專利名稱：射頻線測試器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
射頻線測試器
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種測試器，特別是涉及一種射頻線測試器。
背景技術(shù)：
射頻(RF ;Radio Frequency)線是電子 產(chǎn)品中常用的一種線材,請參閱圖1、2,圖I為射頻線結(jié)構(gòu)示意圖、圖2為射頻線內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示，射頻線300通常包括線材本體100以及設(shè)于線材本體100兩端的端子200，所述線材本體100具有四層結(jié)構(gòu)，由內(nèi)而外分別為第一導(dǎo)電層101、第一絕緣層102、第二導(dǎo)電層103、第二絕緣層104，而所述端子200又具有與第一導(dǎo)電層101電性連接的第一導(dǎo)電部201以及與所述第二導(dǎo)電層103電性連接的第二導(dǎo)電部202。對于上述射頻線300，目前在測試其是否短路或斷路時，通常會采用萬用表的兩個探針分別插入兩個所述端子200的第一導(dǎo)電部201，測試所述第一導(dǎo)電層101是否導(dǎo)通；再將萬用表的兩個探針分別接觸兩個所述端子200的第二導(dǎo)電部202，測試所述第二導(dǎo)電層103是否導(dǎo)通；最后再將萬用表的兩個探針分別插入同一所述端子200的第一導(dǎo)電部201、接觸第二導(dǎo)電部202，測試所述第一導(dǎo)電部201、第二導(dǎo)電部202是否短路。然而，采用上述方式進(jìn)行射頻線300的測試，一方面，其測試過程較為麻煩，需要耗費較多時間；另一方面，測試時插入所述端子200，會對其造成損傷，進(jìn)而造成端子200擴(kuò)孔。有鑒于此，實有必要開發(fā)一種射頻線測試器，以解決上述問題。

發(fā)明內(nèi)容因此，本實用新型的目的是提供一種射頻線測試器，解決現(xiàn)有測試麻煩費時、以及容易造成端子擴(kuò)孔的問題。為了達(dá)到上述目的，本實用新型提供的射頻線測試器，所述射頻線包括線材本體和設(shè)于線材本體兩端的端子，所述線材本體具有由內(nèi)而外的第一導(dǎo)電層、第一絕緣層、第二導(dǎo)電層、第二絕緣層，所述端子具有與所述第一導(dǎo)電層電性連接的第一導(dǎo)電部以及與所述第二導(dǎo)電層電性連接的第二導(dǎo)電部，所述測試器包括二測試端子，其分別具有第一測試端和第二測試端，所述第一測試端與所述第一導(dǎo)電部結(jié)合，所述第二測試端與所述第二導(dǎo)電部結(jié)合；串接于二所述第一測試端間的第一發(fā)光二極管、第一開關(guān)以及電源；串接于二所述第二測試端間的第二發(fā)光二極管、第二開關(guān)以及電源?？蛇x的，所述第一測試端與所述第一導(dǎo)電部的結(jié)合方式為扣合，所述第二測試端與所述第二導(dǎo)電部的結(jié)合方式為扣合。可選的，所述電源的正極接所述第一發(fā)光二極管、第二發(fā)光二極管的正極。可選的，所述電源為電壓為3V的直流電源。可選的，二所述第一測試端間還串接有第一電阻。[0015]可選的，二所述第二測試端間還串接有第二電阻。相較于現(xiàn)有技術(shù)，利用本實用新型的射頻線測試器，由于采用二測試端子與所述射頻線的端子結(jié)合，從而避免了使用萬用表探針插入而引起的擴(kuò)孔；同時，在測試時，將所述第一開關(guān)與所述第二開關(guān)逐一閉合，其所對應(yīng)的第一發(fā)光二極管與第二發(fā)光二極管，若是有一個不亮，則其對應(yīng)的線路斷開，若閉合其中一個開關(guān)，兩個發(fā)光二極管都亮，則射頻線內(nèi)部短路，可見測試更加簡單、省時。

圖I繪示為射頻線結(jié)構(gòu)示意圖、圖2繪示為射頻線內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。圖3繪示為本實用新型的射頻線測試器一較佳實施例的電路圖。
具體實施方式
請共同參閱圖I、圖2、圖3，圖3繪示為本實用新型的射頻線測試器一較佳實施例的電路圖。為了達(dá)到上述目的，本實用新型提供的射頻線測試器，所述射頻線300包括線材本體100和設(shè)于線材本體100兩端的端子200，所述線材本體100具有由內(nèi)而外的第一導(dǎo)電層101、第一絕緣層102、第二導(dǎo)電層103、第二絕緣層104，所述端子200具有與所述第一導(dǎo)電層101電性連接的第一導(dǎo)電部201以及與所述第二導(dǎo)電層103電性連接的第二導(dǎo)電部202，于本較佳實施例，所述測試器包括二測試端子400，其分別具有第一測試端401和第二測試端402，所述第一測試端401與所述第一導(dǎo)電部201結(jié)合,所述第二測試端402與所述第二導(dǎo)電部202結(jié)合；串接于二所述第一測試端401間的第一發(fā)光二極管501、第一開關(guān)601以及電源700 ；串接于二所述第二測試端402間的第二發(fā)光二極管502、第二開關(guān)以602及電源700。其中，所述第一測試端401與所述第一導(dǎo)電部201的結(jié)合方式為扣合，所述第二測試端402與所述第二導(dǎo)電部202的結(jié)合方式為扣合，如此可以達(dá)到方便安裝拆卸的目的，且不會造成所述射頻線300的端子200的損傷。其中，所述電源700的正極接所述第一發(fā)光二極管501、第二發(fā)光二極管502的正極。所述電源700為電壓為3V的直流電源。其中，二所述第一測試端401間還串接有第一電阻801，二所述第二測試端402間還串接有第二電阻802。從而達(dá)到對所述第一發(fā)光二極管501、第二發(fā)光二極管502的保護(hù)。相較于現(xiàn)有技術(shù)，利用本實用新型的射頻線測試器，由于采用二測試端子400分別與所述射頻線300的端子200結(jié)合，從而避免了使用萬用表探針插入而引起的擴(kuò)孔；同時，在測試時，將所述第一開關(guān)601與所述第二開關(guān)602逐一閉合,其所對應(yīng)的第一發(fā)光二極管501與第二發(fā)光二極管502，若是有一個不亮，則其對應(yīng)的線路斷開(例如所述第一發(fā)光二極管501不亮，則所述第一導(dǎo)電部201連接的第一導(dǎo)電層101斷路，例如所述第二發(fā)光二極管502不亮，則所述第二導(dǎo)電部202連接的第二導(dǎo)電層103斷路)；若閉合其中一個開關(guān)(601或602)，兩個發(fā)光二極管(501和502)都亮，則射頻線300內(nèi)部短路，可見測試更加
簡單、省時?！?br> 權(quán)利要求1.一種射頻線測試器，所述射頻線包括線材本體和設(shè)于線材本體兩端的端子，所述線材本體具有由內(nèi)而外的第一導(dǎo)電層、第一絕緣層、第二導(dǎo)電層、第二絕緣層，所述端子具有與所述第一導(dǎo)電層電性連接的第一導(dǎo)電部以及與所述第二導(dǎo)電層電性連接的第二導(dǎo)電部，其特征在于，所述測試器包括 二測試端子，其分別具有第一測試端和第二測試端，所述第一測試端與所述第一導(dǎo)電部結(jié)合，所述第二測試端與所述第二導(dǎo)電部結(jié)合； 串接于二所述第一測試端間的第一發(fā)光二極管、第一開關(guān)以及電源； 串接于二所述第二測試端間的第二發(fā)光二極管、第二開關(guān)以及電源。
2.如權(quán)利要求I所述的射頻線測試器，其特征在于，所述第一測試端與所述第一導(dǎo)電部的結(jié)合方式為扣合，所述第二測試端與所述第二導(dǎo)電部的結(jié)合方式為扣合。
3.如權(quán)利要求I所述的射頻線測試器，其特征在于，所述電源的正極接所述第一發(fā)光二極管、第二發(fā)光二極管的正極。
4.如權(quán)利要求I所述的射頻線測試器，其特征在于，所述電源為電壓為3V的直流電源。
5.如權(quán)利要求I所述的射頻線測試器，其特征在于，二所述第一測試端間還串接有第一電阻。
6.如權(quán)利要求I所述的射頻線測試器，其特征在于，二所述第二測試端間還串接有第二電阻。
專利摘要本實用新型揭示一種射頻線測試器，所述射頻線包括線材本體和設(shè)于線材本體兩端的端子，所述線材本體具有由內(nèi)而外的第一導(dǎo)電層、第一絕緣層、第二導(dǎo)電層、第二絕緣層，所述端子具有與所述第一導(dǎo)電層電性連接的第一導(dǎo)電部以及與所述第二導(dǎo)電層電性連接的第二導(dǎo)電部，所述測試器包括二測試端子，其分別具有第一測試端和第二測試端，所述第一測試端與所述第一導(dǎo)電部結(jié)合，所述第二測試端與所述第二導(dǎo)電部結(jié)合；串接于二所述第一測試端間的第一發(fā)光二極管、第一開關(guān)以及電源；串接于二所述第二測試端間的第二發(fā)光二極管、第二開關(guān)以及電源。從而避免了使用萬用表探針插入而引起的擴(kuò)孔；可見測試更加簡單、省時。
文檔編號G01R31/02GK202794418SQ20122040831
公開日2013年3月13日 申請日期2012年8月16日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月16日
發(fā)明者賀文輝 申請人:神訊電腦(昆山)有限公司