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一種射線式測(cè)厚儀及其校正方法

文檔序號(hào):5940156閱讀:565來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:一種射線式測(cè)厚儀及其校正方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及在金屬帶材軋制生產(chǎn)線上的測(cè)量裝置,具體涉及一種射線式測(cè)厚儀及其校正方法,屬于冶金行業(yè)金屬板帶軋制技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
在金屬帶材的軋制生產(chǎn)中,為了保證軋制出來(lái)的帶材滿足厚度公差的要求,需要性能穩(wěn)定的厚度測(cè)量?jī)x。因?yàn)樯a(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境的諸多因素制約,如溫度、濕度、水汽、油氣、油污、振動(dòng)等均會(huì)對(duì)測(cè)厚儀測(cè)量精度形成不利的影響,即導(dǎo)致其測(cè)量誤差變大。為了保證射線式測(cè)厚儀的測(cè)量精度及其穩(wěn)定性,前人已做了大量的工作,舉例如下(1) 70年代,作為雙通道式的X射線測(cè)厚儀就已研究出來(lái),并投入使用。該型測(cè)厚儀對(duì)穿過(guò)被測(cè)帶材的射線強(qiáng)度與穿過(guò)基準(zhǔn)楔的射線強(qiáng)度進(jìn)行差分處理,從而得到被測(cè)帶材的厚度。其中,基準(zhǔn)楔的位置與被軋制帶材的目標(biāo)值,即設(shè)定厚度值一一對(duì)應(yīng);而基準(zhǔn)楔的位置控制是通過(guò)使用不同厚度的標(biāo)準(zhǔn)板標(biāo)定之后確定的;當(dāng)被測(cè)帶材厚度與設(shè)定厚度值相同時(shí),那么穿透過(guò)被測(cè)板的射線強(qiáng)度與穿透過(guò)基準(zhǔn)楔的射線強(qiáng)度是相同的,經(jīng)過(guò)探測(cè)器及其運(yùn)算電路的差分處理,就會(huì)得到厚度偏差為零的結(jié)果,否則,就會(huì)得到正的或負(fù)的厚度偏差信號(hào)。這種測(cè)量方式的最大優(yōu)點(diǎn)在于可以有效的抑制由于X射線發(fā)生器產(chǎn)生的X射線的強(qiáng)度發(fā)生波動(dòng)時(shí)對(duì)測(cè)量精度的影響;鑒于當(dāng)時(shí)的技術(shù)條件,此種測(cè)量方式確屬先進(jìn);但相伴的缺點(diǎn)也是明顯,如裝置結(jié)構(gòu)復(fù)雜;對(duì)基準(zhǔn)楔的加工精度要求高,對(duì)基準(zhǔn)楔的位置控制精度也要求很高,不然難以保證厚度設(shè)定值的精度;設(shè)備維護(hù)調(diào)整很麻煩。雖然后來(lái)有人在上面的測(cè)量原理基礎(chǔ)上簡(jiǎn)化了基準(zhǔn)楔裝置,改進(jìn)了電路,取得了進(jìn)步,但受測(cè)量原理的限制,該有的功能結(jié)構(gòu)裝置并不能減少,對(duì)測(cè)量設(shè)備的性能調(diào)整和維護(hù)檢修依然不簡(jiǎn)便。(2)隨著電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展,X射線發(fā)生器裝置的性能得到很大提高, 特別是計(jì)算機(jī)技術(shù)在射線式測(cè)厚儀中的應(yīng)用,大大增強(qiáng)了設(shè)備的功能,同樣是采用標(biāo)準(zhǔn)板對(duì)設(shè)備進(jìn)行標(biāo)定以實(shí)現(xiàn)對(duì)帶材厚度的測(cè)量,但卻可去掉基準(zhǔn)楔機(jī)構(gòu)及其附屬的電控裝置, 從而在機(jī)械和電氣兩個(gè)方面降低了測(cè)厚儀設(shè)備的復(fù)雜性,減少了故障點(diǎn),提高了可靠性。因此,現(xiàn)在使用的X射線測(cè)厚儀幾乎全部采用單光束測(cè)量方式。雖然技術(shù)的進(jìn)步使射線式測(cè)厚儀的測(cè)量方式不斷改進(jìn),但無(wú)論早期,還是現(xiàn)在的射線式測(cè)厚儀,它們共有的一個(gè)特點(diǎn)是為了實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量,在使用前必須用標(biāo)準(zhǔn)板對(duì)設(shè)備進(jìn)行標(biāo)定,這是一個(gè)耗時(shí)和繁瑣的過(guò)程。經(jīng)過(guò)一段時(shí)間的使用,由于諸多因素,測(cè)厚儀會(huì)出現(xiàn)測(cè)量偏差,為了糾偏,就需要重新標(biāo)定。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是為了解決在金屬帶材的軋制過(guò)程中,由于生產(chǎn)環(huán)境及設(shè)備自身穩(wěn)定性而造成的影響測(cè)厚儀測(cè)量精度的問(wèn)題,提供了一種具有快速校正測(cè)量精度功能的射線式測(cè)厚儀及其校正方法。一種射線式測(cè)厚儀,包括射線源、射線探測(cè)器、前置放大電路板、控制柜、終端顯示與操作裝置、C型架;射線源設(shè)置在C型架的喉隙下部,射線探測(cè)器設(shè)置在C型架的喉隙上部,被測(cè)金屬帶材從C型架喉隙處通過(guò),前置放大電路板連接控制柜,控制柜連接終端顯示與操作裝置, 用于進(jìn)行厚度計(jì)算和顯示以及接受操作人員的指令;射線源發(fā)出射線,穿過(guò)被測(cè)金屬帶材后,射線探測(cè)器接收射線,將射線轉(zhuǎn)換為電信號(hào),輸出電信號(hào)至前置放大電路板,前置放大電路板進(jìn)行放大處理后,將處理后的電信號(hào)輸出至控制柜,控制柜內(nèi)部的測(cè)量電路對(duì)電信號(hào)進(jìn)行處理,得到測(cè)量電壓,控制柜的計(jì)算機(jī)測(cè)量系統(tǒng)對(duì)測(cè)量電壓進(jìn)行處理,得到被測(cè)金屬帶材的標(biāo)定曲線,根據(jù)標(biāo)定曲線的數(shù)據(jù)計(jì)算出被測(cè)金屬帶材的厚度,并輸出至終端顯示與操作裝置進(jìn)行顯示。一種射線式測(cè)厚儀的校正方法,包括以下幾個(gè)步驟步驟一進(jìn)行原始標(biāo)定曲線;在測(cè)厚儀投入生產(chǎn)使用前進(jìn)行一次標(biāo)定,得到主標(biāo)定曲線,并同時(shí)生成副標(biāo)定曲線,主標(biāo)定曲線用于進(jìn)行快速精度校正時(shí)的基準(zhǔn)曲線,副標(biāo)定曲線用于測(cè)厚儀在測(cè)量中計(jì)算厚度時(shí)使用;此時(shí),要使用不同的合金標(biāo)準(zhǔn)板來(lái)進(jìn)行標(biāo)定,從而獲得多條標(biāo)定曲線,以滿足生產(chǎn)中對(duì)不同合金帶材厚度進(jìn)行測(cè)量的需求。步驟二 獲取校正系數(shù)K ;當(dāng)測(cè)厚儀處于全輻射狀態(tài),沒(méi)有被測(cè)金屬帶材時(shí)作為校正工作開(kāi)始的時(shí)刻,測(cè)量出此時(shí)測(cè)量電路的輸出電壓Uo’,然后與主標(biāo)定曲線中零厚度值所對(duì)應(yīng)的電壓Uo進(jìn)行比較,得到校正系數(shù)K,K = Uo,/Uo ;在測(cè)厚儀處于全輻射狀態(tài)時(shí),即被測(cè)金屬帶材厚度為零厚度值時(shí),對(duì)應(yīng)的測(cè)量電路的輸出電壓值大于OV;步驟三當(dāng)產(chǎn)生誤差電壓AU時(shí)候,進(jìn)行校正;用校正系數(shù)K,對(duì)副標(biāo)定曲線中各點(diǎn)厚度值對(duì)應(yīng)的電壓值進(jìn)行逐點(diǎn)的修正,即用K 去乘以主標(biāo)定曲線中各點(diǎn)厚度值對(duì)應(yīng)的電壓值,其乘積作為校正后副標(biāo)定曲線中各標(biāo)定點(diǎn)厚度值對(duì)應(yīng)的電壓值,從而得到新的副標(biāo)定曲線,校正完成。一種射線式測(cè)厚儀的校正方法,具體為在測(cè)厚儀工作時(shí),根據(jù)操作人員的工作方式設(shè)置及指令,進(jìn)行快速精度校正的工作,測(cè)厚儀工作程序運(yùn)行時(shí),當(dāng)進(jìn)入到校正精度程序時(shí),首先會(huì)判斷是否是自動(dòng)方式狀態(tài),如是,則進(jìn)一步去判斷C型架喉隙處有無(wú)被測(cè)帶材, 如不是,則去判斷操作人員有無(wú)下達(dá)進(jìn)行精度校正的指令;如果沒(méi)有得到操作人員進(jìn)行測(cè)厚儀精度校正的指令,則退出精度校正程序,如果得到了指令,則去進(jìn)一步判斷C型架喉隙處有無(wú)被測(cè)帶材;當(dāng)C型架喉隙處有帶材時(shí),不滿足校正的條件,則退出校正程序;當(dāng)C型架喉隙處沒(méi)有帶材時(shí),則進(jìn)入測(cè)量采樣程序,得到了全輻射狀態(tài)下的測(cè)量電路的輸出電壓 Ui后,判斷該電壓值是否位于Ui的最大值于最小值之間;如果不是,則退出校正程序,如果是,則去取主標(biāo)定曲線中對(duì)應(yīng)零厚度值的電壓值Uo,然后求得修正系數(shù)K,去修正副標(biāo)定曲線中各標(biāo)定點(diǎn)厚度值對(duì)應(yīng)的電壓值,得到新的副標(biāo)定曲線,并存儲(chǔ),然后退出校正程序;新的副標(biāo)定曲線將作為測(cè)厚儀計(jì)算被測(cè)帶材厚度的依據(jù)。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于
本發(fā)明可以快速校正射線式測(cè)厚儀的測(cè)量精度。經(jīng)過(guò)快速校正后的測(cè)量精度可以達(dá)到剛剛經(jīng)過(guò)標(biāo)定的測(cè)厚儀的精度水平,節(jié)省了重新標(biāo)定時(shí)所需時(shí)間,消除了操作人員標(biāo)定時(shí)人為因素造成的錯(cuò)誤,為軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)提供了高精度的厚度測(cè)量值,從而可以提高軋機(jī)的生產(chǎn)效率,保證所軋制金屬帶材的公差要求。


圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖;圖2是本發(fā)明的方法流程圖;圖3是本發(fā)明方法的具體實(shí)施流程圖。圖中1.射線源2.射線探測(cè)器 3.前置放大電路板 4.控制柜5.終端顯示與操作裝置6. C型架7.接線箱8.水冷箱9.被測(cè)金屬帶材
具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明。本發(fā)明是一種射線式測(cè)厚儀,如圖1所示,包括射線源1、射線探測(cè)器2、前置放大電路板3、控制柜4、終端顯示與操作裝置5、C型架6、水冷箱8和接線箱7。射線源1設(shè)置在C型架6的喉隙下部,射線探測(cè)器2設(shè)置在C型架6的喉隙上部, 被測(cè)金屬帶材9位于C型架6喉隙中間,前置放大電路板3通過(guò)接線箱7連接控制柜4,射線源1和C型架6連接水冷箱8,控制柜4連接終端顯示與操作裝置5,用于進(jìn)行厚度計(jì)算和顯示以及接受操作人員的指令;被測(cè)金屬帶材9從C型架6喉隙處通過(guò)時(shí),射線源1發(fā)出射線,穿過(guò)被測(cè)金屬帶材 9后,射線探測(cè)器2接收射線,將射線轉(zhuǎn)換為電信號(hào),輸出電信號(hào)至前置放大電路板3,前置放大電路板3進(jìn)行放大處理后,將處理后的電信號(hào)輸出至控制柜4,控制柜4內(nèi)部的測(cè)量電路對(duì)電信號(hào)進(jìn)行處理,得到測(cè)量電壓,控制柜4的計(jì)算機(jī)測(cè)量系統(tǒng)對(duì)測(cè)量電壓進(jìn)行處理,得到被測(cè)金屬帶材9的標(biāo)定曲線,根據(jù)標(biāo)定曲線的數(shù)據(jù)計(jì)算出被測(cè)金屬帶材9的厚度,并輸出至終端顯示與操作裝置5進(jìn)行顯示?,F(xiàn)場(chǎng)接線箱7和水冷箱8屬于測(cè)厚儀的輔助設(shè)備,現(xiàn)場(chǎng)接線箱7用于控制柜4與 C型架6水冷箱8之間的轉(zhuǎn)換連接。水冷箱8為C型架6中需要冷卻的部分提供循環(huán)水冷卻。當(dāng)射線式測(cè)厚儀使用一段時(shí)間以后,在其測(cè)量電路的輸出測(cè)量電壓上會(huì)產(chǎn)生一個(gè)附加的誤差電壓Δυ,形成的原因多種多樣,比如,前置放大電路板3的失調(diào)電壓,或者由于油氣的熏蒸,在射線探測(cè)器2窗口形成油污膜,造成了對(duì)射線的衰減,甚至軋制時(shí)發(fā)生斷帶,斷裂帶材在張力的作用下對(duì)C型架6的抽打?qū)е碌妮p微變形,也會(huì)影響射線探測(cè)器2接受射線量的變化;它們的影響體現(xiàn)在測(cè)量電路中,即表現(xiàn)為測(cè)量電路產(chǎn)生輸出測(cè)量電壓的漂移,構(gòu)成誤差電壓Δυ。當(dāng)沒(méi)有誤差電壓AU時(shí),根據(jù)標(biāo)定曲線確定的厚度與測(cè)量電壓的函數(shù)關(guān)系為X = f(U),其中,X代表帶材厚度,U代表測(cè)量電壓;而一旦有了誤差電壓AU 時(shí),則有Χ+ΔΧ = f(U+AU),Δ U表示誤差電壓,Δ X表示厚度偏差,可見(jiàn),雖然帶材厚度X并沒(méi)有改變,但在利用工作標(biāo)定曲線計(jì)算出金屬帶材厚度時(shí),得到的厚度值為(X+ △ X),產(chǎn)生了厚度偏差ΔΧ。為了快速消除此厚度偏差ΔΧ,本發(fā)明提出一種射線式測(cè)厚儀的校正方法,流程如圖2所示,包括以下幾個(gè)步驟步驟一進(jìn)行原始標(biāo)定曲線;在測(cè)厚儀投入生產(chǎn)使用前進(jìn)行一次標(biāo)定,得到主標(biāo)定曲線,并同時(shí)生成副標(biāo)定曲線;此時(shí)因?yàn)闆](méi)有誤差電壓Δυ的影響,所以主、副標(biāo)定曲線的數(shù)據(jù)是完全一致的,包括從零厚度值對(duì)應(yīng)的測(cè)量電壓值一直到能夠測(cè)量的最大厚度值對(duì)應(yīng)的測(cè)量電壓值。其中主標(biāo)定曲線用于以后進(jìn)行快速精度校正時(shí)的基準(zhǔn)曲線使用,副標(biāo)定曲線用于測(cè)厚儀在測(cè)量中計(jì)算厚度時(shí)使用。步驟二 獲取校正系數(shù)K ;當(dāng)測(cè)厚儀處于全輻射狀態(tài),沒(méi)有被測(cè)金屬帶材9時(shí)作為校正工作開(kāi)始的時(shí)刻,測(cè)量出此時(shí)測(cè)量電路的輸出電壓Uo’,然后與主標(biāo)定曲線中零厚度值所對(duì)應(yīng)的電壓Uo進(jìn)行比較,得到校正系數(shù)K,K = Uo’ /Uo0為了使對(duì)精度的校正正確有效,在測(cè)厚儀處于全輻射狀態(tài)時(shí),即被測(cè)金屬帶材厚度為零厚度值時(shí),對(duì)應(yīng)的測(cè)量電路的輸出電壓值大于0V,本發(fā)明中被測(cè)金屬帶材厚度為零厚度值時(shí),對(duì)應(yīng)的測(cè)量電路的輸出電壓值選取約0. 5V的電壓值,目的是給測(cè)量電路輸出電壓發(fā)生漂移時(shí),有一個(gè)上下浮動(dòng)的區(qū)間,防止進(jìn)入小于OV的區(qū)域,因?yàn)楸緶y(cè)量電路中使用的A/D轉(zhuǎn)換器的輸入電壓范圍是O IOV0步驟三當(dāng)產(chǎn)生誤差電壓Δ U時(shí)候,進(jìn)行校正;用校正系數(shù)K,對(duì)副標(biāo)定曲線中各點(diǎn)厚度值對(duì)應(yīng)的電壓值進(jìn)行逐點(diǎn)的修正,即用K 去乘以主標(biāo)定曲線中各點(diǎn)厚度值對(duì)應(yīng)的電壓值,其乘積作為校正后副標(biāo)定曲線中各標(biāo)定點(diǎn)厚度值對(duì)應(yīng)的電壓值,從而得到新的副標(biāo)定曲線,校正完成。具體的,如圖3所示,一種射線式測(cè)厚儀的校正方法的實(shí)施方式為在測(cè)厚儀工作時(shí),根據(jù)操作人員的工作方式設(shè)置及指令,可以進(jìn)行快速精度校正的工作,測(cè)厚儀工作程序運(yùn)行時(shí),當(dāng)進(jìn)入到校正精度程序時(shí),首先會(huì)判斷是否是自動(dòng)方式狀態(tài);如是,則進(jìn)一步去判斷C型架喉隙處有無(wú)被測(cè)帶材,如不是,則去判斷操作人員有無(wú)下達(dá)進(jìn)行精度校正的指令;如果沒(méi)有得到操作人員進(jìn)行測(cè)厚儀精度校正的指令,則退出精度校正程序,如果得到了指令,則去進(jìn)一步判斷C型架喉隙處有無(wú)被測(cè)帶材。當(dāng)C型架喉隙處有帶材時(shí),不滿足校正的條件,則退出校正程序;當(dāng)C型架喉隙處沒(méi)有帶材時(shí),則進(jìn)入測(cè)量采樣程序,得到了全輻射狀態(tài)下的測(cè)量電路的輸出電壓Ui后,還要去判斷該電壓值是否處于有效的范圍內(nèi)(是否位于Ui的最大值于最小值之間);如果不是,則退出校正程序,如果是,則去取主標(biāo)定曲線中對(duì)應(yīng)零厚度值的電壓值Uo,然后求得修正系數(shù)K,去修正副標(biāo)定曲線中各標(biāo)定點(diǎn)厚度值對(duì)應(yīng)的電壓值,得到新的副標(biāo)定曲線,并存儲(chǔ)之,然后退出校正程序。 新的副標(biāo)定曲線將作為測(cè)厚儀計(jì)算被測(cè)帶材厚度的依據(jù)。本發(fā)明中快速精度校正要設(shè)置成自動(dòng)方式和非自動(dòng)方式,主要取決于測(cè)厚儀的應(yīng)用場(chǎng)合。如果是熱軋,由于其工藝特點(diǎn),帶材是一塊接一塊連續(xù)軋制的,但一塊軋完后,到下一塊鋼的到來(lái),其間隔時(shí)間一般總是大于10秒;這段時(shí)間間隔足以夠測(cè)厚儀進(jìn)行一次精度校正,因此,只有在熱軋場(chǎng)合,當(dāng)測(cè)厚儀處于在線狀態(tài)時(shí)才會(huì)設(shè)置成自動(dòng)方式。而非自動(dòng)方式,一般用于冷軋場(chǎng)合,或測(cè)厚儀處于離線狀態(tài)時(shí)。
權(quán)利要求
1.一種射線式測(cè)厚儀,其特征在于,包括射線源、射線探測(cè)器、前置放大電路板、控制柜、終端顯示與操作裝置、C型架;射線源設(shè)置在C型架的喉隙下部,射線探測(cè)器設(shè)置在C型架的喉隙上部,被測(cè)金屬帶材從C型架喉隙處通過(guò),前置放大電路板連接控制柜,控制柜連接終端顯示與操作裝置,用于進(jìn)行厚度計(jì)算和顯示以及接受操作人員的指令;射線源發(fā)出射線,穿過(guò)被測(cè)金屬帶材后,射線探測(cè)器接收射線,將射線轉(zhuǎn)換為電信號(hào),輸出電信號(hào)至前置放大電路板,前置放大電路板進(jìn)行放大處理后,將處理后的電信號(hào)輸出至控制柜,控制柜內(nèi)部的測(cè)量電路對(duì)電信號(hào)進(jìn)行處理,得到測(cè)量電壓,控制柜的計(jì)算機(jī)測(cè)量系統(tǒng)對(duì)測(cè)量電壓進(jìn)行處理,得到被測(cè)金屬帶材的標(biāo)定曲線,根據(jù)標(biāo)定曲線的數(shù)據(jù)計(jì)算出被測(cè)金屬帶材的厚度,并輸出至終端顯示與操作裝置進(jìn)行顯示。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種射線式測(cè)厚儀,其特征在于,還包括接線箱,前置放大電路板、C型架、水冷箱通過(guò)現(xiàn)場(chǎng)接線箱連接控制柜。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或者2所述的一種射線式測(cè)厚儀,其特征在于,還包括水冷箱,水冷箱為C型架中需要冷卻的部分提供循環(huán)水冷卻。
4.一種射線式測(cè)厚儀的校正方法,其特征在于,包括以下幾個(gè)步驟步驟一進(jìn)行原始標(biāo)定曲線;在測(cè)厚儀投入生產(chǎn)使用前進(jìn)行一次標(biāo)定,得到主標(biāo)定曲線,并同時(shí)生成副標(biāo)定曲線,主標(biāo)定曲線用于進(jìn)行快速精度校正時(shí)的基準(zhǔn)曲線,副標(biāo)定曲線用于測(cè)厚儀在測(cè)量中計(jì)算厚度時(shí)使用;步驟二 獲取校正系數(shù)K;當(dāng)測(cè)厚儀處于全輻射狀態(tài),沒(méi)有被測(cè)金屬帶材時(shí)作為校正工作開(kāi)始的時(shí)刻,測(cè)量出此時(shí)測(cè)量電路的輸出電壓Uo’,然后與主標(biāo)定曲線中零厚度值所對(duì)應(yīng)的電壓Uo進(jìn)行比較,得到校正系數(shù)K,K = Uo’/Uo ;在測(cè)厚儀處于全輻射狀態(tài)時(shí),即被測(cè)金屬帶材厚度為零厚度值時(shí),對(duì)應(yīng)的測(cè)量電路的輸出電壓值大于OV;步驟三當(dāng)產(chǎn)生誤差電壓Δυ時(shí)候,進(jìn)行校正;用校正系數(shù)K,對(duì)副標(biāo)定曲線中各點(diǎn)厚度值對(duì)應(yīng)的電壓值進(jìn)行逐點(diǎn)的修正,即用K去乘以主標(biāo)定曲線中各點(diǎn)厚度值對(duì)應(yīng)的電壓值,其乘積作為校正后副標(biāo)定曲線中各標(biāo)定點(diǎn)厚度值對(duì)應(yīng)的電壓值,從而得到新的副標(biāo)定曲線,校正完成。
5.一種射線式測(cè)厚儀的校正方法,其特征在于,具體為在測(cè)厚儀工作時(shí),根據(jù)操作人員的工作方式設(shè)置及指令,進(jìn)行快速精度校正的工作,測(cè)厚儀工作程序運(yùn)行時(shí),當(dāng)進(jìn)入到校正精度程序時(shí),首先會(huì)判斷是否是自動(dòng)方式狀態(tài),如是,則進(jìn)一步去判斷C型架喉隙處有無(wú)被測(cè)帶材,如不是,則去判斷操作人員有無(wú)下達(dá)進(jìn)行精度校正的指令;如果沒(méi)有得到操作人員進(jìn)行測(cè)厚儀精度校正的指令,則退出精度校正程序,如果得到了指令,則去進(jìn)一步判斷 C型架喉隙處有無(wú)被測(cè)帶材;當(dāng)C型架喉隙處有帶材時(shí),不滿足校正的條件,則退出校正程序;當(dāng)C型架喉隙處沒(méi)有帶材時(shí),則進(jìn)入測(cè)量采樣程序,得到了全輻射狀態(tài)下的測(cè)量電路的輸出電壓Ui后,判斷該電壓值是否位于Ui的最大值于最小值之間;如果不是,則退出校正程序,如果是,則去取主標(biāo)定曲線中對(duì)應(yīng)零厚度值的電壓值Uo,然后求得修正系數(shù)K,去修正副標(biāo)定曲線中各標(biāo)定點(diǎn)厚度值對(duì)應(yīng)的電壓值,得到新的副標(biāo)定曲線,并存儲(chǔ),然后退出校正程序;新的副標(biāo)定曲線將作為測(cè)厚儀計(jì)算被測(cè)帶材厚度的依據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種射線式測(cè)厚儀及其校正方法,測(cè)厚儀包括射線源、射線探測(cè)器、前置放大電路板、控制柜、終端顯示與操作裝置、C型架;射線源設(shè)置在C型架的喉隙下部,射線探測(cè)器設(shè)置在C型架的喉隙上部,被測(cè)金屬帶材從C型架喉隙處通過(guò),前置放大電路板連接控制柜,控制柜連接終端顯示與操作裝置,用于進(jìn)行厚度計(jì)算和顯示以及接受操作人員的指令。本發(fā)明公開(kāi)的測(cè)厚儀的校正方法,經(jīng)過(guò)快速校正后的測(cè)量精度可以達(dá)到剛剛經(jīng)過(guò)標(biāo)定的測(cè)厚儀的精度水平,節(jié)省了重新標(biāo)定時(shí)所需時(shí)間,消除了操作人員標(biāo)定時(shí)人為因素造成的錯(cuò)誤,為軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)提供了高精度的厚度測(cè)量值,從而可以提高軋機(jī)的生產(chǎn)效率,保證所軋制金屬帶材的公差要求。
文檔編號(hào)G01B15/02GK102564361SQ201210001158
公開(kāi)日2012年7月11日 申請(qǐng)日期2012年1月4日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月18日
發(fā)明者張思聰, 李小鋼, 湯建民, 由菁菁 申請(qǐng)人:北京金自天正智能控制股份有限公司
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