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一種檢測紡織品缺陷的裝置的制作方法

文檔序號:5907174閱讀:196來源:國知局
專利名稱:一種檢測紡織品缺陷的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及一種檢測紡織品缺陷的裝置。
背景技術(shù)
紡織品在制造過程中,其結(jié)構(gòu)和染色材料中可能會存在缺陷。在現(xiàn)有技術(shù)中,是由人工利用放大鏡對缺陷進(jìn)行檢測鑒別,鑒別結(jié)果不準(zhǔn)確。

發(fā)明內(nèi)容鑒于目前還沒有一種用于鑒別紡織品染色和結(jié)構(gòu)缺陷的裝置,本實用新型提供一種用于鑒別紡織品染色和結(jié)構(gòu)缺陷的裝置設(shè)備。本實用新型解決其技術(shù)問題的技術(shù)方案是一種檢測紡織品缺陷的裝置,包括機(jī)架,該機(jī)架具有一平臺,所述機(jī)架的平臺上由前自后依次設(shè)有半導(dǎo)體紅外激光器、聚光透鏡、物鏡、攝像物鏡和電子感光器件,所述的半導(dǎo)體紅外激光器、聚光透鏡、物鏡、攝像物鏡和電子感光器件均位于同一條光路上;所述物鏡和所述的聚光透鏡之間設(shè)有一用于夾持紡織品樣本的織物支架,所述的電子感光器件與一顯示器電連接。進(jìn)一步,所述的半導(dǎo)體激光器內(nèi)內(nèi)置808nm波長紅外激光光源或980nm波長紅外激光光源。進(jìn)一步,所述機(jī)架的平臺上設(shè)有兩條上凸滑軌;還包括聚光透鏡支架、物鏡支架、 攝像物鏡支架,所述的聚光透鏡安裝在所述的聚光透鏡支架上,所述的物鏡安裝在所述的物鏡支架上,所述的攝像物鏡安裝在所述的攝像物鏡支架上;聚光透鏡支架、物鏡支架、攝像物鏡支架的下端均設(shè)有滑槽,所述上凸滑軌位于所述的滑槽內(nèi),所述的滑槽的側(cè)邊上穿設(shè)有鎖緊螺桿。進(jìn)一步,所述的電子感光元件為CCD元件或CMOS器件。本實用新型的工作原理是通過半導(dǎo)體紅外激光器發(fā)射紅外激光,經(jīng)過聚光透鏡的會聚后向夾持在織物支架上的紡織品樣本投射并透過該紡織樣品,然后再經(jīng)過物鏡和攝像物鏡的會聚,由電子感光器件采集紅外激光穿過紡織樣品后的圖像信號。聚光透鏡、物鏡和攝像物鏡起到放大紡織樣品圖像的作用。利用電子感光器件對好外激光圖像進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換,在顯示器上顯示具有灰度和對比色度的紡織樣品紅外激光透射圖像,可以準(zhǔn)確地進(jìn)行鑒別。紅外激光的高度單色性和定向性應(yīng)用于透射紡織品圖像技術(shù),可獲得清晰度十分理想的圖像。紡織纖維在高度單色性紅外激光的透射下,織物的纖維獲得接近單一波長紅外激光相對透明度的纖維圖像;在染色紡織品上,顏料的顯現(xiàn)顏色是在400nm 760nm的光譜范圍內(nèi),應(yīng)用光波波段的紅外激光(尤其是波長為808nm和波長為980nm的紅外激光)透射紡織品結(jié)構(gòu)以及紡織品的染色缺陷部位,入射光的光波波長在燃料顯現(xiàn)顏色光譜范偉之外,能夠去除燃料對紅外激光入射光的影響,獲得染色紡織品和染色缺陷部位相當(dāng)于去掉燃料光學(xué)作用以后的結(jié)構(gòu)成像圖,揭示紡織品結(jié)構(gòu)上存在的結(jié)構(gòu)缺陷與染色缺陷之間的關(guān)系。本實用新型的有益效果在于利用紅外激光透射紡織品樣品,并采用光學(xué)透鏡放大透射處樣品的圖像,采集紅外激光透射圖像后進(jìn)行光電換轉(zhuǎn),在顯示器上顯示具有灰度和對比色度的紡織樣品紅外激光透射圖像,可以準(zhǔn)確地進(jìn)行鑒別。

圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖和具體實施方式
對本實用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說明。參照圖1,一種檢測紡織品缺陷的裝置,包括機(jī)架,該機(jī)架具有一平臺,所述機(jī)架的平臺上由前自后依次設(shè)有半導(dǎo)體紅外激光器1、聚光透鏡2、物鏡3、攝像物鏡4和電子感光器件5,所述的半導(dǎo)體紅外激光器1、聚光透鏡2、物鏡3、攝像物鏡4和電子感光器件5均位于同一條光路上;所述物鏡2和所述的聚光透鏡4之間設(shè)有一用于夾持紡織品樣本6的織物支架, 所述的電子感光器件5與一顯示器7電連接。電子感光元件5可采用CXD元件或CMOS器件。推薦在半導(dǎo)體激光器1內(nèi)內(nèi)置808nm波長紅外激光光源或980nm波長紅外激光光源。本實施例中,所述機(jī)架的平臺上設(shè)有兩條上凸滑軌;還包括聚光透鏡支架、物鏡支架、攝像物鏡支架,所述的聚光透鏡2安裝在所述的聚光透鏡支架上,所述的物鏡3安裝在所述的物鏡支架上,所述的攝像物鏡4安裝在所述的攝像物鏡支架上;聚光透鏡支架、物鏡支架、攝像物鏡支架的下端均設(shè)有滑槽,所述上凸滑軌位于所述的滑槽內(nèi),所述的滑槽的側(cè)邊上穿設(shè)有鎖緊螺桿。光透鏡支架、物鏡支架、攝像物鏡支架可在上凸滑軌上滑動,從而可進(jìn)行位置的調(diào)節(jié),調(diào)整好位置后擰緊所述的鎖緊螺桿使之一上凸滑軌鎖緊后即實現(xiàn)固定。通過半導(dǎo)體紅外激光器1發(fā)射紅外激光,經(jīng)過聚光透鏡2的會聚后向夾持在織物支架上的紡織品樣本6投射并透過該紡織樣本6,然后再經(jīng)過物鏡3和攝像物鏡4的會聚, 由電子感光器件5采集紅外激光穿過紡織樣本后的圖像信號。聚光透鏡2、物鏡3和攝像物鏡4起到放大紡織樣品圖像的作用。利用電子感光器件5對好外激光圖像進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換, 在顯示器7上顯示具有灰度和對比色度的紡織樣品紅外激光透射圖像,可以準(zhǔn)確地進(jìn)行鑒別。
權(quán)利要求1.一種檢測紡織品缺陷的裝置,包括機(jī)架,該機(jī)架具有一平臺,其特征在于所述機(jī)架的平臺上由前自后依次設(shè)有半導(dǎo)體紅外激光器、聚光透鏡、物鏡、攝像物鏡和電子感光器件,所述的半導(dǎo)體紅外激光器、聚光透鏡、物鏡、攝像物鏡和電子感光器件均位于同一條光路上;所述物鏡和所述的聚光透鏡之間設(shè)有一用于夾持紡織品樣本的織物支架,所述的電子感光器件與一顯示器電連接。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測紡織品缺陷的裝置,其特征在于所述的半導(dǎo)體激光器內(nèi)內(nèi)置808nm波長紅外激光光源或980nm波長紅外激光光源。
3.如權(quán)利要求1或2所述的檢測紡織品缺陷的裝置,其特征在于所述機(jī)架的平臺上設(shè)有兩條上凸滑軌;還包括聚光透鏡支架、物鏡支架、攝像物鏡支架,所述的聚光透鏡安裝在所述的聚光透鏡支架上,所述的物鏡安裝在所述的物鏡支架上,所述的攝像物鏡安裝在所述的攝像物鏡支架上;聚光透鏡支架、物鏡支架、攝像物鏡支架的下端均設(shè)有滑槽,所述上凸滑軌位于所述的滑槽內(nèi),所述的滑槽的側(cè)邊上穿設(shè)有鎖緊螺桿。
4.如權(quán)利要求1或2所述的檢測紡織品缺陷的裝置,其特征在于所述的電子感光元件為CCD元件或CMOS器件。
5.如權(quán)利要求3所述的測紡織品缺陷的裝置,其特征在于所述的電子感光元件為CCD 元件或CMOS器件。
專利摘要一種檢測紡織品缺陷的裝置,包括機(jī)架,該機(jī)架上由前自后依次設(shè)有半導(dǎo)體紅外激光器、聚光透鏡、物鏡、攝像物鏡和電子感光器件,半導(dǎo)體紅外激光器、聚光透鏡、物鏡、攝像物鏡和電子感光器件均位于同一條光路上;物鏡和聚光透鏡之間設(shè)有一織物支架,電子感光器件與一顯示器電連接。通過半導(dǎo)體紅外激光器發(fā)射紅外激光,經(jīng)過聚光透鏡的會聚后向紡織品樣本投射并透過該紡織樣品,然后再經(jīng)過物鏡和攝像物鏡的會聚,由電子感光器件采集圖像信號。聚光透鏡、物鏡和攝像物鏡起到放大紡織樣品圖像的作用。利用電子感光器件對好外激光圖像進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換,在顯示器上顯示具有灰度和對比色度的紡織樣品紅外激光透射圖像,可以準(zhǔn)確地進(jìn)行鑒別。
文檔編號G01N21/88GK202066792SQ201120036328
公開日2011年12月7日 申請日期2011年1月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月30日
發(fā)明者郭晨露 申請人:郭晨露
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