專利名稱：一種轉(zhuǎn)速傳感器測試臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種轉(zhuǎn)速傳感器測試臺。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有轉(zhuǎn)速傳感器測試系統(tǒng)，每次只能測試一個傳感器，當更換傳感器后重新接線后，測試條件可能隨之改變。所以無法知道同一批傳感器的差異。另外，重新接線和拆線也影響了測試周期。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種轉(zhuǎn)速傳感器測試臺，其解決了現(xiàn)有轉(zhuǎn)速傳感器測試系統(tǒng)只能測試一個傳感器所導(dǎo)致的測試差異性及測試周期長的技術(shù)問題。本發(fā)明的技術(shù)解決方案:一種轉(zhuǎn)速傳感器測試臺，其特殊之處在于:包括支架、固定在支架上被電機驅(qū)動的齒輪、設(shè)置在齒輪外的防護箱、用于安裝轉(zhuǎn)速傳感器的安裝架、用于控制電機轉(zhuǎn)動的控制箱；所述安裝架包括固定在支架上的固定架、被固定架橫向架起的轉(zhuǎn)盤、用于人工旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤的手動旋鈕、設(shè)置在轉(zhuǎn)盤上用于固定傳感器的多個圓周均布的傳感器安裝座；所述防護箱上設(shè)置有朝向齒輪的齒的測試孔，所述轉(zhuǎn)盤上最下方的一個傳感器安裝座正對測試孔。根據(jù)權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)速傳感器測試臺，其特征在于:所述控制箱包括電機變頻控制電路。本發(fā)明優(yōu)點:1、本發(fā)明可在測試一個傳感器的時段內(nèi)，拆卸前一個已測試好的傳感器并安裝連線下一個傳感器，測試效率成倍提高。2、本發(fā)明所有的傳感器的測試對象均為同一個均速轉(zhuǎn)動的齒輪的齒數(shù)，具有測試同一性好的效果。


圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖；其中:1_支架，2-控制箱，3-電機，4-齒輪，-5-測試孔，6-防護箱，7-傳感器安裝座，8-轉(zhuǎn)盤，9-固定架，10-手動旋鈕，11-轉(zhuǎn)速傳感器，12-傳感器引出線。
具體實施例方式本發(fā)明轉(zhuǎn)速傳感器測試臺，包括支架、固定在支架上被電機驅(qū)動的齒輪、設(shè)置在齒輪外的防護箱、用于安裝轉(zhuǎn)速傳感器的安裝架、用于控制電機轉(zhuǎn)動的控制箱；齒輪的齒數(shù)在180至200之間，安裝架包括固定在支架上的固定架、被固定架橫向架起的轉(zhuǎn)盤、用于人工旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤的手動旋鈕、設(shè)置在轉(zhuǎn)盤上用于固定傳感器的六個圓周均布的傳感器安裝座；防護箱上設(shè)置有朝向齒輪的齒的測試孔，當轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動時，任何一個到達最下方的傳感器都能正對測試孔從而正對齒輪上依次轉(zhuǎn)過的齒。為了測試大范圍的轉(zhuǎn)速，控制箱一般應(yīng)包括電機變頻控制電路來改變電機轉(zhuǎn)速。本發(fā)明原理:本發(fā)明在轉(zhuǎn)盤的圓周均布多個傳感器安裝座，可同時在每個安裝座內(nèi)都放置傳感器，當測完一個傳感器后，轉(zhuǎn)動轉(zhuǎn)盤，可立刻對下一個傳感器進行測試，測試過程中還可將前一個已測試完的傳感器進行拆線并安裝連線下一個測試傳感器。
權(quán)利要求
1.一種轉(zhuǎn)速傳感器測試臺，其特征在于:包括支架、固定在支架上被電機驅(qū)動的齒輪、設(shè)置在齒輪外的防護箱、用于安裝轉(zhuǎn)速傳感器的安裝架、用于控制電機轉(zhuǎn)動的控制箱；所述安裝架包括固定在支架上的固定架、被固定架橫向架起的轉(zhuǎn)盤、用于人工旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤的手動旋鈕、設(shè)置在轉(zhuǎn)盤上用于固定傳感器的多個圓周均布的傳感器安裝座；所述防護箱上設(shè)置有朝向齒輪的齒的測試孔，所述轉(zhuǎn)盤上最下方的一個傳感器安裝座正對測試孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)速傳感器測試臺，其特征在于:所述控制箱包括電機變頻控制電路。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種轉(zhuǎn)速傳感器測試臺，包括支架、固定在支架上被電機驅(qū)動的齒輪、設(shè)置在齒輪外的防護箱、用于安裝轉(zhuǎn)速傳感器的安裝架、用于控制電機轉(zhuǎn)動的控制箱；安裝架包括固定在支架上的固定架、被固定架橫向架起的轉(zhuǎn)盤、用于人工旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤的手動旋鈕、設(shè)置在轉(zhuǎn)盤上用于固定傳感器的多個圓周均布的傳感器安裝座。本發(fā)明的目的是提供一種轉(zhuǎn)速傳感器測試臺，其解決了現(xiàn)有轉(zhuǎn)速傳感器測試系統(tǒng)只能測試一個傳感器所導(dǎo)致的測試差異性及測試周期長的技術(shù)問題。
文檔編號G01P21/00GK103175993SQ20111045435
公開日2013年6月26日 申請日期2011年12月20日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月20日
發(fā)明者曾衛(wèi)東 申請人:曾衛(wèi)東