專利名稱：用于測試機臺的微調(diào)機構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本創(chuàng)作為一種用于測試機臺的微調(diào)機構(gòu)，尤指可利用該滑動件的左右移位及斜面部具備高低落差的特性，即可完成探針的對焦及測試動作，因而只需采用氣壓缸作為傳動機構(gòu)，進而可達到降低機臺制作成本及簡化產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的功效。
背景技術(shù)：
一般用于觸控面板(Touch Panel)的測試機臺1，請參閱圖I所示，其機構(gòu)及動作原理為通過操作該測試機臺I將置于測試平臺11上的觸控面板2移至測試治具12下方，再控制該測試機臺I的伺服馬達13帶動該測試治具12下移，其中該測試治具12上設(shè)置有探針機構(gòu)14，該探針機構(gòu)14設(shè)有探針15，當(dāng)該測試治具12下移時，操作者同時可由測試機 臺I的CXD鏡頭16及熒幕17來拍攝并顯示該探針15的影像，再控制該伺服馬達13作動以調(diào)整該測試治具12下移的行程，直到該探針15的針尖影像清晰時，即可完成對焦動作流程，此時，操作者可再由該熒幕17檢查探針15其針尖與觸控面板2其電性接點21兩者的位置是否相對應(yīng)，若有偏移或誤差，即可控制該測試平臺11移動或微調(diào)其位置，直到該觸控面板2其電性接點21與探針15其針尖兩者的位置相對應(yīng)為止，此時，操作者即可再控制該伺服馬達13作動并帶動該測試治具12繼續(xù)下移，而使該探針15的針尖可與該觸控面板2的電性接點21相觸接，可測試該觸控面板2的電性，進而使該測試機臺I可達到測試觸控面板2的目的。該常用的測試機臺1，雖可達到測試觸控面板2的目的，惟其使用伺服馬達13控制該測試治具12下移的行程，以達到使該探針15可完成對焦及與觸控面板2其電性接點21相觸接等兩個階段的測試動作流程，其中除了必須設(shè)有該伺服馬達13，同時也必須設(shè)置相對的控制裝置與相關(guān)線路，操作者方能控制該伺服馬達13的動作，此外，為了使該測試治具12上下移動時可達到并符合微調(diào)的需要，往往必須采用精密度較高的伺服馬達13，如此將提高機臺的制作成本并導(dǎo)致結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜，進而造成該常用的測試機臺I其制造成本的提高與整體結(jié)構(gòu)復(fù)雜，故仍有改進的必要。因此，如何將上述等缺失加以摒除，即為本案創(chuàng)作人所欲解決的技術(shù)困難點的所在。
發(fā)明內(nèi)容有鑒于現(xiàn)有的測試機臺，因其微調(diào)對焦位置及測試動作須使用伺服馬達作為傳動機構(gòu)，進而造成制造成本的提高與整體結(jié)構(gòu)復(fù)雜，因此本創(chuàng)作的目的在于提供一種用于測試機臺的微調(diào)機構(gòu)，由該觸接控制微調(diào)機構(gòu)其滑動件設(shè)有斜面部，而可利用該滑動件的左右移位及斜面部具備高低落差的特性，即可完成探針的對焦及測試動作，因而只需采用氣壓缸作為傳動機構(gòu)，進而可達到降低機臺制作成本及簡化產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的功效。為達成以上的目的，本創(chuàng)作提供一種用于測試機臺的微調(diào)機構(gòu)，其特征在于，包含一機體，該機體內(nèi)設(shè)有控制單兀，該機體尚包含有一輸入裝置與一輸出裝置，該輸入裝置與輸出裝置分別與該控制單元電性連接，又該機體內(nèi)更進一步包含有一攝像裝置，該攝像裝置與該控制單元電性連接；一進出料裝置，該進出料裝置設(shè)于該機體上，該進出料裝置包含有一第一傳動機構(gòu)與一測試平臺，該測試平臺固設(shè)于該第一傳動機構(gòu)上方，該第一傳動機構(gòu)與測試平臺分別與該機體其控制單元電性連接；一測試裝置，該測試裝置設(shè)于該機體上，該測試裝置包含有一第二傳動機構(gòu)、一測試治具與一觸接控制微調(diào)機構(gòu)，其中該測試治具與該第二傳動機構(gòu)相接設(shè)，該測試治具底部設(shè)有至少一個壓抵部，另該觸接控制微調(diào)機構(gòu)位于該測試治具下方，且該觸接控制微調(diào)機構(gòu)的位置與該測試治具的位置相對應(yīng)，又該觸接控制微調(diào)機構(gòu)尚包含有一第三傳動機構(gòu)、一滑動件與兩個限位微調(diào)機構(gòu)，其中該滑動件與該第三傳動機構(gòu)相接設(shè)，又該滑動件設(shè)有至少一個斜面部，且該斜面部的位置與該測試治具其壓抵部的位置相對應(yīng)，另該兩個限位微調(diào)機構(gòu)分別位于該滑動件左右兩側(cè)。該壓抵部為滾輪或為凸塊?！ぴ搲旱植颗c斜面部的數(shù)量均為兩個。該第二傳動機構(gòu)為氣壓缸。該第三傳動機構(gòu)為氣壓缸。該限位微調(diào)機構(gòu)尚進一步包含有一限位塊與一調(diào)整件，該調(diào)整件與該限位塊相穿設(shè)。該調(diào)整件為止付螺絲。由該觸接控制微調(diào)機構(gòu)其滑動件設(shè)有斜面部，而可利用該滑動件的左右移位及斜面部具備高低落差的特性，即可完成探針的對焦及測試動作，因而只需采用氣壓缸作為傳動機構(gòu)，進而可達到降低機臺制作成本及簡化產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的功效。

圖I為常用的組合示意圖。圖2為本創(chuàng)作的組合示意圖。圖2A為本創(chuàng)作的部分組合示意圖。圖3為本創(chuàng)作與探針機構(gòu)及觸控面板組合的示意圖。圖4為本創(chuàng)作的動作前示意圖。圖5為本創(chuàng)作微調(diào)探針的對焦高度位置的動作示意圖。圖6為本創(chuàng)作的動作后示意圖。圖7為本創(chuàng)作動作后的組合示意圖。附圖標(biāo)記說明I-測試機臺；11_測試平臺；12_測試治具；13-伺服馬達；14-探針機構(gòu)；15-探針；16-CCD鏡頭；17_熒幕；2_觸控面板；21_電性接點；3-機體；31_控制單元；32_輸入裝置；33_輸出裝置；34_攝像裝置；4_進出料裝置；41_第一傳動機構(gòu)；42_測試平臺；421_面板安裝座；422_透孔；5_測試裝置；51_第二傳動機構(gòu)；52_測試治具；521_壓抵部；522_探針安裝座；6_觸接控制微調(diào)機構(gòu)；61_第三傳動機構(gòu)；62_滑動件；621_斜面部；63_限位微調(diào)機構(gòu)631-限位塊；632_調(diào)整件；7_觸控面板；71_電性接點；8_探針機構(gòu)；81_探針。
具體實施方式
為使審查員方便簡捷了解本創(chuàng)作的其他特征內(nèi)容與優(yōu)點及其所達成的功效能夠更為顯現(xiàn)，茲將本創(chuàng)作配合附圖，詳細說明如下請參閱圖2所示，本創(chuàng)作提供一種用于測試機臺的微調(diào)機構(gòu)，其包含一機體3，該機體3內(nèi)設(shè)有控制單元31，該控制單元31可為電腦主機或為微控制器，在本實施例中，該機體3尚包含有一輸入裝置32與一輸出裝置33,該輸入裝置32與輸出裝置33分別與該控制單元31電性連接，其中該輸入裝置32可為按鈕或為鍵盤，該輸出裝置33可為熒幕，在其他可行的實施例中，該輸入裝置32與輸出裝置33也可整合為單 一的輸出入裝置如觸控式熒幕，又該機體3內(nèi)更可進一步包含有一攝像裝置34，該攝像裝置34與該控制單元31電性連接,該攝像裝置34可為CO) (Charge Coupled Device,電荷f禹合 兀件)鏡頭；一進出料裝置4，該進出料裝置4設(shè)于該機體3上，該進出料裝置4包含有一第一傳動機構(gòu)41與一測試平臺42，該測試平臺42固設(shè)于該第一傳動機構(gòu)41上方，該第一傳動機構(gòu)41與測試平臺42分別與該機體3其控制單元31電性連接，其中該第一傳動機構(gòu)41可由馬達、滑軌、螺桿、時規(guī)皮帶或鏈條等結(jié)構(gòu)所組成，使該第一傳動機構(gòu)41可帶動該測試平臺42水平位移或進行Θ角度調(diào)整，又該第一傳動機構(gòu)41其細部構(gòu)造與動作原理屬先前技術(shù)且非本案技術(shù)特征，故在此不予詳述，該測試平臺42設(shè)有面板安裝座421，該面板安裝座421設(shè)有透孔422，請配合參閱圖3所示，由此，而使該測試平臺42可供待測的觸控面板7置放，其中該觸控面板7上設(shè)有數(shù)個電性接點71 ；一測試裝置5，該測試裝置5設(shè)于該機體3上，該測試裝置5包含有一第二傳動機構(gòu)51、一測試治具52與一觸接控制微調(diào)機構(gòu)6,其中該第二傳動機構(gòu)51可為氣壓缸,該測試治具52與該第二傳動機構(gòu)51相接設(shè)，由此，而使該第二傳動機構(gòu)51可帶動該測試治具52垂直上下移動，又該測試治具52設(shè)有探針安裝座522，請再配合參閱圖3所示，由此，而使該測試治具52可供外部的探針機構(gòu)8安裝設(shè)置，其中該探針機構(gòu)8通常設(shè)有數(shù)個探針81，請再配合參閱圖2所示，另該測試治具52底部可設(shè)有至少一個壓抵部521，該壓抵部521可為滾輪或為凸塊，在本實施例中，該壓抵部521的數(shù)量為兩個，另該觸接控制微調(diào)機構(gòu)6位于該測試治具52下方，且該觸接控制微調(diào)機構(gòu)6的位置與該測試治具52的位置相對應(yīng)，請再配合參閱圖2A所示,該觸接控制微調(diào)機構(gòu)6尚包含有一第三傳動機構(gòu)61、一滑動件62與兩個限位微調(diào)機構(gòu)63，其中該第三傳動機構(gòu)61可為氣壓缸，該滑動件62與該第三傳動機構(gòu)61相接設(shè)，由此，而使該第三傳動機構(gòu)61可帶動該滑動件62水平左右移動，請再配合參閱圖4所示，又該滑動件62設(shè)有至少一個斜面部621，且該斜面部621的位置與該測試治具52其壓抵部521的位置相對應(yīng)，在本實施例中，該斜面部621的數(shù)量為兩個，由本創(chuàng)作其測試治具52設(shè)有兩個壓抵部521，且該滑動件62設(shè)有兩個斜面部621，當(dāng)該測試治具52向下移位而使其壓抵部521抵頂該滑動件62的斜面部621時，可達到較佳的平衡效果；請再參閱圖2A所示，另該兩個限位微調(diào)機構(gòu)63分別位于該滑動件62左右兩側(cè)，由此，不論該第三傳動機構(gòu)61的氣壓缸其工作氣體的作動方向或該氣壓缸其推桿的移動方向為何，該第三傳動機構(gòu)61所帶動的滑動件62皆會與其中一個限位微調(diào)機構(gòu)63相抵止，而使該限位微調(diào)機構(gòu)63可對該滑動件62達到限位效果，此外，該限位微調(diào)機構(gòu)63尚可進一步包含有一限位塊631與一調(diào)整件632，該調(diào)整件632與該限位塊631相穿設(shè)，又該調(diào)整件632可為止付螺絲；請參閱圖2、圖3所示，當(dāng)操作者安裝好該探針機構(gòu)8并將待測的觸控面板7置設(shè)于本創(chuàng)作的測試平臺42后，該操作者即可通過該輸入裝置32輸入啟動命令，該控制單元31即可令該進出料裝置4其第一傳動機構(gòu)41帶動該測試平臺42水平位移至該測試裝置5其測試治具52下方，請再配合參閱圖4所示，此時操作者可再通過該輸入裝置32輸入相關(guān)的控制命令，而使該控制單元31可令該測試裝置5其第二傳動機構(gòu)51帶動該測試治具52垂直向下位移，由該測試治具52其壓抵部521的位置與該限位微調(diào)機構(gòu)63其滑動件62的斜面部621的位置相對應(yīng)，而使該壓抵部521可與該斜面部621相抵頂觸接，使該測試治具52可停留在一高度位置而不再往下位移，此時，該探針機構(gòu)8的探針81仍位于該待測的觸控面板7及其電性接點71上方，而如圖4所示，請再配合參閱圖2所示，此時操作者可通過該攝像裝置34與輸出裝置33來拍攝并顯示該觸控面板7其電性接點71與探針81其針尖的影像，請再配合參閱圖5所示，同時操作者可再由旋轉(zhuǎn)與該滑動件62相抵止的限位微調(diào)機構(gòu)63的調(diào)整件632，而使該調(diào)整件632可帶動該滑動件62及其斜面部621微幅左右位移，使該斜面部621可帶動該測試治具52及其壓抵部521微幅上下位移，而可微調(diào)該探針81 其針尖的高度位置并使其可被該攝像裝置34清楚對焦，使該探針81其針尖的影像可清晰地顯示于該輸出裝置33中，至此即完成第一階段的對焦動作流程，此時操作者即可檢查確認(rèn)該探針81其針尖的位置是否準(zhǔn)確與該觸控面板7其電性接點71的位置相對應(yīng)，而如圖4所示，若有偏移或誤差，操作者即可控制該測試平臺42移動或微調(diào)其位置，直到該觸控面板7其電性接點71與探針81其針尖兩者的位置相對應(yīng)為止，請再配合參閱圖6所示，此時，操作者可再通過該輸入裝置32輸入相關(guān)的控制命令，而使該控制單元31可令該第三傳動機構(gòu)61作動，而使該第三傳動機構(gòu)61可帶動該滑動件62及其斜面部621朝靠近另一個限位微調(diào)機構(gòu)63的方向移位并使該滑動件62抵頂該限位微調(diào)機構(gòu)63，使該滑動件62其斜面部621可帶動該測試治具52及其壓抵部521繼續(xù)向下位移，請再配合參閱圖6、圖7所示，也即可使該探針81其針尖繼續(xù)向下位移，而使該探針81其針尖可準(zhǔn)確與該待測的觸控面板7其電性接點71相觸接導(dǎo)通，而可完成第二階段的觸接測試動作流程，而使本創(chuàng)作可測試該觸控面板7的電性，進而可使本創(chuàng)作可達到測試觸控面板7的目的。請再參閱圖2、圖2A所示，由該觸接控制微調(diào)機構(gòu)6其滑動件62設(shè)有斜面部621，而使本創(chuàng)作只需利用該滑動件62的左右移位及斜面部621具備高低落差的特性，即可完成微調(diào)探針81的對焦高度位置及控制探針81與觸控面板7相觸接等兩個階段的測試動作流程，而使本創(chuàng)作其各個傳動機構(gòu)只需采用結(jié)構(gòu)較簡單且成本較低的氣壓缸，而不需使用較精密復(fù)雜且昂貴的伺服馬達13及相關(guān)的控制裝置或線路，進而可使本創(chuàng)作可達到降低機臺制作成本及簡化產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的功效；此外，又由該觸接控制微調(diào)機構(gòu)6設(shè)有兩個限位微調(diào)機構(gòu)63，而使本創(chuàng)作除了可利用其中一個限位微調(diào)機構(gòu)63來微調(diào)探針81的對焦高度位置(即第一階段的對焦動作流程)，更可進一步利用另外一個限位微調(diào)機構(gòu)63來微調(diào)探針81下壓觸接該觸控面板7時的高度位置(即第二階段的觸接測試動作流程)，使本創(chuàng)作可適用于不同厚度的觸控面板7，進而可使本創(chuàng)作可兼具提升產(chǎn)品適用性的功效。為使本創(chuàng)作更加顯現(xiàn)出其進步性與實用性，茲與常用作一比較分析如下常用技術(shù)I、須使用伺服馬達來控制機構(gòu)動作，產(chǎn)品制作成本較高。[0035]2、結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜。本創(chuàng)作優(yōu)點I、僅需使用氣壓缸即可控制機構(gòu)動作，產(chǎn)品制作成本較低。2、結(jié)構(gòu)可簡化。以上對本實用新型的描述是說明性的，而非限制性的，本專業(yè)技術(shù)人員理解，在權(quán)利要求限定的精神與范圍內(nèi)可對其進行許多修改、變化或等效，但是它們都將落入本實用新型的保護范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種用于測試機臺的微調(diào)機構(gòu)，其特征在于，包含 一機體，該機體內(nèi)設(shè)有控制單兀，該機體尚包含有一輸入裝置與一輸出裝置，該輸入裝置與輸出裝置分別與該控制單元電性連接，又該機體內(nèi)更進一步包含有一攝像裝置，該攝像裝置與該控制 單元電性連接； 一進出料裝置，該進出料裝置設(shè)于該機體上，該進出料裝置包含有一第一傳動機構(gòu)與一測試平臺，該測試平臺固設(shè)于該第一傳動機構(gòu)上方，該第一傳動機構(gòu)與測試平臺分別與該機體其控制單元電性連接； 一測試裝置，該測試裝置設(shè)于該機體上，該測試裝置包含有一第二傳動機構(gòu)、一測試治具與一觸接控制微調(diào)機構(gòu)，其中該測試治具與該第二傳動機構(gòu)相接設(shè)，該測試治具底部設(shè)有至少一個壓抵部，另該觸接控制微調(diào)機構(gòu)位于該測試治具下方，且該觸接控制微調(diào)機構(gòu)的位置與該測試治具的位置相對應(yīng)，又該觸接控制微調(diào)機構(gòu)尚包含有一第三傳動機構(gòu)、一滑動件與兩個限位微調(diào)機構(gòu)，其中該滑動件與該第三傳動機構(gòu)相接設(shè)，又該滑動件設(shè)有至少一個斜面部，且該斜面部的位置與該測試治具其壓抵部的位置相對應(yīng)，另該兩個限位微調(diào)機構(gòu)分別位于該滑動件左右兩側(cè)。
2.如權(quán)利要求I所述的用于測試機臺的微調(diào)機構(gòu)，其特征在于，該壓抵部為滾輪或為凸塊。
3.如權(quán)利要求I所述的用于測試機臺的微調(diào)機構(gòu)，其特征在于，該壓抵部與斜面部的數(shù)量均為兩個。
4.如權(quán)利要求I所述的用于測試機臺的微調(diào)機構(gòu)，其特征在于，該第二傳動機構(gòu)為氣壓缸。
5.如權(quán)利要求I所述的用于測試機臺的微調(diào)機構(gòu)，其特征在于，該第三傳動機構(gòu)為氣壓缸。
6.如權(quán)利要求I所述的用于測試機臺的微調(diào)機構(gòu)，其特征在于，該攝像裝置為CCD鏡頭。
7.如權(quán)利要求I至6中任一項所述的用于測試機臺的微調(diào)機構(gòu)，其特征在于，該限位微調(diào)機構(gòu)尚進一步包含有一限位塊與一調(diào)整件，該調(diào)整件與該限位塊相穿設(shè)。
8.如權(quán)利要求7所述的用于測試機臺的微調(diào)機構(gòu)，其特征在于，該調(diào)整件為止付螺絲。
專利摘要本創(chuàng)作包含一機體；一進出料裝置，該進出料裝置設(shè)于該機體上；一測試裝置，該測試裝置設(shè)于該機體上，該測試裝置包含有一第二傳動機構(gòu)、一測試治具與一觸接控制微調(diào)機構(gòu)，其中該測試治具底部設(shè)有至少一個壓抵部，又該觸接控制微調(diào)機構(gòu)尚包含有一第三傳動機構(gòu)、一滑動件與兩個限位微調(diào)機構(gòu)，其中該滑動件設(shè)有至少一個斜面部，且該斜面部的位置與該測試治具其壓抵部的位置相對應(yīng)。本創(chuàng)作可完成微調(diào)探針的對焦高度位置及控制探針與觸控面板相觸接等測試動作流程，而使本創(chuàng)作只需采用氣壓缸作為傳動機構(gòu)，而不需使用較精密復(fù)雜且昂貴的伺服馬達及相關(guān)的控制裝置或線路，進而可使本創(chuàng)作可達到降低機臺制作成本及簡化產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的功效。
文檔編號G01R1/02GK202693616SQ20122013051
公開日2013年1月23日 申請日期2012年3月30日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月30日
發(fā)明者林源記, 溫進光 申請人:亞克先進科技股份有限公司