專利名稱：模塊化兩用治具結構的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及有關治具的改良結構，尤指一種結構精簡、操作容易之模塊化兩用治具結構。
背景技術：
由于現(xiàn)今科技不斷進步，電子零件也越來越精密，其接腳越多越細，致使測試治具之密度亦需跟著提高，尤其是萬用測試機，其系屬較大型的測試設備，且需布滿針床探針于萬用測試機針床上，因其數量大成本也較高，為應對前述待測版之待測點密度要提高，若提高萬用測試機之密度，除了現(xiàn)今之技術可能沒辦法提升相對應的萬用探針治具密度外，縱使可以克服此一技術也會因需增加大量萬用測試機針床探針，而需提高萬用測試機造價之成本數倍之多。因此，如何解決習知萬用治具制造成本過高之缺陷，即是待解決的問題。
發(fā)明內容本實用新型是針對上述習知技術所造成之缺點創(chuàng)作出一種模塊化兩用治具結構。為達前述目的，本創(chuàng)作所設一種模塊化兩用治具結構，主要包括一待測板，該待測板上設有待測點；一上治具，該上治具設有復數探針，其下連接一轉接治具；一轉接治具，該轉接治具中設有復數探針以與上治具之探針結合，其下設有轉接導線；一模塊化治具，該模塊化治具中設有數組排針，該排針上側與轉接導線連接，下側與萬用測試機針床之針床探針結合；插排，插排一端與模塊化治具之排針上側端部結合，末端導線連接到計算機測試機；一萬用測試機針床，該萬用測試機針床上設有針床探針，其下設有導線以連接到計算機測試機中進行測試；籍由利用排針上側與轉接治具之轉接導線連接，下側與萬用測試機針床之針床探針結合以測試待測板。上述的模塊化兩用治具結構，其中，所述模塊化治具可檢測待測點與模塊化治具的相對位置。本實用新型的有益功效在于，當要測試較小密度之待測板時，既可用于萬用測試機針床，亦可將轉接導線直接連接模塊化治具之排針中側，而插排再插入模塊化治具之排針上側端部，插排末端導線連接到專用型測試機計算機測試機中進行測試，如此構造不僅便于測試不同或更高密度的待測板達到兩用之目的，又可降低制造治具的成本從而達到實用目的。
以下結合附圖和具體實施例對本實用新型進行詳細描述，但不做為對本實用新型的限定。

圖I系本創(chuàng)作之模塊化治具平面圖。圖2系本創(chuàng)作之模塊化治具與萬用測驗機針床組合示意圖。[0011]圖3系本創(chuàng)作之不用萬用治具示意圖。其中，附圖標記I——待測板2——上治具3——轉接治具4——模塊化治具5—萬用測試機針床 11——待測點21——復數探針32——轉接導線41——數組排針42——插排51——針床探針52-導線
具體實施方式
如圖I、圖2和圖3所示，模塊化兩用治具結構主要包括待測板I，該待測板I上設有待測點11 ;上治具2，該上治具2設有復數探針21，其下連接一轉接治具3 ;轉接治具3，該轉接治具3中設有復數探針21以與上治具2之復數探針21結合，其下設有轉接導線32 ;模塊化治具4，該模塊化治具4中設有數組排針41，該排針41上側與轉接導線32連接，下側與萬用測試機針床5之針床探針51相結合；插排42，該插排42 —端與模塊化治具4之排針41上側端部結合，末端導線52連接到專用型測試機計算機；萬用測試機針床5，該測試機針床5上設有針床探針51，其下設有導線52以連接到計算機測試機中進行測試。籍由利用排針41上側與轉接治具3之轉接導線32連接，下側與萬用測試機針床5之針床探針51相結合以測試待測板1，從而達成萬用式模塊化治具；當要測試較小密度之待測板時，既可用于萬用測試機針床5，亦可將轉接導線32直接連接模塊化治具之排針41中側，而插排42再插入模塊化治具之排針41上側端部，插排42末端導線52連接到專用型測試機計算機中進行測試，如此構造不僅便于測試不同或更高密度的待測板I達到兩用之目的，又可降低制造治具的成本從而達到實用目的。綜上實施例可以看出，本實用新型結構新穎且實用，功能具有明顯的進步性及產業(yè)利用價值。但是，對于熟悉此類技藝之而言，可以進行各種改變和改進，而不背離所附權利要求書所限定的本實用新型的范圍。
權利要求1.模塊化兩用治具結構，包括待測板、上治具、轉接治具、模塊化治具、插排和萬用測試機針床，其特征在于，待測板上設有待測點；上治具設有復數探針，其下連接一轉接治具；轉接治具中設有復數探針以與上治具之探針結合，其下設有轉接導線；模塊化治具中設有數組排針，該排針上側與轉接導線連接，下側與萬用測試機針床之針床探針結合；插排一端與模塊化治具之排針上側端部結合，末端導線連接到計算機測試機；萬用測試機針床上設有針床探針，其下設有導線以連接到計算機測試機中進行測試。
2.根據權利要求I所述的模塊化兩用治具結構，其特征在于，所述模塊化治具是一種得以知道待測點之位置是相對于模塊化治具之排針之哪一排哪一列的模塊化治具。
專利摘要本實用新型涉及一種模塊化兩用治具結構，主要包括待測板，該待測板上設有待測點；上治具，該上治具設有復數探針，其下連接一轉接治具，并設有轉接導線；模塊化治具，該模塊化治具中設有數組排針，該排針上側與轉接導線連接，下側與萬用測試機針床之針床探針結合；一萬用測試機針床，該萬用測試機針床上設有針床探針，其下設有導線以連接到計算機測試機中進行測試；籍此達成萬用式模塊化治具，當要測試較小密度之待測板時，既可用于萬用測試機針床，亦可將轉接導線直接連接模塊化治具之排針中側，而插排再插入模塊化治具之排針上側端部，插排末端導線連接到專用型測試機計算機中進行測試。
文檔編號G01R1/04GK202583246SQ20112043328
公開日2012年12月5日 申請日期2011年11月4日 優(yōu)先權日2011年11月4日
發(fā)明者林鴻仲 申請人:林鴻仲