專利名稱：測試設(shè)備信號繼電器時間性能的實時檢測電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種檢測電路，尤其涉及一種測試設(shè)備信號繼電器時間性能的實時檢測電路。
背景技術(shù)：
測試系統(tǒng)(Tester)會在輸入、輸出管腳上加載信號切換繼電器,用以控制和切換信號的狀態(tài)。在驅(qū)動器輸出使能信號到達(dá)圖I中的A端后，由于繼電器的切換需要時間，信號從B端傳輸?shù)奖粶y芯片輸入管腳上B端得到的信號起始點將晚于測試設(shè)備的要求時間。一般這個時間在I. 5ms左右。因此測試速度將受限制于這個切換時間。另外，當(dāng)測試用通道數(shù)量很多時，隨著繼電器使用狀態(tài)的變化，這個切換時間將產(chǎn)生很大誤差。造成到達(dá)半導(dǎo)體元·件(IC)輸入管腳的信號不同步，產(chǎn)生測試失效問題。為解決這個問題，目前的方案是在測試開始前等待一段時間，這樣就降低了測試效率。

實用新型內(nèi)容鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)中的問題，本實用新型所要解決的技術(shù)問題是現(xiàn)有的技術(shù)缺乏有效的實時檢測電路。本實用新型的一種測試設(shè)備信號繼電器時間性能的實時檢測電路，包括采樣信號發(fā)生器、計數(shù)器和寄存器，所述采樣信號發(fā)生器與所述計數(shù)器連接，所述計數(shù)器與所述寄存器連接，所述寄存器上設(shè)有信號輸出端。在本實用新型的一個較佳實施方式中，所述采樣信號發(fā)生器包括第一采樣電路、第二采樣電路和第三采樣電路，所述第一采樣電路、第二采樣電路和第三采樣電路上分別設(shè)有第一測試輸入、第二測試輸入和被測輸入，所述第一米樣電路、第二米樣電路相連并與所述計數(shù)器連接，所述第三采樣電路與所述計數(shù)器通過所述計數(shù)器上的第三輸入連接。在本實用新型的另一較佳實施方式中，所述第三采樣電路還通過所述計數(shù)器上的第四輸入與所述計數(shù)器通過連接。在本實用新型的另一較佳實施方式中，還包括系統(tǒng)信號端，所述系統(tǒng)信號端與分別所述寄存器和計數(shù)器連接。在本實用新型的另一較佳實施方式中，還包括時鐘發(fā)生器，所述時鐘發(fā)生器與所述計數(shù)器連接。在本實用新型的另一較佳實施方式中，所述采樣信號發(fā)生器的頻率為10M-1G。在本實用新型的另一較佳實施方式中，所述計數(shù)器采用復(fù)雜可編程邏輯器件。本實用新型設(shè)計了針對繼電器的切換延遲時間的實時測量電路，并行連接于測試設(shè)備驅(qū)動電路上，將實際測量值反饋給測試設(shè)備，使驅(qū)動使能信號作適當(dāng)提前，確保到達(dá)被測器件管腳上的輸入信號同步且符合測試需要的正確時間沿。從而提高測試切換速度和測試穩(wěn)定性能。
圖I是繼電器的電路示意圖；圖2是本實用新型的實施例的采樣信號發(fā)生器的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本實用新型的實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
以下將結(jié)合附圖和實施例對本實用新型做具體闡釋。如圖2和3中所示，本實用新型的一種測試設(shè)備信號繼電器時間性能的實時檢測 電路，包括采樣信號發(fā)生器I、計數(shù)器2和寄存器3。采樣信號發(fā)生器I與所述計數(shù)器2連接，所述計數(shù)器2與所述寄存器3連接，所述寄存器3上設(shè)有信號輸出端4。本實用新型使驅(qū)動使能信號作適當(dāng)提前，確保到達(dá)被測器件管腳上的輸入信號同步且符合測試需要的正確時間沿。從而提高測試切換速度和測試穩(wěn)定性能優(yōu)選的，米樣信號發(fā)生器包括第一米樣電路11、第二米樣電路12和第三米樣電路13。如圖3所示，第一采樣電路11、第二采樣電路12和第三采樣電路13上分別設(shè)有第一測試輸入、第二測試輸入和被測輸入，第一米樣電路11、第二米樣電路12相連并與所述計數(shù)器2連接，所述第三采樣電路13與所述計數(shù)器2通過所述計數(shù)器2上的第三輸入21連接。優(yōu)選的，所述第三采樣電路13還通過所述計數(shù)器2上的第四輸入22與所述計數(shù)器通過連接。 此外，優(yōu)選的，還包括系統(tǒng)信號端31，系統(tǒng)信號端31與分別所述寄存器3和計數(shù)器2連接。在本實用新型的實施例中，還包括時鐘發(fā)生器5，所述時鐘發(fā)生器5與所述計數(shù)器2連接。在本實用新型的實施例中，采樣信號發(fā)生器的頻率為10M-1G。計數(shù)器采用復(fù)雜可編程邏輯器件。如圖3所示測試采樣信號由第一采樣電路11、第二采樣電路12相與后連接到計數(shù)器2作為計數(shù)開始信號。當(dāng)被測半導(dǎo)體元件(IC)的管腳第三采樣電路13端子上收到經(jīng)過繼電器切換后的上升沿信號后，計數(shù)器2將當(dāng)前計數(shù)值輸出后緩存。并延遲后將計數(shù)器2清零。計數(shù)器2采樣精度取決于時鐘發(fā)生器5的頻率發(fā)生值。IG以下都可以滿足使用需求。來自測試設(shè)備的通過系統(tǒng)信號端31的測試使能信號是測試設(shè)備控制該電路工作的信號。當(dāng)測試使能信號發(fā)送后，寄存器3中的數(shù)據(jù)將被裝換成串行數(shù)據(jù)反饋到測試設(shè)備總線中，由設(shè)備讀取該數(shù)據(jù)后反饋給輸出變量，調(diào)整輸出時間從而達(dá)到自動反饋延遲時間的作用。整個電路系統(tǒng)可以掛接在測試設(shè)備外圍，當(dāng)信號繼電器延遲變化時，電路可以實時測量并監(jiān)控信號質(zhì)量。測試設(shè)備僅需要給該電路一個測試使能信號，就能從反饋電路中讀取測量后的時間延遲數(shù)量，在發(fā)送使能信號前，疊加上時間補償值，可以根據(jù)不同通道的延時做使能信號發(fā)送提前的調(diào)整。最終使到達(dá)被測IC的信號時間沿完全一致并符合測試時間要求。[0026]以上對本實用新型的具體實施例進(jìn)行了詳細(xì)描述，但其只作為范例，本實用新型并不限制于以上描述的具體實施例。對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言，任何對該實用進(jìn)行的等同修改和替代也都在本實用新型的范疇之中。因此，在不脫離本實用新型的精神和范圍下所作的均等變換和修改，都應(yīng)涵 蓋在本實用新型的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.ー種測試設(shè)備信號繼電器時間性能的實時檢測電路，其特征在于，包括采樣信號發(fā)生器、計數(shù)器和寄存器，所述采樣信號發(fā)生器與所述計數(shù)器連接，所述計數(shù)器與所述寄存器連接，所述寄存器上設(shè)有信號輸出端。
2.如權(quán)利要求I所述的測試設(shè)備信號繼電器時間性能的實時檢測電路，其特征在干，所述采樣信號發(fā)生器包括第一采樣電路、第二采樣電路和第三采樣電路，所述第一采樣電路、第二采樣電路和第三采樣電路上分別設(shè)有第一測試輸入、第二測試輸入和被測輸入，所述第一采樣電路、第二采樣電路相連并與所述計數(shù)器連接，所述第三采樣電路與所述計數(shù)器通過所述計數(shù)器上的第三輸入連接。
3.如權(quán)利要求2所述的測試設(shè)備信號繼電器時間性能的實時檢測電路，其特征在干，所述第三采樣電路還通過所述計數(shù)器上的第四輸入與所述計數(shù)器通過連接。
4.如權(quán)利要求I所述的測試設(shè)備信號繼電器時間性能的實時檢測電路，其特征在干，還包括系統(tǒng)信號端，所述系統(tǒng)信號端與分別所述寄存器和計數(shù)器連接。
5.如權(quán)利要求I所述的測試設(shè)備信號繼電器時間性能的實時檢測電路，其特征在干，還包括時鐘發(fā)生器，所述時鐘發(fā)生器與所述計數(shù)器連接。
6.如權(quán)利要求I所述的測試設(shè)備信號繼電器時間性能的實時檢測電路，其特征在干，所述采樣信號發(fā)生器的頻率為10M-1G。
7.如權(quán)利要求I所述的測試設(shè)備信號繼電器時間性能的實時檢測電路，其特征在干，所述計數(shù)器采用復(fù)雜可編程邏輯器件。
專利摘要本實用新型的一種測試設(shè)備信號繼電器時間性能的實時檢測電路，包括采樣信號發(fā)生器、計數(shù)器和寄存器，所述采樣信號發(fā)生器與所述計數(shù)器連接，所述計數(shù)器與所述寄存器連接，所述寄存器上設(shè)有信號輸出端。本實用新型使驅(qū)動使能信號作適當(dāng)提前，確保到達(dá)被測器件管腳上的輸入信號同步且符合測試需要的正確時間沿。從而提高測試切換速度和測試穩(wěn)定性能。
文檔編號G01R31/327GK202758047SQ20122031656
公開日2013年2月27日 申請日期2012年7月3日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月3日
發(fā)明者童煒 申請人:上海華力微電子有限公司