專利名稱：一種高精密位移測量儀的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種測量儀器，特別是一種高精密位移測量儀。
背景技術：
我國精密測量技術和儀器的現狀仍然遠遠不能滿足國內機械制造業(yè)迅速發(fā)展的需求，尤其是在先進測量技術和儀器的基礎理論研究、共性關鍵技術的開發(fā)方面與國外的差距越來越大。目前，用于測量位移的量儀量具大部分為硬件組成，只能測試實時數據，對測量數據不能進行保存、分析。顯示部分也是通過LED發(fā)光管累加組成，顯示效果比較粗略。功能調試都為外接按鍵選擇，操作復雜，對實際操作者需要進行反復講解后才能使用。
發(fā)明內容本實用新型目的在于針對現有技術的缺陷提供一種高精密位移測量儀。本實用新型為實現上述目的，采用如下技術方案一種高精密位移測量儀，其特征在于其包括高精密位移傳感器101、模擬數據采集模塊102、數據處理模塊103、帶觸摸功能的液晶屏104 ;其中所述高精密位移傳感器101用于對實測部件進行測量；所述模擬數據采集模塊102與高精密位移傳感器101連接，用于將位移量轉換為電壓模擬量；所述數據處理模塊103包括單片機、模擬/數字轉換單元，用于將模擬數據采集模塊102采集的模擬信號轉換成數字信號并儲存，與被測部件的允許公差相比較，將這些信號輸出至帶觸摸功能的液晶屏104顯示；所述帶觸摸功能的液晶屏104用于輸入被測部件的允許公差范圍信息，顯示位移測量數值和走勢圖。本實用新型將測量從“被動”的測量數據處理和單個產品質量評定，發(fā)展為“主動”的生產過程加工質量的監(jiān)控和故障診斷，為實現“零廢品”制造提供了技術支撐。

圖1為本實用新型電路框圖。
具體實施方式
如圖1所示一種高精密位移測量儀，包括高精密位移傳感器101、模擬數據采集模塊102、數據處理模塊103、帶觸摸功能的液晶屏104。通過高精密位移傳感器101對實測部件進行位移測量，位移傳感器101可以安裝于不同形狀、不同大小的被測部件的測量面上，使用范圍比較廣。模擬數據采集模塊102與高精密位移傳感器102連接，負責將位移量轉換為電壓模擬量，通過檔位開關的選擇，可以測量不同精度要求的位移。[0015]數據處理模塊103包括單片機、模擬/數字轉換單元，模擬/數字電壓轉換模塊將模擬電壓數據轉換為數字數據，通過單片機的程序編程對數字數據的處理，對測量數據的保存，對測量數據的分析可以實時掌握被測部件的走勢。將測量數據通過液晶屏104顯示，可以將測量的歷史數據描繪曲線圖，通過曲線圖的走勢判定加工部件的走勢。其功能實現如下1. 測量功能輸入測量范圍將被測部件的允許公差范圍通過顯示屏上的數字鍵盤輸入到單片機中，并顯示于液晶屏上。定標分別將最大公差部件、最小公差部件放置于位移傳感器的測量面上，在顯示屏上確定具體的位移量。
測量將被測部件放置于測量面上，液晶屏上顯示被測件的測量數據，如果被測部件的位移量在允許范圍內，顯示圖像為綠色，顯示笑臉，視為合格。如果超出允許范圍，顯示圖像為紅色，顯示哭臉，視為超差。保存在測量界面下，按下保存鍵，將顯示的數據保存在內存中，供后期數據分析用。2.工號編寫可以輸入8個工號，每個工號都可以測量、保存自己的數據。3.數據分析將保存的數據描繪成曲線圖，可以直觀的看到測量數據的走勢圖，對生產過程加工質量進行監(jiān)控和故障診斷。
權利要求1.一種高精密位移測量儀，其特征在于其包括高精密位移傳感器(101)、模擬數據采集模塊(102)、數據處理模塊(103)、帶觸摸功能的液晶屏(104);其中所述高精密位移傳感器(101)用于對實測部件進行測量；所述模擬數據采集模塊(102)與高精密位移傳感器101連接，用于將位移量轉換為電壓模擬量；所述數據處理模塊(103)包括單片機、模擬/數字轉換單元，用于輸入模擬數據采集模塊(102)采集的模擬信號，輸出帶觸摸功能的液晶屏(104)顯示信號；所述帶觸摸功能的液晶屏(104)用于輸入被測部件的允許公差范圍信息，顯示位移測量數值和走勢圖。
專利摘要本實用新型公布了一種高精密位移測量儀，其特征在于其包括高精密位移傳感器、模擬數據采集模塊、數據處理模塊、帶觸摸功能的液晶屏；所述高精密位移傳感器用于對實測部件進行測量；所述模擬數據采集模塊用于將位移量轉換為電壓模擬量；所述數據處理模塊包括單片機、模擬/數字轉換單元，用于將采集的模擬信號轉換成數字信號并儲存與被測部件的允許公差相比較，將這些信號輸出至液晶屏顯示；所述液晶屏用于輸入被測部件的允許公差范圍信息，顯示位移測量數值和走勢圖。本實用新型將測量從“被動”的測量數據處理和單個產品質量評定，發(fā)展為“主動”的生產過程加工質量的監(jiān)控和故障診斷，為實現“零廢品”制造提供了技術支撐。
文檔編號G01B21/02GK202885795SQ201220204808
公開日2013年4月17日 申請日期2012年5月8日 優(yōu)先權日2012年5月8日
發(fā)明者張敏, 劉燕, 韋良忠 申請人:無錫艾立德智能科技有限公司