專利名稱：玻璃基板的檢測裝置及檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及檢測領(lǐng)域，特別是涉及一種玻璃基板的檢測裝置及檢測方法。
背景技術(shù)：
用于電腦顯示器及電視機(jī)等顯示面板的玻璃基板在進(jìn)入制程線前裝在卡匣中臨時(shí)存放。該卡匣通常在豎直方向上設(shè)置多個(gè)支撐面，每一支撐面用以支撐一塊玻璃基板，因此，裝于同一卡匣中的相鄰兩塊玻璃基板之間間隔一定的距離。在生產(chǎn)顯示面板前，通過機(jī)械自動裝置將裝有多塊玻璃基板的卡匣移動至顯示面板制程線。因放置于同一卡匣中的相鄰支撐面上的兩玻璃基板之間距離較小，儲存和搬運(yùn)過程中不易發(fā)現(xiàn)玻璃基板是否出現(xiàn)裂紋/破損?，F(xiàn)有技術(shù)中，當(dāng)玻璃基板被裝入卡匣中臨時(shí)存放到通過自動倉儲系統(tǒng)將存放玻璃基板的卡匣移動至顯示面板的制程線的這一過程中尚無法對玻璃基板是否破損進(jìn)行檢測，因此上述過程中產(chǎn)生破損的玻璃基板可能直至制程線時(shí)才會被發(fā)現(xiàn)。因此，需要在顯示面板制程中將破損的玻璃基板搬走，勢必會影響顯示面板的生產(chǎn)效率。再者，若玻璃基板的破損程度較小，不能被及時(shí)發(fā)現(xiàn)，則有可能將破損的玻璃基板制成顯示面板，導(dǎo)致成品不良。鑒于此，有必要提供一種玻璃基板的檢測裝置及檢測方法，以解決上述問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種玻璃基板的檢測裝置和檢測方法，能夠檢測承載于卡匣中的玻璃基板是否存在破損。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個(gè)技術(shù)方案是提供一種玻璃基板的檢測裝置，用于檢測承載于卡匣中的玻璃基板是否存在破損，其中，該檢測裝置包括至少一傳感器組和一處理單元，傳感器組包括位于玻璃基板一側(cè)的一投光元件和分別位于玻璃基板兩側(cè)的兩個(gè)受光元件，投光元件用于向玻璃基板投射檢測光，兩個(gè)受光元件中的一個(gè)受光元件用于檢測直射和/或經(jīng)玻璃基板反射后的檢測光的亮度，兩個(gè)受光元件中的另一個(gè)受光元件用于檢測經(jīng)玻璃基板折射后的檢測光的亮度，處理單元用于判斷兩個(gè)受光元件檢測的亮度之間的亮度差是否處于預(yù)定范圍，若亮度差未處于該預(yù)定范圍，則被檢測玻璃基板存在破損。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的另一個(gè)技術(shù)方案是提供一種玻璃基板的檢測方法包括向玻璃基板投射檢測光；分別檢測直射和/或經(jīng)玻璃基板反射后的檢測光的亮度以及經(jīng)玻璃基板折射后的檢測光的亮度；判斷兩個(gè)亮度之間的亮度差是否處于預(yù)定范圍，若亮度差未處于預(yù)定范圍，則被檢測玻璃基板存在 破損。本發(fā)明的有益效果是通過本發(fā)明的檢測裝置及檢測方法可對玻璃基板是否存在破損進(jìn)行有效檢測，能夠減少或避免破損玻璃基板進(jìn)入顯示面板制程線，進(jìn)而可減少或避免在顯示面板制程中搬移破損玻璃基板，從而提高制程線生產(chǎn)效率，以及能夠降低將破損玻璃基板制成顯示面板而導(dǎo)致成品不良的幾率。


圖I是利用本發(fā)明實(shí)施例的玻璃基板檢測裝置檢測玻璃基板的原理示意圖；圖2是利用本發(fā)明實(shí)施例的玻璃基板檢測裝置檢測位于卡匣中的玻璃基板的主視圖；圖3是利用本發(fā)明實(shí)施例的玻璃基板檢測裝置檢測位于卡匣中的玻璃基板的俯視圖；、
圖4是本發(fā)明實(shí)施例的玻璃基板檢測方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式參閱圖I至圖3，本發(fā)明實(shí)施例的玻璃基板檢測裝置用于對臨時(shí)承載于卡匣50中的玻璃基板40是否存在破損進(jìn)行檢測。該檢測裝置可一次檢測位于同一卡匣50中的部分或全部玻璃基板40?？ㄏ?0用于一次承載多塊玻璃基板40?？ㄏ?0包括沿豎直方向互相平行設(shè)置的多個(gè)支撐面(未圖示)，每個(gè)支撐面用于承載一塊玻璃基板40。當(dāng)玻璃基板40被裝于卡匣50中后，相鄰的玻璃基板40之間間隔一定的距離。實(shí)際應(yīng)用中，為了提高卡匣50容納玻璃基板40的數(shù)量，相鄰玻璃基板40之間的距離較小，因此，當(dāng)卡匣50裝滿玻璃基板40后，除位于頂層的玻璃基板40外，其他玻璃基板40的表面均不便于從正面觀察，因此很難檢查出其他玻璃基板40是否存在破損。該玻璃基板檢測裝置包括至少一傳感器組，每個(gè)傳感器組包括分別位于卡匣50相對兩側(cè)的一投光元件11和一對受光元件12、13。該玻璃基板檢測裝置進(jìn)一步包括處理單元14。該玻璃基板檢測裝置可以一次檢測位于單一卡匣50中的全部玻璃基板40。此時(shí)，可沿豎直方向設(shè)置的多個(gè)傳感器組，分別對承載于卡匣50內(nèi)的每個(gè)玻璃基板40同時(shí)進(jìn)行檢測，具體如圖2所示。此外，為了保證檢測結(jié)果更為準(zhǔn)確，該玻璃基板檢測裝置還可以對應(yīng)水平放置的每塊玻璃基板40均設(shè)置有三個(gè)或其他任意數(shù)量的沿水平方向設(shè)置的傳感器組分別對玻璃基板40的不同區(qū)域進(jìn)行檢測。使用時(shí)，將投光兀件11置于玻璃基板40的一側(cè),投光兀件11優(yōu)選以斜入射方式向玻璃基板40投射檢測光。兩個(gè)受光元件12、13分別位于該玻璃基板40上、下兩側(cè)，受光元件12、13用以接收投光元件11發(fā)出的檢測光。在本實(shí)施例中，受光元件12接收的檢測光的一部分直接來自投光元件11，另一部分為經(jīng)投光元件11射出至空氣-玻璃界面后被反射至受光元件12的檢測光。受光元件13接收的檢測光則為經(jīng)投光元件11射出至空氣-玻璃界面后經(jīng)玻璃基板折射最后到達(dá)受光元件13的檢測光。因此，受光元件12檢測的亮度和受光元件13檢測的亮度之間的亮度差取決于投光元件11的亮度、玻璃基板40的厚度和長度、兩受光元件12、13的位置以及玻璃基板40是否存在破損。實(shí)際應(yīng)用中，針對完整的玻璃基板40，并根據(jù)上述投光元件11發(fā)出的檢測光的亮度、玻璃基板40的長度和厚度以及兩受光元件12、13的位置等因素進(jìn)行多次測試，并最終確定在玻璃基板40完整的情況下，兩受光元件12、13所檢測的亮度之間亮度差的正常范圍(預(yù)定范圍)，并記錄于處理單元14中。利用該玻璃基板檢測裝置對位于卡匣50中的玻璃基板40進(jìn)行檢測時(shí)，若兩受光元件12、13之間的亮度差位于該正常范圍內(nèi)則判定玻璃基板40無破損，若該兩受光元件12、13之間的亮度差超出該正常范圍則判定玻璃基板40有破損。該判定過程由與受光元件12、13相連的處理單元14進(jìn)行。在其他實(shí)施例中，受光元件12可以僅檢測從投光元件11直射的檢測光或僅檢測經(jīng)玻璃基板40反射的檢測光。實(shí)際應(yīng)用中，玻璃基板檢測裝置還可以進(jìn)一步設(shè)有與處理單元14相連接的報(bào)警單元15。處理單元14根據(jù)判定結(jié)果向報(bào)警單元60發(fā)出控制信號，以使報(bào)警單元15在處理單元14判定玻璃基板40存在破損時(shí)發(fā)出報(bào)警信息。承載有破損玻璃基板的卡匣50將被搬運(yùn)至其他位置，從而有效避免破損玻璃基板流入顯示面板制程線。該玻璃基板檢測裝置可應(yīng)用至以下場合其一，當(dāng)玻璃基板被裝入卡匣臨時(shí)存放時(shí)，運(yùn)用玻璃基板檢測裝置對位于卡匣中的玻璃基板進(jìn)行檢測能夠發(fā)現(xiàn)玻璃基板的包裝過程是否存在問題；其二，當(dāng)裝有玻璃基板的卡匣進(jìn)入自動倉儲系統(tǒng)時(shí)，在自動倉儲系統(tǒng)的入口處安裝玻璃基板檢測裝置對進(jìn)入其中的卡匣中的玻璃基板進(jìn)行檢測，可以將有破損玻璃基板的卡匣攔截，方便追查出現(xiàn)破損玻璃基板的原因；其三，在玻璃基板投入顯示面板制程 線時(shí)，在自動倉儲系統(tǒng)的出口處安裝玻璃基板檢測裝置對即將投入顯示面板制程線的卡匣中的玻璃基板進(jìn)行檢測，將有破損玻璃基板的卡匣攔截，避免破損玻璃基板進(jìn)入顯示面板制程線使生產(chǎn)效率降低，避免將破損玻璃基板制成顯示面板而導(dǎo)致成品不良。上述三處場合既可以同時(shí)分別安裝玻璃基板檢測裝置，亦可以擇一或擇二的方式安裝玻璃基板檢測裝置，不論玻璃基板檢測裝置安裝在哪個(gè)位置，與現(xiàn)有技術(shù)相比，均可以減低或避免破損玻璃進(jìn)入顯示面板的制程線。優(yōu)選地，在自動倉儲系統(tǒng)的入口處和出口處均安裝玻璃基板檢測裝置，既可以發(fā)現(xiàn)玻璃基板臨時(shí)儲存時(shí)的問題，又可以明確通過自動倉儲系統(tǒng)搬送卡匣的過程會不會導(dǎo)致玻璃基板破損，該兩處安裝的玻璃基板檢測裝置都可以對承裝有破損玻璃的卡匣進(jìn)行攔截，從而避免破損玻璃進(jìn)入顯示面板制程線。在本發(fā)明實(shí)施例的玻璃基板檢測裝置中，因玻璃基板40的寬度較寬，故，為了更全面仔細(xì)地檢測玻璃基板40表面，每一玻璃基板40對應(yīng)設(shè)置三個(gè)傳感器，三個(gè)傳感器的投光元件11位于卡匣50的同一側(cè)，因此，它們各自對應(yīng)的一對受光元件12、13均位于卡匣50的另一側(cè)。實(shí)際應(yīng)用中，檢測同一玻璃基板40的傳感器組的數(shù)目可根據(jù)玻璃基板40的寬度做出調(diào)整，當(dāng)玻璃基板40的寬度較窄時(shí)，可以選擇較少數(shù)量的傳感器組檢測一塊玻璃基板40，如采用I個(gè)或2個(gè)傳感器組檢測一塊玻璃基板；當(dāng)玻璃基板40的寬度較寬時(shí)，還可以選擇大于3個(gè)的傳感器組對同一玻璃基板進(jìn)行檢測。同時(shí)，當(dāng)檢測同一玻璃基板40的傳感器數(shù)目大于I時(shí)，傳感器的投光元件11和一對受光元件12、13擺放也可不同。例如，一個(gè)傳感器的投光元件11位于卡匣50的一側(cè)，與該傳感器對應(yīng)的受光元件12、13位于卡匣50的另一側(cè)；而其他傳感器的投光元件11和受光元件12、13的位置剛好與前述傳感器的位置分布相反。除前述實(shí)施例提到的一次檢測單一^^匣50中的全部玻璃基板40的玻璃檢測裝置夕卜，本發(fā)明玻璃檢測裝置還包括一次檢測單一卡匣50中的部分玻璃基板40的情形，例如，單一卡匣中裝有3n塊玻璃基板，玻璃檢測裝置一次僅檢測其中的n塊玻璃基板，因此單一卡匣中的玻璃基板需要玻璃檢測裝置分三次才可檢測完成。此時(shí)，投光元件11和受光元件12、13可裝載在傳送機(jī)構(gòu)上，以在豎直方向上進(jìn)行傳送，進(jìn)而完成多次檢測。本發(fā)明實(shí)施例的玻璃基板檢測裝置中的投光元件11的位置位于玻璃基板40 —端的上側(cè)，實(shí)際應(yīng)用中并不受此限制，投光元件11的位置亦可以位于玻璃基板40端部的下側(cè)或其他的任意適當(dāng)位置。請參閱圖4，本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)一步提供一種玻璃基板的檢測方法，包括S10.向玻璃基板投射檢測光，其中優(yōu)選以斜入射的方式向玻璃基板投射檢測光；S20.分別檢測直射和/或經(jīng)玻璃基板反射后的檢測光的亮度以及經(jīng)玻璃基板折射后的檢測光的亮度；
S30.判斷兩個(gè)亮度之間的亮度差是否處于預(yù)定范圍，若亮度差未處于該預(yù)定范圍，則被檢測玻璃基板存在破損；S40.在玻璃基板存在破損時(shí)，發(fā)出報(bào)警信息。區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明的玻璃基板檢測裝置及檢測方法可對玻璃基板是否存在破損進(jìn)行有效檢測，能夠減少或避免破損玻璃基板進(jìn)入顯示面板制程線，進(jìn)而可減少或避免在顯示面板制程中搬移破損玻璃基板，從而提高制程線生產(chǎn)效率，以及能夠降低將破損玻璃基板制成顯示面板而導(dǎo)致成品不良的幾率。以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.ー種玻璃基板的檢測裝置，用于檢測承載于卡匣中的玻璃基板是否存在破損，其特征在干，所述檢測裝置包括至少ー傳感器組和至少ー處理單元，所述傳感器組包括位于所述玻璃基板ー側(cè)的ー投光元件和分別位于所述玻璃基板兩側(cè)的兩個(gè)受光元件，所述投光元件用于向所述玻璃基板投射檢測光，所述兩個(gè)受光元件中的ー個(gè)受光元件用于檢測直射和/或經(jīng)所述玻璃基板反射后的所述檢測光的亮度，所述兩個(gè)受光元件中的另ー個(gè)受光元件用于檢測經(jīng)所述玻璃基板折射后的所述檢測光的亮度，所述處理単元用于判斷所述兩個(gè)受光元件檢測的亮度之間的亮度差是否處于預(yù)定范圍，若所述亮度差未處于所述預(yù)定范圍，則所述玻璃基板存在破損。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置包括沿豎直方向設(shè)置的多個(gè)所述傳感器組，以分別對沿所述豎直方向承載于所述卡匣內(nèi)的多個(gè)玻璃基板同時(shí)進(jìn)行檢測。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置包括沿水平方向設(shè)置的多個(gè)所述傳感器組，以對沿所述水平方向放置的所述玻璃基板的多個(gè)區(qū)域進(jìn)行檢測。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的檢測裝置，其特征在于，所述投光元件以斜入射方式向所述玻璃基板投射所述檢測光。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的檢測裝置，其特征在于，所述投光元件和所述受光元件分別設(shè)置于所述卡匣的相對兩側(cè)。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置進(jìn)ー步包括報(bào)警單元，所述報(bào)警単元在所述處理単元判定所述玻璃基板存在破損時(shí)發(fā)出報(bào)警信息。
7.根據(jù)權(quán)利要求I所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置設(shè)置于用于存放所述卡匣的自動倉儲系統(tǒng)的入口或出ロ。
8.ー種玻璃基板的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法包括 向所述玻璃基板投射檢測光； 分別檢測直射和/或經(jīng)所述玻璃基板反射后的所述檢測光的亮度以及經(jīng)所述玻璃基板折射后的所述檢測光的亮度； 判斷所述兩個(gè)亮度之間的亮度差是否處于預(yù)定范圍，若所述亮度差未處于所述預(yù)定范圍，則所述玻璃基板存在破損。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的檢測方法，其特征在于，所述向所述玻璃基板投射檢測光的步驟包括以斜入射方式向所述玻璃基板投射所述檢測光。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法進(jìn)ー步包括當(dāng)所述玻璃基板存在破損時(shí)，發(fā)出報(bào)警信息。
全文摘要
本發(fā)明提供一種玻璃基板的檢測裝置及檢測方法，用于檢測承載于卡匣中的玻璃基板是否存在破損。該檢測裝置包括至少一傳感器組和至少一處理單元。傳感器組包括位于玻璃基板一側(cè)的一投光元件和分別位于玻璃基板兩側(cè)的兩個(gè)受光元件，處理單元用于判斷兩個(gè)受光元件檢測的亮度之間的亮度差是否處于預(yù)定范圍，若該亮度差未處于預(yù)定范圍，則被檢測的玻璃基板存在破損。通過上述方式，本發(fā)明能夠減少或避免破損玻璃基板進(jìn)入顯示面板制程線。
文檔編號G01N21/958GK102636498SQ20121007929
公開日2012年8月15日 申請日期2012年3月22日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月22日
發(fā)明者吳俊豪, 朱二慶, 李賢德, 楊衛(wèi)兵, 林昆賢, 汪永強(qiáng) 申請人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司