Pcb板測試用無間隙兩段式結(jié)構(gòu)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種PCB板測試用無間隙兩段式結(jié)構(gòu)，包括豎向由上而下順序設(shè)置的上針板、上載板、下載板和下針板，上載板和上針板之間以及下載板和下針板之間具有供真空吸合的空間，上載板和下載板之間設(shè)置待測PCB板，真空吸合時，長探針和短探針能夠穿過探針通孔同時觸及待測試針點(diǎn)，另設(shè)有掛鉤機(jī)構(gòu)，掛鉤機(jī)構(gòu)能夠在真空放開時僅使長探針穿過探針通孔觸及待測試針點(diǎn)，本發(fā)明具有結(jié)構(gòu)簡單，便于操作實(shí)施的優(yōu)點(diǎn)，能夠確保在一次測試之后，按照測量要求很方便的將會干擾或不需測試的探針脫離，方便二次測試的進(jìn)行，確保二次測試的結(jié)果，本發(fā)明只需一次吸真空過程即可完成PCB板兩段式測試，能夠提高了測試效率，進(jìn)而節(jié)省測試成本。
【專利說明】PCB板測試用無間隙兩段式結(jié)構(gòu)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種PCB板測試裝置，具體是涉及一種PCB板測試用無間隙兩段式結(jié)構(gòu)。
【背景技術(shù)】
[0002]PCB板在生產(chǎn)過程中需要經(jīng)歷很多環(huán)節(jié)，其中每個環(huán)節(jié)都需要進(jìn)行相應(yīng)的測試來檢測產(chǎn)品的好壞，PCB板測試治具為PCB板的測試提供一個良好的平臺，基本工作原理是利用將PCB板上的待測點(diǎn)與測試機(jī)中的對應(yīng)點(diǎn)相連接，通過相應(yīng)的程序來實(shí)現(xiàn)最終的測試。
[0003]真空治具是PCB板測試常用的治具，主要包括上、下模和底框三部分，上、下模主要包括上、下針板、上、下載板、探針組件及密封組件，底框內(nèi)含界面版，上、下載板用于保護(hù)待測PCB板和導(dǎo)正測試針點(diǎn)，上、下針板用于固定加長探針和普通探針等探針組件，密封組件用于上下模結(jié)合時確保治具內(nèi)部處于密封狀態(tài)，上、下模的測試針點(diǎn)與界面板上的針點(diǎn)用導(dǎo)線連接，界面板上的針點(diǎn)再與測試機(jī)上的針點(diǎn)一一對應(yīng)，但是，隨著PCB板功能越來越強(qiáng)，線路結(jié)構(gòu)也越復(fù)雜，需要測試的點(diǎn)也越來越多，而相應(yīng)的真空治具的測試探針也越來越多，因此，經(jīng)常會遇到一些測試過程中存在一些會干擾和不需測試的探針接觸PCB板的情況，進(jìn)而影響其他探針的測試結(jié)果，現(xiàn)有技術(shù)解決上述問題的方法是使用人工一一拔除這些干擾和不需測試的探針，再進(jìn)行測試，需要時再重新插回去，這種方式會造成對產(chǎn)品測試的測試零件的含蓋率不足，且在插拔探針過程中，容易使針套偏移，造成探針無法準(zhǔn)備接觸測試點(diǎn)，影響測試結(jié)果。也有采用兩段式的測試治具，設(shè)置固定針板和活動針板，多次測試時始終接觸到測試針點(diǎn)的探針設(shè)為固定探針，固定在固定針板上，在一些測試過程中會干擾的或不需測試探針設(shè)為活動探針，固定在活動針板上，通過調(diào)整活動針板相對測試點(diǎn)的距離來調(diào)整探針是否與測試點(diǎn)接觸，從而一定程度上解決了測試過程中所有探針同時接觸PCB板影響測試結(jié)果的問題，但是這種方式需要設(shè)置固定針板和活動針板，活動針板通過一定的驅(qū)動機(jī)構(gòu)帶動，這種結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜，實(shí)施起來帶來很多不便。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提出一種PCB板測試用無間隙兩段式結(jié)構(gòu)，具有結(jié)構(gòu)簡單，便于操作實(shí)施的優(yōu)點(diǎn)，且通過設(shè)置長、短探針結(jié)合掛鉤機(jī)構(gòu)的精確定位作用，可以精確控制真空放開時針板和載板間距離，從而能夠確保在一次測試之后，按照測量要求很方便的將會干擾或不需測試的探針脫離，方便二次測試的進(jìn)行，確保二次測試的結(jié)果，本發(fā)明只需一次吸真空過程即可完成PCB板兩段式測試，因此，能夠提高了測試效率，進(jìn)而節(jié)省測試成本。
[0005]本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的:
[0006]一種PCB板測試用無間隙兩段式結(jié)構(gòu)，以使用方向?yàn)榛鶞?zhǔn)，包括豎向由上而下順序設(shè)置的上針板、上載板、下載板和下針板，所述上載板和所述上針板之間以及所述下載板和所述下針板之間具有供真空吸合的空間，所述上載板和所述下載板之間設(shè)置待測PCB板，對應(yīng)待測PCB板上多次測試時始終需要探針接觸的待測試針點(diǎn)，所述上針板上和所述下針板上分別豎向穿設(shè)有長探針，對應(yīng)待測PCB板上多次測試時不需要探針始終接觸的待測試針點(diǎn)，所述上針板上和所述下針板上分別豎向穿設(shè)有短探針，對應(yīng)每一個探針，所述上載板和所述下載板上設(shè)有導(dǎo)正所述探針的探針通孔，真空吸合時，所述長探針和所述短探針能夠穿過所述探針通孔同時觸及所述待測試針點(diǎn)，另設(shè)有掛鉤機(jī)構(gòu)，所述掛鉤機(jī)構(gòu)能夠在真空放開時僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)。
[0007]作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述掛鉤機(jī)構(gòu)能夠在真空放開時僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)的結(jié)構(gòu)是:所述掛鉤機(jī)構(gòu)包括上掛鉤組件、下掛鉤和驅(qū)動機(jī)構(gòu)，所述上掛鉤組件包括上掛鉤和與所述上掛鉤聯(lián)動設(shè)置的上載板掛鉤，所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)固設(shè)在所述上針板上，所述上針板上固設(shè)有固定塊，所述上掛鉤組件中部與所述固定塊鉸連接，所述下掛鉤與所述下針板固定連接，所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)能夠驅(qū)動所述上掛鉤組件使所述上掛鉤的鉤部朝向和脫離所述下掛鉤的鉤部，使所述上載板掛鉤的鉤部朝向和脫離所述上載板。
[0008]作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)為氣缸。
[0009]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明提出一種PCB板測試用無間隙兩段式結(jié)構(gòu)，以使用方向?yàn)榛鶞?zhǔn)，包括豎向由上而下順序設(shè)置的上針板、上載板、下載板和下針板，所述上載板和所述上針板之間以及所述下載板和所述下針板之間具有供真空吸合的空間，所述上載板和所述下載板之間設(shè)置待測PCB板，對應(yīng)待測PCB板上多次測試時始終需要探針接觸的待測試針點(diǎn)，所述上針板上和所述下針板上分別豎向穿設(shè)有長探針，對應(yīng)待測PCB板上多次測試時不需要探針始終接觸的待測試針點(diǎn)，所述上針板上和所述下針板上分別豎向穿設(shè)有短探針，對應(yīng)每一個探針，所述上載板和所述下載板上設(shè)有導(dǎo)正所述探針的探針通孔，真空吸合時，所述長探針和所述短探針能夠穿過所述探針通孔同時觸及所述待測試針點(diǎn)，另設(shè)有掛鉤機(jī)構(gòu)，所述掛鉤 機(jī)構(gòu)能夠在真空放開時僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)，這樣，在PCB板真空治具測試過程中，通過長探針和短探針的設(shè)置結(jié)合掛鉤機(jī)構(gòu)的控制定位作用，可以將多次測試時始終需要接觸的待測試針點(diǎn)與多次測試時不需要始終接觸的待測試針點(diǎn)分為兩段進(jìn)行測試，從而能夠確保在一次測試之后，按照測量要求很方便的將會干擾或不需測試的探針脫離，方便二次測試的進(jìn)行，確保二次測試的結(jié)果，由于該結(jié)構(gòu)只需一次吸真空過程即可完成PCB板兩段式測試，因此，能夠提高測試效率，節(jié)省測試成本，且本發(fā)明具有結(jié)構(gòu)簡單，便于操作實(shí)施的優(yōu)點(diǎn)。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]圖1為本發(fā)明第一次測試時的結(jié)構(gòu)示意圖(真空吸合后，長探針和短探針同時觸及待測PCB板的待測試針點(diǎn))；
[0011]圖2為本發(fā)明第二次測試時的結(jié)構(gòu)示意圖(真空放開后，僅長探針觸及待測PCB板的待測試針點(diǎn))。
[0012]結(jié)合附圖，作以下說明:
[0013]1-上針板2-上載板
[0014]3-下載板4-下針板
[0015]5——空間6——待測PCB板[0016]7——長探針8——短探針
[0017]9——掛鉤機(jī)構(gòu)91——下掛鉤
[0018]92——驅(qū)動機(jī)構(gòu)93——上掛鉤
[0019]94——上載板掛鉤
【具體實(shí)施方式】
[0020]如圖1和圖2所示，一種PCB板測試用無間隙兩段式結(jié)構(gòu)，以使用方向?yàn)榛鶞?zhǔn)，包括豎向由上而下順序設(shè)置的上針板1、上載板2、下載板3和下針板4，所述上載板和所述上針板之間以及所述下載板和所述下針板之間具有供真空吸合的空間5，所述上載板和所述下載板之間設(shè)置待測PCB板6，對應(yīng)待測PCB板上多次測試時始終需要探針接觸的待測試針點(diǎn)，所述上針板上和所述下針板上分別豎向穿設(shè)有長探針7，對應(yīng)待測PCB板上多次測試時不需要探針始終接觸的待測試針點(diǎn)，所述上針板上和所述下針板上分別豎向穿設(shè)有短探針8，對應(yīng)每一個探針，所述上載板和所述下載板上設(shè)有導(dǎo)正所述探針的探針通孔，真空吸合時，所述長探針和所述短探針能夠穿過所述探針通孔同時觸及所述待測試針點(diǎn)，另設(shè)有掛鉤機(jī)構(gòu)9,所述掛鉤機(jī)構(gòu)能夠在真空放開時僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)，這樣，在PCB板真空治具測試過程中，通過長探針和短探針的設(shè)置結(jié)合掛鉤機(jī)構(gòu)的控制定位作用，可以將多次測試時始終需要接觸的待測試針點(diǎn)與多次測試時不需要始終接觸的待測試針點(diǎn)分為兩段進(jìn)行測試，從而能夠確保在一次測試之后，按照測量要求很方便的將會干擾或不需測試的探針脫離，方便二次測試的進(jìn)行，確保二次測試的結(jié)果，由于該結(jié)構(gòu)只需一次吸真空過程即可完成PCB板兩段式測試，因此，能夠提高測試效率，節(jié)省測試成本。
[0021]優(yōu)選的，所述掛鉤機(jī)構(gòu)能夠在真空放開時僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)的結(jié)構(gòu)是:所述掛鉤機(jī)構(gòu)包括上掛鉤組件、下掛鉤91和驅(qū)動機(jī)構(gòu)92,所述上掛鉤組件包括上掛鉤93和與所述上掛鉤聯(lián)動設(shè)置的上載板掛鉤94，所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)固設(shè)在所述上針板上，所述上針板上固設(shè)有固定塊，所述上掛鉤組件中部與所述固定塊鉸連接，所述下掛鉤與所述下針板固定連接，所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)能夠驅(qū)動所述上掛鉤組件使所述上掛鉤的鉤部朝向和脫離所述下掛鉤的鉤部，使所述上載板掛鉤的鉤部朝向和脫離所述上載板。
[0022]優(yōu)選的，所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)為氣缸。
[0023]本發(fā)明PCB板測試用無間隙兩段式結(jié)構(gòu)適用于PCB板真空治具，具體工作原理如下:
[0024]PCB板測試前，上針板、上載板、下載板和下針板順序設(shè)置，將PCB板置于上載板和下載板之間，此時，上載板與上針板之間以及下載板和下針板之間具有供真空吸合的空間，長探針和短探針均未觸及待測PCB的待測點(diǎn)，驅(qū)動機(jī)構(gòu)氣缸與上掛鉤組件連接，掛鉤機(jī)構(gòu)不作動；第一次測試時，掛鉤機(jī)構(gòu)不作動，進(jìn)行真空吸合，在真空吸合的作用下，上載板和上針板間的空間及下載板和下針板間的空間收縮，使長探針和短探針同時穿過探針通孔觸及待測PCB板的待測試針點(diǎn)，完成長、短探針接觸測試后；需要進(jìn)行第二次測試時，掛鉤機(jī)構(gòu)作動，驅(qū)動機(jī)構(gòu)驅(qū)動上掛鉤組件旋轉(zhuǎn)，使上掛鉤組件的上掛鉤的鉤部朝向下掛鉤的鉤部，上掛鉤組件的上載板掛鉤的鉤部朝向上載板，之后開始進(jìn)行泄真空，此時，上載板和下載板相向運(yùn)動，上針板背向上載板運(yùn)動，下針板背向下載板運(yùn)動，使上載板和上針板之間的空間以及下針板和下載板之間的空間開始拉大，同時，上針板的運(yùn)動帶動與其鉸連接的上掛鉤組件背向上載板運(yùn)動，下針板的運(yùn)動帶動與其固連的下掛鉤背向下載板運(yùn)動，即上掛鉤組件的上掛鉤的鉤部朝向下掛鉤的鉤部運(yùn)動，上掛鉤組件的上載板掛鉤的鉤部朝向上載板運(yùn)動，因此，可以通過預(yù)先設(shè)定好上掛鉤和上載板掛鉤的運(yùn)動距離以及長探針和短探針的落差距離，實(shí)現(xiàn)在真空放開時僅使所述長探針穿過探針通孔觸及待測試針點(diǎn)，而短探針不觸及待測試針點(diǎn)，進(jìn)行第二次測試，第二次測試完成后，驅(qū)動機(jī)構(gòu)反向作動，反向驅(qū)動上掛鉤組件旋轉(zhuǎn)，使上掛鉤組件的上掛鉤的鉤部自動脫離下掛鉤的鉤部，上掛鉤組件的上載板掛鉤的鉤部自動脫離上載板。
[0025]以上實(shí)施例是參照附圖，對本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的技術(shù)人員通過對上述實(shí)施例進(jìn)行各種形式上的修改或變更，但不背離本發(fā)明的實(shí)質(zhì)的情況下，都落在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種PCB板測試用無間隙兩段式結(jié)構(gòu)，其特征在于:以使用方向?yàn)榛鶞?zhǔn)，包括豎向由上而下順序設(shè)置的上針板(I)、上載板(2)、下載板(3)和下針板(4)，所述上載板和所述上針板之間以及所述下載板和所述下針板之間具有供真空吸合的空間(5)，所述上載板和所述下載板之間設(shè)置待測PCB板(6)，對應(yīng)待測PCB板上多次測試時始終需要探針接觸的待測試針點(diǎn)，所述上針板上和所述下針板上分別豎向穿設(shè)有長探針(7)，對應(yīng)待測PCB板上多次測試時不需要探針始終接觸的待測試針點(diǎn)，所述上針板上和所述下針板上分別豎向穿設(shè)有短探針(8)，對應(yīng)每一個探針，所述上載板和所述下載板上設(shè)有導(dǎo)正所述探針的探針通孔，真空吸合時，所述長探針和所述短探針能夠穿過所述探針通孔同時觸及所述待測試針點(diǎn)，另設(shè)有掛鉤機(jī)構(gòu)(9)，所述掛鉤機(jī)構(gòu)能夠在真空放開時僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCB板測試用無間隙兩段式結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述掛鉤機(jī)構(gòu)能夠在真空放開時僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)的結(jié)構(gòu)是:所述掛鉤機(jī)構(gòu)包括上掛鉤組件、下掛鉤(91)和驅(qū)動機(jī)構(gòu)(92),所述上掛鉤組件包括上掛鉤(93)和與所述上掛鉤聯(lián)動設(shè)置的上載板掛鉤(94)，所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)固設(shè)在所述上針板上，所述上針板上固設(shè)有固定塊，所述上掛鉤組件中部與所述固定塊鉸連接，所述下掛鉤與所述下針板固定連接，所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)能夠驅(qū)動所述上掛鉤組件使所述上掛鉤的鉤部朝向和脫離所述下掛鉤的鉤部，使所述上載板掛鉤的鉤部朝向和脫離所述上載板。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCB板測試用無間隙兩段式結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述驅(qū)動機(jī)構(gòu)為氣缸。
【文檔編號】G01R31/28GK103837818SQ201210488552
【公開日】2014年6月4日 申請日期:2012年11月26日 優(yōu)先權(quán)日:2012年11月26日
【發(fā)明者】肖秋生, 鄭建生 申請人:昆山威典電子有限公司