專利名稱：一種弱地震反射特征的碳酸鹽巖勘探方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及勘探領(lǐng)域，特別涉及一種弱地震反射特征的碳酸鹽巖勘探方法及裝置。
背景技術(shù)：
在碳酸鹽巖對(duì)一定規(guī)模的孔洞密集發(fā)育帶、洞穴及 裂縫密集發(fā)育帶等有利儲(chǔ)層預(yù)測(cè)中(以方面描述，下文將孔洞密集發(fā)育帶、洞穴及裂縫密集發(fā)育帶等三種儲(chǔ)層類型統(tǒng)稱為有利儲(chǔ)層)，往往只重視“串珠”狀(強(qiáng)振幅)地震反射特征，認(rèn)為是有利儲(chǔ)層的地震響應(yīng)特征。近年勘探成果表明，中國(guó)西部盆地奧陶系碳酸鹽巖地層鉆探“串珠狀”地震反射成功率很高，探井的儲(chǔ)層鉆遇率可達(dá)90%以上。在現(xiàn)有技術(shù)中，碳酸鹽巖儲(chǔ)層識(shí)別主要采用均方根振幅屬性、振幅變化率屬性及分頻振幅屬性，儲(chǔ)層識(shí)別率高，效果好。但類似“串珠”強(qiáng)地震反射的勘探目標(biāo)是有限的，研究表明，“串珠”目標(biāo)平面展布面積僅為總有利勘探面積的8%，因此尋找串珠外的弱地震反射目標(biāo)具有現(xiàn)實(shí)的勘探意義。但在實(shí)際鉆井過程中發(fā)現(xiàn)，弱振幅反射特征地震剖面上沒有明顯的響應(yīng)，無法直接對(duì)其進(jìn)行識(shí)別。定井位沒有“目標(biāo)”，制約了油田的勘探與生產(chǎn)。小級(jí)別儲(chǔ)層地震響應(yīng)弱有一個(gè)重要的因素是疊加CRP (Common Reflection Point，共反射點(diǎn)道集)中的噪音對(duì)疊加效果產(chǎn)生負(fù)面影響。另外，在現(xiàn)有技術(shù)當(dāng)中，疊加CRP道集主要是分角度或者分偏移距疊力口，疊加的用途是為了獲得彈性波阻抗做疊前反演。因此，目前急需解決如何尋找串珠外的弱地震反射目標(biāo)的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是針對(duì)上述問題，提出一種弱地震反射特征的碳酸鹽巖勘探方法及裝置，該技術(shù)方案區(qū)別于其它弱串珠識(shí)別方法的本質(zhì)在于提高了目的層的地震波信噪比來強(qiáng)化弱振幅儲(chǔ)層的地震反射特征。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種弱地震反射特征的碳酸鹽巖勘探方法，包括獲取至少兩個(gè)井的碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目的層地震反射波的反子波；根據(jù)已知井標(biāo)定的風(fēng)化殼地震反射特征獲取該井碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼頂部的反射系數(shù)r(0)；將碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目標(biāo)層地震解釋層位加載到共反射點(diǎn)道集上來獲取地震采樣點(diǎn)，并根據(jù)所述反子波和所述地震采樣點(diǎn)獲取目標(biāo)層層位反射系數(shù)；比較所述碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼頂部的反射系數(shù)與目標(biāo)層層位反射系數(shù)來判斷目標(biāo)層層位是否為優(yōu)勢(shì)道；若判斷碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼頂部的反射系數(shù)Ho)與目標(biāo)層層位反射系數(shù)極性一致，則所述目標(biāo)層層位為優(yōu)勢(shì)道；將所述優(yōu)勢(shì)道疊加來獲取地震數(shù)據(jù)體，根據(jù)獲取的地震數(shù)據(jù)體對(duì)具有弱地震反射特征的碳酸鹽巖進(jìn)行勘探?？蛇x的，在本發(fā)明一實(shí)施例中，所述獲取至少兩個(gè)井的碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目的層地震反射波的反子波包括統(tǒng)計(jì)至少兩口井的碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目的層地震子波；根據(jù)碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目的層地震子波求取平均子波；將獲取的平均子波求逆獲取反子波?？蛇x的，在本發(fā)明一實(shí)施例中，所述平均子波WAVK(t)為
權(quán)利要求
1.一種弱地震反射特征的碳酸鹽巖勘探方法，其特征在于，包括 獲取至少兩口井的碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目的層地震反射波的反子波； 根據(jù)已知井標(biāo)定的風(fēng)化殼地震反射特征獲取該井碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼頂部的反射系數(shù) r(0)； 將碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目標(biāo)層地震解釋層位加載到共反射點(diǎn)道集上來獲取地震采樣點(diǎn)，并根據(jù)所述反子波和所述地震采樣點(diǎn)獲取目標(biāo)層層位反射系數(shù)； 比較所述碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼頂部的反射系數(shù)與目標(biāo)層層位反射系數(shù)來判斷目標(biāo)層層位是否為優(yōu)勢(shì)道；若判斷碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼頂部的反射系數(shù)HO)與目標(biāo)層層位反射系數(shù)極性一致，則所述目標(biāo)層層位為優(yōu)勢(shì)道； 將所述優(yōu)勢(shì)道疊加來獲取地震數(shù)據(jù)體，根據(jù)獲取的地震數(shù)據(jù)體對(duì)具有弱地震反射特征的碳酸鹽巖進(jìn)行勘探。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，所述獲取至少兩個(gè)井的碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目的層地震反射波的反子波包括 統(tǒng)計(jì)至少兩口井的碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目的層地震子波； 根據(jù)碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目的層地震子波求取平均子波； 將獲取的平均子波求逆獲取反子波。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述平均子波WAVK(t)為
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述反子波f(t)為
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，所述將碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目標(biāo)層層位加載到共反射點(diǎn)道集上來獲取地震采樣點(diǎn)，并根據(jù)所述反子波和所述地震采樣點(diǎn)獲取目標(biāo)層層位反射系數(shù)包括 將碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目標(biāo)層層位加載到共反射點(diǎn)道集上獲取地震采樣點(diǎn)； 將反子波與地震采樣點(diǎn)做褶積運(yùn)算獲取目標(biāo)層層位反射系數(shù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述目標(biāo)層層位反射系數(shù)為 e (t) = f (t) *x (t) 其中，e(t)為反射系數(shù)；x(t)為地震采樣點(diǎn)，f(t)為反子波。
7.根據(jù)專利要求I所述方法，其特征在于，所述碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼頂部的反射系數(shù)HO)與目標(biāo)層層位反射系數(shù)e(t)滿足
8.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，所述地震數(shù)據(jù)體的表達(dá)式為 其中，Sik表示疊加后的地震數(shù)據(jù)體；fijk表示第k個(gè)共反射點(diǎn)道集中第j道的第i個(gè)采樣點(diǎn)，W#疊加權(quán)系數(shù)，Nik非零道的采樣點(diǎn)數(shù)，i表示時(shí)間采樣點(diǎn)數(shù)，j表示偏移距數(shù)，k表示共反射點(diǎn)道集的道集數(shù)。
9.一種弱地震反射特征的碳酸鹽巖勘探裝置，其特征在于，該裝置包括 反子波單元，用于獲取至少兩口井的碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目的層地震反射波的反子波； 第一反射系數(shù)單元，用于根據(jù)已知井標(biāo)定的風(fēng)化殼地震反射特征獲取該井碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼頂部的反射系數(shù)Ho)； 第二反射系數(shù)單元，用于將碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目標(biāo)層地震解釋層位加載到共反射點(diǎn)道集上來獲取地震采樣點(diǎn)，并根據(jù)所述反子波和所述地震采樣點(diǎn)獲取目標(biāo)層層位反射系數(shù)； 優(yōu)勢(shì)道判斷單元，用于比較所述碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼頂部的反射系數(shù)與目標(biāo)層層位反射系數(shù)來判斷目標(biāo)層層位是否為優(yōu)勢(shì)道；若判斷碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼頂部的反射系數(shù)r(0)與目標(biāo)層層位反射系數(shù)極性一致，則所述目標(biāo)層層位為優(yōu)勢(shì)道； 勘探單元，用于將所述優(yōu)勢(shì)道疊加來獲取地震數(shù)據(jù)體，根據(jù)獲取的地震數(shù)據(jù)體對(duì)具有弱地震反射特征的碳酸鹽巖進(jìn)行勘探。
10.根據(jù)權(quán)利要求I所述的裝置，其特征在于，所述反子波單元包括 統(tǒng)計(jì)模塊，用于統(tǒng)計(jì)至少兩口井的碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目的層地震子波； 平均子波模塊，用于根據(jù)碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目的層地震子波求取平均子波； 求逆模塊，用于將獲取的平均子波求逆獲取反子波。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，其特征在于，所述平均子波模塊獲取的平均子波Wavk⑴為 其中，Wavk(O)表示平均子波WAVK(t)的頻域式，O)表示子波振幅譜， Φ￥(ω)表示相位譜，m表示子波個(gè)數(shù)，ω表示頻率域。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，其特征在于，所述求逆模塊獲取的反子波f(t)為其中，反子波f(t)的振幅與平均子波Wavk(t)的振幅譜互為倒數(shù)，反子波f(t)的相位譜與平均子波Wavk (t)的相位譜互為相反數(shù)。
13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述第二反射系數(shù)單元包括加載模塊，將碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目標(biāo)層層位加載到共反射點(diǎn)道集上獲取地震采樣占. 褶積模塊，用于將反子波與地震采樣點(diǎn)做褶積運(yùn)算獲取目標(biāo)層層位反射系數(shù)。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述褶積模塊獲取的目標(biāo)層層位反射系數(shù)為 e (t) = f (t) *x (t) 其中，e(t)為反射系數(shù)；x(t)為地震采樣點(diǎn)，f(t)為反子波。
15.根據(jù)專利要求9所述裝置，其特征在于，所述優(yōu)勢(shì)道判斷單元中碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼頂部的反射系數(shù)HO)與目標(biāo)層層位反射系數(shù)e(t)滿足
16.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述加載模塊獲取地震數(shù)據(jù)體的表達(dá)式為
全文摘要
本發(fā)明涉及一種弱地震反射特征的碳酸鹽巖勘探方法及裝置，獲取至少兩口井的碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目的層地震反射波的反子波；根據(jù)已知井標(biāo)定的風(fēng)化殼地震反射特征獲取該井碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼頂部的反射系數(shù)；將碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼目標(biāo)層地震解釋層位加載到共反射點(diǎn)道集上來獲取地震采樣點(diǎn)，并根據(jù)所述反子波和所述地震采樣點(diǎn)獲取目標(biāo)層層位反射系數(shù)；比較所述碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼頂部的反射系數(shù)與目標(biāo)層層位反射系數(shù)來判斷目標(biāo)層層位是否為優(yōu)勢(shì)道；若判斷碳酸鹽巖內(nèi)幕風(fēng)化殼頂部的反射系數(shù)與目標(biāo)層層位反射系數(shù)極性一致，則所述目標(biāo)層層位為優(yōu)勢(shì)道；將所述優(yōu)勢(shì)道疊加來獲取地震數(shù)據(jù)體，根據(jù)獲取的地震數(shù)據(jù)體對(duì)具有弱地震反射特征的碳酸鹽巖進(jìn)行勘探。
文檔編號(hào)G01V1/40GK102928879SQ201210429650
公開日2013年2月13日 申請(qǐng)日期2012年10月31日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月31日
發(fā)明者李闖, 高妍芳, 王宏斌 申請(qǐng)人:中國(guó)石油天然氣股份有限公司