專利名稱：稀土濃度分析儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及測量領(lǐng)域，具體為ー種稀土濃度分析儀。
背景技術(shù)：
我國有大中型稀土分離廠幾十家，都依靠實驗室大型儀器分析和中間控制分析指導生產(chǎn)。由于分析結(jié)果之后，不能及時掌握槽體情況來調(diào)整エ藝，使得產(chǎn)品質(zhì)量和產(chǎn)量得不到保證，因而急需能在線分析和自動控制的分析儀來穩(wěn)定エ藝流程。

實用新型內(nèi)容本實用新型所解決的技術(shù)問題在于提供ー種稀土濃度分析儀，以解決上述背景技 術(shù)中的缺點。本實用新型所解決的技術(shù)問題采用以下技術(shù)方案來實現(xiàn)稀土濃度分析儀，包含Ba-133放射源、鉛皮、半導體探測器和エ控機，所述Ba-133放射源置于所述鉛皮中，并與所述半導體探測器一起置于稀土萃取槽的同側(cè)，所述鉛皮上留有放射孔并正對稀土萃取槽，所述半導體探測器通過電纜與所述エ控機連接。本實用新型中，所述Ba-133放射源與所述半導體探測器軸線夾角調(diào)整范圍是0° 90°，所述Ba-133放射源和所述半導體探測器距稀土萃取槽的距離調(diào)整范圍均為30 300_。所述エ控機采用能譜分析法對所述半導體探測器的信號進行分析處理。有益效果本實用新型采用在線分析，給エ藝人員提供了及時的槽體信息，減小了槽體的波動幅度，在穩(wěn)定的槽體下生產(chǎn)，可以加大進料流量和出口流量，充分發(fā)揮萃取槽對稀土分離能力，提高產(chǎn)品產(chǎn)量和合格率。

圖I為稀土濃度分析儀的原理框圖。
具體實施方式
為了使本實用新型實現(xiàn)的技術(shù)手段、創(chuàng)作特征、達成目的與功效易于明白了解，下面結(jié)合具體圖示，進ー步闡述本實用新型。參加圖1，稀土濃度分析儀的原理框圖，稀土濃度分析儀，包含Ba-133放射源6、鉛皮5、半導體探測器2和エ控機4，所述Ba-133放射源6置于所述鉛皮5中，并與所述半導體探測器2 —起置于稀土萃取槽I的同側(cè)，所述鉛皮5上留有放射孔并正對稀土萃取槽1，所述半導體探測器2通過電纜3與所述エ控機連4接。所述Ba-133放射源6與所述半導體探測器2軸線夾角調(diào)整范圍是0° 90°，所述Ba-133放射源6和所述半導體探測器2距稀土萃取槽I的距離調(diào)整范圍均為30 300_。所述エ控機4采用能譜分析法對所述半導體探測器2的信號進行分析處理。[0013] 以上顯示和描述了本實用新型的基本原理和主要特征及本實用新型的優(yōu)點，本行業(yè)的技術(shù)人員應(yīng)該了解，本實用新型不受上述實施例的限制，上述實施例和說明書中描述的只是說明本實用新型的原理，在不脫離本實用新型精神和范圍的前提下，本實用新型還 會有各種變化和改進，這些變化和改進都落入要求保護的本實用新型范圍內(nèi)，本實用新型要求保護范圍由所附的權(quán)利要求書及其等效物界定。
權(quán)利要求1.稀土濃度分析儀，包含Ba-133放射源、鉛皮、半導體探測器和エ控機，其特征在干，所述Ba-133放射源置于所述鉛皮中，并與所述半導體探測器一起置于稀土萃取槽的同側(cè)，所述鉛皮上留有放射孔并正對稀土萃取槽，所述半導體探測器通過電纜與所述エ控機連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的稀土濃度分析儀，其特征在于，所述Ba-133放射源與所述半導體探測器軸線夾角調(diào)整范圍是0° 90°，所述Ba-133放射源和所述半導體探測器距所述稀土萃取槽的距離調(diào)整范圍均為30 300mm。
專利摘要稀土濃度分析儀，包含Ba-133放射源、鉛皮、半導體探測器和工控機，所述Ba-133放射源置于所述鉛皮中，并與所述半導體探測器一起置于稀土萃取槽的同側(cè)，所述鉛皮上留有放射孔并正對稀土萃取槽，所述半導體探測器通過電纜與所述工控機連接。本實用新型采用在線分析，給工藝人員提供了及時的槽體信息，充分發(fā)揮萃取槽對稀土分離能力，提高產(chǎn)品產(chǎn)量和合格率。
文檔編號G01N23/06GK202599872SQ20122009117
公開日2012年12月12日 申請日期2012年3月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月13日
發(fā)明者張忠, 林斌, 郭愛成 申請人:全南包鋼晶環(huán)稀土有限公司