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一種探針測試裝置的制作方法

文檔序號:5969396閱讀:169來源:國知局
專利名稱:一種探針測試裝置的制作方法
技術領域
本實用新型涉及ー種測試裝置,特別涉及一種電子產(chǎn)品通電測試用的探針測試裝置。
背景技術
隨著電子產(chǎn)品微型化程度不斷提高,電子產(chǎn)品的結構尺寸越來越小,且表面形狀不規(guī)則,給生產(chǎn),組裝,測試帶來極大的困難和不便?,F(xiàn)有ー電子產(chǎn)品,要求在短時間內對該電子產(chǎn)品的16個點位進行通電測試,電子產(chǎn)品測試點位不碰面,其中14個點位處于垂直面上,2個點位處于斜面上,測試采用測試 探針插接測試點位的方式來實現(xiàn)電子產(chǎn)品測試點位與控制器之間的連接,由于電子產(chǎn)品本身體積小,測試點位多且不平面、不共面,測試點位周圍其他電子元器件密集,為防止測試探針與其他電子元器件發(fā)生干渉,測試探針需垂直插接于測試點位中,同時,需確保短時間內,每個測試點位均有電流通過,在沒有輔助設備的情況下很難完成此項測試作業(yè),因此,現(xiàn)有技術中廣泛使用探針測試裝置來連接產(chǎn)品測試點位以實現(xiàn)快速測試,然而現(xiàn)有技術中的探針測試裝置只能實現(xiàn)單方向面上的測試點位的快速插接,對于與該方向面相鄰的且成一定夾角的斜面上的2個測試點位無法完成插接,測試操作時,垂直面上的14個測試點位可由探針測試裝置來進行插接,斜面上的2個測試點位需由操作人員手動插接,再連通電源來完成測試,由此,不可避免地造成產(chǎn)品測試速度慢、效率低,最終導致產(chǎn)能低下。

實用新型內容為解決上述技術問題,本實用新型提供了ー種探針測試裝置,以達到加快測試速度,提聞測試效率,從而提聞廣能的目的。為達到上述目的,本實用新型的技術方案如下ー種探針測試裝置,包括基座、固設于所述基座一端的產(chǎn)品載具,及固設于所述基座另一端的水平氣缸,所述水平氣缸的缸體上連接有第一探針組,所述第一探針組通過ー傾斜墊塊連接有ー傾斜氣缸,所述傾斜氣缸的缸體上連接有第二探針組,所述第一探針組包括水平探針,所述第二探針組包括傾斜探針。優(yōu)選的,所述傾斜墊塊包括互成夾角的平面和斜面,所述平面與第一探針組相連接,所述斜面與所述傾斜氣缸相連接。優(yōu)選的,所述第一探針組設置有第一基板和第一支撐板,所述第一支撐板設于所述第一基板上方且與所述第一基板垂直連接,所述水平探針貫穿于所述第一支撐板預設的探針孔中;所述第一基板的下表面與所述水平氣缸的缸體相連接。優(yōu)選的,所述第二探針組設置有第二基板和第二支撐板,所述第二支撐板設于所述第二基板上方且與所述第二基板垂直連接,所述傾斜探針貫穿于所述第二支撐板預設的探針孔中;所述第二基板的下表面與所述傾斜氣缸的缸體相連接。優(yōu)選的,所述第一支撐板和所述第二支撐板的數(shù)量均為2個。[0011]通過上述技術方案,本實用新型提供的ー種探針測試裝置通過水平氣缸和傾斜氣缸來分步實現(xiàn)水平探針和傾斜探針對產(chǎn)品的通電測試,從而有效避免了產(chǎn)品上其他電子元件的干渉,確保了每個測試點位都準確測試,具有測試速度快,效率高,提高產(chǎn)能的優(yōu)點。
為了更清楚地說明本實用新型實施例的技術方案,下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹。圖I為本實用新型實施例所公開的ー種探針測試裝置示意圖。
具體實施方式
下面將結合本實用新型實施例中的附圖,對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述。本實用新型提供了ー種探針測試裝置,如圖I所示,所述探針測試裝置包括基座I,產(chǎn)品載具2,水平氣缸3,第一基板41,第一支撐板42,水平探針43,傾斜墊塊5,傾斜氣缸6,第二基板71,第二支撐板72,傾斜探針73。所述產(chǎn)品載具2固設于所述基座I的一端,所述水平氣缸3固設于所述基座I的另一端,所述水平氣缸3的缸體上連接有第一探針組,所述第一探針組上端通過ー傾斜墊塊5連接有ー傾斜氣缸6,所述傾斜氣缸6的缸體上連接有第二探針組,所述第一探針組包括水平探針43,所述第二探針組包括傾斜探針73。于本實施例中,所述第一探針組設置有第一基板41和第一支撐板42,所述第一支撐板42平行設置有2個,且均設于所述第一基板41上方與所述第一基板41垂直連接,所述水平探針43貫穿于所述第一支撐板42預設的探針孔中;所述第一基板41的下表面與所述水平氣缸3的缸體相連接。于本實施例中,所述第二探針組設置有第二基板71和第二支撐板72,述第二支撐板72平行設置有2個,且均設于所述第二基板71上方與所述第二基板71垂直連接,所述傾斜探針73貫穿于所述第二支撐板72預設的探針孔中;所述第二基板71的下表面與所述傾斜氣缸6的缸體相連接。于本實施例中,所述傾斜墊塊5包括互成夾角的下平面和上斜面,所述下平面與第一探針組的第一支撐板42的上端面相連接,所述上斜面與所述傾斜氣缸6的柱塞桿固定連接。綜上所述,將水平探針43、傾斜探針73、水平氣缸3及傾斜氣缸6均與控制器相連接后,當電子產(chǎn)品定位于產(chǎn)品載具2上后,由控制器控制,水平氣缸3驅動第一探針組的水平探針43插接到電子產(chǎn)品垂直面上的測試點位中,接著,傾斜氣缸6驅動第二探針組的傾斜探針73插接到電子產(chǎn)品斜面上的測試點位中,由控制器中的測試程序對該電子產(chǎn)品進行測試分析,測試好后,水平氣缸3,傾斜氣缸6依次返回,以此完成一次測試操作,因此,本實用新型通過先以水平氣缸3驅動水平探針43完成對產(chǎn)品垂直面上測試點位的插接,再以傾斜氣缸6驅動傾斜探針73完成對產(chǎn)品斜面上測試點位的插接,以此分步動作的方式來進行測試作業(yè),有效地避免了產(chǎn)品上其他電子元件對測試探針的干渉,確保了每個測試點位測試的正確性,加快了測試速度,提高了測試效率,從而提高了產(chǎn)能。對所公開的實施例的上述說明,使本領域專業(yè)技術人員能夠實現(xiàn)或使用本實用新型。對這些實施例的多種修改對本領域的專業(yè)技術人員來說將是顯而易見的,本文中所定義的一般原理可以在不脫離本實用新型的精神或范圍的情況下,在其它實施例中實現(xiàn)。因 此,本實用新型將不會被限制于本文所示的這些實施例,而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點相一致的最寬的范圍。
權利要求1.ー種探針測試裝置,其特征在干,包括基座、固設于所述基座一端的產(chǎn)品載具,及固設于所述基座另一端的水平氣缸,所述水平氣缸的缸體上連接有第一探針組,所述第一探針組通過ー傾斜墊塊連接有ー傾斜氣缸,所述傾斜氣缸的缸體上連接有第二探針組,所述第一探針組包括水平探針,所述第二探針組包括傾斜探針。
2 根據(jù)權利要求I所述的ー種探針測試裝置,其特征在于,所述傾斜墊塊包括互成夾角的平面和斜面,所述平面與第一探針組相連接,所述斜面與所述傾斜氣缸相連接。
3.根據(jù)權利要求I所述的ー種探針測試裝置,其特征在于,所述第一探針組設置有第一基板和第一支撐板,所述第一支撐板設于所述第一基板上方且與所述第一基板垂直連接,所述水平探針貫穿于所述第一支撐板預設的探針孔中;所述第一基板的下表面與所述水平氣缸的缸體相連接。
4.根據(jù)權利要求I所述的ー種探針測試裝置,其特征在于,所述第二探針組設置有第ニ基板和第二支撐板,所述第二支撐板設于所述第二基板上方且與所述第二基板垂直連·接,所述傾斜探針貫穿于所述第二支撐板預設的探針孔中;所述第二基板的下表面與所述傾斜氣缸的缸體相連接。
5.根據(jù)權利要求3或4所述的ー種探針測試裝置,其特征在于,所述第一支撐板和所述第二支撐板的數(shù)量均為2個。
專利摘要本實用新型公開了一種探針測試裝置,包括基座、固設于所述基座一端的產(chǎn)品載具,及固設于所述基座另一端的水平氣缸,所述水平氣缸的缸體上連接有第一探針組,所述第一探針組通過一傾斜墊塊連接有一傾斜氣缸,所述傾斜氣缸的缸體上連接有第二探針組,所述第一探針組包括水平探針,所述第二探針組包括傾斜探針。本實用新型通過以水平氣缸驅動水平探針,以傾斜氣缸驅動傾斜探針來分步實現(xiàn)產(chǎn)品垂直面和斜面上測試點位的通電測試,具有測試速度快,效率高,從而提高產(chǎn)能的優(yōu)點。
文檔編號G01R1/067GK202631587SQ201220021880
公開日2012年12月26日 申請日期2012年1月18日 優(yōu)先權日2012年1月18日
發(fā)明者孫豐 申請人:蘇州賽騰精密電子有限公司
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