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一種電成像儀器探頭測試與刻度裝置的制作方法

文檔序號:5915725閱讀:122來源:國知局
專利名稱:一種電成像儀器探頭測試與刻度裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及一種電成像儀器探頭測試與刻度裝置。
背景技術(shù)
電成像儀器探頭是儀器的核心探測元件,在儀器研制過程中及儀器下井測試前需要對其進行檢驗和刻度。目前探頭刻度裝置各探針與探頭電扣接觸壓力不均勻,多數(shù)探針與電扣非法向接觸,各對探針和電扣的接觸電阻相差較大,影響測試和刻度的精度;另外, 現(xiàn)有的測試及刻度裝置采用固定阻值的負載電阻,不便于模擬不同電性參數(shù)地層條件下的探頭性能測試。

實用新型內(nèi)容本實用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種探針與電扣法向接觸且負載電阻可調(diào)的電成像儀器探頭測試與刻度裝置。為了解決上述問題,本實用新型提供了一種電成像儀器探頭測試與刻度裝置,包括極板體,所述極板體包括殼體與探頭,所述殼體上設(shè)置有探針,所述探頭上設(shè)置有電扣, 所述探針與電扣同軸線并表面法向接觸。進一步,所述探針與電扣的觸點與所述極板體內(nèi)的測量與處理電路之間還串接有可變電阻。進一步,所述探針與電扣一一對應(yīng),且均為扇形分布。本實用新型具有如下優(yōu)點1、本實用新型中探針與電扣同軸線并表面法向接觸,可保證各個探針與電扣之間壓力及接觸電阻一致,從而大大提高探頭測試及刻度精度。2、本實用新型中在觸點與測量與處理電路之間串接可變電阻,就是在測量中模擬負載電阻采用可變電阻,可以很方便地模擬不同電性參數(shù)地層條件下的探頭性能測試。3、本實用新型中電扣與探針均一一對應(yīng)并采用扇形分布,可方便地實現(xiàn)探針與電扣同軸線并表面法向接觸,保證各個探針與電扣之間壓力及接觸電阻一致。本實用新型結(jié)構(gòu)簡單,實現(xiàn)可靠,本實用新型制作成本低廉,且可進行標(biāo)準(zhǔn)化制作,方便進行推廣使用。
以下結(jié)合附圖對本實用新型的實施方式作進一步說明

圖1示出了本實用新型一種電成像儀器探頭測試與刻度裝置立體結(jié)構(gòu)示意圖;圖2示出了本實用新型一種電成像儀器探頭測試與刻度裝置俯視圖結(jié)構(gòu)示意圖;圖3示出了圖2中A向剖視結(jié)構(gòu)示意圖;圖4示出了圖3中局部放大示意圖;圖5示出了本實用新型一種電成像儀器探頭測試與刻度裝置中可變電阻使用結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
如圖1至圖4所示,本實用新型包括極板體1。極板體1包括殼體2與探頭3,殼體2上設(shè)置有探針4,探頭3上設(shè)置有電扣5,探針4與電扣5同軸線并表面法向接觸。本實用新型中探針4與電扣5同軸線并表面法向接觸,可保證各個探針4與電扣 5之間壓力及接觸電阻一致,從而大大提高探頭3測試及刻度精度。如圖5所示,本實用新型中,探針4與電扣5的觸點6與極板體1內(nèi)的測量與處理電路7之間還串接有可變電阻8。本實用新型中在觸點6與測量與處理電路7之間串接可變電阻8,就是在測量中模擬負載電阻采用可變電阻,可以很方便地模擬不同電性參數(shù)地層條件下的探頭3性能測
試ο本實用新型中,探針4與電扣5為多對,每對探針4與電扣5之間一一對應(yīng),且均為扇形分布。本實用新型中電扣4與探針5均一一對應(yīng)并采用扇形分布,可方便地實現(xiàn)探針4 與電扣5同軸線并表面法向接觸,保證各個探針4與電扣5之間壓力及接觸電阻一致。本實用新型結(jié)構(gòu)簡單,實現(xiàn)可靠,本實用新型制作成本低廉,且可進行標(biāo)準(zhǔn)化制作,方便進行推廣使用。綜上所述,以上僅為本實用新型的較佳實施例而已,并非用于限定本實用新型的保護范圍,因此,凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換、改進等,均應(yīng)包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種電成像儀器探頭測試與刻度裝置,其特征在于包括極板體,所述極板體包括殼體與探頭,所述殼體上設(shè)置有探針,所述探頭上設(shè)置有電扣,所述探針與電扣同軸線并表面法向接觸。
2.如權(quán)利要求1所述的電成像儀器探頭測試與刻度裝置,其特征在于所述探針與電扣的觸點與所述極板體內(nèi)的測量與處理電路之間還串接有可變電阻。
3.如權(quán)利要求2所述的電成像儀器探頭測試與刻度裝置,其特征在于所述探針與電扣一一對應(yīng),且均為扇形分布。
專利摘要本實用新型提供了一種電成像儀器探頭測試與刻度裝置,包括極板體,所述極板體包括殼體與探頭,所述殼體上設(shè)置有探針,所述探頭上設(shè)置有電扣,所述探針與電扣同軸線并表面法向接觸。本實用新型中探針與電扣同軸線并表面法向接觸,可保證各個探針與電扣之間壓力及接觸電阻一致,從而大大提高探頭測試及刻度精度。
文檔編號G01V13/00GK202102131SQ201120194558
公開日2012年1月4日 申請日期2011年6月10日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月10日
發(fā)明者于增輝, 侯洪為, 龐曉君, 張志剛 申請人:中國海洋石油總公司, 中海油田服務(wù)股份有限公司
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