專利名稱：Gis母線接頭的接觸電阻檢測(cè)方法和系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電力設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)方法和系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
GIS (Gas-Insulated Switchgear)是氣體絕緣封閉開(kāi)關(guān)設(shè)備的英文簡(jiǎn)稱，相對(duì)傳統(tǒng)敞開(kāi)式變電站而言，其具有占地少、可靠性高、無(wú)污染、維護(hù)方便、使用周期長(zhǎng)等優(yōu)勢(shì)，因而成為國(guó)內(nèi)外輸配電行業(yè)開(kāi)關(guān)設(shè)備中最尖端和最有競(jìng)爭(zhēng)力的設(shè)備。但GIS設(shè)備屬于封閉式，所有的斷路器、隔離開(kāi)關(guān)、母線均封閉在充滿絕緣氣體的殼體內(nèi)，其潛在的故障隱患特別是電力連接處的接觸隱患不容易被發(fā)現(xiàn)，加上設(shè)備制造、現(xiàn)場(chǎng)安裝、驗(yàn)收等各個(gè)環(huán)節(jié)質(zhì)量控制不嚴(yán)，致使GIS設(shè)備運(yùn)行過(guò)程中存在安全隱患，極大影響了電網(wǎng)供電可靠性和穩(wěn)定性。GIS母線接頭過(guò)熱是典型的GIS設(shè)備故障。由于在施工過(guò)程中存在諸如母線導(dǎo)體與梅花接頭不同軸對(duì)接、螺栓預(yù)緊力不足、插入深度不足等隱患。在設(shè)備運(yùn)行過(guò)程中導(dǎo)致梅花GIS母線接頭梅花觸指與母線插頭的接觸不良、母線接頭接觸電阻增大。進(jìn)而接觸區(qū)域的過(guò)熱引發(fā)接頭金屬物熔焊遷移，最終造成GIS導(dǎo)體對(duì)外殼電弧短路。因此，做好GIS設(shè)備母線接頭的觸點(diǎn)接觸電阻檢測(cè)，及早發(fā)現(xiàn)隱患，可確保電力系統(tǒng)的安全運(yùn)行，減少經(jīng)濟(jì)損失。目前，常見(jiàn)的GIS設(shè)備接觸電阻檢測(cè)方法的基本原理都是利用恒流源對(duì)待測(cè)量接頭施加恒定電流，然后通過(guò)測(cè)量回路電壓降得方法獲得回路電阻。回路電阻的測(cè)量方法主要用于高壓開(kāi)關(guān)設(shè)備的回路電阻檢測(cè)，用于GIS母線接觸電阻的測(cè)量則存在以下不足①回路電阻的檢測(cè)結(jié)果只是近似為整個(gè)導(dǎo)電回路所有接頭接觸電阻的總和，無(wú)法測(cè)量單個(gè)母線接頭的接觸電阻，導(dǎo)致無(wú)法判斷接觸電阻的異常部位由于所施加的恒流源是直流，無(wú)法準(zhǔn)確模擬GIS母線的實(shí)際負(fù)荷情況；③由于GIS設(shè)備處于復(fù)雜的高壓電磁環(huán)境下，測(cè)量結(jié)果易受干擾。

發(fā)明內(nèi)容
基于此，有必要針對(duì)GIS傳統(tǒng)設(shè)備傳統(tǒng)回路電阻檢測(cè)方法無(wú)法測(cè)量單個(gè)母線接頭接觸電阻、易受電磁干擾、測(cè)量精度低的問(wèn)題，提供一種GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)方法，能夠準(zhǔn)確計(jì)算單個(gè)GIS母線接頭的接觸電阻。本發(fā)明的目的通過(guò)如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)一種GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)方法，包括如下步驟根據(jù)GIS母線接頭及其抱緊彈簧的材料參數(shù)確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力；根據(jù)所述接觸壓力確定GIS母線接頭的接觸電阻。在其中一個(gè)實(shí)施例中，上述根據(jù)GIS母線接頭及其抱緊彈簧的材料參數(shù)確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力包括步驟通過(guò)f = K (D-L) /N確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，其中，f為GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，D為母線接頭直徑，L為彈簧自由長(zhǎng)度，K為彈簧等效剛度，π為圓周率，N為GIS母線接頭梅花觸指?jìng)€(gè)數(shù)。在其中一個(gè)實(shí)施例中，上述根據(jù)GIS母線接頭及其抱緊彈簧的材料參數(shù)確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力包括步驟通過(guò)fi = Bi (G)+K (JI D-L)/N確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，其中，A為第i個(gè)GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，Bi(G)為GIS母線接頭和母線導(dǎo)體的重力G在第i個(gè)梅花接頭上的徑向分量，D為母線接頭直徑，L為彈簧自由長(zhǎng)度，K為彈簧等效剛度，π為圓周率，i = 1.2. 3. ..N，N為GIS母線接頭梅花觸指?jìng)€(gè)數(shù)。在其中一個(gè)實(shí)施例中，上述根據(jù)所述接觸壓力確定GIS母線接頭的接觸電阻包括步驟通過(guò)Rs= p/2n(f)a(f)確定收縮電阻Rs，其中，P為電阻率，n (f)為在接觸面內(nèi) 產(chǎn)生的微觀導(dǎo)電斑點(diǎn)的數(shù)量，a(f)為導(dǎo)電斑點(diǎn)的平均半徑；通過(guò)i =C1/^確定膜電阻Rm，其中，Cl、C2為膜電阻與接觸壓力的非線性擬合系數(shù)；通過(guò)R = Rs(f)+Rm(f)確定GIS母線接頭的接觸電阻R。一種GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)系統(tǒng)，包括接觸壓力確定模塊，用于根據(jù)GIS母線接頭及其抱緊彈簧的材料參數(shù)確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，并將得到的接觸壓力發(fā)送給接觸壓力確定模塊；所述接觸電阻確定模塊用于在接收到所述接觸壓力后，根據(jù)所述接觸壓力確定GIS母線接頭的接觸電阻。在其中一個(gè)實(shí)施例中，上述接觸壓力確定模塊通過(guò)f = K (JI D-L) /N確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，其中，f為GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，D為母線接頭直徑，L為彈簧自由長(zhǎng)度，K為彈簧等效剛度，π為圓周率，N為GIS母線接頭梅花觸指?jìng)€(gè)數(shù)。在其中一個(gè)實(shí)施例中，上述接觸壓力確定模塊通過(guò)& = (G)+K(JI D-L)/N確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，其中，A為第i個(gè)GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，Bi(G)為GIS母線接頭和母線導(dǎo)體的重力G在第i個(gè)梅花接頭上的徑向分量，D為母線接頭直徑，L為彈簧自由長(zhǎng)度，K為彈簧等效剛度，為圓周率，i = 1.2. 3. ..N, N為GIS母線接頭梅花觸指?jìng)€(gè)數(shù)。在其中一個(gè)實(shí)施例中，上述接觸電阻確定模塊包括收縮電阻確定單元，用于通過(guò)Rs = p/2n(f)a(f)確定收縮電阻Rs，其中，P為電阻率，n(f)為在接觸面內(nèi)產(chǎn)生的微觀導(dǎo)電斑點(diǎn)的數(shù)量，a(f)為導(dǎo)電斑點(diǎn)的平均半徑；膜電阻確定單元，用于通過(guò)I=C1廣確定膜電阻Rm，其中，Cl、C2為膜電阻與接觸壓力的非線性擬合系數(shù)；接觸電阻確定單元，用于通過(guò)R = Rs(f)+Rm(f)確定GIS母線接頭的接觸電阻R。依據(jù)上述本發(fā)明的方案，根據(jù)GIS母線接頭彈簧參數(shù)計(jì)算施加在GIS母線接頭梅花觸指上的接觸壓力，并利用獲得的接觸壓力計(jì)算GIS母線接頭的接觸電阻大小。本發(fā)明無(wú)需斷電即可檢測(cè)單個(gè)母線接頭的接觸電阻，能夠及早發(fā)現(xiàn)并預(yù)警GIS母線接頭的過(guò)熱性故障。


圖I為本發(fā)明實(shí)施例的GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)方法的流程示意圖；圖2為本發(fā)明實(shí)施例的GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為圖2中的接觸電阻確定模塊的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合實(shí)施例及附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步闡述，但本發(fā)明的實(shí)施方式不限于此。 實(shí)施例I本發(fā)明所涉及的GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)方法是基于兩個(gè)假設(shè)的。假設(shè)I :GIS母線接頭表面經(jīng)過(guò)清潔處理，即于電流流經(jīng)視在接觸面上的一系列微觀導(dǎo)電斑點(diǎn)時(shí)發(fā)生收縮所產(chǎn)生的收縮電阻在接觸電阻中占主要地位，而由于導(dǎo)電體表面發(fā)生化學(xué)反應(yīng)而產(chǎn)生的膜電阻占從屬地位。根據(jù)GIS設(shè)備的安裝規(guī)程，GIS母線接頭是要經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的清潔工序才能進(jìn)入裝配階段，在運(yùn)行過(guò)程中，由于GIS母線接頭處于SF6 (六氟化硫)絕緣氣體環(huán)境中，在溫度低于200°C，即接頭正常工作溫度范圍內(nèi)，SF6的化學(xué)性質(zhì)非常穩(wěn)定，因此這個(gè)假設(shè)可以認(rèn)為是成立的。假設(shè)2 :接觸表面為高斯面，任何視在的光潔平面其表面都是粗糙不平的，若其粗糙尖峰的高度分布符合統(tǒng)計(jì)學(xué)上的高斯分布時(shí)，粗糙的表面被稱作為高斯面，其尖峰高度分布的標(biāo)準(zhǔn)差被稱為表面粗糙度(光潔度)，根據(jù)目前的研究成果，大部分的機(jī)械加工都會(huì)在材料的表面產(chǎn)生高斯面，其偏差很小，不會(huì)對(duì)接觸電阻的檢測(cè)精度產(chǎn)生太大影響。參見(jiàn)圖I所示，為本發(fā)明實(shí)施例的GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)方法的流程示意圖，如圖I所示，在該實(shí)施例中的GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)方法包括如下步驟步驟SlOl :根據(jù)GIS母線接頭及其抱緊彈簧的材料參數(shù)確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，進(jìn)入步驟S102，其中，材料參數(shù)包括母線接頭直徑、彈簧的自由長(zhǎng)度、彈簧的等效剛度、GIS母線接頭梅花觸指?jìng)€(gè)數(shù)等，導(dǎo)體指代的是GIS中用于承載負(fù)荷電流的母線末端，一般為一個(gè)銅鍍銀的接頭，接頭的一段焊接在母線上，另一端插入梅花觸頭；由于目前絕大多部分投運(yùn)的目前絕大部分投運(yùn)的GIS設(shè)備母線電連接設(shè)備使用的是依靠抱緊彈簧提供接觸壓力的接頭，當(dāng)彈簧箍緊在接頭上時(shí)，彈簧自由長(zhǎng)度發(fā)生變化產(chǎn)生徑向力F = K( Ji D-L)，因而，單個(gè)GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體間的接觸壓力可以通過(guò)公式⑴確定，f = KO D-L)/N (I)其中f為GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，D為母線接頭直徑，L為彈簧自由長(zhǎng)度，K為彈簧等效剛度，π為圓周率，N為GIS母線接頭梅花觸指?jìng)€(gè)數(shù)；通過(guò)公式(I)確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力的方式一般是適用于盆子側(cè)和其它有支撐絕緣件的母線接頭，其中，盆子是指GIS母線筒中的盆式絕緣子，通常的作用是將GIS間隔分成功能獨(dú)立的氣室(如斷路器、隔離開(kāi)關(guān)、電壓互感器等)，此處的盆子側(cè)的母線接頭是位于連接兩個(gè)母線氣室的盆式絕緣子側(cè)的GIS母線接頭。對(duì)于懸空對(duì)接的GIS母線接頭，對(duì)于懸空對(duì)接的GIS母線接頭，考慮到GIS母線接頭和母線導(dǎo)體的重力G，GIS母線接頭梅花觸指與母線導(dǎo)體的接觸壓力可以通過(guò)公式(2)獲得fi = Bi (G)+K (31 D-L)/N (i = I. 2. 3. . . N)(2)其中，A為第i個(gè)GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，Bi (G)為GIS母線接頭和母線導(dǎo)體的重力G在第i個(gè)梅花接頭上的徑向分量，D為母線接頭直徑，L為彈簧自由長(zhǎng)度，K為彈簧等效剛度，為圓周率，i = I. 2. 3. . . N，N為GIS母線接頭梅花觸指?jìng)€(gè)數(shù)。步驟S102 :根據(jù)步驟SlOl中得到的接觸壓力確定GIS母線接頭的接觸電阻，其具體過(guò)程可以通過(guò)如下步驟實(shí)現(xiàn)通過(guò)Rs= p/2n(f)a(f)確定收縮電阻Rs，其中，P為電阻率，n(f)為在接觸面內(nèi)產(chǎn)生的微觀導(dǎo)電斑點(diǎn)的數(shù)量，a(f)為導(dǎo)電斑點(diǎn)的平均半徑，n(f)、a(f) —般是關(guān)于接觸壓力f的函數(shù)，由于GIS母線接頭處的接觸壓力并不是很大，可以假定在宏觀上發(fā)生彈性形變，微觀接觸是基于高斯表面的彈塑性形變，根據(jù)相關(guān)材料力學(xué)的知識(shí)可確定n(f)、a(f)， 如通過(guò)如下的公式(3)確定
π MJ) 00(f W)exp(-( 3 )Kf)=紫Aa(Z)^fiplp2Jf1 + A)f3
AL·其中Pl、P2為梅花觸頭接觸面與導(dǎo)體的半徑，σ為接頭材料表面光潔度，λ (f)為與接觸壓力有關(guān)的無(wú)量綱參數(shù)，Y(f)是指接觸壓力作用下接觸物體間的彈性形變出是指材料的彈性模量，Aa(f)為經(jīng)典接觸力學(xué)中的赫茲接觸；通過(guò)= C1尸確定膜電阻Rm，其中，C1、C2為膜電阻與接觸壓力的非線性擬合系數(shù)，均可以通過(guò)現(xiàn)有技術(shù)的方式求得，在此不予贅述。由于GIS屬于封閉式的氣體絕緣設(shè)備，內(nèi)部的六氟化硫氣體化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定，在500°C以下都不會(huì)分解，而GIS母線接頭屬于固定接觸，正常情況下沒(méi)有高溫電弧產(chǎn)生，因此可以認(rèn)為觸頭表面膜所處的化學(xué)環(huán)境穩(wěn)定，其膜電阻的值僅與接觸壓力有關(guān)，故一般情況下，C1和C2為常量；通過(guò)R = Rs(f)+Rm(f)確定GIS母線接頭的接觸電阻R。實(shí)施例2根據(jù)上述本發(fā)明的GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)方法，本發(fā)明還提供一種GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)系統(tǒng)，以下就本發(fā)明的GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。參見(jiàn)圖2所示，該實(shí)施例中的母線接頭接觸電阻檢測(cè)系統(tǒng)包括接觸壓力確定模塊201和接觸電阻確定模塊202，其中接觸壓力確定模塊201用于根據(jù)GIS母線接頭及其抱緊彈簧的材料參數(shù)確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，并將得到的接觸壓力發(fā)送給接觸壓力確定模塊202，其中，材料參數(shù)包括母線接頭直徑、彈簧的自由長(zhǎng)度、彈簧的等效剛度、GIS母線接頭梅花觸指?jìng)€(gè)數(shù)等，導(dǎo)體指代的是GIS中用于承載負(fù)荷電流的母線末端，一般為一個(gè)銅鍍銀的接頭，接頭的一段焊接在母線上，另一端插入梅花觸頭；接觸電阻確定模塊202用于在接收到所述接觸壓力后，根據(jù)所述接觸壓力確定GIS母線接頭的接觸電阻。由于目前絕大多部分投運(yùn)的目前絕大部分投運(yùn)的GIS設(shè)備母線電連接設(shè)備使用的是依靠抱緊彈簧提供接觸壓力的接頭，當(dāng)彈簧箍緊在接頭上時(shí)，彈簧自由長(zhǎng)度發(fā)生變化產(chǎn)生徑向力F = K( Ji D-L)，因而，在其中一個(gè)實(shí)施例中，接觸壓力確定模塊201可以通過(guò)公式(I)確定單個(gè)GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體間的接觸壓力。通過(guò)公式(I)確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力的方式一般是適用于盆子側(cè)和其它有支撐絕緣件的母線接頭，其中，盆子是指GIS母線筒中的盆式絕緣子，通常的作用是將GIS間隔分成功能獨(dú)立的氣室(如斷路器、隔離開(kāi)關(guān)、電壓互感器等)，此處的盆子側(cè)的母線接頭是位于連接兩個(gè)母線氣室的盆式絕緣子側(cè)的GIS母線接頭。對(duì)于懸空對(duì)接的GIS母線接頭，對(duì)于懸空對(duì)接的GIS母線接頭，考慮到GIS母線接頭和母線導(dǎo)體的重力G，在其中一個(gè)實(shí)施例中，接觸壓力確定模塊201可以通過(guò)公式(2)確定單個(gè)GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體間的接觸壓力。在另一個(gè)實(shí)施例中，給出了一種接觸電阻確定模塊202的具體結(jié)構(gòu)，如圖3所示，包括收縮電阻確定單元301、膜電阻確定單元302、接觸電阻確定單元303，其中收縮電阻確定單元301,用于通過(guò)Rs = P/2n(f)a(f)確定收縮電阻Rs,其中，，其中，P為電阻率，n(f)為在接觸面內(nèi)產(chǎn)生的微觀導(dǎo)電斑點(diǎn)的數(shù)量，a(f)為導(dǎo)電斑點(diǎn)的平均半徑，n(f)、a(f) —般是關(guān)于接觸壓力f的函數(shù)，由于GIS母線接頭處的接觸壓力并不是很大，可以假定在宏觀上發(fā)生彈性形變，微觀接觸是基于高斯表面的彈塑性形變，根據(jù)相關(guān)材料力學(xué)的知識(shí)可確定n (f)、a (f)，如通過(guò)上面的公式(3)確定；膜電阻確定單元302，用于通過(guò)角定膜電阻Rm，其中，其中，Cl、C2S膜電阻與接觸壓力的非線性擬合系數(shù)，均可以通過(guò)現(xiàn)有技術(shù)的方式求得，在此不予贅述。由于GIS屬于封閉式的氣體絕緣設(shè)備，內(nèi)部的六氟化硫氣體化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定，在500°C以下都不會(huì)分解，而GIS母線接頭屬于固定接觸，正常情況下沒(méi)有高溫電弧產(chǎn)生，因此可以認(rèn)為觸頭表面膜所處的化學(xué)環(huán)境穩(wěn)定，其膜電阻的值僅與接觸壓力有關(guān)，故一般情況下，C1和C2為常量；接觸電阻確定單元303，用于通過(guò)R = Rs(f)+Rm(f)確定GIS母線接頭的接觸電阻R0本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)對(duì)比的有益效果是 本發(fā)明所提供的GIS母線接頭接觸電阻檢測(cè)方法，無(wú)需斷電檢測(cè)，能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障隱患，提高GIS的供電可靠性。以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)本發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此，本發(fā)明專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)方法，其特征在于，包括如下步驟 根據(jù)GIS母線接頭及其抱緊彈簧的材料參數(shù)確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力； 根據(jù)所述接觸壓力確定GIS母線接頭的接觸電阻。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)GIS母線接頭及其抱緊彈簧的材料參數(shù)確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力包括步驟通過(guò)f = K( D-L)/N確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，其中，f為GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，D為母線接頭直徑，L為彈簧自由長(zhǎng)度，K為彈簧等效剛度，n為圓周率，N為GIS母線接頭梅花觸指?jìng)€(gè)數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)GIS母線接頭及其抱緊彈簧的材料參數(shù)確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力包括步驟通過(guò)= Bi (G)+K (JI D-L)/N確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，其中，A為第i個(gè)GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，a, (G)為GIS母線接頭和母線導(dǎo)體的重力G在第i個(gè)梅花接頭上的徑向分量，D為母線接頭直徑，L為彈簧自由長(zhǎng)度，K為彈簧等效剛度，n為圓周率，i = I. 2. 3. . . N，N為GIS母線接頭梅花觸指?jìng)€(gè)數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求I至3之一所述的GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述接觸壓力確定GIS母線接頭的接觸電阻包括步驟 通過(guò)Rs= p/2n(f)a(f)確定收縮電阻Rs，其中，P為電阻率，n(f)為在接觸面內(nèi)產(chǎn)生的微觀導(dǎo)電斑點(diǎn)的數(shù)量，a(f)為導(dǎo)電斑點(diǎn)的平均半徑； 通過(guò)=9/4確定膜電阻Rm，其中，C1, C2為膜電阻與接觸壓力的非線性擬合系數(shù)； 通過(guò)R = Rs (f)+Rm (f)確定GIS母線接頭的接觸電阻R。
5.—種GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括 接觸壓力確定模塊，用于根據(jù)GIS母線接頭及其抱緊彈簧的材料參數(shù)確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，并將得到的接觸壓力發(fā)送給接觸壓力確定模塊； 所述接觸電阻確定模塊用于在接收到所述接觸壓力后，根據(jù)所述接觸壓力確定GIS母線接頭的接觸電阻。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述接觸壓力確定模塊通過(guò)f = K( D-L)/N確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，其中，f為GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，D為母線接頭直徑，L為彈簧自由長(zhǎng)度，K為彈簧等效剛度，n為圓周率，N為GIS母線接頭梅花觸指?jìng)€(gè)數(shù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，接觸壓力確定模塊通過(guò)A = Bi (G)+K (JI D-L)/N確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，其中，fi為第i個(gè)GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力，a, (G)為GIS母線接頭和母線導(dǎo)體的重力G在第i個(gè)梅花接頭上的徑向分量，D為母線接頭直徑，L為彈簧自由長(zhǎng)度，K為彈簧等效剛度，n為圓周率，i = I. 2. 3. . . N，N為GIS母線接頭梅花觸指?jìng)€(gè)數(shù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求5至7之一所述的GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)方法，其特征在于，所述接觸電阻確定模塊包括 收縮電阻確定單元，用于通過(guò)Rs= P/2n(f)a(f)確定收縮電阻Rs，其中，P為電阻率，n(f)為在接觸面內(nèi)產(chǎn)生的微觀導(dǎo)電斑點(diǎn)的數(shù)量，a(f)為導(dǎo)電斑點(diǎn)的平均半徑；膜電阻確定單元，用于通過(guò)圪= 廣確定膜電阻Rm，其中，Cl、C2S膜電阻與接觸壓力的非線性擬合系數(shù)； 接觸電阻確定單元，用于通過(guò)R = Rs (f)+Rm (f)確定GIS母線接頭的接觸電阻R。
全文摘要
本發(fā)明提供一種GIS母線接頭的接觸電阻檢測(cè)方法和系統(tǒng)，包括步驟根據(jù)GIS母線接頭及其抱緊彈簧的材料參數(shù)確定GIS母線接頭梅花觸指與導(dǎo)體的接觸壓力；根據(jù)所述接觸壓力確定GIS母線接頭的接觸電阻。本發(fā)明所提供的GIS母線接頭接觸電阻檢測(cè)方法和系統(tǒng)，無(wú)需對(duì)GIS進(jìn)行斷電檢測(cè)，能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障隱患，提高GIS的供電可靠性。
文檔編號(hào)G01R27/02GK102798757SQ20121028944
公開(kāi)日2012年11月28日 申請(qǐng)日期2012年8月14日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月14日
發(fā)明者劉根才, 詹清華, 舒乃秋, 金向朝, 蘇杏志, 李玲, 李洪濤, 李紅玲, 關(guān)向雨, 吳曉文 申請(qǐng)人:廣東電網(wǎng)公司佛山供電局, 武漢大學(xué)