專利名稱：太陽能芯片電性檢測(cè)裝置與方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于一種太陽能芯片電性檢測(cè)裝置與方法。
背景技術(shù)：
測(cè)量單多晶硅帶太陽能電池的方式是利用一排8 16支并排的彈簧針來測(cè)量電流。此測(cè)量方式需要考慮電流分布的均勻性以及單一支彈簧針?biāo)軌虺惺茈娏鞯呢?fù)荷量。為使長(zhǎng)度約為I 2cm的每一彈簧針動(dòng)作在同一個(gè)面與線上，所以在每一彈簧針上部設(shè)置一長(zhǎng)型金屬片，用來固定此彈簧針。不過，在實(shí)際測(cè)量的操作過程中，此金屬片對(duì)太陽能電池導(dǎo)電線外圍產(chǎn)生某種程度的遮蔽(shading)，因此影響測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性，進(jìn)而造成發(fā)電功率的計(jì)算結(jié)果錯(cuò)誤，這對(duì)于需要以發(fā)電功率計(jì)價(jià)的電池產(chǎn)品累計(jì)損失很大。為了確保彈簧針和測(cè)量樣品表面的接觸，使用排針測(cè)量的方式，一般使用氣壓缸搭配彈簧針來控制彈簧針和測(cè)量樣品表面的接觸力量。在實(shí)際操作上，因?yàn)閺椈舍樅蜏y(cè)量樣品的接觸面積很小(約為lOOum)，且氣壓缸的輸出力道不穩(wěn)定，所以容易對(duì)樣品施加過大的壓力，增加測(cè)量樣品破裂的風(fēng)險(xiǎn)。而且，必須以人力隨時(shí)確保以并排設(shè)計(jì)的每一支彈簧針的高度保持在最佳測(cè)量高度位置，以提供測(cè)量的準(zhǔn)確性，此種人力的確認(rèn)方式，在多次操作后使用極為不便。一篇專利文獻(xiàn)中公開了一種測(cè)量太陽能電池的方法，此方法使用一探針和一耦合線作為電壓測(cè)量端，此電流測(cè)量端利用多支探針測(cè)量，并以細(xì)電極線互相耦合。此方法是以多點(diǎn)接觸來進(jìn)行測(cè)量。另一篇專利文獻(xiàn)中公開了一種測(cè)量電池電流電壓特性曲線時(shí)的連接方式。此技術(shù)使用兩排彈性壓條來與太陽能電池的電極接觸，并外接一計(jì)算機(jī)來控制測(cè)量系統(tǒng)。此技術(shù)采用兩排排針設(shè)計(jì)，使用了一排彈簧來控制接觸電極，并且以一橫向金屬片來固定此彈簧。又一篇專利文獻(xiàn)中公開了一種測(cè)量電池特性的連接及固定方式，此技術(shù)使用上下兩探針來作為太陽能電池的電極接觸與夾持，當(dāng)探針向下移動(dòng)時(shí)具有彈性以及感應(yīng)的探針將會(huì)有產(chǎn)生一因通路連接的信號(hào)。此技術(shù)適宜多點(diǎn)測(cè)量。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一實(shí)施例提供一種太陽能芯片電性檢測(cè)裝置，包括貼附于一太陽能芯片的一總線(busbar)的一彈性金屬片，此彈性金屬片備有一開口 ；以及設(shè)置于彈性金屬片的一端的一導(dǎo)電裝置，此導(dǎo)電裝置經(jīng)由此開口與此總線接觸。本發(fā)明的另一實(shí)施例提供一種太陽能芯片電性檢測(cè)方法，此方法包括:將一太陽能芯片電性檢測(cè)裝置的一彈性金屬片貼附于一太陽能芯片的一總線；使一導(dǎo)電裝置的一端經(jīng)由此彈性金屬片的一開口與此總線接觸；以及利用連接至此太陽能芯片的一背面的一電極的一測(cè)試元件，分別電性連接至此彈性金屬片與此導(dǎo)電裝置?，F(xiàn)配合下列附圖、實(shí)施例的詳細(xì)說明及權(quán)利要求，將上述及本發(fā)明的其他優(yōu)點(diǎn)詳述于后。


圖1是根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例，說明一種太陽能芯片電性檢測(cè)裝置。圖2是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例，說明如何利用電性檢測(cè)裝置來測(cè)量一太陽能芯片的電流與電壓。圖3以一剖面示意圖，說明圖2中彈性金屬片、導(dǎo)電裝置、以及太陽能芯片所設(shè)置相對(duì)的位置。圖4是根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例，說明彈性金屬片與總線的設(shè)置相對(duì)位置圖5是根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，說明具有固定元件的太陽能芯片電性檢測(cè)裝置。圖6A至圖6D是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，說明位于彈性金屬片上開口的多種設(shè)置。圖7是根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，說明一種太陽能芯片電性檢測(cè)方法。主要元件符號(hào)說明 100電性檢測(cè)裝置；110彈性金屬片； 111開口；112弧度的接觸面；120導(dǎo)電裝置； 121測(cè)量端；130太陽能芯片； 131總線；132 正面；132 背面；210測(cè)試元件；220電流測(cè)量回路；230電壓測(cè)量回路；510第一固定元件；520第二固定元件；530 平臺(tái)；610-640 開口 ；710將一太陽能芯片電性檢測(cè)裝置的一彈性金屬片貼附于一太陽能芯片的一總線，并使一導(dǎo)電裝置的一端經(jīng)由此彈性金屬片的一開口與此總線接觸；720將連接至此太陽能芯片的一背面的一電極的一測(cè)試元件，分別電性連接至此彈性金屬片與此導(dǎo)電裝置；
具體實(shí)施例方式為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合具體實(shí)施例，并參照附圖，對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步詳細(xì)說明。圖1是根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例，說明一種太陽能芯片電性檢測(cè)裝置。如圖1所示，電性檢測(cè)裝置100包括一彈性金屬片110與一導(dǎo)電裝置120。彈性金屬片110具有一開口
111。導(dǎo)電裝置120設(shè)置于彈性金屬片110的一端，導(dǎo)電裝置120的一測(cè)量端121經(jīng)由開口111，與一太陽能芯片130的一總線131接觸。彈性金屬片110具有一弧度接觸面113。在一范例，當(dāng)彈性金屬片110被貼附于太陽能芯片130的總線131時(shí)，弧度接觸面113則形成一平坦面，并貼附于總線131。圖2是根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例，說明如何利用電性檢測(cè)裝置來測(cè)量一太陽能芯片的電流與電壓。如圖2所示，將此電性檢測(cè)裝置100貼附在位于太陽能芯片130的正面132的總線131，并電性連接至與相連于此太陽能芯片130的背面133的電極的一測(cè)試元件210，彈性金屬片110、測(cè)試元件130、以及背面133的電極(圖中無顯示)形成一電流測(cè)量回路220，導(dǎo)電裝置120、測(cè)試元件210、以及背面133的電極(圖中無顯示)形成一電壓測(cè)量回路230。由于測(cè)量太陽能芯片130的電流或電壓時(shí)僅使用彈性金屬片110，所以提供一個(gè)完全無陰影遮蔽的測(cè)量環(huán)境，因而增加測(cè)量時(shí)的準(zhǔn)確性。依此，根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，圖3以一剖面示意圖，說明圖2中彈性金屬片、導(dǎo)電裝置、以及太陽能芯片所設(shè)置相對(duì)的位置。如圖3所示，電性檢測(cè)裝置100貼附于太陽能芯片130的正面132，彈性金屬片110緊密貼附于太能陽芯片130的正面132，彈性金屬片110并電性連接至與相連于此太陽能芯片130的背面133的電極的一測(cè)試元件210。導(dǎo)電裝置120的一測(cè)量端121與太陽能芯片130的正面132的總線131 (圖中無顯示)接觸，導(dǎo)電裝置120并電性連接至與相連于此太陽能芯片130的背面133的電極的一測(cè)試元件210。在電壓測(cè)量時(shí)可提供最少的接觸面積，進(jìn)而增加供電壓測(cè)量的準(zhǔn)確結(jié)果。彈性金屬片110及導(dǎo)電裝置120的厚度都可小于2mm，所以，當(dāng)光源以任何角度照射于太陽能芯片130時(shí)，彈性金屬片110都不會(huì)對(duì)太陽能芯片130產(chǎn)生陰影遮蔽情況，進(jìn)而提高測(cè)量的準(zhǔn)確度。彈性金屬片110與導(dǎo)電裝置120之間是絕緣的，因此可助于降低測(cè)量時(shí)的不準(zhǔn)確性。圖4是根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例，說明彈性金屬片與總線的設(shè)置相對(duì)位置。如圖4所示，彈性金屬片110的寬度小于太陽能芯片130上總線131的寬度。此可提供電流測(cè)量時(shí)所需的最大面積，進(jìn)而提供高準(zhǔn)確度的測(cè)量結(jié)果。圖5是根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，說明具有固定元件的太陽能芯片電性檢測(cè)裝置。如圖5所示，電性檢測(cè)裝置100可包括一第一固定元件510與一第二固定元件520。第一固定元件510設(shè)置于彈性金屬片110的兩端，第二固定元件520可與第一固定元件510做結(jié)合或拆解。第二固定元件520裝設(shè)在置有一太陽能芯片130的一平臺(tái)530，平臺(tái)530例如是一測(cè)試平臺(tái)或一工作平臺(tái)。其中，第一、第二固定元件510、520可以是磁性元件，兩者可相互吸附，第一、第二固定元件510、520也可以是具有彈簧的元件，因此可隨時(shí)進(jìn)行組裝，進(jìn)而增加電性檢測(cè)裝置100的便利性。上述說明中的彈性金屬片上設(shè)置的開口僅列舉單一位置與單一形狀的開口做范例，在實(shí)際應(yīng)用上，開口可依照不同需求改變其位置與形狀，并設(shè)置彈性金屬片上任一地方。所以，再提供多種不同的開口的設(shè)置。圖6A至圖6D是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，說明位于彈性金屬片上開口的多種設(shè)置。如圖6A所示，開口 610是一矩形。如圖6B所示，開口 620是一圓形。如圖6C所示，開口 630是一三角形。如圖6D所示，開口 640是一缺口。圖7是根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，說明一種太陽能芯片電性檢測(cè)方法。如圖7所示，此方法包括:將一太陽能芯片電性檢測(cè)裝置的一彈性金屬片貼附于一太陽能芯片的一總線，并使一導(dǎo)電裝置的一端經(jīng)由此彈性金屬片的一開口與此總線接觸，如步驟710所示。以及將連接至此太陽能芯片的一背面的一電極的一測(cè)試元件，分別以電性連接至此彈性金屬片與此導(dǎo)電裝置，如步驟720所示。如此，此彈性金屬片、此測(cè)試元件與此背面的電極形成一電流測(cè)量回路，此導(dǎo)電裝置、此測(cè)試元件與此背面的電極形成一電壓測(cè)量回路。以上所述內(nèi)容都僅為本發(fā)明實(shí)施例，不能依此限定本發(fā)明實(shí)施的范圍。凡是本發(fā)明權(quán)利要求所作的等同變化與修飾，都應(yīng)屬于本發(fā)明專利涵蓋的范圍。
權(quán)利要求
1.一種太陽能芯片電性檢測(cè)裝置，其特征在于，該電性檢測(cè)裝置包括: 一彈性金屬片，貼附于一太陽能芯片的一總線，該彈性金屬片備有一開口 ；以及 一導(dǎo)電裝置，設(shè)置于該彈性金屬片的一端，該導(dǎo)電裝置經(jīng)由該開口與該總線接觸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電性檢測(cè)裝置，其特征在于，該彈性金屬片具有一弧度接觸面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電性檢測(cè)裝置，其特征在于，該彈性金屬片的寬度小于該總線的寬度。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電性檢測(cè)裝置，其特征在于，該裝置還包括一第一固定元件與一第二固定元件，該第一固定元件設(shè)置于該彈性金屬片的兩端，與該第二固定元件做組合及拆解。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電性檢測(cè)裝置，其特征在于，該開口設(shè)于該彈性金屬片與該總線接觸的任一處。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電性檢測(cè)裝置，其特征在于，該開口是一矩形。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電性檢測(cè)裝置，其特征在于，該開口是一圓形。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電性檢測(cè)裝置，其特征在于，該開口是一三角型。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電性檢測(cè)裝置，其特征在于，該開口是一缺口。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電性檢測(cè)裝置，其特征在于，該彈性金屬片與該導(dǎo)電裝置之間是絕緣的。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電性檢測(cè)裝置，其特征在于，該太陽能芯片的一電流測(cè)量是通過該電性檢測(cè)裝置貼附在位于該太陽能芯片的一正面的總線，并電性連接至與相連于該太陽能芯片的一背面的電極的一測(cè)試元件，該電性檢測(cè)裝置中的該彈性金屬片、該測(cè)試元件、以及該背面的電極來形成一電流測(cè)量回路。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電性檢測(cè)裝置，其特征在于，該太陽能芯片的一電壓測(cè)量是通過該電性檢測(cè)裝置貼附在位于該太陽能芯片的一正面的總線，并電性連接至與相連于此太陽能芯片的背面的電極的一測(cè)試元件，該電性檢測(cè)裝置中的該導(dǎo)電裝置、該測(cè)試元件、以及該背面的電極來形成一電壓測(cè)量回路。
13.—種太陽能芯片電性檢測(cè)方法，其特征在于，該方法包括: 將一太陽能芯片電性檢測(cè)裝置的一彈性金屬片貼附于一太陽能芯片的一總線，并使一導(dǎo)電裝置的一端經(jīng)由該彈性金屬片的一開口與該總線接觸；以及 將連接至該太陽能芯片的一背面的一電極的一測(cè)試元件，分別電性連接至該彈性金屬片與該導(dǎo)電裝置。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的電性檢測(cè)方法，其特征在于，該彈性金屬片、該測(cè)試元件與該背面的該電極形成一電流測(cè)量回路。
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的電性檢測(cè)方法，其特征在于，該導(dǎo)電裝置、該測(cè)試元件與該背面的該電極形成一電壓測(cè)量回路。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種太陽能芯片電性檢測(cè)裝置。該裝置包括貼附于一太陽能芯片的一總線的一彈性金屬片，此彈性金屬片具有一開口；以及設(shè)置于此彈性金屬片的一端的一導(dǎo)電裝置，此導(dǎo)電裝置經(jīng)由此開口與此總線接觸。將此電性檢測(cè)裝置貼附在位于此太陽能芯片的正面的總線，此彈性金屬片與導(dǎo)電裝置分別電性連接至與相連于此太陽能芯片的背面的電極的一測(cè)試元件，以使此彈性金屬片、此測(cè)試元件、以及此背面的電極形成一電流測(cè)量回路，此導(dǎo)電裝置、此測(cè)試元件、以及此背面的電極形成一電壓測(cè)量回路。
文檔編號(hào)G01R31/00GK103163333SQ20121003957
公開日2013年6月19日 申請(qǐng)日期2012年2月21日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月14日
發(fā)明者黎宇泰, 施仁親, 陳震偉, 李育賢, 吳鴻森, 盧冠伍 申請(qǐng)人:財(cái)團(tuán)法人工業(yè)技術(shù)研究院