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一種電子壓縮試驗(yàn)儀用下壓盤的制作方法

文檔序號(hào):5925351閱讀:247來源:國知局
專利名稱:一種電子壓縮試驗(yàn)儀用下壓盤的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
一種電子壓縮試驗(yàn)儀用下壓盤技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實(shí)用新型涉及一種電子壓縮試驗(yàn)儀用下壓盤。
技術(shù)背景[0002]目前,國內(nèi)存在的壓縮試驗(yàn)儀中設(shè)有的下壓盤結(jié)構(gòu),一般存在放置環(huán)壓中心盤難定位或者定位不準(zhǔn)確的缺陷,這樣導(dǎo)致的后果就是測(cè)量實(shí)驗(yàn)結(jié)果不精確,不能達(dá)到使用儀器所需要的結(jié)果,所以實(shí)驗(yàn)儀器中的構(gòu)件還需要一定的改進(jìn)。發(fā)明內(nèi)容[0003]本實(shí)用新型為了彌補(bǔ)現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供了一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,操作方便,定位準(zhǔn)確的電子壓縮試驗(yàn)儀用下壓盤。[0004]本實(shí)用新型包括壓盤體,壓盤體呈圓柱體結(jié)構(gòu),其特征是所述的壓盤體上設(shè)有以壓盤體中心為原點(diǎn)的外環(huán)槽和內(nèi)環(huán)槽。外環(huán)槽與取樣器配合使用實(shí)現(xiàn)取樣器的準(zhǔn)確定位, 內(nèi)環(huán)槽用于消除空氣阻力對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。[0005]所述的內(nèi)環(huán)槽構(gòu)成圓的直徑小于外環(huán)槽構(gòu)成圓的直徑。外環(huán)槽與內(nèi)環(huán)槽的同時(shí)設(shè)置可以保證測(cè)試結(jié)果的精度。[0006]所述的內(nèi)環(huán)槽與外環(huán)槽設(shè)置于壓盤體內(nèi)的深度相同且小于壓盤體的高度。壓盤體的背面上設(shè)有螺孔,用于實(shí)現(xiàn)和儀器中其他部件的連接。[0007]本實(shí)用新型的電子壓縮試驗(yàn)儀用下壓盤的有益效果結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,操作方便,定位準(zhǔn)確、可靠,容易制造,經(jīng)濟(jì)適用,適用場(chǎng)合廣泛。


[0008]圖1為本實(shí)用新型的主視圖;[0009]圖2為圖1的后視圖;[0010]圖3為圖1的A-A剖視圖;[0011]圖中1、壓盤體,2、外環(huán)槽,3、內(nèi)環(huán)槽,4、螺孔。
具體實(shí)施方式
[0012]
以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說明[0013]附圖為本實(shí)用新型的一種具體實(shí)施例,該實(shí)施例包括壓盤體1,所述的壓盤體1上設(shè)有以壓盤體中心為原點(diǎn)的外環(huán)槽2和內(nèi)環(huán)槽3。所述的內(nèi)環(huán)槽3構(gòu)成圓的直徑小于外環(huán)槽2構(gòu)成圓的直徑。所述的內(nèi)環(huán)槽3與外環(huán)槽2設(shè)置于壓盤體1內(nèi)的深度相同且小于壓盤體的高度。[0014]本實(shí)用新型在使用時(shí),下壓盤用于壓縮試驗(yàn)儀的測(cè)試實(shí)驗(yàn)中,在測(cè)量紙張的環(huán)壓強(qiáng)度時(shí),需要使用到環(huán)壓中心盤,由于環(huán)壓中心盤為圓柱體形狀的結(jié)構(gòu),如果直接放置在壓盤體1上,經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)滑動(dòng)的現(xiàn)象導(dǎo)致環(huán)壓中心盤在壓盤體1中定位不準(zhǔn)確,造成測(cè)試實(shí)驗(yàn)誤差,達(dá)不到儀器所起到的測(cè)量效果。本實(shí)用新型在壓盤體1上設(shè)置有外環(huán)槽2和內(nèi)環(huán)槽 3,外環(huán)槽2用于實(shí)現(xiàn)環(huán)壓中心盤的準(zhǔn)確定位,保證環(huán)壓中心盤在壓盤體1上的位置不變,內(nèi)環(huán)槽3用于消除空氣阻力對(duì)于測(cè)量結(jié)果的影響,從而保證測(cè)量精度。結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,操作方便。
權(quán)利要求1.一種電子壓縮試驗(yàn)儀用下壓盤,包括壓盤體(1),壓盤體(1)呈圓柱體結(jié)構(gòu),其特征是所述的壓盤體(1)上設(shè)有以壓盤體中心為原點(diǎn)的外環(huán)槽(2)和內(nèi)環(huán)槽(3)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子壓縮試驗(yàn)儀用下壓盤,其特征是所述的內(nèi)環(huán)槽(3)構(gòu)成圓的直徑小于外環(huán)槽(2)構(gòu)成圓的直徑。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電子壓縮試驗(yàn)儀用下壓盤,其特征是所述的內(nèi)環(huán)槽(3) 與外環(huán)槽(2)設(shè)置于壓盤體(1)內(nèi)的深度相同且小于壓盤體的高度。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種電子壓縮試驗(yàn)儀用下壓盤。本實(shí)用新型包括壓盤體,其特征是所述的壓盤體上設(shè)有以壓盤體中心為原點(diǎn)的外環(huán)槽和內(nèi)環(huán)槽。本實(shí)用新型的電子壓縮試驗(yàn)儀用下壓盤的有益效果結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,操作方便,定位準(zhǔn)確、可靠,容易制造,經(jīng)濟(jì)適用,適用場(chǎng)合廣泛。
文檔編號(hào)G01N3/02GK202256030SQ20112036870
公開日2012年5月30日 申請(qǐng)日期2011年9月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月29日
發(fā)明者張紅普 申請(qǐng)人:濟(jì)南德瑞克儀器有限公司
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