專利名稱：電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置。
背景技術(shù)：
環(huán)境試驗(yàn)是研究周圍使用環(huán)境對材料以及產(chǎn)品功能和性能影響的一類可靠性試驗(yàn)。溫度作為三大基本環(huán)境因素之一，無時不在影響產(chǎn)品的使用。研究表明，40%的產(chǎn)品現(xiàn)場失效跟溫度有關(guān)。電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)是用來檢驗(yàn)元件、設(shè)備及其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。低溫試驗(yàn)的應(yīng)用范圍非常廣泛，航天、船舶、家用電器、電子元器件等電工電子產(chǎn)品都要進(jìn)行低溫試驗(yàn)。因此依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)(GB 2423. I)對產(chǎn)品正確的進(jìn)行低溫試驗(yàn)對正確評估產(chǎn)品能力至關(guān)重要。能力驗(yàn)證是利用實(shí)驗(yàn)室間的比對確定實(shí)驗(yàn)室的校準(zhǔn)/檢測能力或檢查機(jī)構(gòu)的檢測能力的一項(xiàng)活動。能力驗(yàn)證活動指任何用于評價實(shí)驗(yàn)室能力的實(shí)驗(yàn)室間的比對和測量審核。例如由國家或區(qū)域的認(rèn)可機(jī)構(gòu)及其合作組織、政府部門或行業(yè)組織或其它正式能力驗(yàn)證計(jì)劃的提供者運(yùn)作的活動。開展能力驗(yàn)證活動，對涉及檢測/校準(zhǔn)的相關(guān)方具有積極的作用對實(shí)驗(yàn)室而言，是其滿足IS0/IEC 17025標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行內(nèi)部質(zhì)量控制及對外的能力證明的需要；對認(rèn)可機(jī)構(gòu)，是評價認(rèn)可的實(shí)驗(yàn)室檢測/校準(zhǔn)能力的重要技術(shù)途徑；對實(shí)驗(yàn)室的客戶，是證明實(shí)驗(yàn)室具備某項(xiàng)檢測能力的重要依據(jù)；對政府主管部門，是監(jiān)管實(shí)驗(yàn)室能力及水平的有效措施。由于能力驗(yàn)證活動在許多行業(yè)中都具有非常顯著的作用，因而，目前無論在國際還是在國內(nèi)，都受到廣泛的關(guān)注。操作能力驗(yàn)證的裝置要求滿足能力驗(yàn)證要求的均勻性，并能在整個能力驗(yàn)證過程中保持穩(wěn)定，以確保能力驗(yàn)證中出現(xiàn)的不合格不歸咎于操作能力驗(yàn)證的裝置之間或裝置本身的變異性。這一點(diǎn)對整個能力驗(yàn)證活動至關(guān)重要，它會直接影響到最終活動的結(jié)果。此外，操作能力驗(yàn)證的裝置要求便于運(yùn)輸、成本較低、操作使用方便等，這些特點(diǎn)都對能力驗(yàn)證活動的順利運(yùn)作有非常積極意義。目前行業(yè)內(nèi)尚無操作能力驗(yàn)證的裝置能對低溫試驗(yàn)?zāi)芰M(jìn)行驗(yàn)證。目前行業(yè)內(nèi)僅僅只對低溫試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)，普遍采取的驗(yàn)證方式是依據(jù)相關(guān)低溫試驗(yàn)設(shè)備檢定規(guī)范， 采用溫度巡檢儀和鉬電阻或熱電偶等傳感器組合的方式對低溫實(shí)驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)。此方式存在如下缺點(diǎn)1)不能設(shè)置能力驗(yàn)證裝置特性點(diǎn)，本申請中主要是指動作溫度點(diǎn)，即裝置發(fā)生某個動作時所在的某個特定的溫度值，普通的低溫試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)裝置不能設(shè)置固定的動作溫度點(diǎn)，無法獲取固定的溫度讀取點(diǎn)，因此無法對參加能力驗(yàn)證的實(shí)驗(yàn)室實(shí)施能力驗(yàn)證活動；2)上述裝置同樣存在成本高、體積較大、運(yùn)輸不便的問題，上述溫度巡檢儀等低溫試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)裝置少則幾千，多則上萬，如此昂貴的校準(zhǔn)設(shè)備不宜用來進(jìn)行能力驗(yàn)證活動， 普通的低溫試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)裝置屬于高精密的電子設(shè)備，不適合普通物流運(yùn)輸，若采用特殊物流，進(jìn)一步會提高能力驗(yàn)證活動的成本。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種能完成電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證的裝置。實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型目的所采取的技術(shù)方案為一種電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置，包括具有固定的動作溫度點(diǎn)的壓力式溫控器，所述的溫控器上連接有溫度感應(yīng)裝置， 所述的溫控器的負(fù)電壓輸入端依次通過電阻、氖燈連接外部負(fù)電壓輸入端，所述的溫控器的正電壓輸入端連接外部正電壓輸入端。本實(shí)用新型還包括盒體，所述的溫控器密封在盒體內(nèi)，所述的溫度感應(yīng)裝置穿出盒體與外界待驗(yàn)證裝置相連，所述的氖燈、外部正、負(fù)電壓輸入端設(shè)置在盒體上。本實(shí)用新型溫控器選擇具有固定的動作溫度點(diǎn)的定溫復(fù)位壓力式溫控器，且所述溫控器的感溫介質(zhì)溫度變化速率< 1°C /min。作為本實(shí)用新型的具體實(shí)施例，所述的溫度感應(yīng)裝置為毛細(xì)管感溫探頭。本實(shí)用新型采用具有固定的動作溫度點(diǎn)的壓力式溫控器，滿足低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證活動對裝置要求能設(shè)置溫度特性點(diǎn)的要求；感溫介質(zhì)溫度變化速率< 1°C /min，在漸變低溫試驗(yàn)中，可以快速對低溫環(huán)境的溫度變化做出響應(yīng)；采用定溫復(fù)位壓力式溫控器，可以較好滿足能力驗(yàn)證裝置對穩(wěn)定性和復(fù)現(xiàn)性的要求；同時本裝置結(jié)構(gòu)簡單，體積小，可控制在
0.004m3左右，且裝置內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡單牢靠，各元器件也可經(jīng)受普通的運(yùn)輸振動，成本低，運(yùn)輸方便，適合能力驗(yàn)證活動；壓力式溫控器本身自帶溫度顯示裝置，數(shù)據(jù)讀取方便。
以下結(jié)合附圖
對本實(shí)用新型做進(jìn)一步說明圖I是本實(shí)用新型的電路原理圖；圖2是使用本實(shí)用新型的電路原理連接圖。
具體實(shí)施方式
如圖2所示,本實(shí)用新型電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置,包括具有固定的動作溫度點(diǎn)的可恢復(fù)壓力式溫控器6，所述的溫控器6上連接有溫度感應(yīng)裝置3，所述的溫控器6的負(fù)電壓輸入端2依次通過電阻R、氖燈4連接外部負(fù)電壓輸入端N，所述的溫控器6 的正電壓輸入端I連接外部正電壓輸入端L ;所述的外部負(fù)電壓輸入端N為一黑色接線柱， 外部正電壓輸入端L為一紅色接線柱；本實(shí)用新型還包括盒體5，所述的溫控器6密封在盒體5內(nèi)，所述的溫度感應(yīng)裝置3穿出盒體5與外界待驗(yàn)證裝置相連，所述的氖燈4、外部正、 負(fù)電壓輸入端L、N設(shè)置在盒體5上，本實(shí)施例中的溫度感應(yīng)裝置為毛細(xì)管感溫探頭。溫控器6選擇具有固定動作溫度點(diǎn)的定溫復(fù)位壓力式溫控器，感溫介質(zhì)溫度變化速率彡rc /min。在本實(shí)用新型的低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置的紅色接線柱L與黑色接線柱N之間加載 220V±5%，50Hz±l%的交流電(電阻R的阻值為R = 120KQ左右，電路導(dǎo)線橫截面積I. Omm)，如圖2所示，利用本實(shí)用新型的裝置完成低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證的具體步驟為I)預(yù)設(shè)低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置的動作溫度點(diǎn)為Tl，Tl的溫度范圍從-10°C 到_70°C，將低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置的感溫探頭3放入待驗(yàn)證的試驗(yàn)箱7中，開啟試驗(yàn)箱7， 從常溫開始降溫；2)當(dāng)溫控器6檢測到試驗(yàn)箱7的內(nèi)部溫度下降到上述預(yù)設(shè)的動作溫度點(diǎn)Tl時，即觀察到氖燈4熄滅時，記錄氖燈4熄滅瞬間試驗(yàn)箱7此時的內(nèi)部溫度值，即記錄待驗(yàn)證裝置溫度值；
待驗(yàn)證裝置溫度值-中位值3)計(jì)算上述待驗(yàn)證裝置溫度的Z值，Z，即采用穩(wěn)健
標(biāo)準(zhǔn)IQR值
統(tǒng)計(jì)Z比分?jǐn)?shù)法對記錄的待驗(yàn)證裝置溫度值進(jìn)行處理，當(dāng)|Z| <2時，判斷待驗(yàn)證裝置試驗(yàn)箱7低溫試驗(yàn)?zāi)芰细瘢M(jìn)而判斷所驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室具有進(jìn)行低溫試驗(yàn)的能力。上述步驟3)中所述的中位值、標(biāo)準(zhǔn)IQR值通過如下方式獲得選擇18個以上(通常為20個以上)的待驗(yàn)證裝置分別進(jìn)行步驟I)、2)相應(yīng)得到18個以上的待驗(yàn)證裝置溫度值，計(jì)算上述18個以上的待驗(yàn)證裝置溫度值的中位值和標(biāo)準(zhǔn)IQR值，標(biāo)準(zhǔn)IQR值即標(biāo)準(zhǔn)化四分位數(shù)間距。下面為本實(shí)用新型的低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)裝置的均勻性檢驗(yàn)報告根據(jù)本裝置的設(shè)計(jì)要求，訂制1#樣品(低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置)和2#樣品各100 個，從中分別隨機(jī)抽取12個用于均勻性檢驗(yàn)，共24個樣品，每個樣品重復(fù)測試2次。樣品均勻性檢驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)1# 樣品
權(quán)利要求1.一種電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置，其特征在于所述的低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置包括具有固定的動作溫度點(diǎn)的壓力式溫控器，所述的溫控器上連接有溫度感應(yīng)裝置， 所述的溫控器的負(fù)電壓輸入端依次通過電阻、氖燈連接外部負(fù)電壓輸入端，所述的溫控器的正電壓輸入端連接外部正電壓輸入端。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置，其特征在于所述的低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置還包括盒體，所述的溫控器密封在盒體內(nèi)，所述的溫度感應(yīng)裝置穿出盒體與外界待驗(yàn)證裝置相連，所述的氖燈、外部正、負(fù)電壓輸入端設(shè)置在盒體上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置，其特征在于所述的溫控器為具有固定的動作溫度點(diǎn)的定溫復(fù)位壓力式溫控器，且所述溫控器的感溫介質(zhì)溫度變化速率≤10C /min。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置，其特征在于所述的溫度感應(yīng)裝置為毛細(xì)管感溫探頭。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證裝置，它包括具有固定的動作溫度點(diǎn)的壓力式溫控器，所述的溫控器上連接有溫度感應(yīng)裝置，所述的溫控器的負(fù)電壓輸入端依次通過電阻、氖燈連接外部負(fù)電壓輸入端，所述的溫控器的正電壓輸入端連接外部正電壓輸入端。本實(shí)用新型采用具有固定的動作溫度點(diǎn)的定溫復(fù)位壓力式溫控器，感溫介質(zhì)溫度變化速率≤1℃/min，滿足低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證實(shí)驗(yàn)的要求，且結(jié)構(gòu)簡單，使用壽命長，成本低、體積小、運(yùn)輸方便，非常適合能力驗(yàn)證活動，具有很高的推廣和應(yīng)用價值。
文檔編號G01D18/00GK202350821SQ20112041715
公開日2012年7月25日 申請日期2011年10月27日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月27日
發(fā)明者劉國榮, 劉宗航, 朱珈, 王珊珊, 竹利平, 鐘志剛, 陳偉升, 陳鈞 申請人:廣州威凱檢測技術(shù)有限公司