專利名稱：一種封閉型長余輝測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種亮度及余輝測試裝置，屬于材料測試及機械加工技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
長余輝發(fā)光材料自從其發(fā)現(xiàn)以來，便由于其白天儲光晚上發(fā)光的特性獲得了快速的發(fā)展，隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的進步，長余輝材料發(fā)光時間可以持續(xù)十幾個小時。它的節(jié)能、經(jīng)濟的特點，使與之相關(guān)產(chǎn)品被廣泛發(fā)展，如發(fā)光涂料、發(fā)光薄膜、發(fā)光油墨、發(fā)光陶瓷、發(fā)光塑料、發(fā)光纖維、發(fā)光紙等，在建筑裝潢、軍事設(shè)施、交通運輸、消防應(yīng)急等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。為了達到一定的使用目的和研究需要，發(fā)光材料的長余輝測試便成為發(fā)光材料發(fā)展中不可缺少的一環(huán)。目前，市場上雖然已經(jīng)發(fā)展了很多亮度計產(chǎn)品和長余輝測試系統(tǒng)。但它們的共有的缺點就是不同的部分之間的孤立，并不成一個有機的整體。因此，在材料的黑暗處理到材料的激發(fā)再到余輝測試的過程中，必然受到外來光源的干擾，從而影響到亮度測量的準確·性。另外的一個缺點就是初始亮度的測量延遲問題，因為從激發(fā)的裝置取出樣品到放入亮度測試裝置中需要一定的時間，這就造成了一定時間延遲，從而造成測量的初始亮度有一定的誤差。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的是提供了一種減少初始亮度誤差及減少外來光源干擾的長余輝測試系統(tǒng)。為了達到上述目的，本實用新型的技術(shù)方案是提供了一種封閉型長余輝測試裝置，包括箱體，其特征在于在箱體內(nèi)設(shè)有可升降的隔離板，隔離板將箱體內(nèi)分為第一腔室及第二腔室，在箱體的底部設(shè)有傳送裝置，在傳送裝置上設(shè)有載物臺，照度測試儀置于載物臺上，在第一腔室內(nèi)設(shè)有支撐桿，標準樣品架設(shè)于支撐桿上，在第二腔室的頂部設(shè)有標準激發(fā)光源及亮度測試儀，在第二腔室的側(cè)壁上設(shè)有溫濕度計。優(yōu)選地，通過程序控制所述亮度測試儀在所述標準激發(fā)光源關(guān)閉的同時開始亮度的測量。本實用新型的第一腔室作為暗室，而第二腔室則作為激發(fā)及余輝測試箱，第一腔室與第二腔室之間由一個不透光的可升降的隔離板分成互不干擾的兩部分，從而使得兩個腔室之間組成一個有機的整體。樣品在暗室中處理完畢后，直接輸送到激發(fā)及余輝測試箱進行激發(fā)和余輝測試，避免了外來光源的干擾，有效減少了長余輝測試的初始亮度誤差。

圖I為本實用新型提供的一種封閉型長余輝測試裝置的示意圖。
具體實施方式
[0009]為使本實用新型更明顯易懂，茲以一優(yōu)選實施例，并配合附圖作詳細說明如下。如圖I所示，本實用新型提供了一種封閉型長余輝測試裝置，包括箱體1，在箱體I內(nèi)設(shè)有可升降的隔離板2，隔離板2將箱體I內(nèi)分為第一腔室3及第二腔室4，在箱體I的底部設(shè)有傳送裝置5，在傳送裝置5上設(shè)有載物臺6，照度測試儀7置于載物臺6上，在第一腔室3內(nèi)設(shè)有支撐桿8，標準樣品架9設(shè)于支撐桿8上，在第二腔室4的頂部設(shè)有標準激發(fā)光源10及亮度測試儀11，在第二腔室4的側(cè)壁上設(shè)有溫濕度計12。測試時，可以將圓片樣品放在載物臺6上，另一個樣品放在標準樣品架9上，在第一腔室3中進行黑暗處理。待材料余輝衰減完畢后，手動將隔離板2升起，通過傳送裝置5，將其中的一個樣品傳送到第二腔室4中，然后將隔離板2關(guān)上。打開標準激發(fā)光源10，根據(jù) 照度的數(shù)值調(diào)節(jié)載物臺6，使其符合需要的照度。激發(fā)一定時間后，關(guān)閉激發(fā)源，同時亮度測試儀11開啟。根據(jù)測試要求,待材料衰減一定時間后,結(jié)束測試。進行下一個測試時，打開支撐桿8，樣品自動落到載物臺6的固定位置上，然后輸送到第二腔室4進行測試。
權(quán)利要求1.一種封閉型長余輝測試裝置，包括箱體(1)，其特征在于在箱體(I)內(nèi)設(shè)有可升降的隔離板(2)，隔離板(2)將箱體(I)內(nèi)分為第一腔室(3)及第二腔室(4)，在箱體(I)的底部設(shè)有傳送裝置(5)，在傳送裝置(5)上設(shè)有載物臺(6)，照度測試儀(7)置于載物臺(6)上，在第一腔室(3)內(nèi)設(shè)有支撐桿(8)，標準樣品架(9)設(shè)于支撐桿(8)上，在第二腔室(4)的頂部設(shè)有標準激發(fā)光源(10)及亮度測試儀(11 )，在第二腔室(4)的側(cè)壁上設(shè)有溫濕度計(12)。
2.如權(quán)利要求I所述的一種封閉型長余輝測試裝置，其特征在于通過程序控制所述亮度測試儀(11)在所述標準激發(fā)光源(10)關(guān)閉的同時開始亮度的測量。
專利摘要本實用新型提供了一種封閉型長余輝測試裝置，包括箱體，其特征在于在箱體內(nèi)設(shè)有可升降的隔離板，隔離板將箱體內(nèi)分為第一腔室及第二腔室，在箱體的底部設(shè)有傳送裝置，在傳送裝置上設(shè)有載物臺，照度測試儀置于載物臺上，在第一腔室內(nèi)設(shè)有支撐桿，標準樣品架設(shè)于支撐桿上，在第二腔室的頂部設(shè)有標準激發(fā)光源及亮度測試儀，在第二腔室的側(cè)壁上設(shè)有溫濕度計。本實用新型的第一腔室作為暗室，而第二腔室則作為激發(fā)及余輝測試箱，第一腔室與第二腔室之間由一個不透光的可升降的隔離板分成互不干擾的兩部分。樣品在暗室中處理完畢后，直接輸送到激發(fā)及余輝測試箱進行激發(fā)和余輝測試，避免了外來光源的干擾。另外，程序控制激發(fā)光源關(guān)閉的同時，開啟亮度測試儀，有效減少了長余輝測試的初始亮度誤差。
文檔編號G01N21/63GK202770770SQ201220172138
公開日2013年3月6日 申請日期2012年4月22日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月22日
發(fā)明者張慧慧, 陳超, 邵慧麗, 楊革生, 胡學(xué)超 申請人:東華大學(xué)