專利名稱：一種導(dǎo)引頭位標(biāo)器的光學(xué)測試平臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型屬于光學(xué)工程應(yīng)用領(lǐng)域，為導(dǎo)引頭位標(biāo)器提供紅外圓錐掃描光學(xué)系統(tǒng)光學(xué)性能測試的功能。
背景技術(shù)：
紅外圓錐掃描光學(xué)系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于各種導(dǎo)引頭位標(biāo)器中，為了提高光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)及滿足技術(shù)要求，就必須對紅外光學(xué)系統(tǒng)性能進(jìn)行有效測試和調(diào)節(jié)。紅外位標(biāo)器光學(xué)性能作為紅外位標(biāo)器的重要參數(shù)，對其測試方法的研究具有實際意義。由于紅外圓錐掃描光學(xué)系統(tǒng)工作在高速旋轉(zhuǎn)狀態(tài)，因此不僅需要對靜態(tài)下的光學(xué)系統(tǒng)性能進(jìn)行測試，同時需要對動態(tài)下的光學(xué)系統(tǒng)性能進(jìn)行測試。對紅外位標(biāo)器進(jìn)行光學(xué)測試時，不僅需要確定光學(xué)系統(tǒng)成像焦平面的具體位置，同時需要確定光學(xué)系統(tǒng)成像掃描圓的直徑。這就要求必須實現(xiàn)直角三維坐標(biāo)測量以及圓周測量。目前，尚未出現(xiàn)能夠滿足位標(biāo)器光學(xué)系統(tǒng)技術(shù)要求的目的測試平臺。
發(fā)明內(nèi)容為了解決背景技術(shù)中存在的上述技術(shù)問題，本實用新型提供了一種結(jié)構(gòu)簡單、重復(fù)性好以及測試精度較高的導(dǎo)引頭位標(biāo)器的光學(xué)測試平臺。本實用新型的技術(shù)解決方案是一種導(dǎo)引頭位標(biāo)器的光學(xué)測試平臺，其特殊之處在于所述導(dǎo)引頭位標(biāo)器的光學(xué)測試平臺包括固定端以及活動端；所述固定端包括導(dǎo)軌I、設(shè)置在導(dǎo)軌上并可沿導(dǎo)軌運動的底座2、設(shè)置于底座上光學(xué)夾具4、軸承5 ;所述軸承5的外圈與光學(xué)夾具4固連，所述軸承5的內(nèi)圈與待測紅外光學(xué)系統(tǒng)組件固連；所述活動端包括兩維平移臺8、固定在兩維平移臺上的支架7、固定與支架上的光學(xué)顯微鏡6 ;所述光學(xué)夾具4上所夾持的待測紅外光學(xué)系統(tǒng)組件與光學(xué)顯微鏡處于同一光軸上。上述光學(xué)顯微鏡是高倍光學(xué)顯微鏡。本實用新型具有如下優(yōu)點I、本實用新型通過為待測紅外光學(xué)系統(tǒng)組件提供支撐的光學(xué)夾具和軸承，實現(xiàn)了待測紅外光學(xué)系統(tǒng)組件的轉(zhuǎn)動，通過轉(zhuǎn)動待測紅外光學(xué)系統(tǒng)組件來觀測掃描圓的大小，從而實現(xiàn)了直角三維坐標(biāo)測量以及圓周測量。2、本實用新型設(shè)計了具有合適參數(shù)的高倍光學(xué)顯微鏡，該高倍光學(xué)顯微鏡可提供觀察、檢測紅外光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的顯微檢測系統(tǒng)。3、本實用新型采用了兩維平移臺，從而可以實現(xiàn)兩維微調(diào)，以確定光學(xué)系統(tǒng)最佳像面。4、本實用新型具有結(jié)構(gòu)簡單、制作方便，成本低廉，裝夾可靠，減少裝夾時間，，重復(fù)性好，易于操作，便于觀測的優(yōu)點。5、本實用新型能夠同時實現(xiàn)靜態(tài)測試和動態(tài)測試兩種測試，測試精度較高。
圖I是光學(xué)測試平臺結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是紅外光學(xué)系統(tǒng)光學(xué)測試系統(tǒng)原理簡圖；其中I-導(dǎo)軌,2-底座,3-待測光學(xué)系統(tǒng),4-光學(xué)夾具,5-軸承,6-光學(xué)顯微鏡， 7-支架，8-兩維平移臺。
具體實施方式
本實用新型目的是為紅外圓錐掃描光學(xué)系統(tǒng)提供光學(xué)性能測試的功能，從而對紅外光學(xué)系統(tǒng)性能進(jìn)行有效測試和調(diào)節(jié)。參見圖I和圖2，本實用新型導(dǎo)引頭位標(biāo)器的光學(xué)測試平臺，包括導(dǎo)軌I、底座2、 光學(xué)夾具4、軸承5、高倍光學(xué)顯微鏡6、支架7、以及兩維平移臺8等組成。底座2放置在光學(xué)導(dǎo)軌I上，可實現(xiàn)X向大范圍移動，同時光學(xué)夾具4固定在底座2上，可以通過軸承5進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，實現(xiàn)繞X向圓周方向的測量。高倍光學(xué)顯微鏡6固定在兩維平移臺8上，可以實現(xiàn) X向以及Z向兩維微距移動；整套光學(xué)測試平臺固定在光學(xué)隔震平臺上由其提供物理基準(zhǔn)并有效隔震。光學(xué)測試平臺須保證待測光學(xué)系統(tǒng)、平行光管、高倍光學(xué)顯微鏡三者的光軸一致。本實用新型在靜態(tài)測試時，光源模擬點目標(biāo)，經(jīng)過平行光管后，模擬無窮遠(yuǎn)處的紅外平行光，經(jīng)被測光學(xué)系統(tǒng)后，成像在焦平面上，通過調(diào)節(jié)光學(xué)測試平臺觀測掃描圓與彌散光斑，從而驗證待測光學(xué)系統(tǒng)是否達(dá)到要求。當(dāng)達(dá)到最佳像質(zhì)時，讀取光學(xué)系統(tǒng)成像掃描圓直徑，并同時確定光學(xué)系統(tǒng)焦平面位置。同時，可標(biāo)記光學(xué)系統(tǒng)掃描圓高點。本實用新型在動態(tài)測試時，只需在靜態(tài)測試基礎(chǔ)上開啟陀螺控制系統(tǒng)，使紅外光學(xué)系統(tǒng)高速旋轉(zhuǎn)，然后再調(diào)節(jié)光學(xué)測試平臺觀測掃描圓與彌散光斑，從而驗證待測光學(xué)系統(tǒng)是否達(dá)到要求。當(dāng)動態(tài)掃描圓不滿足要求時，可通過在標(biāo)記高點加平衡螺釘來測節(jié)，直至滿足動態(tài)要求。整個測試過程操作方便，經(jīng)濟實用，并能同時實現(xiàn)靜態(tài)測試和動態(tài)測試兩種測試， 測試精度較高，重復(fù)性良好。使用上述測驗方法，完成了多套位標(biāo)器的紅外光學(xué)系統(tǒng)測試工作，達(dá)到了預(yù)期的目的和要求。
權(quán)利要求1.一種導(dǎo)引頭位標(biāo)器的光學(xué)測試平臺，其特征在于所述導(dǎo)引頭位標(biāo)器的光學(xué)測試平臺包括固定端以及活動端；所述固定端包括導(dǎo)軌(I)、設(shè)置在導(dǎo)軌上并可沿導(dǎo)軌運動的底座(2)、設(shè)置于底座上光學(xué)夾具(4)、軸承(5);所述軸承(5)的外圈與光學(xué)夾具(4)固連， 所述軸承5的內(nèi)圈與待測紅外光學(xué)系統(tǒng)組件固連；所述活動端包括兩維平移臺(8)、固定在兩維平移臺上的支架(7)、固定與支架上的光學(xué)顯微鏡￠);所述光學(xué)夾具(4)上所夾持的待測紅外光學(xué)系統(tǒng)組件與光學(xué)顯微鏡處于同一光軸上。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的導(dǎo)引頭位標(biāo)器的光學(xué)測試平臺，其特征在于所述光學(xué)顯微鏡是高倍光學(xué)顯微鏡。
專利摘要本實用新型涉及一種導(dǎo)引頭位標(biāo)器的光學(xué)測試平臺，包括固定端以及活動端，固定端包括導(dǎo)軌、設(shè)置在導(dǎo)軌上并可沿導(dǎo)軌運動的底座、設(shè)置于底座上光學(xué)夾具、軸承，軸承的外圈與光學(xué)夾具固連，軸承的內(nèi)圈與待測紅外光學(xué)系統(tǒng)組件固連，活動端包括兩維平移臺、固定在兩維平移臺上的支架、固定與支架上的光學(xué)顯微鏡，光學(xué)夾具上所夾持的待測紅外光學(xué)系統(tǒng)組件與光學(xué)顯微鏡處于同一光軸上。本實用新型通過為待測紅外光學(xué)系統(tǒng)組件提供支撐的光學(xué)夾具和軸承，實現(xiàn)了待測紅外光學(xué)系統(tǒng)組件的轉(zhuǎn)動，通過轉(zhuǎn)動待測紅外光學(xué)系統(tǒng)組件來觀測掃描圓的大小，從而實現(xiàn)了直角三維坐標(biāo)測量以及圓周測量。
文檔編號G01M11/02GK202351022SQ20112055946
公開日2012年7月25日 申請日期2011年12月18日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月18日
發(fā)明者吳亞明, 李玉濤, 王卿, 王繼承, 問會青 申請人:西安航天精密機電研究所