專利名稱：一種隱裂測(cè)試輔助加電工裝的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種隱裂測(cè)試輔助加電工裝。
背景技術(shù)：
隨著太陽(yáng)能電池組件技術(shù)的進(jìn)步和市場(chǎng)客戶的需求，隱裂測(cè)試逐步引入到組件生產(chǎn)測(cè)試工序中，市場(chǎng)上也推出了相應(yīng)的檢測(cè)設(shè)備-紅外隱裂測(cè)試儀，各個(gè)廠家的紅外隱裂測(cè)試原理大同小異，其中一個(gè)重要環(huán)節(jié)可靠性，卻是一個(gè)影響測(cè)試效果及生產(chǎn)效率的瓶頸。目前裝框組件在隱裂測(cè)試中組件加電的通用方法有手動(dòng)加電、自動(dòng)加電兩種。自動(dòng)加電方式工作簡(jiǎn)單、測(cè)試效率高，節(jié)省人力成本，但由于人工安裝線盒時(shí)接線盒移位而造成的位置偏差，導(dǎo)致測(cè)試中會(huì)有探針接觸不到線盒觸點(diǎn)而產(chǎn)生拍不出圖像或是少串等情況，這時(shí)需要將該組件取出檢查并重新測(cè)試，影響了組件的正常生產(chǎn)進(jìn)度。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是開(kāi)發(fā)出一種隱裂測(cè)試輔助加電工裝，使隱裂測(cè)試一次性加電準(zhǔn)確率達(dá)到100 %，且模具可以反復(fù)使用。本實(shí)用新型解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是一種隱裂測(cè)試輔助加電工裝， 絕緣主體、背面電極、正面電極和定位腳，絕緣主體承載著背面電極、正面電極和定位腳的安裝，背面電極和定位腳設(shè)置在絕緣主體的背面，正面電極設(shè)置在絕緣主體的正面，背面電極和正面電極電連接，正面電極的可接觸面積大于背面電極。本實(shí)用新型的有益效果是本工裝在測(cè)試中可提高測(cè)試過(guò)程成功率，在使用中不會(huì)造成對(duì)組件的二次損傷并且可以反復(fù)使用，有效地克服了隱裂測(cè)試儀加電部分的缺陷，避免出現(xiàn)黑屏和少串的情況，在實(shí)際生產(chǎn)使用取得了很好的效果，一次性成功率可達(dá) 100%，從而提高了太陽(yáng)能組件的生產(chǎn)效率，在實(shí)際生產(chǎn)中可以廣泛推廣使用。
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步說(shuō)明；

圖1是本實(shí)用新型的俯視圖；圖2是本實(shí)用新型的側(cè)視圖；圖中，1.絕緣主體，2.背面電極，3.正面電極，4.定位腳。
具體實(shí)施方式
如圖1和2所示，一種隱裂測(cè)試輔助加電工裝，絕緣主體1、背面電極2、正面電極 3和定位腳4，絕緣主體1承載著背面電極2、正面電極3和定位腳4的安裝，背面電極2和定位腳4設(shè)置在絕緣主體1的背面，正面電極3設(shè)置在絕緣主體1的正面，背面電極2和正面電極3電連接，正面電極3的可接觸面積大于背面電極2。定位腳4用于使用位置的固定，背面電極2和正面電極3為主要作用部分，用于對(duì)組件接線盒的電極進(jìn)行轉(zhuǎn)換，背面電極2與組件接線盒的電極接觸，正面電極3與測(cè)試探針接觸。背面電極2和正面電極3的材料為銅，導(dǎo)電性好，正面電極3的可接觸面積有效地增大了隱裂測(cè)試設(shè)備的測(cè)試探針對(duì)組件的接觸的成功率。 在車間實(shí)際生產(chǎn)中使用，使用前隱裂測(cè)試一次性成功率在< 90%，試用后成功率可達(dá)100%。
權(quán)利要求1. 一種隱裂測(cè)試輔助加電工裝，其特征是包括絕緣主體(1)、背面電極O)、正面電極 (3)和定位腳G)，絕緣主體⑴承載著背面電極O)、正面電極(3)和定位腳⑷的安裝， 背面電極( 和定位腳(4)設(shè)置在絕緣主體(1)的背面，正面電極C3)設(shè)置在絕緣主體(1) 的正面，背面電極(2)和正面電極(3)電連接，正面電極(3)的可接觸面積大于背面電極 O)。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種隱裂測(cè)試輔助加電工裝。其包括絕緣主體、背面電極、正面電極和定位腳，絕緣主體承載著背面電極、正面電極和定位腳的安裝，背面電極和定位腳設(shè)置在絕緣主體的背面，正面電極設(shè)置在絕緣主體的正面，背面電極和正面電極電連接，正面電極的可接觸面積大于背面電極。本實(shí)用新型的有益效果是本工裝在測(cè)試中可提高測(cè)試過(guò)程成功率，在使用中不會(huì)造成對(duì)組件的二次損傷并且可以反復(fù)使用，有效地克服了隱裂測(cè)試儀加電部分的缺陷，避免出現(xiàn)黑屏和少串的情況，在實(shí)際生產(chǎn)使用取得了很好的效果，一次性成功率可達(dá)100％，從而提高了太陽(yáng)能組件的生產(chǎn)效率，在實(shí)際生產(chǎn)中可以廣泛推廣使用。
文檔編號(hào)G01N21/88GK202256170SQ20112032084
公開(kāi)日2012年5月30日 申請(qǐng)日期2011年8月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月30日
發(fā)明者楊洪軍, 錢朝暉 申請(qǐng)人:常州天合光能有限公司