專利名稱：層間偏移測(cè)量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型系有關(guān)一種層間偏移測(cè)量裝置改良，旨在提供一種應(yīng)用于多層印刷電鍍板，包含硬板、軟板、軟硬板、高密度互連板等層間對(duì)準(zhǔn)度檢測(cè)之層間偏移測(cè)量裝置改良。
背景技術(shù)：
傳統(tǒng)印刷電路板(Printed Circuit Board ;PCB)的檢測(cè)方法多采用人力目測(cè)方式，其系將待測(cè)的印刷電路板送進(jìn)檢測(cè)系統(tǒng)中，并藉由檢測(cè)系統(tǒng)中的攝像功能擷取印刷電路板上的對(duì)位靶標(biāo)，進(jìn)而將所取得的對(duì)位靶標(biāo)的影像打印出來或顯示在顯示器上，最后再利用量測(cè)工具，以人力方式對(duì)所打印出來或顯示出來的靶標(biāo)影像進(jìn)行檢測(cè)，并根據(jù)檢測(cè)結(jié)果來判斷此待測(cè)印刷電路板為良板或瑕疵板。使用前述印刷電路板的檢測(cè)方式，其不僅作業(yè)效率差，同時(shí)也難確保檢測(cè)的精確度，因此，于檢測(cè)印刷電路板程序中，往往因?yàn)殍Υ冒鏇]有檢測(cè)出來，而造成瑕疵板在后續(xù)應(yīng)用上引發(fā)極大的損失。隨著科技的進(jìn)步，印刷電路板的檢測(cè)系統(tǒng)可以利用馬達(dá)的帶動(dòng)將待測(cè)的印刷電路板送入系統(tǒng)中，以及透過彩色顯示器顯示對(duì)位靶標(biāo)的影像，以提供人力的節(jié)省。然而，前述的檢測(cè)方式雖然有改善了傳統(tǒng)人力上面的消耗，但是仍需要藉由人力方式對(duì)靶標(biāo)影像進(jìn)行檢測(cè)，以根據(jù)檢測(cè)結(jié)果判斷此待測(cè)印刷電路板為良板或瑕疵板。因此，現(xiàn)今仍無一套對(duì)使用者而言，有高精度、高速度及自動(dòng)化、人性化、易操作等兼?zhèn)涔δ艿挠∷㈦娐钒鍣z測(cè)方法。而市面上亦出現(xiàn)另種以X光檢測(cè)印刷電路板的裝置，系以自動(dòng)化判斷一待測(cè)印刷電路板的良率，用以改善傳統(tǒng)以人力檢測(cè)方式的缺點(diǎn)；其主要利用X光攝像印刷電路板上的對(duì)位靶標(biāo)，以取得一 X光影像數(shù)據(jù)，其中，該對(duì)位靶標(biāo)由該印刷電路板各層體的一對(duì)位孔層迭組成。再來，進(jìn)行一期望區(qū)域(ROI)的搜尋，從該X光影像數(shù)據(jù)中選取一檢測(cè)范圍。接著，擷取該檢測(cè)范圍中的一 X光影像比對(duì)數(shù)據(jù)。再分別比對(duì)運(yùn)算該印刷電路板之X光影像比對(duì)數(shù)據(jù)與一預(yù)設(shè)檢測(cè)條件。最后，根據(jù)比對(duì)運(yùn)算的結(jié)果，于窗口中的一提示接口顯示對(duì)位靶標(biāo)的偏向。惟，利用該種X光檢測(cè)印刷電路板的裝置中，不僅X光具有放射性，且量測(cè)速度較慢；再者，利用X光攝像時(shí)，容易因?yàn)檫^度曝光而產(chǎn)生光暈，造成無法辨識(shí)或辨識(shí)錯(cuò)誤，降低判讀效果。

實(shí)用新型內(nèi)容有鑒于此，本實(shí)用新型層間偏移測(cè)量裝置改良之主要目的，系提供一種于應(yīng)用于多層印刷電鍍板，包含硬板、軟板、軟硬板、高密度互連板等層間對(duì)準(zhǔn)度檢測(cè)之層間偏移測(cè)
量裝置。為達(dá)上述目的，本實(shí)用新型中之層間偏移測(cè)量裝置至少包含有設(shè)于待測(cè)物上之對(duì)位靶標(biāo)、至少一測(cè)試探針、一接地探針、至少一警示組件以及一負(fù)載，該對(duì)位靶標(biāo)設(shè)有與該待測(cè)物相對(duì)應(yīng)之復(fù)數(shù)層體，各層體于該對(duì)位靶標(biāo)處設(shè)有導(dǎo)電層，該對(duì)位靶標(biāo)于導(dǎo)電層處設(shè)有至少一鍍通孔以及一接地孔，該導(dǎo)電層系與該接地孔接觸，而與該鍍通孔隔離相對(duì)，該測(cè)試探針系可伸入接觸對(duì)應(yīng)之鍍通孔，該接地探針系可伸入接觸對(duì)應(yīng)之接地孔，該電壓偵測(cè)模塊系與測(cè)試探針形成電性連接，該輸入電壓系與該接地探針形成電性連接，而該顯示模塊則于該電壓偵測(cè)模塊連接。本實(shí)用新型可應(yīng)用于多層印刷電鍍板，包含硬板、軟板、軟硬板、高密度互連板等待測(cè)物，若其中有層體產(chǎn)生偏移，使得該層體之導(dǎo)電層與鍍通孔形成短路，可由該電壓偵測(cè)模塊測(cè)得，而將結(jié)果直接顯示于顯示模塊上，以判斷此待測(cè)物為良品或瑕疵品。為達(dá)成上述之目的，本實(shí)用新型之對(duì)位靶標(biāo)于導(dǎo)電層處依序設(shè)有第一、第二、第三、第四、第五以及第六鍍通孔，該導(dǎo)電層依序與各鍍通孔分別形成有1、2、3、4、5、6 mil之間距。 為達(dá)成上述之目的，本實(shí)用新型之電壓偵測(cè)模塊系設(shè)有復(fù)數(shù)與各測(cè)試探針相對(duì)應(yīng)連接之測(cè)試單元，該顯示模塊系設(shè)有復(fù)數(shù)與各測(cè)試單元相對(duì)應(yīng)之顯示區(qū)，而各測(cè)試探針與接地探針設(shè)置于一檢測(cè)平臺(tái)上。上述之待測(cè)物可以為多層印刷電鍍板，其包含硬板、軟板、軟硬板或高密度互連板。為達(dá)成上述之目的，本實(shí)用新型之顯示模塊可以為計(jì)算機(jī)之顯示屏，而該顯示模塊可進(jìn)一步連接有打印器。具體而言，本創(chuàng)作之層間偏移測(cè)量裝置系可以產(chǎn)生下列功效1、藉由結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單且成本較低之測(cè)量裝置，即可快速檢測(cè)出待測(cè)物層間之對(duì)準(zhǔn)度，并可判斷該待測(cè)物為良品或瑕疵品。2、將測(cè)試結(jié)果直接顯示于顯示模塊(可為計(jì)算機(jī)之顯示屏)，并予以存盤紀(jì)錄，在量測(cè)完畢后可直接輸出報(bào)表，免除人工抄寫數(shù)據(jù)及輸入計(jì)算機(jī)的時(shí)間與錯(cuò)誤，并由報(bào)表顯示對(duì)準(zhǔn)度的制程能力。

圖1系為本實(shí)用新中測(cè)量裝置之結(jié)構(gòu)示意圖。圖2系為本實(shí)用新型中對(duì)位靶標(biāo)之結(jié)構(gòu)立體圖。圖3系為本實(shí)用新型中對(duì)位靶標(biāo)之結(jié)構(gòu)示意圖。圖4系為本實(shí)用新型中待測(cè)物與測(cè)量裝置之結(jié)構(gòu)示意圖。主要組件符號(hào)說明層間偏移測(cè)量裝置1、對(duì)位靶標(biāo)10、層體ll、lla、llb、llc、lld、導(dǎo)電層12、第一鍍通孔131、第二鍍通孔132、第三鍍通孔133、第四鍍通孔134、第五鍍通孔135、第六鍍通孔136、接地孔137、間距14、測(cè)試探針20、接地探針30、檢測(cè)平臺(tái)40、輸入電壓50、電壓偵測(cè)模塊60、測(cè)試單元61、顯示模塊70、顯示區(qū)71。
具體實(shí)施方式
本實(shí)用新開型之特點(diǎn)，可參閱本案圖式及實(shí)施例之詳細(xì)說明而獲得清楚地了解。本實(shí)用新型層間偏移測(cè)量裝置改良，如圖1至圖4所示，該層間偏移測(cè)量裝置I其至少包含有[0025]一對(duì)位靶標(biāo)10，系設(shè)于待測(cè)物上，該對(duì)位靶標(biāo)10設(shè)有與該待測(cè)物相對(duì)應(yīng)之復(fù)數(shù)層體11，各層體11于該對(duì)位靶標(biāo)10處設(shè)有導(dǎo)電層12，該對(duì)位靶標(biāo)10于導(dǎo)電層12處設(shè)有至少一鍍通孔以及一接地孔，如圖所示之實(shí)施例中，該對(duì)位靶標(biāo)10于導(dǎo)電層12處依序設(shè)有第一、第二、第三、第四、第五以及第六鍍通孔131、132、133、134、135、136以及一接地孔137，該導(dǎo)電層12系與該接地孔137接觸，而與各鍍通孔131、132、133、134、135、136隔離相對(duì)，其中，該導(dǎo)電層12可依序與第一、第二、第三、第四、第五以及第六鍍通孔131、132、133、134、135、136 分別形成有 1、2、3、4、5、6 mil 之間距 14 ；至少一測(cè)試探針20，該測(cè)試探針20系可伸入接觸對(duì)應(yīng)之各鍍通孔131、132、133、134、135、136 ；一接地探針30，該接地探針30系可伸入接觸對(duì)應(yīng)之接地孔137 ；一輸入電壓50，系與該接地探針30連接，可提供約5伏特之電壓；一電壓偵測(cè)模塊60，系與測(cè)試探針20形成電性連接，該電壓偵測(cè)模塊60系設(shè)有復(fù)數(shù)與各測(cè)試探針20相對(duì)應(yīng)連接之測(cè)試單元61 ；一顯示模塊70，系與該電壓偵測(cè)模塊60連接，該顯示模塊70系設(shè)有復(fù)數(shù)與各測(cè)試單元61相對(duì)應(yīng)之顯示區(qū)71，可將電壓偵測(cè)結(jié)果顯示于該顯示模塊70上。本實(shí)用新型中可將各測(cè)試探針與接地探針設(shè)置于一檢測(cè)平臺(tái)40上，如圖1所示，欲利用本實(shí)用新型進(jìn)行測(cè)量時(shí)，將該待測(cè)物之對(duì)位靶標(biāo)10放置于該檢測(cè)平臺(tái)40上，使該測(cè)試探針20系可伸入接觸對(duì)應(yīng)之各鍍通孔131、132、133、134、135、136，以及該接地探針30可伸入接觸對(duì)應(yīng)之接地孔137，若該對(duì)位靶標(biāo)10中各層體11并無偏移，而各鍍通孔131、132、133、134、135、136與各層體之導(dǎo)電層12維持隔離相對(duì)之狀態(tài)，則該電壓偵測(cè)模塊之各測(cè)試單元61所測(cè)得之電壓值小于0，則輸出訊號(hào)為「O」，該顯示模塊70接收該訊號(hào)則不顯示，亦即各顯不區(qū)71不売。反之，若該對(duì)位靶標(biāo)中有某層體形成偏移，則該電壓偵測(cè)模塊相對(duì)應(yīng)之測(cè)試單元61所測(cè)得之電壓值大于0，則輸出訊號(hào)為「1」，該顯示模塊70接收該訊號(hào)則顯示，亦即相對(duì)應(yīng)之顯示區(qū)71發(fā)光，則可依此判斷該待測(cè)物為瑕疵品。值得一提的是，本實(shí)用新型藉由結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單且成本較低之測(cè)量裝置，即可快速檢測(cè)出待測(cè)物(多層印刷電鍍板，包含硬板、軟板、軟硬板、高密度互連板等)層間之對(duì)準(zhǔn)度，并可依此判斷該待測(cè)物為良品或瑕疵品。而該顯示模塊70可以為計(jì)算機(jī)之顯示屏，可將測(cè)量結(jié)果予以存盤紀(jì)錄，而該顯示模塊可進(jìn)一步連接有打印器(圖未示)，可在量測(cè)完畢后可直接輸出報(bào)表，免除人工抄寫數(shù)據(jù)及輸入計(jì)算機(jī)的時(shí)間與錯(cuò)誤，并由報(bào)表顯示對(duì)準(zhǔn)度的制程能力。綜上所述，本實(shí)用新型提供電路板一較佳可行之層間偏移測(cè)量裝置改良，爰依法提呈實(shí)用新型專利之申請(qǐng)；本實(shí)用新型之技術(shù)內(nèi)容及技術(shù)特點(diǎn)已揭示如上，然而熟悉本項(xiàng)技術(shù)之人士仍可能基于本創(chuàng)作之揭示而作各種不背離本案創(chuàng)作精神之替換及修飾。因此，本實(shí)用新型之保護(hù)范圍應(yīng)不限于實(shí)施例所揭示者，而應(yīng)包括各種不背離本實(shí)用新型之替換及修飾，并為以下之申請(qǐng)專利范圍所涵蓋。
權(quán)利要求1.一種層間偏移測(cè)量裝置，其特征在于其至少包含有一對(duì)位靶標(biāo)(10)，系設(shè)于待測(cè)物上，該對(duì)位靶標(biāo)(10)設(shè)有與該待測(cè)物相對(duì)應(yīng)之復(fù)數(shù)層體(11)，各層體(11)于該對(duì)位靶標(biāo)(10)處設(shè)有導(dǎo)電層(12)，該對(duì)位靶標(biāo)(10)于導(dǎo)電層(12)處設(shè)有至少一鍍通孔以及一接地孔(137)，該導(dǎo)電層(12)系與該接地孔(137)接觸，而與該鍍通孔隔離相對(duì)；至少一測(cè)試探針(20)，該測(cè)試探針(20)系可伸入接觸對(duì)應(yīng)之鍍通孔；一接地探針(30)，該接地探針(30)系可伸入接觸對(duì)應(yīng)之接地孔(137);一輸入電壓(50)，系與該接地探針(30)連接；一電壓偵測(cè)模塊(60)，系與測(cè)試探針(20)形成電性連接；以及一顯示模塊(70)，系與該電壓偵測(cè)模塊(60)連接，可將電壓偵測(cè)結(jié)果顯示于該顯示模塊(70)上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種層間偏移測(cè)量裝置，其特征在于其中，該對(duì)位靶標(biāo)于導(dǎo)電層處依序設(shè)有第一、第二、第三、第四、第五以及第六鍍通孔(131、132、133、134、135、 136)，該導(dǎo)電層(12)依序與各鍍通孔(131、132、133、134、135、136)分別形成有1、2、3、4、5、 6mil之間距。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種層間偏移測(cè)量裝置，其特征在于其中，該電壓偵測(cè)模塊(60 )系設(shè)有復(fù)數(shù)與各測(cè)試探針(20 )相對(duì)應(yīng)連接之測(cè)試單元(61)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種層間偏移測(cè)量裝置，其特征在于其中，該顯示模塊(70) 系設(shè)有復(fù)數(shù)與各測(cè)試單元(61)相對(duì)應(yīng)之顯示區(qū)(71)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種層間偏移測(cè)量裝置，其特征在于其中，該待測(cè)物為多層印刷電鍍板，其包含硬板、軟板、軟硬板或高密度互連板。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種層間偏移測(cè)量裝置，其特征在于其中，各測(cè)試探針(20) 與接地探針(30)設(shè)置于一檢測(cè)平臺(tái)(40)上。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種層間偏移測(cè)量裝置，其特征在于其中，該顯示模塊(70) 為計(jì)算機(jī)之顯示屏，而該顯示模塊(70 )進(jìn)一步連接有打印器。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種層間偏移測(cè)量裝置，其至少包含有設(shè)于待測(cè)物上之對(duì)位靶標(biāo)(10)、至少一測(cè)試探針(20)、一接地探針(30)、一輸入電壓(50)、一電壓偵測(cè)模塊(60)以及一顯示模塊(70)，該對(duì)位靶標(biāo)(10)設(shè)有與該待測(cè)物相對(duì)應(yīng)之復(fù)數(shù)層體，各層體于該對(duì)位靶標(biāo)處設(shè)有導(dǎo)電層(12)，該對(duì)位靶標(biāo)于導(dǎo)電層處設(shè)有至少一鍍通孔以及一接地孔(137)，該導(dǎo)電層系與該接地孔接觸，而與該鍍通孔隔離相對(duì)，該測(cè)試探針系可伸入接觸對(duì)應(yīng)之鍍通孔，該接地探針系可伸入接觸對(duì)應(yīng)之接地孔，該電壓偵測(cè)模塊系與測(cè)試探針形成電性連接，該輸入電壓系與該接地探針形成電性連接，若其中有層體產(chǎn)生偏移，可由該電壓偵測(cè)模塊測(cè)得而將結(jié)果直接顯示于顯示模塊上，以判斷此待測(cè)物為良品或瑕疵品。
文檔編號(hào)G01N27/00GK202836496SQ20122043785
公開日2013年3月27日 申請(qǐng)日期2012年8月31日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月31日
發(fā)明者鐘強(qiáng), 呂明 申請(qǐng)人:瀚宇博德科技(江陰)有限公司