極管82 (Light-Emitting Diode，下稱LED)以彼此相間隔的方式穿插排序并焊接在該軟性印刷電路板84 (Flexible Printing Circuit Board,簡稱FPCB)上，再由電路串連而成，且具有一排線槽86做為連接電力之用。在目前在面板的背光模組皆是以光棒80做為背光模組的光源，因此對于光棒80的品 質(zhì)及需求也越來越高。但因為光棒80是有多個LED所組成，所以各個LED的亮度(Brightness)、光強(qiáng)度(LuminousIntensity)及色度等光學(xué)特性各有不同，所以對于光棒80檢測的必要性也更為重要。對于現(xiàn)有技術(shù)量測光棒80光學(xué)特性的機(jī)臺的特征在于將光學(xué)測量儀器固定于一個位置，而待測的光棒80則運用承載裝置將待測的光棒80運送經(jīng)過該光學(xué)測量儀器并直接對該光棒80上的各LED進(jìn)行量測。因此，該光棒80是相對于光學(xué)測量儀器進(jìn)行移動，此種量測方式的機(jī)臺尺寸需要配合光棒80尺寸，對于大尺寸的光棒80則需要加大機(jī)臺尺寸，所以相對的使機(jī)臺的制造成本提升且安裝機(jī)臺的現(xiàn)場設(shè)置的環(huán)境大小也需要增加。且根據(jù)中國臺灣專利第M364207號，揭露一種光棒量測機(jī)臺，其特征在于以真空吸附方式固定該光棒，并以單向往復(fù)活動的光學(xué)測量儀器量測光棒的光學(xué)特性，雖克服上文所提的機(jī)臺尺寸及現(xiàn)場設(shè)置的環(huán)境大小的問題。但由于單向往復(fù)活動的光學(xué)測量儀器僅能對于同時能量測的光棒數(shù)量有限，且如需量測多只光棒時則需調(diào)整置放光棒的載臺載臺位置，因此耗費人力及時間。因此，本實用新型的發(fā)明人亟需構(gòu)思一種新技術(shù)以改善其問題。

實用新型內(nèi)容所以本實用新型的目的是為解決上述現(xiàn)有技術(shù)上的問題，本實用新型中提出一種LED光棒測量機(jī)具,其目的在于改良現(xiàn)有技術(shù)的光棒的光學(xué)特性量測方式，應(yīng)用一具有三軸移動的三維空間調(diào)整座夾持一光學(xué)量測儀器，使得在量測時的移動范圍相較于現(xiàn)有技術(shù)可提升許多，且待測的光棒也可以視光棒尺寸及光棒載臺尺寸而同時測量多只光棒。且本實用新型提出加裝擴(kuò)散板的方式，以測量擴(kuò)散板的各區(qū)域受光棒照射時的均光性，減少對于量測運作時的震動而造成LED晶粒量測的誤差，亦可降低檢測的時間。且與現(xiàn)有技術(shù)需各LED晶粒各別量測方式有所不同，相較于現(xiàn)有技術(shù)而言有明顯的進(jìn)步性。為達(dá)到上述的目的，本實用新型提出一種LED光棒量測機(jī)具，其包含一個量測機(jī)臺，包含上方量測空間及下方機(jī)件區(qū)，該上方量測空間的底面配置至少一個光棒載臺，該光棒載臺上主要是由四個腳架所支撐的測量平臺，該測量平臺上具有一個用以配置多個光棒的測量平面；以及一個三維空間調(diào)整座，位于該光棒載臺的上方，用以夾持一個光學(xué)量測儀器，并使該光學(xué)量測儀器對位該光棒載臺的測量平面上任一位置及在與該光棒載臺的測量平面的垂直方向進(jìn)行高低調(diào)整；其中，該光學(xué)量測儀器用于量測各光棒的發(fā)光強(qiáng)度及頻譜。優(yōu)選的，該光棒載臺尚包含一個溫度晶片，該溫度晶片位于該光棒載臺的下方，以對該光棒載臺加熱而達(dá)到量測時所需要的環(huán)境溫度條件。優(yōu)選的，該溫度晶片位于該測量平臺的下方正中央。優(yōu)選的，該光學(xué)量測儀器為輝度計。優(yōu)選的，所述的LED光棒量測機(jī)具尚包含一個溫度控制器，位于該下方機(jī)件區(qū)，該溫度控制器以電性連接該溫度晶片用于控制該溫度晶片，以達(dá)到所需要的溫控條件。優(yōu)選的，所述的LED光棒量測機(jī)具尚包含一個噴氣清凈機(jī)，位于該上方量測空間·的側(cè)面，用于提供清潔的空氣去清除該測量平臺上的水氣。優(yōu)選的，所述的LED光棒量測機(jī)具尚包含一個電源供應(yīng)器，該電源供應(yīng)器位于該下方機(jī)件區(qū)，該電源供應(yīng)器將外接電源經(jīng)處理后提供電力予該量測機(jī)臺上各裝置及各光棒使用。優(yōu)選的，所述的LED光棒量測機(jī)具尚包含一個顯示器，該顯示器內(nèi)包含處理器外接于該量測機(jī)臺，該顯示器用以連結(jié)該量測機(jī)臺上各裝置并將接受的資訊經(jīng)由處理器處理過后顯示該量測機(jī)臺上各裝置的信息。優(yōu)選的，該電源供應(yīng)器為能提供給該光棒一般模式及脈沖模式兩種電力模式的電源供應(yīng)器；其中，該一般模式是指設(shè)定固定電流的條件，以量測光棒的參數(shù)；該脈沖模式是指設(shè)定固定的電流條件，設(shè)定該電源供應(yīng)器供電時間，以量測光棒發(fā)光時的瞬間參數(shù)。優(yōu)選的，所述的LED光棒量測機(jī)具，尚包含一個擴(kuò)散板，該擴(kuò)散板位于該光學(xué)量測儀器及該光棒載臺之間，通過該擴(kuò)散板具有將光棒入射的光源散射出的均光特性，使得該光學(xué)量測儀器得以直接量測該擴(kuò)散板的特定位置，以判斷光棒的均光程度。本實用新型是具有多軸向移動、可同時量測多數(shù)量光棒的光棒量測機(jī)具。

圖I為本實用新型的裝置位置示意。圖2為本實用新型的LED載臺的示意圖。圖3為本實用新型的三軸空間調(diào)整座與其他元件的相對位置示意圖。圖4為本實用新型為光學(xué)量測儀器在測量時的移動示意圖。圖5為本實用新型的擴(kuò)散板相對位置及搭配擴(kuò)散板時的測量示意圖。圖6為現(xiàn)有常用的光棒示意圖。其中:10量測機(jī)臺12上方量測空間14下方量測空間16三維空間調(diào)整座18光學(xué)量測儀器20光棒載臺[0034]22腳架24測量平面30溫度晶片32溫度控制器40擴(kuò)散板50噴氣清凈機(jī)60電源供應(yīng)器70顯示器80光棒82發(fā)光二極管84軟性印刷電路板86排線槽。
具體實施方式
茲謹(jǐn)就本案的結(jié)構(gòu)組成，及所能產(chǎn)生的功效與優(yōu)點，配合圖式，舉本案之一較佳實施例詳細(xì)說明如下。請參考圖1，本實用新型的LED光棒80量測機(jī)具，是用于量測光棒80的光學(xué)特性，其中包含—量測機(jī)臺10,包含一上方量測空間12及一下方機(jī)件區(qū)14。該上方量測空間12的底面配置至少一光棒載臺20，該光棒載臺20上主要是位于四邊的四個腳架22及由四個腳架22所支撐的測量平臺，該測量平臺上具有一測量平面24用以配置多個光棒80。如圖2所顯不,其中該光棒載臺20尚包含一溫度晶片30,該溫度晶片30位于該光棒載臺20的下方可以對該光棒載臺20加熱而達(dá)到量測時所需要的環(huán)境溫度條件；較佳者，該溫度晶片30位于該測量平臺的下方正中央。如圖3所顯示，一三維空間調(diào)整座16，位于該光棒載臺20的上方用以夾持一光學(xué)量測儀器18 ;該三維空間調(diào)整座16可令該光學(xué)量測儀器18對位該光棒載臺20的測量平面24上任一位置，以對該光棒載臺20上的各光棒80進(jìn)行對位及量測，且該三維空間調(diào)整座16可以在與該光棒載臺20的測量平面24的垂直方向進(jìn)行高低調(diào)整以達(dá)到所需要的高度，使該光學(xué)量測儀器18與該光棒載臺20保持一特定垂直距離。其中該光學(xué)量測儀器18用于量測各光棒80的發(fā)光強(qiáng)度及頻譜等光學(xué)特性；較佳者該光學(xué)量測儀器18可為一輝度計。如圖4所示，其中在量測過程中可先應(yīng)用該光學(xué)量測儀器18的電荷耦合元件(Charge Coupled Device,簡稱(XD)先行對位并找出各光棒80的量測中心點；再利用該三維空間調(diào)整座16調(diào)整該光學(xué)量測儀器18至該光棒80的量測中心點，并以往復(fù)的方式沿著該光棒80的方向移動及測量該LED棒上的各LED晶粒的光學(xué)特性，且量測完一光棒80后，再調(diào)整該光學(xué)量測儀器18至下一只光棒80的量測中心點依照上述規(guī)則依序量測。其中圖中的黑色箭頭是為該光學(xué)量測儀器18的移動方向。如圖5所不,其中本案尚包含一擴(kuò)散板40,該擴(kuò)散板40位于該光學(xué)量測儀器18及該光棒80之間，借助該擴(kuò)散板40具有將所入射的光源散射出的均光特性，使得該光學(xué)量測儀器18得以直接量測該擴(kuò)散板40的特定位置，運用量測區(qū)域均光的優(yōu)點，可克服對于量測運作時的震動而造成LED晶粒量測的誤差，亦可降低檢測的時間。其中在量測時，如圖5所顯示，先利用該三維空間調(diào)整座16調(diào)整該光學(xué)量測儀器18至該光棒80的量測中心點，并以往復(fù)的方式沿著該光棒80的方向移動及測量該擴(kuò)散板40上所設(shè)定的各點( 圖中顯示量測相對于該光棒80長度等分出的三點)。且量測完一光棒80后，再調(diào)整該光學(xué)量測儀器18至下一只光棒80的量測中心點依照上述規(guī)則依序量測。其中圖中所顯示的量測點數(shù)量并不用以限制本實用新型的范圍。因此，按照上文的敘述，整個量測過程中，只有該三維空間調(diào)整座16在進(jìn)行移動；而各光棒80則安置于該光棒載臺20的測量平面24上，且不需要移動。一溫度控制器32，位于該下方機(jī)件區(qū)14。該溫度控制器32以電性連接該溫度晶片30用于控制該溫度晶片30，以達(dá)到所需要的溫控條件。其中在進(jìn)行光棒80的光學(xué)特性量測時，該溫度控制器32可以驅(qū)動該溫度晶片30加熱該光棒載臺20，使得整個測試環(huán)境提升至特定溫度。一噴氣清凈機(jī)50，位于該上方量測空間12的側(cè)面，可以提供清潔的空氣，以清除該光棒載臺20上的水氣。一電源供應(yīng)器60，該電源供應(yīng)器60位于該下方機(jī)件區(qū)14，該電源供應(yīng)器60將外接電源經(jīng)處理后提供電力給該量測機(jī)臺10上的各裝置及各光棒80。其中該電源供應(yīng)器60提供給該光棒80的電力模式,配合量測可設(shè)定一般模式及脈沖模式，該一般模式是指設(shè)定固定電流的條件，量測光棒80的參數(shù)；該脈沖模式是指設(shè)定固定的電流條件，設(shè)定該電源供應(yīng)器60供電時間，以量測光棒80發(fā)光時的瞬間參數(shù)。一顯示器70，該顯示器70內(nèi)包含一處理器外接于該量測機(jī)臺10，該顯示器70用以連結(jié)該量測機(jī)臺10上各電子裝置(包括各測試元件，如光學(xué)量測儀器18)并將接受的資訊經(jīng)由處理器處理過后顯示該量測機(jī)臺10上各電子裝置的信息，如該光學(xué)量測儀器18的位置。在本實用新型中，其目的在于改良現(xiàn)有技術(shù)的光棒80的光學(xué)特性量測方式，應(yīng)用一具有三軸移動的三維空間調(diào)整座16夾持一光學(xué)量測儀器18，使得在量測時的移動范圍相較于現(xiàn)有技術(shù)可提升許多，且待測的光棒80也可以視光棒80尺寸及光棒載臺20尺寸而同時測量多只光棒80。且本實用新型提出加裝擴(kuò)散板40的方式，以測量擴(kuò)散板40的各區(qū)域受光棒80照射時的均光性，減少對于量測運作時的震動而造成LED晶粒量測的誤差，亦可降低檢測的時間。且與現(xiàn)有技術(shù)需各LED晶粒各別量測方式有所不同，相較于現(xiàn)有技術(shù)而言有明顯的進(jìn)步性。惟以上所述者，僅為本實用新型的較佳實施例而已，當(dāng)不能以此限定本實用新型實施范圍；故，凡依本實用新型申請專利范圍及創(chuàng)作說明書內(nèi)容所作的簡單的等效變化與修飾，皆應(yīng)仍屬本實用新型專利涵蓋之范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種LED光棒量測機(jī)具,其特征在于,包含 一個量測機(jī)臺，包含上方量測空間及下方機(jī)件區(qū)，該上方量測空間的底面配置至少一個光棒載臺，該光棒載臺上主要是由四個腳架所支撐的測量平臺，該測量平臺上具有一個用以配置多個光棒的測量平面；以及 一個三維空間調(diào)整座，位于該光棒載臺的上方，用以夾持一個光學(xué)量測儀器，并使該光學(xué)量測儀器對位該光棒載臺的測量平面上任一位置及在與該光棒載臺的測量平面的垂直方向進(jìn)行聞低調(diào)整； 其中，該光學(xué)量測儀器用于量測各光棒的發(fā)光強(qiáng)度及頻譜。
2.如權(quán)利要求I所述的LED光棒量測機(jī)具,其特征在于該光棒載臺尚包含一個溫度晶片，該溫度晶片位于該光棒載臺的下方，以對該光棒載臺加熱而達(dá)到量測時所需要的環(huán)境溫度條件。
3.如權(quán)利要求2所述的LED光棒量測機(jī)具，其特征在于該溫度晶片位于該測量平臺的下方正中央。
4.如權(quán)利要求I所述的LED光棒量測機(jī)具，其特征在于該光學(xué)量測儀器為輝度計。
5.如權(quán)利要求2所述的LED光棒量測機(jī)具,其特征在于尚包含一個溫度控制器，位于該下方機(jī)件區(qū)，該溫度控制器以電性連接該溫度晶片用于控制該溫度晶片，以達(dá)到所需要的溫控條件。
6.如權(quán)利要求I所述的LED光棒量測機(jī)具,其特征在于尚包含一個噴氣清凈機(jī)，位于該上方量測空間的側(cè)面，用于提供清潔的空氣去清除該測量平臺上的水氣。
7.如權(quán)利要求I所述的LED光棒量測機(jī)具，其特征在于尚包含一個電源供應(yīng)器，該電源供應(yīng)器位于該下方機(jī)件區(qū)，該電源供應(yīng)器將外接電源經(jīng)處理后提供電力予該量測機(jī)臺上各裝置及各光棒使用。
8.如權(quán)利要求I所述的LED光棒量測機(jī)具，其特征在于尚包含一個顯示器，該顯示器內(nèi)包含處理器外接于該量測機(jī)臺，該顯示器用以連結(jié)該量測機(jī)臺上各裝置并將接受的資訊經(jīng)由處理器處理過后顯示該量測機(jī)臺上各裝置的信息。
9.如權(quán)利要求7所述的LED光棒量測機(jī)具，其特征在于該電源供應(yīng)器為能提供給該光棒一般模式及脈沖模式兩種電力模式的電源供應(yīng)器；其中，該一般模式是指設(shè)定固定電流的條件，以量測光棒的參數(shù)；該脈沖模式是指設(shè)定固定的電流條件，設(shè)定該電源供應(yīng)器供電時間，以量測光棒發(fā)光時的瞬間參數(shù)。
10.如權(quán)利要求I所述的LED光棒量測機(jī)具,其特征在于尚包含一個擴(kuò)散板，該擴(kuò)散板位于該光學(xué)量測儀器及該光棒載臺之間，通過該擴(kuò)散板具有將光棒入射的光源散射出的均光特性，使得該光學(xué)量測儀器得以直接量測該擴(kuò)散板的特定位置，以判斷光棒的均光程度。
專利摘要一種LED光棒量測機(jī)具，包含一個量測機(jī)臺，包含一上方量測空間及一下方機(jī)件區(qū)，該上方量測空間的底面配置至少一光棒載臺，該光棒載臺上主要是由四個腳架所支撐的測量平臺，該測量平臺上具有一測量平面用以配置多個光棒;以及一個三維空間調(diào)整座，位于該光棒載臺的上方用以夾持一光學(xué)量測儀器，該三維空間調(diào)整座可令該光學(xué)量測儀器對位該光棒載臺的測量平面上任一位置，且該三維空間調(diào)整座可以在與該光棒載臺的測量平面的垂直方向進(jìn)行高低調(diào)整以達(dá)到所需要的高度;其中，該光學(xué)量測儀器用于量測各光棒的發(fā)光強(qiáng)度及頻譜等光學(xué)特性。因此本實用新型是具有多軸向移動、可同時量測多數(shù)量光棒的光棒量測機(jī)具。
文檔編號G01J1/00GK202793746SQ201220453620
公開日2013年3月13日 申請日期2012年9月7日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月7日
發(fā)明者余章凱 申請人:光達(dá)檢測科技有限公司