專利名稱：一種密封蓋上的孔與o形槽相對深度檢具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及的是一種測量深度的檢具，具體涉及的是一種密封蓋上的孔與O型槽相對深度檢具。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有馬達密封蓋上一般設(shè)置有三個圓柱孔以及安裝O形圈的O形槽，在生產(chǎn)過程中，對于生產(chǎn)出來的非標(biāo)產(chǎn)品即馬達密封蓋，需要通過人工檢測其上孔的深度與O形槽相對深度，其產(chǎn)品要求O型槽的深度和三個孔的相對深度為30mm，公差為O. Olmm,在公差范圍內(nèi)視為合格產(chǎn)品。而現(xiàn)有馬達密封蓋的檢測是人工通過儀器分別測量三個孔的深度以及O型槽的深度，然后計算相對深度差是否再其誤差范圍內(nèi)，其操作復(fù)雜，誤差范圍大，不能大 規(guī)模的檢測，影響產(chǎn)品的生產(chǎn)效率，增加勞動強度和生產(chǎn)成本。

實用新型內(nèi)容針對現(xiàn)有技術(shù)上存在的不足，本實用新型目的是在于提供一種檢測方便、快捷和結(jié)構(gòu)簡單的密封蓋上的孔與O形槽相對深度檢具，其測量精度高，可批量非標(biāo)產(chǎn)品的檢測。為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型是通過如下的技術(shù)方案來實現(xiàn)一種密封蓋上的孔與O形槽相對深度檢具，其包括檢具底座，其特征在于，在所述檢具底座上設(shè)置有復(fù)數(shù)個用于檢測密封蓋上安裝孔深度的檢測圓柱和一個用于檢測檢測密封蓋上O形槽的環(huán)形檢測筒，所述環(huán)形檢測筒的高度小于檢測圓柱的高度。根據(jù)上述的一種密封蓋上的孔與O形槽相對深度檢具，其中，所述檢測圓柱與環(huán)形檢測筒的高度差為30±0. 01mm。根據(jù)上述的一種密封蓋上的孔與O形槽相對深度檢具，其中，所述檢測圓柱設(shè)置有三個，三個所述檢測圓柱高度均相等，其中，兩個所述檢測圓柱設(shè)置在環(huán)形檢測筒的兩側(cè)。本實用新型通過上述檢具，將產(chǎn)品放入工裝后用深度尺測量產(chǎn)品背面四個角點，在誤差允許范圍內(nèi)，產(chǎn)品為合格品；其能夠快速、簡便的檢測出密封蓋上的孔與O形槽相對深度是否在誤差允許范圍內(nèi)，其測量精度高，結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，可批量非標(biāo)產(chǎn)品的檢測。
以下結(jié)合附圖
和具體實施方式
來詳細說明本實用新型；圖I為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本實用新型的一實施例；圖3本實用新型的馬達密封蓋結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
為使本實用新型實現(xiàn)的技術(shù)手段、創(chuàng)作特征、達成目的與功效易于明白了解，下面結(jié)合具體實施方式
，進一步闡述本實用新型。[0015]參見圖I至圖3，本實用新型時提供一種檢測馬達密封蓋上的一種密封蓋上的孔與O形槽相對深度檢具，其包括檢具底座I，在檢具底座I上設(shè)置有三個檢測圓柱2和一個環(huán)形檢測筒3，該個檢測圓柱3與馬達密封蓋4上的三個圓柱孔41相對應(yīng)，兩個檢測圓柱2設(shè)置在環(huán)形檢測筒3的兩側(cè)，該環(huán)形檢測筒3與馬達密封蓋4上的O形槽42相對應(yīng)。本實施例中，環(huán)形檢測筒3的高度小于檢測圓柱2的高度，該檢測圓柱2與環(huán)形檢測筒3的高度差為30±0. 01mm，其中，馬達密封蓋4要求O型槽42的深度和三個圓柱孔41的相對深度為30mm，公差為O. 01mm。本實施例的三個檢測圓柱2研磨等高，檢測筒3高出部分平面到檢測圓柱2的距離公差在O. 001mm。參見圖2，本實用新型在使用時，通過上述檢具，將非標(biāo)產(chǎn)品即馬達密封蓋4放入 檢具底座I后用深度尺測量產(chǎn)品背面四個角點，在誤差允許范圍內(nèi)，產(chǎn)品為合格品；其能夠快速、簡便的檢測出密封蓋上的圓柱孔與O形槽相對深度是否在誤差允許范圍內(nèi)，其測量精度高，結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，可批量非標(biāo)產(chǎn)品的檢測。此孔和O形槽相對深度測量檢測為高精度測量工裝，值得推廣使用。以上顯示和描述了本實用新型的基本原理和主要特征和本實用新型的優(yōu)點。本行業(yè)的技術(shù)人員應(yīng)該了解，本實用新型不受上述實施例的限制，上述實施例和說明書中描述的只是說明本實用新型的原理，在不脫離本實用新型精神和范圍的前提下，本實用新型還會有各種變化和改進，這些變化和改進都落入要求保護的本實用新型范圍內(nèi)。本實用新型要求保護范圍由所附的權(quán)利要求書及其等效物界定。
權(quán)利要求1.一種密封蓋上的孔與O形槽相對深度檢具，其包括檢具底座，其特征在于，在所述檢具底座上設(shè)置有復(fù)數(shù)個用于檢測密封蓋上安裝孔深度的檢測圓柱和一個用于檢測檢測密封蓋上O形槽的環(huán)形檢測筒，所述環(huán)形檢測筒的高度小于檢測圓柱的高度。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種密封蓋上的孔與O形槽相對深度檢具，其特征在于，所述檢測圓柱與環(huán)形檢測筒的高度差為30±0. 01mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的一種密封蓋上的孔與O形槽相對深度檢具，其特征在于，所述檢測圓柱設(shè)置有三個，三個所述檢測圓柱高度均相等，其中，兩個所述檢測圓柱設(shè)置在環(huán)形檢測筒的兩側(cè)。
專利摘要一種密封蓋上的孔與O形槽相對深度檢具，其包括檢具底座，其特征在于，在所述檢具底座上設(shè)置有復(fù)數(shù)個用于檢測密封蓋上安裝孔深度的檢測圓柱和一個用于檢測檢測密封蓋上O形槽的環(huán)形檢測筒，所述環(huán)形檢測筒的高度小于檢測圓柱的高度。能夠快速、簡便的檢測出密封蓋上的孔與O形槽相對深度是否在誤差允許范圍內(nèi)，其測量精度高，結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，可批量非標(biāo)產(chǎn)品的檢測。
文檔編號G01B5/18GK202599306SQ20122021072
公開日2012年12月12日 申請日期2012年5月11日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月11日
發(fā)明者周建榮 申請人:蘇州金牛精密機械有限公司