專利名稱：繼電器檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于檢測(cè)繼電器工作溫度、動(dòng)作頻率以及工作電流的裝置，具體講是一種繼電器檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
繼電器是一種使用范圍非常廣泛的器件，該器件的各個(gè)工作范圍會(huì)一一標(biāo)注在繼電器的銘牌上，以方便使用者。但是隨著繼 電器運(yùn)行環(huán)境的千差萬(wàn)別，各個(gè)廠家由于無(wú)法準(zhǔn)確地了解繼電器在各種運(yùn)行環(huán)境下的工作性能，因此輕者會(huì)造成繼電器的損壞，重者會(huì)造成與繼電器連接的電氣部件損壞，從而給繼電器的使用帶來(lái)不方便。因此，基于上述原因，亟待需要一種能夠準(zhǔn)確檢測(cè)繼電器各個(gè)性能的繼電器檢測(cè)裝置，以解決上述問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是，克服以上現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種能夠準(zhǔn)確檢測(cè)繼電器各個(gè)性能的繼電器檢測(cè)裝置。本發(fā)明的技術(shù)方案是，提供一種繼電器檢測(cè)裝置，包括微處理器、鍵盤模塊、顯示模塊、電源模塊、繼電器驅(qū)動(dòng)模塊、與繼電器驅(qū)動(dòng)模塊電連接的動(dòng)作頻率檢測(cè)模塊和電流檢測(cè)模塊、與繼電器連接的溫度檢測(cè)模塊；所述的微處理器分別與鍵盤模塊、顯示模塊、繼電器驅(qū)動(dòng)模塊、溫度檢測(cè)模塊、動(dòng)作頻率檢測(cè)模塊、電流檢測(cè)模塊電連接；所述的電源模塊分別與溫度檢測(cè)模塊、微處理器、繼電器驅(qū)動(dòng)模塊、電流檢測(cè)模塊、動(dòng)作頻率檢測(cè)模塊、鍵盤模塊、顯示模塊電連接。所述的溫度檢測(cè)模塊由多個(gè)均設(shè)在繼電器上的溫度傳感器組成。所述的動(dòng)作頻率檢測(cè)模塊包括一光電耦合器以及電阻Rl和R2，所述光電耦合器的發(fā)光源的正極與電阻Rl連接，所述光電耦合器的受光器的正極與電阻R2連接，所述光電耦合器的發(fā)光源負(fù)極、受光器負(fù)極均與公共接地端連接。所述的電流檢測(cè)模塊包括測(cè)量電阻R3、電流大小檢測(cè)芯片和A/D轉(zhuǎn)化芯片，所述的測(cè)量電阻R3串聯(lián)在電源模塊與繼電器驅(qū)動(dòng)模塊之間；所述的測(cè)量電阻R3依次與電流大小檢測(cè)芯片、A/D轉(zhuǎn)化芯片電連接。所述的繼電器驅(qū)動(dòng)模塊包括三極管Q1、二極管D1、繼電器Kl以及負(fù)載檢測(cè)電路，所述三極管Ql的b級(jí)與微處理器連接，所述三極管Ql的e級(jí)與二極管Dl的陽(yáng)極連接，所述三極管Ql的c級(jí)與公共接地端連接；所述繼電器Kl的線圈兩端分別連接在二極管Dl的陽(yáng)極和陰極；所述繼電器Kl的觸點(diǎn)組與電源模塊連接。采用以上結(jié)構(gòu)后，本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點(diǎn)使用時(shí)，將本發(fā)明繼電器檢測(cè)裝置與繼電器連接起來(lái)，通過(guò)溫度檢測(cè)模塊檢測(cè)繼電器工作時(shí)的工作溫度，通過(guò)動(dòng)作頻率檢測(cè)模塊檢測(cè)繼電器的工作頻率，通過(guò)電流檢測(cè)模塊檢測(cè)繼電器的工作電流。本發(fā)明繼電器檢測(cè)裝置通過(guò)以上的檢測(cè)裝置分別檢測(cè)繼電器在各種環(huán)境下的工作性能，從而在合適的地方使用性能相匹配的繼電器，這樣不僅保證了繼電器的正常使用，而且也保證了整個(gè)電氣設(shè)備的正常運(yùn)行，進(jìn)而給繼電器的使用帶來(lái)較大的方便。


圖I是本發(fā)明繼電器檢測(cè)裝置的電路框圖。圖2是本發(fā)明繼電器檢測(cè)裝置的原理圖。圖3是負(fù)載測(cè)試電路的原理圖。圖中所示I、電源模塊，2、繼電 器驅(qū)動(dòng)模塊，3、電流檢測(cè)模塊，4、動(dòng)作頻率檢測(cè)模塊。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明。如圖I、圖2所示，本發(fā)明一種繼電器檢測(cè)裝置，包括微處理器、鍵盤模塊、顯示模塊、電源模塊、繼電器驅(qū)動(dòng)模塊、與繼電器驅(qū)動(dòng)模塊電連接的動(dòng)作頻率檢測(cè)模塊和電流檢測(cè)模塊、與繼電器連接的溫度檢測(cè)模塊；所述的微處理器分別與鍵盤模塊、顯示模塊、繼電器驅(qū)動(dòng)模塊、溫度檢測(cè)模塊、動(dòng)作頻率檢測(cè)模塊、電流檢測(cè)模塊電連接；所述的電源模塊分別與溫度檢測(cè)模塊、微處理器、繼電器驅(qū)動(dòng)模塊、電流檢測(cè)模塊、動(dòng)作頻率檢測(cè)模塊、鍵盤模塊、顯示模塊電連接。即溫度檢測(cè)模塊為多個(gè)溫度傳感器，多個(gè)溫度傳感器一般安裝在需檢測(cè)的繼電器的殼體外部和殼體內(nèi)部。所述的溫度檢測(cè)模塊由多個(gè)均設(shè)在繼電器上的溫度傳感器組成。所述的多個(gè)溫度傳感器上均設(shè)有不干膠，通過(guò)不干膠將溫度傳感器固定在繼電器殼體上，在本實(shí)施例中使用的溫度傳感器的型號(hào)為18B20。所述的動(dòng)作頻率檢測(cè)模塊，如圖2中的標(biāo)號(hào)4所示，它包括一光電耦合器以及電阻Rl和R2，所述光電耦合器的發(fā)光源的正極與電阻Rl連接，所述光電耦合器的受光器的正極與電阻R2連接，即所述光電耦合器的發(fā)光源的正極經(jīng)電阻Rl與負(fù)載檢測(cè)電路的正極連接，所述光電耦合器的受光器的正極經(jīng)電阻R2與電源模塊連接。所述光電耦合器的發(fā)光源負(fù)極、受光器負(fù)極均與公共接地端連接。所述的電流檢測(cè)模塊，如圖2中的標(biāo)示3所示，包括測(cè)量電阻R3、電流大小檢測(cè)芯片和A/D轉(zhuǎn)化芯片，所述的測(cè)量電阻R3串聯(lián)在電源模塊與繼電器驅(qū)動(dòng)模塊之間；所述的測(cè)量電阻R3依次與電流大小檢測(cè)芯片、A/D轉(zhuǎn)化芯片電連接。所述的繼電器驅(qū)動(dòng)模塊，如圖2中的標(biāo)示2所示，它包括三極管Q1、二極管D1、繼電器Kl以及負(fù)載檢測(cè)電路，所述三極管Ql的b級(jí)與微處理器連接，所述三極管Ql的e級(jí)與二極管Dl的陽(yáng)極連接，所述三極管Ql的c級(jí)與公共接地端連接；所述繼電器Kl的線圈兩端分別連接在二極管Dl的陽(yáng)極和陰極；所述繼電器Kl的觸點(diǎn)組與電源模塊連接。電源模塊，如圖2中的標(biāo)示I所示，包括24V蓄電池和可將24V轉(zhuǎn)化為5V的電源電路。所述的負(fù)載檢測(cè)電路為現(xiàn)有技術(shù)，其具體結(jié)構(gòu)如圖3所示。以上僅就本發(fā)明的最佳實(shí)施例作了說(shuō)明，但不能理解為是對(duì)權(quán)利要求的限制。本發(fā)明不僅限于以上實(shí)施例，其具體結(jié)構(gòu)允許有變化。但凡在本發(fā)明獨(dú)立權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)所作的各種變化均在本發(fā)明的保護(hù)范圍 內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種繼電器檢測(cè)裝置，其特征在于包括微處理器、鍵盤模塊、顯示模塊、電源模塊、繼電器驅(qū)動(dòng)模塊、與繼電器驅(qū)動(dòng)模塊電連接的動(dòng)作頻率檢測(cè)模塊和電流檢測(cè)模塊、與繼電器連接的溫度檢測(cè)模塊；所述的微處理器分別與鍵盤模塊、顯示模塊、繼電器驅(qū)動(dòng)模塊、溫度檢測(cè)模塊、動(dòng)作頻率檢測(cè)模塊、電流檢測(cè)模塊電連接；所述的電源模塊分別與溫度檢測(cè)模塊、微處理器、繼電器驅(qū)動(dòng)模塊、電流檢測(cè)模塊、動(dòng)作頻率檢測(cè)模塊、鍵盤模塊、顯示模塊電連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的繼電器檢測(cè)裝置，其特征在于所述的溫度檢測(cè)模塊由多個(gè)均設(shè)在繼電器上的溫度傳感器組成。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的繼電器檢測(cè)裝置，其特征在于所述的動(dòng)作頻率檢測(cè)模塊包括一光電耦合器以及電阻Rl和R2，所述光電耦合器的發(fā)光源的正極與電阻Rl連接，所述光電耦合器的受光器的正極與電阻R2連接，所述光電耦合器的發(fā)光源負(fù)極、受光器負(fù)極均與公共接地端連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的繼電器檢測(cè)裝置，其特征在于所述的電流檢測(cè)模塊包括測(cè)量電阻R3、電流大小檢測(cè)芯片和A/D轉(zhuǎn)化芯片，所述的測(cè)量電阻R3串聯(lián)在電源模塊與繼電器驅(qū)動(dòng)模塊之間；所述的測(cè)量電阻R3依次與電流大小檢測(cè)芯片、A/D轉(zhuǎn)化芯片電連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的繼電器檢測(cè)裝置，其特征在于所述的繼電器驅(qū)動(dòng)模塊包括三極管Q1、二極管D1、繼電器Kl以及負(fù)載檢測(cè)電路，所述三極管Ql的b級(jí)與微處理器連接，所述三極管Ql的e級(jí)與二極管Dl的陽(yáng)極連接，所述三極管Ql的c級(jí)與公共接地端連接；所述繼電器Kl的線圈兩端分別連接在二極管Dl的陽(yáng)極和陰極；所述繼電器Kl的觸點(diǎn)組與電源模塊連接。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種繼電器檢測(cè)裝置，包括微處理器、鍵盤模塊、顯示模塊、電源模塊、繼電器驅(qū)動(dòng)模塊、與繼電器驅(qū)動(dòng)模塊電連接的動(dòng)作頻率檢測(cè)模塊和電流檢測(cè)模塊、與繼電器連接的溫度檢測(cè)模塊；所述的微處理器分別與鍵盤模塊、顯示模塊、繼電器驅(qū)動(dòng)模塊、溫度檢測(cè)模塊、動(dòng)作頻率檢測(cè)模塊、電流檢測(cè)模塊電連接；所述的電源模塊分別與溫度檢測(cè)模塊、微處理器、繼電器驅(qū)動(dòng)模塊、電流檢測(cè)模塊、動(dòng)作頻率檢測(cè)模塊、鍵盤模塊、顯示模塊電連接。該繼電器能夠準(zhǔn)確檢測(cè)繼電器的各個(gè)性能。
文檔編號(hào)G01R31/327GK102818992SQ20121027804
公開(kāi)日2012年12月12日 申請(qǐng)日期2012年8月7日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月7日
發(fā)明者胡遠(yuǎn)敏, 田會(huì)臻, 程向陽(yáng), 李龍 申請(qǐng)人:寧波吉江汽車制造有限責(zé)任公司