專利名稱：一種smt網(wǎng)板單點(diǎn)厚度測(cè)量方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及激光加工技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種網(wǎng)板厚度測(cè)量方法。
背景技術(shù)
在激光微加工產(chǎn)業(yè)中，對(duì)于SMT網(wǎng)板都需要測(cè)量網(wǎng)板厚度以檢驗(yàn)該網(wǎng)板是否滿足 要求。一般是在網(wǎng)板幅面中以平均間隔取一定數(shù)量的點(diǎn)，測(cè)量這些點(diǎn)的厚度以表示該網(wǎng)板 厚度的平均值，如圖1所示，在網(wǎng)板I上取9個(gè)點(diǎn)的厚度平均值以表示網(wǎng)板I的厚度。
常規(guī)的測(cè)量方法在測(cè)量點(diǎn)的厚度時(shí)只取一點(diǎn)，沒有考慮到附近范圍內(nèi)網(wǎng)板的平整 度，所以并不能代表該點(diǎn)附近位置的厚度，如圖2所示，從網(wǎng)板的橫截面得出，網(wǎng)板的某一 點(diǎn)附近位置的厚度會(huì)與該點(diǎn)的厚度相差很大。因而使用此種測(cè)量方法得到的點(diǎn)位置厚度的 平均值以表示網(wǎng)板厚度會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)誤差較大，影響工業(yè)生產(chǎn)質(zhì)量。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于，提供一種SMT網(wǎng)板單點(diǎn)厚度測(cè)量方法，解決以上技術(shù)問題。
本發(fā)明所解決的技術(shù)問題可以采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn):一種SMT網(wǎng)板單點(diǎn)厚度測(cè)量方法，測(cè)量點(diǎn)在網(wǎng)板幅面上坐標(biāo)為(X，y)，首先通過軸系運(yùn) 動(dòng)將激光位移傳感器移動(dòng)到測(cè)量點(diǎn)位置，開始測(cè)量并獲取厚度數(shù)據(jù)，其特征在于，還包括如 下步驟:設(shè)定表示位置范圍的半徑r，按照一設(shè)定路徑，在半徑r位置范圍，移動(dòng)激光位移傳 感器，移動(dòng)過程中不斷測(cè)量網(wǎng)板厚度并保存數(shù)據(jù)，直到激光位移傳感器掃描完成回到(x，y) 點(diǎn)，最終取獲得的復(fù)數(shù)個(gè)厚度數(shù)據(jù)的平均值以表示測(cè)量點(diǎn)位置的厚度。
本發(fā)明在測(cè)量點(diǎn)的四周方向都采集多個(gè)點(diǎn)厚度信息，取其平均值來表示測(cè)量點(diǎn)位 置的厚度，避免了在該測(cè)量點(diǎn)處因?yàn)殇摪灞砻嫫秸炔粔驅(qū)е聰?shù)值片面而不能代表此處的 厚度。本發(fā)明提高了 SMT網(wǎng)板的厚度測(cè)量準(zhǔn)確性，降低誤差。
在半徑r位置范圍，移動(dòng)激光位移傳感器，移動(dòng)過程中取至少四點(diǎn)的網(wǎng)板厚度并 保存數(shù)據(jù)，并將至少四點(diǎn)測(cè)量到的網(wǎng)板厚度和測(cè)量到的測(cè)量點(diǎn)的厚度取平均，表示測(cè)量點(diǎn) 位置的厚度。
有益效果:由于采用上述技術(shù)方案，本發(fā)明用于測(cè)量網(wǎng)板厚度是，提高了 SMT網(wǎng)板 的厚度測(cè)量準(zhǔn)確性，降低誤差。


圖1為傳統(tǒng)測(cè)量網(wǎng)板厚度時(shí)，取點(diǎn)示意圖；圖2為網(wǎng)板橫截面示意圖；圖3為本發(fā)明實(shí)施方式一的取點(diǎn)示意圖。
具體實(shí)施方式
為了使本發(fā)明實(shí)現(xiàn)的技術(shù)手段、創(chuàng)作特征、達(dá)成目的與功效易于明白了解，下面結(jié) 合具體圖示進(jìn)一步闡述本發(fā)明。
一種SMT網(wǎng)板單點(diǎn)厚度測(cè)量方法，包括如下步驟:第一步，測(cè)量點(diǎn)在網(wǎng)板幅面上坐標(biāo)為(X，y)，首先通過軸系運(yùn)動(dòng)將激光位移傳感器移動(dòng) 到測(cè)量點(diǎn)位置，開始測(cè)量并獲取測(cè)量點(diǎn)的厚度數(shù)據(jù)。
第二步，設(shè)定表示位置范圍的半徑r，按照一設(shè)定路徑，在半徑r位置范圍，移動(dòng)激 光位移傳感器，移動(dòng)過程中不斷測(cè)量網(wǎng)板厚度并保存數(shù)據(jù)，直到激光位移傳感器掃描完成 回到(X，y)點(diǎn)。
第三步，將獲得的復(fù)數(shù)個(gè)厚度數(shù)據(jù)的平均值以表示測(cè)量點(diǎn)位置的厚度。
本發(fā)明在測(cè)量點(diǎn)的四周方向都采集多個(gè)點(diǎn)厚度信息，取其平均值來表示測(cè)量點(diǎn)位 置的厚度，避免了在該測(cè)量點(diǎn)處因?yàn)殇摪灞砻嫫秸炔粔驅(qū)е聰?shù)值片面而不能代表此處的 厚度。本發(fā)明提高了 SMT網(wǎng)板的厚度測(cè)量準(zhǔn)確性，降低誤差。
在半徑r位置范圍，移動(dòng)激光位移傳感器，移動(dòng)過程中取至少四點(diǎn)的網(wǎng)板厚度并 保存數(shù)據(jù)，并將至少四點(diǎn)測(cè)量到的網(wǎng)板厚度和測(cè)量到的測(cè)量點(diǎn)的厚度取平均，表示測(cè)量點(diǎn) 位置的厚度。
實(shí)施方式一:在半徑r位置范圍內(nèi)，按照如圖3所示的1-8設(shè)定的移動(dòng)路徑，激光 位移傳感器分別移動(dòng)到(X，y-r)> (X, y+r)、(x_r, y)、(x+r, y),取上述四點(diǎn)坐標(biāo)位置的網(wǎng)板 厚度，并將上述四點(diǎn)的網(wǎng)板厚度與測(cè)量到的測(cè)量點(diǎn)的網(wǎng)板厚度取平均，得到的平均值認(rèn)為 是測(cè)量點(diǎn)的網(wǎng)板厚度。
以上顯示和描述了本發(fā)明的基本原理和主要特征和本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)。本行業(yè)的技術(shù) 人員應(yīng)該了解，本發(fā)明不受上述實(shí)施例的限制，上述實(shí)施例和說明書中描述的只是說明本 發(fā)明的原理，在不脫離本發(fā)明精神和范圍的前提下，本發(fā)明還會(huì)有各種變化和改進(jìn)，這些變 化和改進(jìn)都落入要求保護(hù)的本發(fā)明范圍內(nèi)。本發(fā)明要求保護(hù)范圍由所附的權(quán)利要求書及其 等效物界定。
權(quán)利要求
1.一種SMT網(wǎng)板單點(diǎn)厚度測(cè)量方法，測(cè)量點(diǎn)在網(wǎng)板幅面上坐標(biāo)為(x，y)，首先通過軸系運(yùn)動(dòng)將激光位移傳感器移動(dòng)到測(cè)量點(diǎn)位置，開始測(cè)量并獲取厚度數(shù)據(jù)，其特征在于，還包括如下步驟:設(shè)定表示位置范圍的半徑r，按照一設(shè)定路徑，在半徑r位置范圍，移動(dòng)激光位移傳感器，移動(dòng)過程中不斷測(cè)量網(wǎng)板厚度并保存數(shù)據(jù)，直到激光位移傳感器掃描完成回到(X， y)點(diǎn)，最終取獲得的復(fù)數(shù)個(gè)厚度數(shù)據(jù)的平均值以表示測(cè)量點(diǎn)位置的厚度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種SMT網(wǎng)板單點(diǎn)厚度測(cè)量方法，其特征在于，在半徑r位置范圍，移動(dòng)激光位移傳感器，移動(dòng)過程中取至少四點(diǎn)的網(wǎng)板厚度并保存數(shù)據(jù)，并將至少四點(diǎn)測(cè)量到的網(wǎng)板厚度和測(cè)量到的測(cè)量點(diǎn)的厚度取平均，表示測(cè)量點(diǎn)位置的厚 度。
全文摘要
本發(fā)明涉及激光加工技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種網(wǎng)板厚度測(cè)量方法。一種SMT網(wǎng)板單點(diǎn)厚度測(cè)量方法，測(cè)量點(diǎn)在網(wǎng)板幅面上坐標(biāo)為(x，y)，首先通過軸系運(yùn)動(dòng)將激光位移傳感器移動(dòng)到測(cè)量點(diǎn)位置，開始測(cè)量并獲取厚度數(shù)據(jù)，還包括如下步驟設(shè)定表示位置范圍的半徑r，按照一設(shè)定路徑，在半徑r位置范圍，移動(dòng)激光位移傳感器，移動(dòng)過程中不斷測(cè)量網(wǎng)板厚度并保存數(shù)據(jù)，直到激光位移傳感器掃描完成回到(x，y)點(diǎn)，最終取獲得的復(fù)數(shù)個(gè)厚度數(shù)據(jù)的平均值以表示測(cè)量點(diǎn)位置的厚度。由于采用上述技術(shù)方案，本發(fā)明用于測(cè)量網(wǎng)板厚度是，提高了SMT網(wǎng)板的厚度測(cè)量準(zhǔn)確性，降低誤差。
文檔編號(hào)G01B11/06GK103217112SQ20121001570
公開日2013年7月24日 申請(qǐng)日期2012年1月19日 優(yōu)先權(quán)日2012年1月19日
發(fā)明者魏志凌, 寧軍, 沈曉 申請(qǐng)人:昆山思拓機(jī)器有限公司