專利名稱:隨鉆電磁波電阻率儀器雙頻介電常數(shù)校正方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種隨鉆電磁波電阻率儀器介電常數(shù)校正方法,特別是涉及一種雙頻介電常數(shù)校正方法。
背景技術(shù):
隨著陸上水平井和大斜度井鉆井工作量增加以及海上鉆井的需求,常規(guī)電纜測(cè)井已經(jīng)不能滿足測(cè)井技術(shù)的需要,因此隨鉆測(cè)井技術(shù)得到了非常迅速的發(fā)展。它可以實(shí)現(xiàn)鉆井和測(cè)井同時(shí)進(jìn)行,是將測(cè)井儀器安裝在靠近鉆頭的部位,在地層未受到明顯侵入和污染的條件下進(jìn)行測(cè)量,和傳統(tǒng)的電纜測(cè)井相比較,具有實(shí)時(shí)性好、測(cè)井精度高等優(yōu)點(diǎn)。隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀器是隨鉆測(cè)井中最常用的儀器之一,它主要測(cè)量地層的電阻率信息,由于一般情況下油層的電阻率較高,因此它能夠有效的識(shí)別油層,并還具有能夠指導(dǎo)鉆頭在油層中水平鉆進(jìn)的地質(zhì)導(dǎo)向功能。該儀器在地層中的響應(yīng)不僅受電阻率的影響,還受介電常數(shù)的影響,在儀器工作頻率低或地層是低阻時(shí),儀器的響應(yīng)主要受電阻率的影響,受介電常數(shù)影響很小,然而在高頻或者高阻地層情況下介電常數(shù)對(duì)電磁波傳播的影響增大,隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀在高阻地層下的視電阻率響應(yīng)受介電常數(shù)的影響也很大,因此,為了得到準(zhǔn)確的地層電阻率信息需要對(duì)隨鉆測(cè)井儀測(cè)得的視電阻率進(jìn)行介電常數(shù)校正。傳統(tǒng)的介電常數(shù)校正方法通常采用經(jīng)驗(yàn)校正公式,是通過(guò)對(duì)世界各地產(chǎn)油井飽和水巖性樣品的介電常數(shù)和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)進(jìn)行作圖分析,找出介電常數(shù)和電導(dǎo)率之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系。而實(shí)際上介電常數(shù)與電阻率之間并沒有必然的聯(lián)系,很明顯這種關(guān)系式是一種近似,與實(shí)際情況存在著一定的誤差。這種誤差會(huì)影響測(cè)井儀器的測(cè)量范圍和測(cè)量精度。之前我們采用一種有效的介電常數(shù)校正方法,將電阻率和介電常數(shù)看成兩個(gè)獨(dú)立的變量,并計(jì)算均勻介質(zhì)中的相位差和幅度比來(lái)建立圖版數(shù)據(jù)庫(kù),將實(shí)測(cè)的相位差和幅度比對(duì)圖版進(jìn)行插值得到兩個(gè)獨(dú)立的電阻率和介電常數(shù)。這種方法雖然有效,但如果受電路技術(shù)水平的限制,在高阻地層中儀器的幅度比測(cè)量誤差可能較大,因此會(huì)影響該方法的應(yīng)用。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)不足,提出一種隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀雙頻介電常數(shù)校正方法,解決了之前的介電常數(shù)校正方法在高阻地層下如果電路的精度不夠應(yīng)用會(huì)受到限制的問(wèn)題,能有效彌補(bǔ)之前方法的不足,實(shí)現(xiàn)對(duì)介電常數(shù)的校正,提高儀器的測(cè)量范圍和測(cè)量精度指標(biāo)。本發(fā)明所采用的技術(shù)方案
本發(fā)明隨鉆電磁波電阻率儀器雙頻介電常數(shù)校正方法,方法原理及實(shí)現(xiàn)過(guò)程如下
I)在計(jì)算隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀響應(yīng)中,將電阻率和介電常數(shù)看成相互獨(dú)立的兩個(gè)變量,之間不存在任何關(guān)系。2)在電阻率均勻各向同性介質(zhì)中計(jì)算不同頻率、同一源距下隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀的相位差響應(yīng)。
3)計(jì)算響應(yīng)時(shí)將介電常數(shù)和電阻率分別按從小到大的順序進(jìn)行變化,介電常數(shù)的變化范圍從I. O到300,電阻率的變化范圍從O. IOhmm到lOOOOOhmm。4)經(jīng)過(guò)上面計(jì)算過(guò)程,在源距相同的情況下,每個(gè)頻率都會(huì)得出一系列相位差響應(yīng)值,這一系列響應(yīng)值與介電常數(shù)和電阻率存在著對(duì)應(yīng)關(guān)系,即每一種介電常數(shù)和電阻率組合都會(huì)唯一的對(duì)應(yīng)每個(gè)頻率下的一個(gè)相位差響應(yīng)值。5)由于存在著這種對(duì)應(yīng)關(guān)系,我們?nèi)蓚€(gè)頻率的相位差響應(yīng)值分別作為坐標(biāo)系橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)的值,則每個(gè)介電常數(shù)和電阻率值都會(huì)在該坐標(biāo)系中用唯一的一個(gè)點(diǎn)來(lái)確定。我們以頻率為2MHz和400KHZ,源距為20in為例計(jì)算了一組相位差響應(yīng)數(shù)據(jù),并繪制了圖版如圖I所示。6)在實(shí)際測(cè)井中我們能夠獲得兩個(gè)頻率下的相位差響應(yīng)值,即圖I中橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)的值,這樣我們就可以在圖版中進(jìn)行插值來(lái)獲得一組對(duì)應(yīng)的介電常數(shù)和電阻率值。這時(shí)的電阻率值與介電常數(shù)值是相互獨(dú)立的,實(shí)現(xiàn)了介電常數(shù)的校正。所述的隨鉆電磁波電阻率儀器雙頻介電常數(shù)校正方法,在獲得兩個(gè)頻率下的相位差響應(yīng)值后,除了通過(guò)在圖板上插值得到對(duì)應(yīng)的介電常數(shù)和電阻率值外,還可以將之前計(jì)算好的數(shù)據(jù)做成數(shù)據(jù)庫(kù),通過(guò)在數(shù)據(jù)庫(kù)中搜索得到介電常數(shù)和電阻率值,即將每個(gè)介電常數(shù)和電阻率值下計(jì)算出的每個(gè)頻率下的相位差響應(yīng)值數(shù)據(jù)按對(duì)應(yīng)關(guān)系組成一組數(shù)據(jù),將多組這樣的數(shù)據(jù)按一定的順序排列,建立數(shù)據(jù)庫(kù),選擇兩個(gè)頻率的相位差響應(yīng)值作為搜索條件輸入到數(shù)據(jù)庫(kù)中進(jìn)行搜索,得到介電常數(shù)和電阻率值。數(shù)據(jù)庫(kù)的制作是將每個(gè)介電常數(shù)和電阻率值下計(jì)算出的每個(gè)頻率下的相位差響應(yīng)值數(shù)據(jù)按對(duì)應(yīng)關(guān)系組成一組數(shù)據(jù),即(介電常數(shù)值、電阻率值、頻率I下的相位差響應(yīng)值、頻率2下的相位差響應(yīng)值、…、頻率η下的相位差響應(yīng)值)作為一組數(shù)據(jù)。這樣在3)給定的介電常數(shù)和電阻率變化范圍內(nèi)會(huì)得到多組這樣的數(shù)據(jù)。將多組這樣的數(shù)據(jù)按一定的順序排列便得到我們所說(shuō)的數(shù)據(jù)庫(kù)。前述頻率1、2、…、η分別代表不同的頻率值。搜索中,選擇兩個(gè)頻率的相位差響應(yīng)值作為搜索條件輸入到數(shù)據(jù)庫(kù)中進(jìn)行搜索,找到與搜索條件相匹配的一組數(shù)據(jù)后,便可以讀出該組數(shù)據(jù)中介電常數(shù)和電阻率的值,得到與介電常數(shù)無(wú)關(guān)的電阻率值,從而實(shí)現(xiàn)介電常數(shù)的校正。本發(fā)明的有益效果
I、本發(fā)明隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀雙頻介電常數(shù)校正方法,有效地克服了測(cè)井儀在高阻地層下的視電阻率響應(yīng)受介電常數(shù)的影響較大問(wèn)題,在一定程度上避免了在高阻地層下儀器失效的現(xiàn)象,擴(kuò)大了該儀器的應(yīng)用范圍,同時(shí)提高了 儀器的測(cè)量范圍和精度指標(biāo),使得視電阻率測(cè)量范圍上升到30000hmm以上成為可能。一般情況下該儀器有兩個(gè)發(fā)射頻率,考慮這種情況,我們利用兩個(gè)頻率下的相位差數(shù)據(jù)進(jìn)行插值來(lái)得到獨(dú)立的視電阻率和視介電常數(shù)。利用的是兩個(gè)頻率下的相位差數(shù)據(jù),不使用幅度比數(shù)據(jù)進(jìn)行校正,有效地彌補(bǔ)了之前介電常數(shù)校正方法的不足,拓寬了介電常數(shù)校正方法的使用范圍。2、本發(fā)明隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀雙頻介電常數(shù)校正方法,在高阻地層下獲得比傳統(tǒng)介電常數(shù)校正方法更加準(zhǔn)確的視電阻率值,在對(duì)測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)進(jìn)行綜合處理解釋時(shí),去除井眼、侵入、圍巖等影響的過(guò)程會(huì)更加的準(zhǔn)確,使得到的原狀地層電阻率比傳統(tǒng)介電常數(shù)校正方法更加接近于真實(shí)值,進(jìn)而獲得更加準(zhǔn)確的地層信息,方便油田技術(shù)人員對(duì)油氣儲(chǔ)層做出更準(zhǔn)確的儲(chǔ)能評(píng)價(jià)及開采計(jì)劃,提升了儀器在儲(chǔ)層評(píng)價(jià)中的應(yīng)用價(jià)值。
3、本發(fā)明隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀雙頻介電常數(shù)校正方法,摒棄了傳統(tǒng)的認(rèn)為介電常數(shù)和電阻率之間存在聯(lián)系的介電常數(shù)校正思想,將兩者看成是獨(dú)立的變量進(jìn)行校正,并且考慮到了儀器本身的測(cè)量精度,做到了理論與實(shí)際儀器的結(jié)合。這種思想會(huì)成為今后介電常數(shù)校正方法的一個(gè)發(fā)展方向。
圖I :隨鉆測(cè)井儀相位差雙頻介電常數(shù)校正圖版(源距為20in);
圖2 a :雙頻法視介電常數(shù)校正方法模型I相位差視電阻率曲線; 圖2 b :雙頻法視介電常數(shù)校正方法模型I幅度比視電阻率曲線;
圖2 c :雙頻法視介電常數(shù)校正方法模型I雙頻法視電阻率曲線;
圖2 d :雙頻法視介電常數(shù)校正方法模型I雙頻法視介電常數(shù);
圖3 a :模型2傳統(tǒng)的相位差視電阻率曲線;
圖3 b :模型2傳統(tǒng)的幅度比視電阻率曲線;
圖3 c :模型2本發(fā)明雙頻法視電阻率曲線;
圖3 d :模型2本發(fā)明雙頻法得到的視介電常數(shù)曲線;
圖4a :模型3傳統(tǒng)的相位差視電阻率曲線;
圖4b :模型3傳統(tǒng)的幅度比視電阻率曲線;
圖4c :模型3本發(fā)明雙頻法得到的視電阻率曲線;
圖5a :模型4傳統(tǒng)的相位差視電阻率曲線;
圖5b :模型4傳統(tǒng)的幅度比視電阻率曲線;
圖5c :模型4本發(fā)明雙頻法得到的視電阻率曲線;
圖6a :模型5傳統(tǒng)的相位差視電阻率曲線;
圖6b :模型5傳統(tǒng)的幅度比視電阻率曲線;
圖6c :模型5本發(fā)明雙頻法得到的視電阻率曲線。
具體實(shí)施例方式實(shí)施例一參見圖1,本發(fā)明隨鉆電磁波電阻率儀器雙頻介電常數(shù)校正方法,實(shí)現(xiàn)過(guò)程如下
I)在計(jì)算隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀響應(yīng)中,將電阻率和介電常數(shù)看成相互獨(dú)立的兩個(gè)變量,之間不存在任何關(guān)系。2)在電阻率均勻各向同性介質(zhì)中計(jì)算不同頻率、同一源距下隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀的相位差響應(yīng)。3)計(jì)算響應(yīng)時(shí)將介電常數(shù)和電阻率分別按從小到大的順序進(jìn)行變化,介電常數(shù)的變化范圍從I. O到300,電阻率的變化范圍從O. IOhmm到lOOOOOhmm。4)經(jīng)過(guò)上面計(jì)算過(guò)程,在源距相同的情況下,每個(gè)頻率都會(huì)得出一系列相位差響應(yīng)值,這一系列響應(yīng)值與介電常數(shù)和電阻率存在著對(duì)應(yīng)關(guān)系,即每一種介電常數(shù)和電阻率組合都會(huì)唯一的對(duì)應(yīng)每個(gè)頻率下的一個(gè)相位差響應(yīng)值。5)由于存在著這種對(duì)應(yīng)關(guān)系,我們?nèi)蓚€(gè)頻率的相位差響應(yīng)值分別作為坐標(biāo)系橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)的值,則每個(gè)介電常數(shù)和電阻率值都會(huì)在該坐標(biāo)系中用唯一的一個(gè)點(diǎn)來(lái)確定。我們以頻率為2MHz和400KHZ,源距為20in為例計(jì)算了一組相位差響應(yīng)數(shù)據(jù),并繪制了圖版如圖I所示。6)在實(shí)際測(cè)井中我們能夠獲得兩個(gè)頻率下的相位差響應(yīng)值,即圖I中橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)的值,這樣我們就可以在圖版中進(jìn)行插值來(lái)獲得一組對(duì)應(yīng)的介電常數(shù)和電阻率值。這時(shí)的電阻率值與介電常數(shù)值是相互獨(dú)立的,實(shí)現(xiàn)了介電常數(shù)的校正。 實(shí)施例二 參見圖1,本發(fā)明隨鉆電磁波電阻率儀器雙頻介電常數(shù)校正方法,與實(shí)施例一不同的是,通過(guò)步驟3)、4),在獲得兩個(gè)頻率下的相位差響應(yīng)值后,除了通過(guò)在圖板上插值得到對(duì)應(yīng)的介電常數(shù)和電阻率值外,還可以將之前計(jì)算好的數(shù)據(jù)做成數(shù)據(jù)庫(kù),通過(guò)在數(shù)據(jù)庫(kù)中搜索得到介電常數(shù)和電阻率值,即將每個(gè)介電常數(shù)和電阻率值下計(jì)算出的每個(gè)頻率下的相位差響應(yīng)值數(shù)據(jù)按對(duì)應(yīng)關(guān)系組成一組數(shù)據(jù),將多組這樣的數(shù)據(jù)按一定的順序排列,建立數(shù)據(jù)庫(kù),選擇兩個(gè)頻率的相位差響應(yīng)值作為搜索條件輸入到數(shù)據(jù)庫(kù)中進(jìn)行搜索,得到介電常數(shù)和電阻率值。其中數(shù)據(jù)庫(kù)的制作是將每個(gè)介電常數(shù)和電阻率值下計(jì)算出的每個(gè)頻率下的相位差響應(yīng)值數(shù)據(jù)按對(duì)應(yīng)關(guān)系組成一組數(shù)據(jù),即(介電常數(shù)值、電阻率值、頻率I下的相位差響應(yīng)值、頻率2下的相位差響應(yīng)值、…、頻率η下的相位差響應(yīng)值)作為一組數(shù)據(jù)。這樣在步驟3)給定的介電常數(shù)和電阻率變化范圍內(nèi)會(huì)得到多組這樣的數(shù)據(jù)。將多組這樣的數(shù)據(jù)按一定的順序排列,便得到我們所說(shuō)的數(shù)據(jù)庫(kù),前述頻率1、2、…、η分別代表不同的頻率值。搜索中,選擇兩個(gè)頻率的相位差響應(yīng)值作為搜索條件輸入到數(shù)據(jù)庫(kù)中進(jìn)行搜索,找到與搜索條件相匹配的一組數(shù)據(jù)后,便可以讀出該組數(shù)據(jù)中介電常數(shù)和電阻率的值,完成搜索。得到與介電常數(shù)無(wú)關(guān)的電阻率值,實(shí)現(xiàn)介電常數(shù)的校正。本發(fā)明介電常數(shù)校正方法曲線特性分析
I、分辨率特性分析
模型I是在100h_的圍巖中夾著IOOOhmm的目的層,目的層厚分別為2ft、4ft、8ft、16ft,中間的圍巖層厚為10ft,介電常數(shù)均選為斯倫貝謝公司的經(jīng)驗(yàn)公式,頻率2MHz下,頻率400KHZ下,井斜為0°。隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀在此模型下的傳統(tǒng)的相位差和幅度比視電阻率曲線如圖2a,2b所示,利用本文的雙頻法進(jìn)行轉(zhuǎn)換得到的視電阻率曲線如圖2c所示,視介電常數(shù)如圖2d所示。通過(guò)觀察圖2中各圖發(fā)現(xiàn),雙頻法的相位差視電阻率曲線的分辨率要介于對(duì)應(yīng)的傳統(tǒng)的兩種頻率的相位差視電阻率曲線之間,形態(tài)要優(yōu)于傳統(tǒng)的幅度比視電阻率曲線。視介電常數(shù)曲線由于受到圍巖的影響嚴(yán)重,已經(jīng)基本失去意義。模型2與模型I的地層厚度和圍巖電阻率相同,只是目的層是各向異性,水平電阻率為lOOhmm,垂直電阻率為lOOOhmm,井斜為80°,介電常數(shù)同樣選為斯倫貝謝公司的經(jīng)驗(yàn)公式。此模型下隨鉆測(cè)井儀的傳統(tǒng)視電阻率曲線如圖3a,3b所示,利用本文的雙頻法進(jìn)行轉(zhuǎn)換得到的視電阻率曲線如圖3c所示,視介電常數(shù)如圖3d所示。觀察圖3中各圖發(fā)現(xiàn),雙頻法得到的相位差視電阻率曲線仍然介于兩種頻率的相位差視電阻率曲線之間,形態(tài)優(yōu)于幅度比視電阻率曲線。說(shuō)明其受各向異性的影響程度也介于兩種頻率的相位差視電阻率曲線之間。視介電常數(shù)曲線依然是沒有意義的,因此在下面算例中將不再對(duì)其進(jìn)行分析。2、侵入影響分析
模型3同樣是IOOhmm的圍巖中夾著三層IOOOhmm的目的層,井斜為0° ,但目的層中存在著侵入,侵入電阻率均為lOOhmm,侵入直徑分別為10in、20in、30in,目的層厚為20ft,中間的圍巖層厚為10ft。介電常數(shù)同樣選為斯倫貝謝公司的經(jīng)驗(yàn)公式。此模型下隨鉆測(cè)井儀的傳統(tǒng)視電阻率曲線如圖4a,4b所示,利用本文的雙頻法進(jìn)行轉(zhuǎn)換得到的視電阻率曲線如圖4c所示,觀察圖4中各圖發(fā)現(xiàn),雙頻法得到的視電阻率依然位于兩種頻率的視電阻率值之間,形態(tài)依然優(yōu)于幅度比視電阻率曲線。說(shuō)明受侵入的影響程度介于兩種頻率之間。3、應(yīng)用效果分析 模型4為三層介質(zhì),圍巖電阻率為IOOhmm,目的層電阻率為IOOOOhmm,層厚為30m,介電常數(shù)均選為30,井斜為0°,此模型下隨鉆測(cè)井儀的傳統(tǒng)視電阻率曲線如圖5a,5b所示,觀察這兩個(gè)圖發(fā)現(xiàn),由于目的層較厚,基本不受圍巖影響,但頻率為2MHz的三條相位差視電阻率曲線值卻遠(yuǎn)小于lOOOOhmm,這主要是受介電常數(shù)的影響,而頻率為400KHz的三條相位差視電阻率曲線值卻很好的與原狀地層重合,說(shuō)明了此模型下頻率為400KHZ的相位差視電阻率受介電常數(shù)的影響非常小。幅度比視電阻率曲線由于受介電常數(shù)的影響更大已經(jīng)基本失去應(yīng)用價(jià)值。利用雙頻法轉(zhuǎn)換得到的視電阻率曲線如圖5c所示,觀察此圖發(fā)現(xiàn)其視電阻率值依然介于兩種頻率的相位差視電阻率值之間。并且20in時(shí)的視電阻率值基本等于真實(shí)值。模型5仍為三層地層,圍巖電阻率為lOOhmm,介電常數(shù)為20,目的層電阻率為60000hmm,介電常數(shù)為60,層厚為20m,井斜為0°。此模型下隨鉆測(cè)井儀的傳統(tǒng)視電阻率曲線如圖6a,6b所示,觀察這兩個(gè)圖發(fā)現(xiàn),由于目的層較厚,受圍巖的影響較小,但頻率為2MHz的三條相位差視電阻率曲線值卻小于lOOOOhmm,遠(yuǎn)遠(yuǎn)偏離了真實(shí)值。這說(shuō)明其受介電常數(shù)的影響非常大。頻率為400KHz的三條相位差視電阻率曲線值要高于頻率為2MHz的曲線,但由于超出了圖版的插值范圍使其仍然小于真實(shí)值。幅度比視電阻率曲線由于受介電常數(shù)的影響更大已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于真實(shí)值失去應(yīng)用價(jià)值。利用雙頻法得到的視電阻率曲線如圖6c所示,觀察此圖發(fā)現(xiàn)源距為20in和30in時(shí)的視電阻率值與真實(shí)值非常接近,很好的去除了介電常數(shù)的影響,拓寬了視電阻率的測(cè)量范圍,但源距為46in時(shí)由于超出了圖版的插值范圍使其失效。
權(quán)利要求
1.一種隨鉆電磁波電阻率儀器雙頻介電常數(shù)校正方法,其特征是 1)在計(jì)算隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀響應(yīng)中,將電阻率和介電常數(shù)看成相互獨(dú)立的兩個(gè)變量, 2)在電阻率均勻各向同性介質(zhì)中計(jì)算不同頻率、同一源距下隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀的相位差響應(yīng); 3)計(jì)算響應(yīng)時(shí)將介電常數(shù)和電阻率分別按從小到大的順序進(jìn)行變化,介電常數(shù)的變化范圍從I. O到300,電阻率的變化范圍從O. IOhmm到lOOOOOhmm,在源距相同的情況下,每個(gè)頻率都會(huì)得出一系列相位差響應(yīng)值,這一系列響應(yīng)值與介電常數(shù)和電阻率存在著對(duì)應(yīng)關(guān)系,即每一種介電常數(shù)和電阻率組合都會(huì)唯一的對(duì)應(yīng)每個(gè)頻率下的一個(gè)相位差響應(yīng)值; 4)根據(jù)相位差響應(yīng)值與介電常數(shù)和電阻率存在的一一對(duì)應(yīng)關(guān)系,取兩個(gè)頻率的相位差響應(yīng)值分別作為坐標(biāo)系橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)的值,則每個(gè)介電常數(shù)和電阻率值都會(huì)在該坐標(biāo)系中用唯一的一個(gè)點(diǎn)來(lái)確定,并繪制插值圖版; 5)通過(guò)在圖版中進(jìn)行插值來(lái)獲得一組對(duì)應(yīng)的介電常數(shù)和電阻率值,這時(shí)的電阻率值與介電常數(shù)值是相互獨(dú)立的,實(shí)現(xiàn)了介電常數(shù)的校正。
2.一種隨鉆電磁波電阻率儀器雙頻介電常數(shù)校正方法,其特征是 1)在計(jì)算隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀響應(yīng)中,將電阻率和介電常數(shù)看成相互獨(dú)立的兩個(gè)變量, 2)在電阻率均勻各向同性介質(zhì)中計(jì)算不同頻率、同一源距下隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀的相位差響應(yīng); 3)計(jì)算響應(yīng)時(shí)將介電常數(shù)和電阻率分別按從小到大的順序進(jìn)行變化,介電常數(shù)的變化范圍從I. O到300,電阻率的變化范圍從0. IOhmm到lOOOOOhmm,在源距相同的情況下,每個(gè)頻率都會(huì)得出一系列相位差響應(yīng)值,這一系列響應(yīng)值與介電常數(shù)和電阻率存在著對(duì)應(yīng)關(guān)系,即每一種介電常數(shù)和電阻率組合都會(huì)唯一的對(duì)應(yīng)每個(gè)頻率下的一個(gè)相位差響應(yīng)值; 4)在獲得兩個(gè)頻率下的相位差響應(yīng)值后,將每個(gè)介電常數(shù)和電阻率值下計(jì)算出的每個(gè)頻率下的相位差響應(yīng)值數(shù)據(jù)按對(duì)應(yīng)關(guān)系組成一組數(shù)據(jù),將多組這樣的數(shù)據(jù)按一定的順序排列,建立數(shù)據(jù)庫(kù),選擇兩個(gè)頻率的相位差響應(yīng)值作為搜索條件輸入到數(shù)據(jù)庫(kù)中進(jìn)行搜索,得到介電常數(shù)和電阻率值。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的隨鉆電磁波電阻率儀器雙頻介電常數(shù)校正方法,其特征是數(shù)據(jù)庫(kù)的制作是將每個(gè)介電常數(shù)和電阻率值下計(jì)算出的每個(gè)頻率下的相位差響應(yīng)值數(shù)據(jù)按對(duì)應(yīng)關(guān)系組成一組數(shù)據(jù),即介電常數(shù)值、電阻率值、頻率I下的相位差響應(yīng)值、頻率2下的相位差響應(yīng)值、…、頻率η下的相位差響應(yīng)值作為一組數(shù)據(jù),這樣在步驟3)給定的介電常數(shù)和電阻率變化范圍內(nèi)會(huì)得到多組這樣的數(shù)據(jù),將多組這樣的數(shù)據(jù)按一定的順序排列,得到所說(shuō)的數(shù)據(jù)庫(kù),前述頻率1、2、…、η分別代表不同的頻率值。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的隨鉆電磁波電阻率儀器雙頻介電常數(shù)校正方法,其特征是搜索中,選擇兩個(gè)頻率的相位差響應(yīng)值作為搜索條件輸入到數(shù)據(jù)庫(kù)中進(jìn)行搜索,找到與搜索條件相匹配的一組數(shù)據(jù)后,便可以讀出該組數(shù)據(jù)中介電常數(shù)和電阻率的值,完成搜索,得到與介電常數(shù)無(wú)關(guān)的電阻率值,即實(shí)現(xiàn)介電常數(shù)的校正。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種隨鉆電磁波電阻率儀器雙頻介電常數(shù)校正方法。在計(jì)算隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀響應(yīng)中,將電阻率和介電常數(shù)看成相互獨(dú)立的兩個(gè)變量,在電阻率均勻各向同性介質(zhì)中計(jì)算不同頻率、同一源距下隨鉆電磁波電阻率測(cè)井儀的相位差響應(yīng);計(jì)算響應(yīng)時(shí)將介電常數(shù)和電阻率分別按從小到大的順序進(jìn)行變化,根據(jù)相位差響應(yīng)值與介電常數(shù)和電阻率存在的一一對(duì)應(yīng)關(guān)系,取兩個(gè)頻率的相位差響應(yīng)值分別作為坐標(biāo)系橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)繪制插值圖版,通過(guò)在圖版中進(jìn)行插值來(lái)獲得一組對(duì)應(yīng)的介電常數(shù)和電阻率值,或者在獲得兩個(gè)頻率下的相位差響應(yīng)值后,將每個(gè)介電常數(shù)和電阻率值下計(jì)算出的每個(gè)頻率下的相位差響應(yīng)值數(shù)據(jù)按對(duì)應(yīng)關(guān)系建立數(shù)據(jù)庫(kù),選擇兩個(gè)頻率的相位差響應(yīng)值作為搜索條件輸入到數(shù)據(jù)庫(kù)中進(jìn)行搜索,得到介電常數(shù)和電阻率值,實(shí)現(xiàn)介電常數(shù)的校正。
文檔編號(hào)G01V3/30GK102635348SQ201210095139
公開日2012年8月15日 申請(qǐng)日期2012年3月31日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月31日
發(fā)明者宋殿光, 方輝, 李郴, 段寶良, 郭巍, 韓宏克, 魏少華 申請(qǐng)人:中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二十二研究所