專利名稱：一種支架圓弧點(diǎn)坐標(biāo)檢具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種檢測裝置，尤其涉及一種支架圓弧點(diǎn)坐標(biāo)檢具。
背景技術(shù)：
在檢測工件測試圓弧點(diǎn)坐標(biāo)時(shí)，往往使用三坐標(biāo)檢測機(jī)(CMM)的方法檢測，檢測步驟復(fù)雜，檢測精度差。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型為解決上述缺陷提供了一種支架圓弧點(diǎn)坐標(biāo)檢具。本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案本實(shí)用新型所述一種支架圓弧點(diǎn)坐標(biāo)檢具，包括底座，還包括導(dǎo)向塊，支架，測臂，傳動塊，測頭，手柄；所述的底座上相對兩塊導(dǎo)向塊，兩塊導(dǎo)向塊靠近底座邊緣處的一側(cè)各置支架，支架上布置測臂，測臂的一端垂直布置測頭，兩塊導(dǎo)向塊之間布置傳動塊，傳動塊與手柄連接。本實(shí)用新型所述的支架圓弧點(diǎn)坐標(biāo)檢具，還包括定位擋塊，L形對中壓緊塊；所述的定位擋塊布置在導(dǎo)向塊的一側(cè)，L形對中壓緊塊布置在測頭與支架之間。有益效果本實(shí)用新型提供的支架圓弧點(diǎn)坐標(biāo)檢具，檢測支架圓弧點(diǎn)坐標(biāo)準(zhǔn)確性高，操作簡單，節(jié)約檢測時(shí)間。

圖I是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；圖中I是導(dǎo)向塊，2是支架，3是底座，4是測臂，5是傳動塊，6是測頭，7是定位擋塊，8是L形對中壓緊塊，9是手柄。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對實(shí)用新型詳細(xì)說明如圖所示種支架圓弧點(diǎn)坐標(biāo)檢具,導(dǎo)向塊I,支架2，底座3，測臂4，傳動塊5，測頭6，定位擋塊7，L形對中壓緊塊8，手柄9 ;所述的底座3上相對兩塊導(dǎo)向塊I，兩塊導(dǎo)向塊I靠近底座3邊緣處的一側(cè)各置支架2，支架2上布置測臂4，測臂4的一端垂直布置測頭6,兩塊導(dǎo)向塊I之間布置傳動塊5,傳動塊5與手柄9連接。所述的定位擋塊7布置在導(dǎo)向塊I的一側(cè)，L形對中壓緊塊8布置在測頭6與支架2之間。打開測臂4，將待測工件圓弧面朝上，背端貼緊定位擋塊7放于導(dǎo)向塊I上，旋動手柄9帶動傳動塊5移動，通過斜導(dǎo)軌帶動L形對中壓緊塊8移動，使工件自動對中并壓緊，關(guān)閉測臂4，觀察測頭6頂端在測臂4臺階范圍內(nèi)為合格。
權(quán)利要求1.一種支架圓弧點(diǎn)坐標(biāo)檢具，包括底座(3)，其特征在于還包括導(dǎo)向塊(1)，支架(2)，測臂(4)，傳動塊(5)，測頭(6)，手柄(9);所述的底座(3)上相對兩塊導(dǎo)向塊(1)，兩塊導(dǎo)向塊(I)靠近底座(3)邊緣處的一側(cè)各置支架(2)，支架(2)上布置測臂(4)，測臂(4)的一端垂直布置測頭(6)，兩塊導(dǎo)向塊(I)之間布置傳動塊(5)，傳動塊(5)與手柄(9)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的支架圓弧點(diǎn)坐標(biāo)檢具，其特征在于還包括定位擋塊(7)，L形對中壓緊塊(8);所述的定位擋塊(7)布置在導(dǎo)向塊(I)的一側(cè)，L形對中壓緊塊(8)布置在測頭(6)與支架(2)之間。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種檢測裝置，尤其涉及一種支架圓弧點(diǎn)坐標(biāo)檢具。包括底座，還包括導(dǎo)向塊，支架，測臂，傳動塊，測頭，手柄；所述的底座上相對兩塊導(dǎo)向塊，兩塊導(dǎo)向塊靠近底座邊緣處的一側(cè)各置支架，支架上布置測臂，測臂的一端垂直布置測頭，兩塊導(dǎo)向塊之間布置傳動塊，傳動塊與手柄連接。本實(shí)用新型提供的支架圓弧點(diǎn)坐標(biāo)檢具，檢測支架圓弧點(diǎn)坐標(biāo)準(zhǔn)確性高，操作簡單，節(jié)約檢測時(shí)間。
文檔編號G01B5/008GK202562402SQ20112050990
公開日2012年11月28日 申請日期2011年12月9日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月9日
發(fā)明者楊剛, 楊純, 孟海峰 申請人:昆山恒源機(jī)械制造有限公司