專利名稱：暗箱式小型分布光度計(jì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于光源測試儀器，具體是一種主要用于測量LED、反射燈的發(fā)光強(qiáng)度，空間光強(qiáng)分布曲線，法向光強(qiáng)，光束擴(kuò)散角等光度參數(shù)的暗箱式小型分布光度計(jì)。
背景技術(shù)：
分布光度計(jì)的測量精度對(duì)外部環(huán)境的依賴性很高。一方面是由于被測光源發(fā)出的光會(huì)受到雜散光的影響，降低了測試精度。目前燈具一般在密閉不透光的暗室中進(jìn)行光參數(shù)測試，這樣就大大的提高了測試的成本。另一方面燈具測試過程中探頭的位置和距離是保證測試準(zhǔn)確度的重要參數(shù)。還有就是燈具的轉(zhuǎn)動(dòng)問題，現(xiàn)有的小型分布光度計(jì)是燈具在繞其中心做水平圓周運(yùn)動(dòng)時(shí)，不能進(jìn)行電驅(qū)動(dòng)，只能靠測試人員的手控，這樣就無法保證燈具旋轉(zhuǎn)角度的準(zhǔn)確性，又增加了工作的復(fù)雜性。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題和提出的技術(shù)任務(wù)是克服現(xiàn)有的分布光度計(jì)測試時(shí)受到雜散光的影響、探頭的位置和距離不準(zhǔn)確造成測試精度低的缺陷，提供一種暗箱式小型分布光度計(jì)。為達(dá)到本實(shí)用新型的目的，本實(shí)用新型的暗箱式小型分布光度計(jì)包括測試暗箱和用于安置光源的測試轉(zhuǎn)臺(tái)，其特征是所述的測試暗箱包括一個(gè)箱體，所述的測試轉(zhuǎn)臺(tái)位于所述箱體的一端，在所述的箱體內(nèi)距離所述的測試轉(zhuǎn)臺(tái)由遠(yuǎn)至近依次布置第一擋光板、第二擋光板、第三擋光板、第四擋光板，且所述的四個(gè)擋光板上及箱體上位于所述第四擋光板與測試轉(zhuǎn)臺(tái)之間的部位開設(shè)位于同一直線上的透光孔，所述的第一擋光板上固定對(duì)應(yīng)于第一擋光板上透光孔的遠(yuǎn)場探頭，所述的第四擋光板上安裝可移動(dòng)至與第四擋光板上的透光孔對(duì)應(yīng)及偏離的近場探頭。作為優(yōu)選技術(shù)措施，所述第一至第四擋光板上的透光孔由小變大，所述箱體上的擋光孔不小于所述第四擋光板上的透光孔，相鄰兩個(gè)擋光板之間的距離相等。作為優(yōu)選技術(shù)措施，所述的遠(yuǎn)場探頭通過連接套固定在第一擋光板上。作為優(yōu)選技術(shù)措施，所述的近場探頭通過滑軌安裝在所述的第四擋光板上。尤其是，所述的滑軌包括兩個(gè)平行的橫向布置的軌道，該兩個(gè)軌道的兩端通過固定塊固定在第四擋光板上，在所述的兩個(gè)軌道上套有直線軸承，所述直線軸承安裝在一滑板上，所述的近場探頭安裝在所述的滑板上。作為優(yōu)選技術(shù)措施，所述的箱體包括底板、罩子、翻蓋，所述的罩子安裝在底板上， 所述的翻蓋安裝在罩子上。作為優(yōu)選技術(shù)措施，所述罩子的側(cè)面設(shè)有側(cè)門。作為優(yōu)選技術(shù)措施，所述的測試轉(zhuǎn)臺(tái)可沿一豎向轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)地安裝在所述的測試暗箱的一端并由一第一電機(jī)驅(qū)動(dòng)，所述的測試轉(zhuǎn)臺(tái)上設(shè)一可沿一橫向轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)的夾具，所述的夾具由一設(shè)于所述測試轉(zhuǎn)臺(tái)上的第二電機(jī)驅(qū)動(dòng)且所述夾具的中心與所述的各個(gè)透光孔同軸線。作為優(yōu)選技術(shù)措施，所述的測試轉(zhuǎn)臺(tái)通過軌道設(shè)于所述測試箱體一端，所述軌道的延伸方向與所述各個(gè)透光孔的軸線方向一致。作為優(yōu)選技術(shù)措施，所述的測試轉(zhuǎn)臺(tái)上裝有供電接線柱。本實(shí)用新型的有益效果是用一個(gè)暗箱來代替暗室，通過切換遠(yuǎn)、近場探頭，使系統(tǒng)在測試過程中得到不同距離的光強(qiáng)，實(shí)現(xiàn)光強(qiáng)不同距離的測試；遠(yuǎn)、近場探頭切換方便， 箱體保證了測試空間的密閉，使測試精度大大的提高，適用于任何環(huán)境下的測試，提高了工作的效率。

圖1是本實(shí)用新型測試暗箱的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實(shí)用新型測試暗箱的側(cè)面示意圖；圖3是圖1的A向視圖(本實(shí)用新型的第四擋光板上安置近場探頭的示意圖)；圖4是本實(shí)用新型的測試轉(zhuǎn)臺(tái)及翻蓋的示意圖；圖中標(biāo)號(hào)說明01-測試暗箱；02-測試轉(zhuǎn)臺(tái)；1-箱體，2-第一擋光板，3-第二擋光板，4-第三擋光板，5-第四擋光板，6_遠(yuǎn)場探頭，7-近場探頭，8-連接套，9-滑軌，10-軌道，11-固定塊，12-滑板，13-底板，14-罩子， 15-翻蓋，16-鉸鏈，17-氣動(dòng)桿，18-側(cè)門，19-第一電機(jī)，20-夾具，21-第二電機(jī)。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合說明書附圖對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步說明。本實(shí)用新型的暗箱式小型分布光度計(jì)，如圖1、4所示，其包括測試暗箱01(參見圖 1)和用于安置光源的測試轉(zhuǎn)臺(tái)02(參見圖4)，測試暗箱01包括一個(gè)箱體1，測試轉(zhuǎn)臺(tái)02位于箱體1的一端，在箱體1內(nèi)距離測試轉(zhuǎn)臺(tái)02由遠(yuǎn)至近依次布置第一擋光板2、第二擋光板 3、第三擋光板4、第四擋光板5，且四個(gè)擋光板上及箱體上位于第四擋光板與測試轉(zhuǎn)臺(tái)之間的部位開設(shè)位于同一直線上的透光孔(一般的，透光孔為圓孔)，第一擋光板2上固定對(duì)應(yīng)于第一擋光板上透光孔的遠(yuǎn)場探頭6，第四擋光板5上安裝可移動(dòng)至與第四擋光板上的透光孔對(duì)應(yīng)及偏離的近場探頭7。該暗箱式小型分布光度計(jì)，用一個(gè)暗箱來代替暗室，通過切換遠(yuǎn)、近場探頭(移動(dòng)近場探頭7的位置至與第四擋光板上的透光孔對(duì)應(yīng)時(shí)，用近場探頭7測試，移動(dòng)近場探頭7的位置至與第四擋光板上的透光孔偏離時(shí)，用遠(yuǎn)場探頭6測試)，使系統(tǒng)在測試過程中得到不同距離的光強(qiáng)，實(shí)現(xiàn)光強(qiáng)不同距離的測試；遠(yuǎn)、近場探頭切換方便，箱體保證了測試空間的密閉，使測試精度大大的提高，適用于任何環(huán)境下的測試，提高了工作的效率。作為對(duì)上述技術(shù)方案的進(jìn)一步完善和補(bǔ)充，本實(shí)用新型還包括以下各段述及的附加技術(shù)特征，雖然圖1、4所示暗箱式小型分布光度計(jì)包含了以下所有附加技術(shù)特征，是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，但是本實(shí)用新型并不限于該情形，在實(shí)施本實(shí)用新型時(shí)根據(jù)具體作用可將它們選用在上段所述的技術(shù)方案上。首先，第一至第四擋光板上的透光孔由小變大，箱體上的擋光孔不小于第四擋光板上的透光孔，相鄰兩個(gè)擋光板之間的距離相等。[0024]其次，遠(yuǎn)場探頭6通過連接套8固定在第一擋光板5上，為保證遠(yuǎn)場探頭6的中心位置，連接套8的圓心孔應(yīng)與第一擋光板2上的透光孔在同一軸線上。第三，近場探頭7通過滑軌9安裝在第四擋光板5上，保證近場探頭滑動(dòng)的流暢性。尤其是，如圖3所示，滑軌9包括兩個(gè)平行的橫向布置的軌道10，該兩個(gè)軌道10的兩端通過固定塊11固定在第四擋光板5上，在兩個(gè)軌道10上套有直線軸承，直線軸承安裝在一滑板12上，近場探頭7安裝在滑板12上。通過兩個(gè)平行的軌道10使滑板滑動(dòng)時(shí)不出現(xiàn)卡死，增加滑動(dòng)的流暢性，同時(shí)兩個(gè)平行的軌道10具有導(dǎo)向作用，使近場探頭7只能做水平方向的移動(dòng)，增加測試的可靠性。軌道10兩端的固定塊11用來限制滑板12的滑動(dòng)行程，防止滑塊滑動(dòng)時(shí)脫落，并用固定塊用來限位，控制近場探頭左右滑動(dòng)的位置，確保測試精度。第四，箱體1包括底板13、罩子14、翻蓋15，罩子14安裝在底板13上，翻蓋15安裝在罩子14上。將翻蓋合上，整個(gè)測試過程中沒有雜光的干擾，提高了測試的準(zhǔn)確性。翻蓋15通過鉸鏈16連接裝在罩子14的右上角，翻蓋轉(zhuǎn)動(dòng)靈活，連接可靠。翻蓋15翻開時(shí)， 由裝在翻蓋15與罩子14之間的氣動(dòng)桿17將翻蓋支撐在翻開狀態(tài)。第五，罩子14的側(cè)面設(shè)有側(cè)門18 (參見圖2)。以便從側(cè)門中切換探頭。第六，測試轉(zhuǎn)臺(tái)02可沿一豎向轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)地安裝在測試暗箱01的一端并由第一電機(jī)19驅(qū)動(dòng)(可通過傳動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng))，測試轉(zhuǎn)臺(tái)02上設(shè)一可沿一橫向轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)的夾具20用于夾持被測燈具，夾具20由設(shè)于測試轉(zhuǎn)臺(tái)02上的第二電機(jī)21驅(qū)動(dòng)(可通過傳動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng))且夾具的中心與各個(gè)透光孔同軸線。由此，測試轉(zhuǎn)臺(tái)通過兩個(gè)電機(jī)驅(qū)動(dòng)實(shí)現(xiàn)被測試的燈具沿豎向轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)和橫向轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)。第七，測試轉(zhuǎn)臺(tái)通過軌道設(shè)于測試箱體一端，軌道的延伸方向與各個(gè)透光孔的軸線方向一致。由此實(shí)現(xiàn)被測試燈具的水平移動(dòng)。第八，測試轉(zhuǎn)臺(tái)上裝有供電接線柱。方便給安裝在夾具上的燈具供電。第九，設(shè)備內(nèi)表面均為無反射的黑色。本實(shí)用新型的暗箱式小型分布光度計(jì)自帶測試暗箱及測試光柵(即擋光板)，測試時(shí)在無需準(zhǔn)備暗室的情況下就能在任何環(huán)境下完成測試，節(jié)約了測試的成本。裝有兩個(gè)電機(jī)的測試轉(zhuǎn)臺(tái)能實(shí)現(xiàn)兩軸自動(dòng)旋轉(zhuǎn)，用計(jì)算機(jī)控制兩個(gè)電機(jī)從而實(shí)現(xiàn)測試轉(zhuǎn)臺(tái)上上的燈具沿兩個(gè)垂直軸線做圓周轉(zhuǎn)動(dòng)。用電機(jī)驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)代替測試人員手動(dòng)旋轉(zhuǎn)能確保燈具旋轉(zhuǎn)角度的準(zhǔn)確性且操作方便。轉(zhuǎn)臺(tái)上的夾具可以左右移動(dòng)，方便調(diào)整夾持燈具口面和垂直軸的相切。
權(quán)利要求1.暗箱式小型分布光度計(jì)，包括測試暗箱(01)和用于安置光源的測試轉(zhuǎn)臺(tái)(02)，其特征是所述的測試暗箱(01)包括一個(gè)箱體(1)，所述的測試轉(zhuǎn)臺(tái)(02)位于所述箱體(1)的一端，在所述的箱體(1)內(nèi)距離所述的測試轉(zhuǎn)臺(tái)(02)由遠(yuǎn)至近依次布置第一擋光板(2)、第二擋光板(3)、第三擋光板(4)、第四擋光板(5)，且所述的四個(gè)擋光板上及箱體上位于所述第四擋光板與測試轉(zhuǎn)臺(tái)之間的部位開設(shè)位于同一直線上的透光孔，所述的第一擋光板(2)上固定對(duì)應(yīng)于第一擋光板上透光孔的遠(yuǎn)場探頭(6)，所述的第四擋光板(5)上安裝可移動(dòng)至與第四擋光板上的透光孔對(duì)應(yīng)及偏離的近場探頭(J)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的暗箱式小型分布光度計(jì)，其特征是所述第一至第四擋光板上的透光孔由小變大，所述箱體上的擋光孔不小于所述第四擋光板上的透光孔，相鄰兩個(gè)擋光板之間的距離相等。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的暗箱式小型分布光度計(jì)，其特征是所述的遠(yuǎn)場探頭(6)通過連接套(8 )固定在第一擋光板(2 )上。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的暗箱式小型分布光度計(jì)，其特征是所述的近場探頭(7)通過滑軌(9)安裝在所述的第四擋光板(5)上。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的暗箱式小型分布光度計(jì)，其特征是所述的滑軌(9)包括兩個(gè)平行的橫向布置的軌道(10)，該兩個(gè)軌道的兩端通過固定塊(11)固定在第四擋光板(5) 上，在所述的兩個(gè)軌道(10)上套有直線軸承，所述直線軸承安裝在一滑板(12)上，所述的近場探頭(7)安裝在所述的滑板(12)上。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的暗箱式小型分布光度計(jì)，其特征是所述的箱體(1)包括底板(13)、罩子(14)、翻蓋(15)，所述的罩子(14)安裝在底板(13)上，所述的翻蓋(15)安裝在罩子(14)上。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或6所述的暗箱式小型分布光度計(jì)，其特征是所述罩子(14)的側(cè)面設(shè)有側(cè)門(18)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的暗箱式小型分布光度計(jì)，其特征是所述的測試轉(zhuǎn)臺(tái)(02)可沿一豎向轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)地安裝在所述的測試暗箱(01)的一端并由一第一電機(jī)(19)驅(qū)動(dòng)，所述的測試轉(zhuǎn)臺(tái)(01)上設(shè)一可沿一橫向轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)的夾具(20)，所述的夾具(20)由一設(shè)于所述測試轉(zhuǎn)臺(tái)(02)上的第二電機(jī)(21)驅(qū)動(dòng)且所述夾具(20)的中心與所述的各個(gè)透光孔同軸線。
9.根據(jù)權(quán)利要求1或8所述的暗箱式小型分布光度計(jì)，其特征是所述的測試轉(zhuǎn)臺(tái) (02)通過軌道設(shè)于所述測試箱體(01)—端，所述軌道的延伸方向與所述各個(gè)透光孔的軸線方向一致。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的暗箱式小型分布光度計(jì)，其特征是所述的測試轉(zhuǎn)臺(tái)(02)上裝有供電接線柱。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種暗箱式小型分布光度計(jì)，屬于光源測試儀器，它包括測試暗箱和測試轉(zhuǎn)臺(tái)，測試暗箱包括一個(gè)箱體，測試轉(zhuǎn)臺(tái)位于箱體的一端，在箱體內(nèi)距離測試轉(zhuǎn)臺(tái)由遠(yuǎn)至近依次布置第一擋光板、第二擋光板、第三擋光板、第四擋光板，且四個(gè)擋光板上及箱體上位于第四擋光板與測試轉(zhuǎn)臺(tái)之間的部位開設(shè)位于同一直線上的透光孔，第一擋光板上固定對(duì)應(yīng)于第一擋光板上透光孔的遠(yuǎn)場探頭，第四擋光板上安裝可移動(dòng)至與第四擋光板上的透光孔對(duì)應(yīng)及偏離的近場探頭。通過切換遠(yuǎn)、近場探頭，使系統(tǒng)在測試過程中得到不同距離的光強(qiáng)，實(shí)現(xiàn)光強(qiáng)不同距離的測試；遠(yuǎn)、近場探頭切換方便，箱體保證了測試空間的密閉，使測試精度大大的提高。
文檔編號(hào)G01J1/04GK202171503SQ20112032104
公開日2012年3月21日 申請(qǐng)日期2011年8月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月30日
發(fā)明者朱利忠, 章軍 申請(qǐng)人:杭州創(chuàng)惠儀器有限公司