專利名稱：藍(lán)牙芯片快速檢測(cè)裝置防干擾模塊的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種藍(lán)牙芯片快速檢測(cè)裝置防干擾模塊。
背景技術(shù)：
在生產(chǎn)具有藍(lán)牙功能的設(shè)備的過(guò)程中，需要用到用于接收或發(fā)送藍(lán)牙信號(hào)的藍(lán)牙芯片，我們無(wú)法保證一個(gè)剛購(gòu)買回來(lái)的藍(lán)牙芯片是否合格，性能是否達(dá)標(biāo)，因此，在使用一個(gè)藍(lán)牙芯片前，我們需要檢測(cè)其是否合格，這里就需要用到藍(lán)牙芯片的檢測(cè)裝置。然而，在批量檢測(cè)藍(lán)牙芯片的過(guò)程中，多個(gè)藍(lán)牙芯片同時(shí)通電開(kāi)啟，則多個(gè)藍(lán)牙芯片都會(huì)發(fā)送藍(lán)牙信號(hào)，對(duì)檢測(cè)裝置造成干擾，影響檢測(cè)結(jié)果的可靠性
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于解決現(xiàn)有藍(lán)牙芯片檢測(cè)裝置的不足，提供一種新型的藍(lán)牙芯片快速檢測(cè)裝置防干擾模塊，克服傳統(tǒng)檢測(cè)裝置在批量檢測(cè)藍(lán)牙芯片的過(guò)程中，多個(gè)藍(lán)牙芯片同時(shí)通電開(kāi)啟并發(fā)送藍(lán)牙信號(hào)，對(duì)檢測(cè)裝置造成干擾，影響檢測(cè)結(jié)果的可靠性等缺點(diǎn)。本實(shí)用新型的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn)的藍(lán)牙芯片快速檢測(cè)裝置防干擾模塊，它包括模擬電子開(kāi)關(guān)和至少一個(gè)CMOS管，模擬電子開(kāi)關(guān)的控制輸入端與外界控制信號(hào)的輸出連接，各CMOS管的柵極分別與模擬電子開(kāi)關(guān)的輸出端連接,各CMOS管柵極與模擬電子開(kāi)關(guān)輸出端的支路上并接一個(gè)電源電壓VCC，各CMOS管的源極相互并聯(lián)后與電源電壓VCC連接，各CMOS管的漏極分別與各待測(cè)藍(lán)牙芯片連接。本實(shí)用新型的有益效果是根據(jù)輸入的控制信號(hào)選擇性導(dǎo)通0UT0 0UI7中的任意一個(gè)管腳，從而使對(duì)應(yīng)的CMOS管導(dǎo)通，相應(yīng)的藍(lán)牙模塊上電開(kāi)啟，其余未被檢測(cè)的芯片則處于斷電狀態(tài)，避免了多個(gè)待測(cè)芯片同時(shí)開(kāi)啟而造成的干擾，提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確度。

圖I為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖進(jìn)一步詳細(xì)描述本實(shí)用新型的技術(shù)方案如圖I所示，藍(lán)牙芯片快速檢測(cè)裝置防干擾模塊，它包括一個(gè)單8通道數(shù)字控制模擬電子開(kāi)關(guān)和八個(gè)CMOS管，模擬電子開(kāi)關(guān)的三個(gè)二進(jìn)制控制輸入端A、B、C分別與外界控制信號(hào)的輸出連接，各CMOS管的柵極分別與模擬電子開(kāi)關(guān)的輸出端0UT0 0UI7連接，A、B、C按照真值表控制3腳與0UT0 0UI7相應(yīng)的管腳導(dǎo)通。當(dāng)禁止端INH=O時(shí)，三位二進(jìn)制信號(hào)選通8通道中的一個(gè)通道，各CMOS管柵極與模擬電子開(kāi)關(guān)輸出端的支路上并接一個(gè)電源電壓VCC，各CMOS管的源極相互并聯(lián)后與電源電壓VCC連接，各CMOS管的漏極分別與各待測(cè)藍(lán)牙芯片連接。
權(quán)利要求1.藍(lán)牙芯片快速檢測(cè)裝置防干擾模塊，其特征在于它包括模擬電子開(kāi)關(guān)和至少ー個(gè)CMOS管，模擬電子開(kāi)關(guān)的控制輸入端與外界控制信號(hào)的輸出連接，各CMOS管的柵極分別與模擬電子開(kāi)關(guān)的輸出端連接，各CMOS管柵極與模擬電子開(kāi)關(guān)輸出端的支路上并接ー個(gè)電源電壓VCC，各CMOS管的源極相互并聯(lián)后與電源電壓VCC連接，各CMOS管的漏極分別與各待測(cè)藍(lán)牙芯片連接。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種藍(lán)牙芯片快速檢測(cè)裝置防干擾模塊，它包括模擬電子開(kāi)關(guān)和至少一個(gè)CMOS管，模擬電子開(kāi)關(guān)的控制輸入端與外界控制信號(hào)的輸出連接，各CMOS管的柵極分別與模擬電子開(kāi)關(guān)的輸出端連接，各CMOS管柵極與模擬電子開(kāi)關(guān)輸出端的支路上并接一個(gè)電源電壓VCC，各CMOS管的源極相互并聯(lián)后與電源電壓VCC連接，各CMOS管的漏極分別與各待測(cè)藍(lán)牙芯片連接。本實(shí)用新型根據(jù)輸入的控制信號(hào)選擇性導(dǎo)通OUT0～OUT7中的任意一個(gè)管腳，從而使對(duì)應(yīng)的CMOS管導(dǎo)通，相應(yīng)的藍(lán)牙模塊上電開(kāi)啟，其余未被檢測(cè)的芯片則處于斷電狀態(tài)，避免了多個(gè)待測(cè)芯片同時(shí)開(kāi)啟而造成的干擾，提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確度。
文檔編號(hào)G01R31/28GK202533554SQ20122012895
公開(kāi)日2012年11月14日 申請(qǐng)日期2012年3月31日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月31日
發(fā)明者盧海, 唐探宇, 張明磊, 戴舫, 景壽, 李彬, 李正, 李自敏, 楊華, 柳方, 汪國(guó)海, 王玉凡, 瞿成剛, 葛力, 賴孝建, 陳紀(jì)良, 黎元 申請(qǐng)人:成都因納偉盛科技股份有限公司