專利名稱：基于pxi測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路，特別是針對雙頻段/四頻段(850/900MHz和1800/1900MHz) GSM標(biāo)準(zhǔn)功率放大器以及2GHz以下 CDMA, WCDMA標(biāo)準(zhǔn)功率放大器的直流和射頻指標(biāo)的自動(dòng)測試。
背景技術(shù)：
PXI (PCI Extension For hstrumentation，簡稱 PXI)作為第三代 ATE 的新興代表將計(jì)算機(jī)PCI總線、Com功率放大器Ct PCI (CPCI)完美地結(jié)合到測試儀器中。PXI發(fā)展飛速，一方面，GPIB和VXI的成功經(jīng)驗(yàn)與失敗教訓(xùn)為PXI的發(fā)展奠定了基礎(chǔ)；另一方面，PXI 也得益于二十年來PC工業(yè)的高速發(fā)展和大量技術(shù)、工藝的積累，尤其得益于在歐洲經(jīng)受了長期工業(yè)考驗(yàn)的Com功率放大器ctPCI。當(dāng)今PC機(jī)的主流總線標(biāo)準(zhǔn)是PCI，因此PXI可直接得益于PC機(jī)主流工業(yè)現(xiàn)有的大量的軟件和硬件資源。PC機(jī)的PCI數(shù)據(jù)傳輸優(yōu)勢(132MByte/S)、最新CPU的處理能力、圖形顯示的速度與分辨率以及熟悉易用的Windows軟件，這一切都使PXI在各方面超過了大多數(shù)傳統(tǒng)的專用儀器性能。PXI定義了軟件要求，從而進(jìn)一步降低了系統(tǒng)集成難度，包括使用標(biāo)準(zhǔn)的操作系統(tǒng)構(gòu)架，所有外圍設(shè)備要求適當(dāng)?shù)呐渲眯畔⒑蛙浖?qū)動(dòng)器。顯然，通過采用現(xiàn)有的臺(tái)式PC軟件技術(shù)獲得的益處促進(jìn)了 PXI軟件規(guī)范。PXI還要求所有外圍模塊具有在適合的構(gòu)架中運(yùn)行的設(shè)備驅(qū)動(dòng)程序，這事實(shí)上要求了制造商而不是用戶開發(fā)這些軟件，縮短了用戶的開發(fā)周期。PXI在射頻和微波頻帶以下的中高頻段可以替代VXI而且價(jià)格優(yōu)勢明顯，深受廣大用戶歡迎。PXI聯(lián)盟在短短的兩年之間已有60多家公司加入，這本身就說明了市場極高的認(rèn)可程度。目前，基于自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)測試RF電路的板卡功能強(qiáng)大而昂貴，射頻功率放大器測試的參數(shù)只占RF電路參數(shù)的一部分，采用自己定制的功率放大器專用測試板卡可極大降低測試硬件板卡的費(fèi)用而不損失功率放大器參數(shù)測試的精度。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是一種基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路，包括PXI測試信號源、PXI測試設(shè)備、被測設(shè)備、輸入測試部分和輸出測試部分，所述的PXI測試信號源與輸入測試部分輸入端連接，輸入測試部分的輸出端和輸出測試部分的輸入端分別連接被測設(shè)備，輸出測試部分的輸出端連接PXI測試設(shè)備。所述的輸入測試部分包括高低通帶測試通道和天線插損測試通道中的至少一種， 所述的高低通帶測試通道和天線插損測試通道并聯(lián)，并由選通開關(guān)選擇。所述的輸出測試部分包括收發(fā)隔離度測試通道、功率測試通道和諧波測試通道中的至少一種，所述的收發(fā)隔離度測試通道、功率測試通道和諧波測試通道相互并聯(lián)，并由選通開關(guān)選擇。上述的基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路，所述的選通開關(guān)是射頻收發(fā)開關(guān)。上述的基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路，所述的高低通帶測試電路包括，與PXI設(shè)備信號源連接的射頻收發(fā)開關(guān)1316，射頻收發(fā)開關(guān)1316分別連接有低通帶低通濾波器1318和高通帶低通濾波器1319，低通帶低通濾波器1318通過低通帶切換射頻收發(fā)開關(guān)1320與被測設(shè)備連接，高通帶低通濾波器1319通過高通帶切換射頻收發(fā)開關(guān)1321與被測設(shè)備連接。上述的基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路，所述的收發(fā)隔離度測試通道包括四個(gè)并聯(lián)的射頻收發(fā)開關(guān)1312，1313，1314，1315和與其連接的另一根射頻收發(fā)開關(guān)1310，所述的射頻收發(fā)開關(guān)1310通過下一個(gè)射頻收發(fā)開關(guān)1311連接PXI測試設(shè)備。上述的基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路，所述的諧波測試電路包括與耦合器1304連接的射頻收發(fā)開關(guān)1202，耦合器1202分別連接高通帶高通濾波器1203的輸入端和高通帶低通濾波器1204的輸入端，高通帶高通濾波器1203的輸出端和高通帶低通濾波器1204的輸出端連接射頻收發(fā)開關(guān)1205經(jīng)放大器1206連接衰減器 1207，衰減器1207通過射頻收發(fā)開關(guān)1311連接PXI測試設(shè)備。上述的基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路，所述的功率測試通道包括分別連接被測設(shè)備的兩個(gè)射頻收發(fā)開關(guān)1301，1302，所述的兩個(gè)射頻收發(fā)開關(guān) 1301，1302的輸出端連接另一個(gè)射頻收發(fā)開關(guān)1303，該射頻收發(fā)開關(guān)1303的輸出端連接耦合器1305，耦合器依次經(jīng)過衰減器1308、頻收發(fā)開關(guān)1310、頻收發(fā)開關(guān)1311連接PXI測試設(shè)備。上述的基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路，所述的耦合器 1305通過射頻收發(fā)開關(guān)1307連接有阻抗為40 Ω -70 Ω的衰減器1309。上述的基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路，所述的衰減器 1308的衰減量是3dB。本發(fā)明的另一目的在于提供一種基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器測試方法，包括a.雙通道大功率測試PXI信號源通過射頻收發(fā)開關(guān)開關(guān)1316選擇低通帶和高通帶的其中一個(gè)通道，在輸出端用射頻收發(fā)開關(guān)1320或1321選擇測量兩個(gè)被測功率放大器中的一個(gè)，經(jīng)過功率放大器放大后的信號送入天線端，通過射頻收發(fā)開關(guān)1301、1302、1303 的選擇進(jìn)入兩個(gè)耦合器1304，1305，耦合器1304用來獲取諧波信號，耦合器1305用來獲取所要測試的大功率信號，此信號經(jīng)過耦合器IOdB的衰減后再進(jìn)行3dB衰減經(jīng)過射頻收發(fā)開關(guān)1310和射頻收發(fā)開關(guān)1311送到PXI測試設(shè)備進(jìn)行測量。射頻收發(fā)開關(guān)1307需要連接到衰減器1309上，降低反射能量。b.雙通道諧波功率測試PXI信號源通過射頻收發(fā)開關(guān)1316選擇低通帶和高通帶的其中一個(gè)通道，在輸出端用射頻收發(fā)開關(guān)1320或1321選擇測量兩個(gè)功率放大器中的一個(gè)，經(jīng)過功率放大器放大后的信號送入天線端，通過射頻收發(fā)開關(guān)1301、1302，、1303的選擇進(jìn)入耦合器1304，耦合器1304用來獲取諧波信號，信號經(jīng)過耦合器IOdB的衰減后通過諧波信號處理電路后經(jīng)過射頻收發(fā)開關(guān)1311送到PXI測試設(shè)備進(jìn)行測量。c.雙通道小功率測試PXI信號源通過射頻收發(fā)開關(guān)1316選擇低通帶和高通帶的其中一個(gè)通道，在輸出端用射頻收發(fā)開關(guān)1320或1321選擇測量兩個(gè)功率放大器中的一個(gè)， 經(jīng)過功率放大器放大后的信號送入天線端，通過射頻收發(fā)開關(guān)1301、1302，、1303的選擇進(jìn)入耦合器1304和1305而不進(jìn)行衰減，信號經(jīng)過射頻收發(fā)開關(guān)1307、1310、1311送到PXI測試設(shè)備測量。d.雙通道天線插入損耗測試PXI信號源通過兩個(gè)射頻收發(fā)開關(guān)1316和1317，選擇四個(gè)RX中的一個(gè)通過開關(guān)1312、1313、1314、1315輸出到功率放大器對應(yīng)的TX端，經(jīng)過功率放大器后利用功率接收通道送至PXI測試設(shè)備。e.雙通道收發(fā)隔離度測試PXI信號源通過射頻收發(fā)開關(guān)1316選擇低通帶和高通帶的其中一個(gè)通道，在輸出端用射頻收發(fā)開關(guān)1320或射頻收發(fā)開關(guān)1321選擇測量兩個(gè)功率放大器中的一個(gè)，經(jīng)過功率放大器放大后的信號送入功率放大器的RX端，通過射頻收發(fā)開關(guān)1312、1313、1314、1315的選擇四個(gè)接收通道的任意一個(gè)，信號即反向傳輸信號經(jīng)過射頻收發(fā)開關(guān)1310和射頻收發(fā)開關(guān)1311兩個(gè)開關(guān)送到PXI測試設(shè)備測量，測得在TX端輸入泄露到RX端的信號。本發(fā)明的有益效果是采用本電路的測試板卡，可同時(shí)測試兩個(gè)相同或不同的射頻功率放大器，可自動(dòng)測試射頻功率放大器的常用參數(shù)，避免了繁瑣的單參數(shù)分步驟的傳統(tǒng)測試方法，可大大降低測試費(fèi)用。


下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)一步說明。圖1是基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路的電路圖。圖2是雙通道功率測試通道原理圖。圖3是雙通道大功率測試通道原理圖。圖4是雙通道諧波功率測試通道原理圖。圖5是雙通道小功率測試通道原理圖。圖6是雙通道天線插損測試通道原理圖。圖7是雙通道收發(fā)隔離度測試通道原理圖。圖8是兩發(fā)四收功率放大器原理框圖。圖9是諧波測試電路原理框圖。附圖中標(biāo)記分述如下1202 ；1205 ；1301 ；1302 ；1303 ；1307 ；1310 ；1311 ；1312 ； 1313 ；1314 ；1315 ；1316 ；1320 ；1321、射頻收發(fā)開關(guān)，1319、高通帶低通濾波器，1318、低通帶低通濾波器，1202 ； 1304 ； 1305、耦合器，1203、高通帶高通濾波器，1204高通帶低通濾波器， 1206、放大器，1207 ； 1308 ； 1309 ； 1308、衰減器，PA、被測功率放大器。
具體實(shí)施例方式現(xiàn)在結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。這些附圖均為簡化的示意圖，僅以示意方式說明本發(fā)明的基本結(jié)構(gòu)，因此其僅顯示與本發(fā)明有關(guān)的構(gòu)成。
本發(fā)明的測試電路經(jīng)過組裝后成為圖1所示的測試電路，可測試圖8所示的兩發(fā)四收功率放大器，可兼容發(fā)射端小于2個(gè)、接收端小于4個(gè)常用功率放大器的測試。以下配合具體參數(shù)對測試通道的操作進(jìn)行說明。如圖3所示的雙通道大功率測試PXI信號源通過開關(guān)1316選擇低通帶和高通帶的其中一個(gè)通道，在輸出端用射頻收發(fā)開關(guān)1320或1321選擇測量兩個(gè)被測功率放大器 (PA)中的一個(gè)，經(jīng)過被測功率放大器(PA)放大后的信號送入天線端，通過射頻收發(fā)開關(guān) 1301 1303的選擇進(jìn)入兩個(gè)耦合器，耦合器1304用來獲取諧波信號，耦合器1305用來獲取所要測試的大功率信號，此信號經(jīng)過耦合器IOdB的衰減后再由衰減器進(jìn)行3dB衰減經(jīng)過射頻收發(fā)開關(guān)1310和射頻收發(fā)開關(guān)1311兩個(gè)開關(guān)送到PXI測試設(shè)備進(jìn)行測量。此時(shí)射頻收發(fā)開關(guān)1307需要連接到阻抗是40 Ω-70 Ω的衰減器，優(yōu)選阻抗是50 Ω的衰減器上，此連接可保證被測功率放大器(PA)輸出功率在此處得到吸收，極大降低反射能量，從而增強(qiáng)了測試通路的穩(wěn)定性。如圖4所示的雙通道諧波功率測試ΡΧΙ信號源通過射頻收發(fā)開關(guān)1316選擇低通帶和高通帶的其中一個(gè)通道，在輸出端用射頻收發(fā)開關(guān)1320或射頻收發(fā)開關(guān)1321選擇測量兩個(gè)被測功率放大器(PA)中的一個(gè)，經(jīng)過被測功率放大器(PA)放大后的信號送入天線端，通過射頻收發(fā)開關(guān)1301 1303的選擇進(jìn)入耦合器1304，耦合器1304用來獲取諧波信號，信號經(jīng)過耦合器IOdB的衰減后通過諧波信號處理電路后經(jīng)過射頻收發(fā)開關(guān)1311送到 PXI測試設(shè)備進(jìn)行測量。PXI測試設(shè)備測量的是濾除基波后的各次諧波。如圖5所示的雙通道小功率測試ΡΧΙ信號源通過射頻收發(fā)開關(guān)1316選擇低通帶和高通帶的其中一個(gè)通道，在輸出端用射頻收發(fā)開關(guān)1320或射頻收發(fā)開關(guān)1321選擇測量兩個(gè)被測功率放大器(PA)中的一個(gè)，經(jīng)過被測功率放大器(PA)放大后的信號送入天線端， 通過射頻收發(fā)開關(guān)1301 1303的選擇直接通過兩個(gè)耦合器1304和1305而不進(jìn)行衰減，此信號經(jīng)過射頻收發(fā)開關(guān)1307、射頻收發(fā)開關(guān)1310和射頻收發(fā)開關(guān)1311三個(gè)開關(guān)送到PXI 測試設(shè)備測量。此時(shí)通道的衰減很小，不影響小信號的測量精度。如圖6所示的雙通道天線插入損耗測試方PXI信號源通過射頻收發(fā)開關(guān)1316和射頻收發(fā)開關(guān)1317，選擇四個(gè)RX中的一個(gè)通過射頻收發(fā)開關(guān)1312 1315輸出到被測功率放大器(PA)對應(yīng)的TX端，經(jīng)過被測功率放大器(PA)后利用功率接收通道送至PXI測試設(shè)備，此時(shí)等于在被測功率放大器(PA)的天線端測量RX端傳導(dǎo)過來的信號，進(jìn)而可以測得被測功率放大器(PA)中的開關(guān)引入的插入損耗。如圖7所示的雙通道收發(fā)隔離度測試ΡΧΙ信號源通過射頻收發(fā)開關(guān)1316選擇低通帶和高通帶的其中一個(gè)通道，在輸出端用射頻收發(fā)開關(guān)1320或射頻收發(fā)開關(guān)1321選擇測量兩個(gè)被測功率放大器(PA)中的一個(gè)，經(jīng)過被測功率放大器(PA)放大后的信號送入被測功率放大器(PA)的RX端，通過射頻收發(fā)開關(guān)1312 1315的選擇四個(gè)接收通道的任意一個(gè)，此信號即反向傳輸信號經(jīng)過射頻收發(fā)開關(guān)1310和射頻收發(fā)開關(guān)1311送到PXI測試設(shè)備測量，測得在TX端輸入泄露到RX端的信號，即反向傳輸信號。如圖9所示的所述的諧波測試電路包括與耦合器1304連接的射頻收發(fā)開關(guān)1202， 耦合器1202分別連接高通帶高通濾波器1203的輸入端和高通帶低通濾波器1204的輸入端，高通帶高通濾波器1203的輸出端和高通帶低通濾波器1204的輸出端連接射頻收發(fā)開關(guān)1205經(jīng)放大器1206連接衰減器1207，衰減器1207通過射頻收發(fā)開關(guān)1311連接PXI測試設(shè)備。 以上述依據(jù)本發(fā)明的理想實(shí)施例為啟示，通過上述的說明內(nèi)容，相關(guān)工作人員完全可以在不偏離本項(xiàng)發(fā)明技術(shù)思想的范圍內(nèi)，進(jìn)行多樣的變更以及修改。本項(xiàng)發(fā)明的技術(shù)性范圍并不局限于說明書上的內(nèi)容，必須要根據(jù)權(quán)利要求范圍來確定其技術(shù)性范圍。
權(quán)利要求
1.一種基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路，包括PXI測試信號源、PXI測試設(shè)備、被測設(shè)備、輸入測試部分和輸出測試部分，其特征是所述的PXI測試信號源與輸入測試部分輸入端連接，輸入測試部分的輸出端和輸出測試部分的輸入端分別連接被測設(shè)備，輸出測試部分的輸出端連接PXI測試設(shè)備；所述的輸入測試部分包括高低通帶測試通道和天線插損測試通道中的至少一種，所述的高低通帶測試通道和天線插損測試通道并聯(lián)，并由選通開關(guān)選擇；所述的輸出測試部分包括收發(fā)隔離度測試通道、功率測試通道和諧波測試通道中的至少一種，所述的收發(fā)隔離度測試通道、功率測試通道和諧波測試通道相互并聯(lián)，并由選通開關(guān)選擇。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路， 其特征是所述的選通開關(guān)是射頻收發(fā)開關(guān)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路， 其特征是所述的高低通帶測試電路包括，與PXI設(shè)備信號源連接的射頻收發(fā)開關(guān)(1316)， 射頻收發(fā)開關(guān)(1316)分別連接有低通帶低通濾波器(1318)和高通帶低通濾波器(1319)， 低通帶低通濾波器(1318)通過低通帶切換射頻收發(fā)開關(guān)(1320)與被測設(shè)備連接，高通帶低通濾波器(1319)通過高通帶切換射頻收發(fā)開關(guān)(1321)與被測設(shè)備連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路， 其特征是所述的收發(fā)隔離度測試通道包括并聯(lián)射頻收發(fā)開關(guān)(1312，1313，1314，1315)和與其連接的射頻收發(fā)開關(guān)(1310)，射頻收發(fā)開關(guān)(1310)通過射頻收發(fā)開關(guān)(1311)連接 PXI測試設(shè)備。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路， 其特征是所述的諧波測試電路包括與耦合器(1304)連接的射頻收發(fā)開關(guān)(1202)，耦合器(120 分別連接高通帶高通濾波器(120 的輸入端和高通帶低通濾波器(1204)的輸入端，高通帶高通濾波器(120 的輸出端和高通帶低通濾波器(1204)的輸出端連接射頻收發(fā)開關(guān)(120 經(jīng)放大器(1206)連接衰減器(1207)，衰減器(1207)通過射頻收發(fā)開關(guān) (1311)連接PXI測試設(shè)備。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路，其特征是所述的功率測試通道包括分別連接被測設(shè)備的兩個(gè)射頻收發(fā)開關(guān)(1301， 1302)，所述的射頻收發(fā)開關(guān)(1301,1302)的輸出端連接射頻收發(fā)開關(guān)(1303)，射頻收發(fā)開關(guān)(130 的輸出端連接耦合器(1305)，耦合器(130 依次經(jīng)過衰減器(1308)、頻收發(fā)開關(guān)(1310)、頻收發(fā)開關(guān)(1311)連接PXI測試設(shè)備。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路， 其特征是所述的耦合器(130 通過射頻收發(fā)開關(guān)(1307)連接有阻抗為40 Ω-70 Ω的衰減器(1309)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路， 其特征是所述的衰減器(1308)的衰減量是3dB。
9.一種基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器測試方法，其特征是包括以下步驟a.雙通道大功率測試PXI信號源通過射頻收發(fā)開關(guān)開關(guān)(1316)選擇低通帶和高通帶的其中一個(gè)通道，在輸出端用射頻收發(fā)開關(guān)(1320)或(1321)選擇測量兩個(gè)被測功率放大器中的一個(gè)，經(jīng)過功率放大器放大后的信號送入天線端，通過射頻收發(fā)開關(guān)(1301、1302、 1303)的選擇進(jìn)入兩個(gè)耦合器(1304，1305)，耦合器(1304)用來獲取諧波信號，耦合器 (130 用來獲取所要測試的大功率信號，此信號經(jīng)過耦合器IOdB的衰減后再進(jìn)行3dB衰減經(jīng)過射頻收發(fā)開關(guān)(1310)和射頻收發(fā)開關(guān)(1311)送到PXI測試設(shè)備進(jìn)行測量。射頻收發(fā)開關(guān)(1307)需要連接到衰減器(1309)上，降低反射能量；b.雙通道諧波功率測試PXI信號源通過射頻收發(fā)開關(guān)(1316)選擇低通帶和高通帶的其中一個(gè)通道，在輸出端用射頻收發(fā)開關(guān)(1320)或(1321)選擇測量兩個(gè)功率放大器中的一個(gè)，經(jīng)過功率放大器放大后的信號送入天線端，通過射頻收發(fā)開關(guān)(1301、1302，、1303) 的選擇進(jìn)入耦合器(1304)，耦合器(1304)用來獲取諧波信號，信號經(jīng)過耦合器IOdB的衰減后通過諧波信號處理電路后經(jīng)過射頻收發(fā)開關(guān)(1311)送到PXI測試設(shè)備進(jìn)行測量；c.雙通道小功率測試PXI信號源通過射頻收發(fā)開關(guān)(1316)選擇低通帶和高通帶的其中一個(gè)通道，在輸出端用射頻收發(fā)開關(guān)(1320)或(1321)選擇測量兩個(gè)功率放大器中的一個(gè)，經(jīng)過功率放大器放大后的信號送入天線端，通過射頻收發(fā)開關(guān)(1301、1302，、1303) 的選擇進(jìn)入耦合器(1304)和(130 而不進(jìn)行衰減，信號經(jīng)過射頻收發(fā)開關(guān)(1307、1310、 1311)送到PXI測試設(shè)備測量；d.雙通道天線插入損耗測試PXI信號源通過兩個(gè)射頻收發(fā)開關(guān)(1316、1317)，選擇四個(gè)RX中的一個(gè)通過射頻收發(fā)開關(guān)(1312、1313、1314、1315)輸出到功率放大器對應(yīng)的TX 端，經(jīng)過功率放大器后利用功率接收通道送至PXI測試設(shè)備；e.雙通道收發(fā)隔離度測試PXI信號源通過射頻收發(fā)開關(guān)(1316)選擇低通帶和高通帶的其中一個(gè)通道，在輸出端用射頻收發(fā)開關(guān)(1320)或射頻收發(fā)開關(guān)(1321)選擇測量兩個(gè)功率放大器中的一個(gè)，經(jīng)過功率放大器放大后的信號送入功率放大器的RX端，通過射頻收發(fā)開關(guān)(1312、1313、1314、1315)的選擇四個(gè)接收通道的任意一個(gè)，信號即反向傳輸信號經(jīng)過射頻收發(fā)開關(guān)(1310)和射頻收發(fā)開關(guān)(1311)兩個(gè)開關(guān)送到PXI測試設(shè)備測量，測得在 TX端輸入泄露到RX端的信號。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種基于PXI測試設(shè)備的雙通道射頻功率放大器自動(dòng)測試電路，包括PXI測試信號源、PXI測試設(shè)備、被測設(shè)備、輸入測試部分和輸出測試部分，所述的PXI測試信號源與輸入測試部分輸入端連接，輸入測試部分的輸出端和輸出測試部分的輸入端分別連接被測設(shè)備，輸出測試部分的輸出端連接PXI測試設(shè)備。采用本電路的測試板卡，可同時(shí)測試兩個(gè)相同或不同的射頻功率放大器，可自動(dòng)測試射頻功率放大器的常用參數(shù)，避免了繁瑣的單參數(shù)分步驟的傳統(tǒng)測試方法，可大大降低測試費(fèi)用。
文檔編號G01R31/28GK102565674SQ20111045296
公開日2012年7月11日 申請日期2011年12月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月30日
發(fā)明者杜占坤, 王剛 申請人:鎮(zhèn)江艾科半導(dǎo)體有限公司