專利名稱：X射線殘余應(yīng)力測試系統(tǒng)校準(zhǔn)試塊制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及ー種X射線殘余應(yīng)カ測試系統(tǒng)校準(zhǔn)試塊制作方法，該方法屬于ー種計
量領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
X射線殘余應(yīng)カ測試系統(tǒng)國內(nèi)無溯源，無校準(zhǔn)方法，其工作參數(shù)涉及的領(lǐng)域?qū)?，包括溫度參?shù)，力學(xué)參數(shù)，長度參數(shù)及無損探傷參數(shù)等多個領(lǐng)域，操作過程復(fù)雜，該設(shè)備主要用于測試金屬表面(鐵、鋁、鈦、鋼)殘余應(yīng)カ的檢測，采用X射線檢測原理，對金屬表面奧氏體、馬氏體等應(yīng)カ進行檢測
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供ー種X射線殘余應(yīng)カ測試系統(tǒng)校準(zhǔn)試塊制作方法，該方法不僅步驟簡単，而且應(yīng)力小，接近零應(yīng)カ。為解決以上問題，本發(fā)明的具體技術(shù)方案如下ー種X射線殘余應(yīng)カ測試系統(tǒng)校準(zhǔn)試塊制作方法，包括以下步驟
1)采用顆粒直徑為IFD <d<45 PM的無應(yīng)カ鐵粉，在真空中對其退火處理；
2)用丙酮將氮纖維素膠合劑稀釋為10%的溶液作為粘合劑溶液；
3)將退火后的無應(yīng)カ鉄粉撒在顯微鏡載玻片上，然后在上面均勻滴上粘合劑溶液；
4)再在粘合劑溶液上撒上退火后的無應(yīng)カ鉄粉，并用另一個顯微鏡載玻片扣合；
5)上表面平整后，拿下上面的顯微鏡載玻片，繼續(xù)重復(fù)3和4步驟，直至試塊的厚度為15cm,并且表面平整，將試塊曬干即得到X射線殘余應(yīng)カ測試系統(tǒng)校準(zhǔn)試塊。該X射線殘余應(yīng)カ測試系統(tǒng)校準(zhǔn)試塊制作方法采用上述步驟，可以更好的保證試塊的達到最小，接近為零，從而有效的對X射線殘余應(yīng)カ測試系統(tǒng)進行校準(zhǔn)，保證測量值的準(zhǔn)確度。
具體實施例方式ー種X射線殘余應(yīng)カ測試系統(tǒng)校準(zhǔn)試塊制作方法，其特征在于包括以下步驟
1)采用顆粒直徑為Iμω <d<45 μιη的無應(yīng)カ鐵粉，在真空中對其退火處理；
2)用丙酮將氮纖維素膠合劑稀釋為10%的溶液作為粘合劑溶液；
3)將退火后的無應(yīng)カ鉄粉撒在顯微鏡載玻片上，然后在上面均勻滴上粘合劑溶液；
4)再在粘合劑溶液上撒上退火后的無應(yīng)カ鉄粉，并用另一個顯微鏡載玻片扣合；
5)上表面平整后，拿下上面的顯微鏡載玻片，繼續(xù)重復(fù)3和4步驟，直至試塊的厚度為15cm,并且表面平整，將試塊曬干即得到X射線殘余應(yīng)カ測試系統(tǒng)校準(zhǔn)試塊，如果粘合劑過量導(dǎo)致表面不平整，可以重新使用丙酮濕潤表面，使其平整后，再干燥即可。該X射線殘余應(yīng)カ測試系統(tǒng)校準(zhǔn)試塊使用時，放置在探頭下，測得5次應(yīng)カ值的平均值在土 14MPa范圍內(nèi)，則X射線殘余應(yīng)カ測試系統(tǒng)為合格產(chǎn)品。
權(quán)利要求
1.ー種X射線殘余應(yīng)カ測試系統(tǒng)校準(zhǔn)試塊制作方法，其特征在于包括以下步驟 1)采用顆粒直徑為Iμ迅<d<45 μ 的無應(yīng)カ鐵粉，在真空中對其退火處理； 2)用丙酮將氮纖維素膠合劑稀釋為10%的溶液作為粘合劑溶液； 3)將退火后的無應(yīng)カ鉄粉撒在顯微鏡載玻片上，然后在上面均勻滴上粘合劑溶液； 4)再在粘合劑溶液上撒上退火后的無應(yīng)カ鉄粉，并用另一個顯微鏡載玻片扣合； 5)上表面平整后，拿下上面的顯微鏡載玻片，繼續(xù)重復(fù)3和4步驟，直至試塊的厚度為15cm,并且表面平整，將試塊曬干即得到X射線殘余應(yīng)カ測試系統(tǒng)校準(zhǔn)試塊。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種X射線殘余應(yīng)力測試系統(tǒng)校準(zhǔn)試塊制作方法，包括以下步驟1)采用顆粒直徑為1<d<45的無應(yīng)力鐵粉，在真空中對其退火處理；2)用丙酮將氮纖維素膠合劑稀釋為10%的溶液作為粘合劑溶液；3)將退火后的無應(yīng)力鐵粉撒在顯微鏡載玻片上，然后在上面均勻滴上粘合劑溶液；4)再在粘合劑溶液上撒上退火后的無應(yīng)力鐵粉，并用另一個顯微鏡載玻片扣合；5)上表面平整后，拿下上面的顯微鏡載玻片，繼續(xù)重復(fù)3和4步驟，直至試塊的厚度為15cm，并且表面平整，將試塊曬干即得到X射線殘余應(yīng)力測試系統(tǒng)校準(zhǔn)試塊。該方法不僅步驟簡單，而且應(yīng)力小，接近零應(yīng)力。
文檔編號G01N1/28GK102706708SQ20121018343
公開日2012年10月3日 申請日期2012年6月6日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月6日
發(fā)明者李炎琢, 王海玲, 袁新艷 申請人:沈陽飛機工業(yè)(集團)有限公司