專利名稱：電壓互感器勵磁特性快捷測試方法及測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電力系統(tǒng)高壓試驗技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種電壓互感器勵磁特性快捷 測試方法及測試裝置。
背景技術(shù)：
電力系統(tǒng)中的各種高壓電氣設(shè)備，根據(jù)電氣設(shè)備試驗規(guī)程的要求，均應(yīng)在投運前 和運行間后，進行交接試驗或者定期的例行試驗，電壓互感器的勵磁特性測試就屬于交接 試驗項目當(dāng)中的一項。根據(jù)規(guī)定要求，電壓互感器勵磁特性曲線測量點分別為額定電壓的 20%, 50%, 80%, 100%和120% ;對于中性點直接接地的電壓互感器，電壓等級35kV及以下的電 壓互感器最高測量點為190% ;電壓等級IlOkV及以上的電壓互感器最高測量點為150%。目 前，通用的測試方法為人工操作測試，在測試現(xiàn)場接線，由人工操作、讀取數(shù)據(jù)、繪制圖表， 由于不同試驗人員操作調(diào)壓器動作不一致，還受制于調(diào)壓器的靈敏度，不可避免的存在操 作誤差、視覺誤差，測量結(jié)果精度不高；這種方法占用多名試驗人員，測試時間長，且對試驗 人員的技術(shù)熟練程度要求也較高。
本發(fā)明的快捷測試方法及測試裝置，集測試規(guī)定的要求，利用嵌入式程序，由主芯 片電路輸出D/A信號，作用于功率電源，控制其輸出電壓并進行自動調(diào)壓，實現(xiàn)試驗過程中 的無級調(diào)壓，并自動記錄試驗結(jié)果。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種電壓互感器勵磁特性快捷測試方法及測試裝置，實現(xiàn) 電壓互感器勵磁特性測試過程的自動化。
本發(fā)明方法通過以下步驟來實現(xiàn)第一步，在測試裝置上設(shè)2個波段開關(guān)，根據(jù)不 同的測量要求及測量目的，選擇波段開關(guān)I與波段開關(guān)2的位置，波段開關(guān)I設(shè)有兩個選 項，分別為“二次”與“開口三角”;波段開關(guān)2設(shè)有三個選項，分別為“1. OUn” (Un為設(shè)備額 定電壓)、“1.5Un”和“1.9Um”(Um為設(shè)備最高運行電壓)；第二步，在內(nèi)存中設(shè)定7個電壓值測量點，分別為:0. 2Un、0. 5Un、0. 8Un、l. OUn、1. 2Un、1.5Un、l. 9Um，設(shè)定測量子程序，并對波段開關(guān)I的位置進行判斷，當(dāng)該開關(guān)選擇在“二次” 位置上時，Un為57. 735V，當(dāng)該開關(guān)I選擇在“開口三角”的位置上時，Un為33. 333V ；第三步，測量子程序再對波段開關(guān)2的位置進行判斷，當(dāng)該開關(guān)選擇在“1. OUn”上時， 測量子程序分別對O. 2Un、0. 5Un、0. 8Un、l. OUn這四個點進行測量并記錄結(jié)果；當(dāng)該開關(guān)選 擇在“1. 5Un”時，則測量子程序分別對O. 2Un、0. 5Un、0. 8Un、1. OUn、1. 2Un、1. 5Un這六個點 進行測量并記錄結(jié)果；當(dāng)該開關(guān)選擇在“1. 9Um”時，則測量子程序測量所有測量點并記錄 結(jié)果至E2存儲器中；第四步，進行測量時，輸出電壓由OV開始升壓，步進電壓為IV，輸出電壓、電流值通過 A/D測量電路4反饋到主芯片內(nèi)，主芯片進行計算，將結(jié)果顯示在液晶屏上，當(dāng)輸出電壓達 到設(shè)置的最高電壓時，將各測試點記錄為歷史數(shù)據(jù)，降壓到0V，停止測量。
本發(fā)明方法還設(shè)計有通過按鍵選擇了“歷史記錄”后，調(diào)用歷史記錄子程序，顯示 歷史記錄列表，通過上、下鍵可以上翻、下翻歷史記錄列表，通過開始鍵進入單條歷史記錄， 可以查看參數(shù)設(shè)置、試驗結(jié)果、試驗時間以及勵磁曲線圖。
依據(jù)本發(fā)明方法研制的電壓互感器勵磁特性快捷測試裝置，由漏電保護器、功率 電源、D/A控制輸出電路、A/D測量電路、供電電源、E2存儲器、U盤接口、主芯片電路、顯示 器、控制面板組合構(gòu)成，它們之間的電氣連接關(guān)系為漏電保護器的兩路輸出分別接至供電 電源和功率電源的輸入，功率電源的另一路輸入來自D/A輸出電路，功率電源的輸出接A/D 測量電路，A/D測量電路有兩路輸出，一路接被測電壓互感器二次線圈，另一路接主芯片電 路，主芯片電路的另2路輸入來自供電電源和控制面板；主芯片電路共有4路輸出，分別對 應(yīng)D/A輸出電路、E2存儲器、U盤接口、顯示器；主芯片電路通用輸入輸出I/O 口 PB14、PB15、PD9、PD10、roil分別與控制面板中波段開 關(guān)一的二次、開口選擇輸入腳以及波段開關(guān)二1. OUnU. 5Un、l. 9Um選擇輸入腳進行連接； 主芯片電路通過集成模擬量輸入引腳PBO、PBl與A/D測量電路的電壓輸入腳U、電流 輸入腳I連接，設(shè)置PBO、PBl為模擬量輸入第一通道和第二通道，實現(xiàn)對試驗電壓、電流的 12位A/D采樣。
所述裝置的A/D測量電路由電流互感器、電壓互感器和2個整流濾波運算放大器 構(gòu)成，功率電源的一路輸出接電壓互感器的一次線圈，一次線圈另一端接至被測裝置，功率 電源的另一路輸出接電流互感器的一次線圈，一次線圈另一端接被測裝置，電壓互感器、電 流互感器的輸出分別接2個整流濾波運算放大器的輸入端，其輸出接至主芯片電路。
在所述裝置的控制面板上，安裝有方便索取測量信息的U盤/打印機輸出口，選 擇操作用的2個波段開關(guān)，4個功能操作鍵，顯示器，電源接口，空氣開關(guān)和輸出接口。
由于本電壓互感器勵磁特性快捷測試方法及測試裝置是結(jié)合電氣設(shè)備試驗規(guī)程 而設(shè)計，測試方法及測試裝置使用便捷，實用性強，能滿足試驗現(xiàn)場的實際需要。


圖1為電壓互感器勵磁特性快捷測試裝置總方框圖；在圖中，I一漏電保護器、2—功率電源、3 — D/A控制輸出電路、4一A/D測量電路、5— 供電電源、6 —E2存儲器、7 —U盤存儲器接口電路、8—主芯片電路、9一顯不器、10一控制面 板；圖2為主芯片接線圖；圖3為A/D測量電路圖；在圖中，11 一電流互感器、12 —電壓互感器、13、14一整流濾波運算放大器；圖4為功率電源接線圖；圖5為控制面板示意圖；在圖中，15—顯示器、16—電源接口、17—空氣開關(guān)、18—輸出接口 ；圖6為主程序流程圖；圖7為測量子程序流程圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖對本發(fā)明方法及裝置作進一步詳細說明本方法主要分四步第一步，在測試裝置上設(shè)2個波段開關(guān)，見圖5，根據(jù)不同的測量 要求及測量目的，選擇波段開關(guān)I與波段開關(guān)2的位置，波段開關(guān)I設(shè)有兩個選項，分別為 “二次”與“開口三角”;波段開關(guān)2設(shè)有三個選項，分別為“1. OUn” (Un為設(shè)備額定電壓)、 “1. 5Un”以及“1. 9Um” (Um為設(shè)備最高運行電壓)，上述電壓值是根據(jù)電氣設(shè)備有關(guān)規(guī)程選 定的。
第二步，根據(jù)試驗規(guī)程要求選電壓測量點，在裝置的內(nèi)存中設(shè)定7個電壓值測量 點，分別為0. 2Un、0. 5Un、0. 8Un、l. OUn、1. 2Un、l. 5Un、l. 9Um,設(shè)定測量子程序，見圖 7，并 對波段開關(guān)I的位置進行判斷，當(dāng)該開關(guān)選擇在“二次”位置上時，Un為57. 735V，當(dāng)該開關(guān) I選擇在“開口三角”的位置上時，Un為33. 333V。
第三步，設(shè)計測量子程序，見圖7，并嵌入設(shè)備中，根據(jù)設(shè)計程序，測量子程序再對 波段開關(guān)2的位置進行判斷，當(dāng)該開關(guān)選擇在“1. OUn”上時，測量子程序分別對O. 2Un、O.5Un、0. 8Un、l. OUn這四個點進行測量并記錄結(jié)果；當(dāng)該開關(guān)選擇在“1. 5Un”時，則測量子 程序分別對O. 2Un、0. 5Un、0. 8Un、l. OUn、1. 2Un、l. 5Un這六個點進行測量并記錄結(jié)果；當(dāng)該 開關(guān)選擇在“1. 9Um”時，則測量子程序測量所有測量點并記錄結(jié)果至E2存儲器中。
第四步，根據(jù)程序設(shè)定進行測量時，輸出電壓由OV開始升壓，步進電壓為IV，輸出 電壓、電流值通過A/D測量電路4反饋到主芯片內(nèi)，主芯片進行計算，將結(jié)果顯示在液晶屏 上，當(dāng)輸出電壓達到設(shè)置的最高電壓時，將各測試點記錄為歷史數(shù)據(jù)，降壓到0V，完成全部 測量過程停止測量。
本發(fā)明的快捷測試方法，為了滿足測量結(jié)果檔案的記錄、數(shù)據(jù)的顯示要求，設(shè)計了 數(shù)據(jù)、曲線等不同記錄方式，當(dāng)用戶通過按鍵選擇了“歷史記錄”后，可通過調(diào)用歷史記錄子 程序，顯示歷史記錄列表，通過上、下鍵可以上翻、下翻歷史記錄列表，通過開始鍵進入單條 歷史記錄，可以查看參數(shù)設(shè)置、試驗結(jié)果、試驗時間以及勵磁曲線圖。
結(jié)合本發(fā)明方法設(shè)計的電壓互感器勵磁特性快捷測試裝置，其結(jié)構(gòu)由圖1可知， 裝置由漏電保護器1、功率電源2、D/A控制輸出電路3、A/D測量電路4、供電電源5、E2存 儲器6、U盤存儲器接口電路7、主芯片電路8、顯示器9、控制面板10和承裝元器件的箱體 組合構(gòu)成。電氣、電子元件之間的電氣連接關(guān)系為漏電保護器I的兩路輸出分別接至供電 電源5和功率電源2的輸入，功率電源2的另一路輸入來自D/A輸出電路3，功率電源2的 輸出接A/D測量電路4，A/D測量電路4有兩路輸出，一路接被測電壓互感器二次線圈，另一 路接主芯片電路8，主芯片電路8的另2路輸入來自供電電源5和控制面板10 ;主芯片電路 8共有4路輸出，分別對應(yīng)D/A輸出電路3、E2存儲器6、U盤接口 7、顯示器9。
由圖2可見，測試裝置使用主芯片ARM (采用STM32F107VCT6型)內(nèi)核集成SPIl 口 的PD2、PD1、PD3、PD0引腳分別與E2存儲器的CS,SI,SO,SCK引腳硬件連接。設(shè)置SPIl 口 為全雙工主工作模式，實現(xiàn)速率為1M/S的數(shù)據(jù)傳輸。利用E2存儲器的32k字節(jié)空間存儲 AD校準系數(shù)和100條歷史記錄。
主芯片與U盤存儲器接口電路的連接為主芯片ARM內(nèi)核集成SPI2 口的PA2、PC4、 PA7、PA6引腳分別與U盤控制芯片CH376芯片的CS、S1、SO、SCK引腳硬件連接。設(shè)置SPI2 口為全雙工主工作模式，實現(xiàn)速率為1M/S的數(shù)據(jù)傳輸。利用CH376內(nèi)置的讀寫文件程函數(shù) 庫，實現(xiàn)100條歷史記錄的U盤上傳功能。
主芯片與D/A輸出電路的連接為主芯片ARM內(nèi)核集成SPI3 口的PD12、PD13、 卩014、？015引腳分別與0/^芯片獻乂531的05、51、50、50(腳硬件連接。設(shè)置SPI3 口為全雙工主工作模式，實現(xiàn)速率為100K/S的數(shù)據(jù)傳輸。利用MAX531高達12位分辨率的D/A輸出功能，生成O 5V直流電壓，完成對功率模塊的D/A輸入控制。實現(xiàn)功率模塊輸出電壓上升與下降的功能。
主芯片與顯示器的連接為主芯片ARM內(nèi)部集成USARTl 口的PE10、PEll引腳分別與液晶模塊的IXD-DIN、IXD-DOUT腳硬件連接，PE15配置成開路輸入方式與液晶模塊 IXD-BUSY腳硬件連接。設(shè)置USARTl 口為115200波特率、8數(shù)據(jù)位、I位停止位、無校驗位的半雙工狀態(tài)。實現(xiàn)試驗結(jié)果數(shù)據(jù)表和波形圖的實時刷新顯示。
主芯片與控制面板的連接為主芯片ARM的通用輸入輸出I/O 口 ΡΒ14、ΡΒ15、Η)9、 PD10、PDll分別與控制面板中波段開關(guān)一的二次、開口選擇輸入腳以及波段開關(guān)二1. OUn、1.5Un、l. 9Um選擇輸入腳進行硬件連接。設(shè)置連接的5個I/O 口為上拉輸入模式，程序通過讀取I/O輸入寄存器，來確定波段開關(guān)狀態(tài)，用于設(shè)置被試品類型及試驗最高電壓。
主芯片與A/D測量電路的連接為主芯片ARM內(nèi)部集成模擬量輸入引腳PBO、PBl 與A/D測量電路的電壓輸入腳U、電流輸入腳I硬件連接。設(shè)置PBO、PBl為模擬量輸入第一通道和第二通道，并開啟連續(xù)轉(zhuǎn)換。實現(xiàn)對試驗電壓、電流的12位A/D采樣。
由圖3可見，A/D測量電路4由電流互感器11 (采用TA5211)、電壓互感器12 (采用TV3154)和2個整流濾波運算放大器13、14 (采用LM324)構(gòu)成，功率電源2的一路輸出接電壓互感器12的一次線圈，線圈另一端接至被測裝置，功率電源2的另一路輸出接電流互感器11的一次線圈，其線圈另一端接被測裝置，電壓互感器12，電流互感器11的輸出接整流濾波運算放大器13和14的輸入端，其輸出接至主芯片電路8。
由圖4可見，功率電源的輸入來自漏電保護器I，兩路輸出電壓1、2至A/D測量電路4，控制信號輸入來自D/A輸 出電路3，功率電源模塊采用HAT2000-220H150-NFCI。
由圖5可見，在裝置的控制面板10上，還安裝有方便索取測量信息的U盤/打印機輸出口，選擇操作用的兩個波段開關(guān)，4個功能操作鍵(確定、打印、暫停、退出鍵)，顯示器15、電源接口 16、空氣開關(guān)17、輸出接口 18。
以下結(jié)合圖6主程序流程圖和圖7測量子程序流程圖，對本方法與裝置的軟件進行簡要說明開機后，CPU自動運行初始化程序，檢查儀器是否可以正常工作，初始化主要針對CPU的外圍器件，包括將外部E2存儲器的數(shù)據(jù)放入CPU的RAM區(qū)，斷開兩個輸出繼電器，將D/A控制電壓置零，液晶屏初始化，并進入主菜單。
進入主菜單界面后，開始主程序，主程序的使命為實時運行按鍵掃描程序，在掃描的同時，提供給用戶兩個功能選項，分別為測量功能與查詢功能，每個功能選項分別對應(yīng)著一個子程序，當(dāng)主程序掃描到用戶選擇了某一功能后，即開始調(diào)用其相應(yīng)的子程序。
按鍵掃描子程序等待用戶進行按鍵選擇，根據(jù)用戶不同選項進行賦值，并將該值返回給主程序；如果掃描到用戶選擇“開始測量”，則被賦值1，如果掃描到用戶選擇“歷史記錄”，則被賦值2，如果用戶無任何操作，則被賦值為O。
當(dāng)主程序收到由按鍵掃描子程序返回值I時，則開始調(diào)用測量子程序，見圖7，進入測量子程序后，如本發(fā)明方法所述，首先判斷儀器控制面板上波段開關(guān)I與波段開關(guān)2的位置，波段開關(guān)I有兩個選項，分別為“二次”與“開口三角”；波段開關(guān)2有三個選項，分別為“1. OUn”、“1. 5Un”以及“1. 9Um”，測量子程序根據(jù)兩個波段開關(guān)的位置組合來進行最高電壓設(shè)定。
測量子程序?qū)Σǘ伍_關(guān)I的位置進行判斷，由CPU自動設(shè)置Un的數(shù)值，測量子程 序再對波段開關(guān)2的位置進行判斷，當(dāng)該開關(guān)選擇在“1. OUn、1. 5Un和1. 9Um”某一值上時， 則測量子程序分別對不同的設(shè)定點進行測量。
D/A控制電壓輸出測量開始后，CPU通過SPI接口控制D/A芯片MAX531，給電 源模塊的D/A控制電壓升壓，程序每200mS給MAX531輸出電壓寄存器增加80bit數(shù)值，D/ A控制電壓每秒升高O. 015V，達到控制裝置輸出電壓每秒升高IV的目的。
CPU采集當(dāng)前測量值開始升壓后，開啟A/D的DMA循環(huán)采集模式，首先，CPU對片 內(nèi)A/D采樣第1、2通道初始化，設(shè)置A/D采樣頻率為12MHz，主控制芯片每秒在DMA數(shù)組里 得到250次A/D采樣結(jié)果，將250次采樣結(jié)果進行濾波取平均后，再乘以對應(yīng)的校準系數(shù)， 即得到實際測值。
測量程序判斷儀器內(nèi)部的電流互感器與電壓互感器自動測量目前的電壓值與電 流值，通過整流濾波電路進入CPU內(nèi)A/D通道，供CPU采集當(dāng)前電壓與電流值。
歷史記錄子程序當(dāng)主程序掃描到用戶選擇了 “歷史記錄”，則被賦值2，開始調(diào)用 歷史記錄子程序，裝置每完成一次測量，程序自動調(diào)用一次測試結(jié)果存儲子程序，形成一條 歷史記錄。
本裝置全部器件和控制面板安裝在一便攜式手提箱內(nèi)，裝置所選用的電子、電器 等元件，都選用國際標(biāo)準中通用的電工、電子元器件，每個元件的具體接線按元件要求執(zhí) 行，在此不做詳細的說明。
權(quán)利要求
1.一種電壓互感器勵磁特性快捷測試方法及測試裝置，其特征在于，所述方法包括以下步驟第一步，在測試裝置上設(shè)2個波段開關(guān)，根據(jù)不同的測量要求及測量目的，選擇波段開關(guān)I與波段開關(guān)2的位置，波段開關(guān)I設(shè)有兩個選項，分別為“二次”與“開口三角”;波段開關(guān)2設(shè)有三個選項，分別為1. OUn、l. 5Un、l. 9Um ; 第二步，在內(nèi)存中設(shè)定7個電壓值測量點，分別為0. 2Un、0. 5Un、0. 8Un、l. 0Un、l. 2Un、1.5Un、l. 9Um，設(shè)定測量子程序，并對波段開關(guān)I的位置進行判斷，當(dāng)該開關(guān)選擇在“二次”位置上時，Un為57. 735V，當(dāng)該開關(guān)I選擇在“開口三角”的位置上時，Un為33. 333V ； 第三步，測量子程序再對波段開關(guān)2的位置進行判斷，當(dāng)該開關(guān)選擇在“1. OUn”上時，測量子程序分別對O. 2Un、0. 5Un、0. 8Un、l. OUn這四個點進行測量并記錄結(jié)果；當(dāng)該開關(guān)選擇在“1. 5Un”時，則測量子程序分別對O. 2Un、0. 5Un、0. 8Un、1. OUn、1. 2Un、1. 5Un這六個點進行測量并記錄結(jié)果；當(dāng)該開關(guān)選擇在“1. 9Um”時，則測量子程序測量所有測量點并記錄結(jié)果至E2存儲器中； 第四步，進行測量時，輸出電壓由OV開始升壓，步進電壓為IV，輸出電壓、電流值通過A/D測量電路(4)反饋到主芯片內(nèi)，主芯片進行計算，將結(jié)果顯示在液晶屏上，當(dāng)輸出電壓達到設(shè)置的最高電壓時，將各測試點記錄為歷史數(shù)據(jù)，降壓到0V，停止測量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電壓互感器勵磁特性快捷測試方法，其特征在于所述快捷測試方法，當(dāng)用戶通過按鍵選擇了“歷史記錄”后，可通過調(diào)用歷史記錄子程序，顯示歷史記錄列表，通過上、下鍵可以上翻、下翻歷史記錄列表，通過開始鍵進入單條歷史記錄，可以查看參數(shù)設(shè)置、試驗結(jié)果、試驗時間以及勵磁曲線圖。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電壓互感器勵磁特性快捷測試裝置，其特征在于所述裝置由漏電保護器(I)、功率電源(2)、D/A控制輸出電路(3)、A/D測量電路(4)、供電電源(5)、E2存儲器(6)、U盤接口(7)、主芯片電路(8)、顯示器(9)、控制面板(10)組合構(gòu)成，它們之間的電氣連接關(guān)系為漏電保護器(I)的兩路輸出分別接至供電電源(5)和功率電源(2)的輸入，功率電源(2)的另一路輸入來自D/A輸出電路(3)，功率電源(2)的輸出接A/D測量電路(4)，A/D測量電路(4)有兩路輸出，一路接被測電壓互感器二次線圈，另一路接主芯片電路(8)，主芯片電路(8 )的另2路輸入來自供電電源(5)和控制面板(10);主芯片電路(8)共有4路輸出，分別對應(yīng)D/A輸出電路(3 )、E2存儲器(6 )、U盤接口( 7 )、顯示器(9 ); 主芯片電路(8)通用輸入輸出I/O 口 PB14、PB15、PD9、PD10、PD11分別與控制面板中波段開關(guān)一的二次、開口選擇輸入腳以及波段開關(guān)二1. OUnU. 5Un、l. 9Um選擇輸入腳進行連接； 主芯片電路(8)通過集成模擬量輸入引腳PB0、PB1與A/D測量電路的電壓輸入腳U、電流輸入腳I連接，設(shè)置PBO、PBl為模擬量輸入第一通道和第二通道，實現(xiàn)對試驗電壓、電流的12位A/D采樣。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電壓互感器勵磁特性快捷測試裝置，其特征在于A/D測量電路(4)由電流互感器(11)、電壓互感器(12)和2個整流濾波運算放大器(13)、(14)構(gòu)成，功率電源(2)的一路輸出接電壓互感器(12)的一次線圈，一次線圈另一端接至被測裝置，功率電源(2)的另一路輸出接電流互感器(11)的一次線圈，一次線圈另一端接被測裝置，電壓互感器(12)，電流互感器(11)的輸出接整流濾波運算放大器(13)和(14)的輸入端，其輸出接至主芯片電路(8)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電壓互感器勵磁特性快捷測試裝置，其特征在于主芯片電路(8)的電氣連接關(guān)系還包括E2存儲器(6)的CS、S1、SO、SCK引腳與主芯片電路(8)的內(nèi)核集成SPIl 口 PD2、PD1、PD3、PDO端子相接，U盤接口(7)的CS、S1、SO、SCK引腳與主芯片電路(8)的內(nèi)核集成SPI2 口 PA2、PC4、PA7、PA6引腳相接；D/A輸出電路(3)的CS,SI,SO、SCK引腳，對應(yīng)接主芯片電路(8) SPI3 口的PD12、PD13、PD14、PD15引腳。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電壓互感器勵磁特性快捷測試裝置，其特征在于在所述裝置的控制面板(10)上，安裝有方便索取測量信息的U盤/打印機輸出口，選擇操作用的2個波段開關(guān)，4個功能操作鍵，顯示器(15)，電源接口( 16)，空氣開關(guān)(17)和輸出接口(18)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種電壓互感器勵磁特性快捷測試方法及測試裝置，本方法利用嵌入式程序，由CPU輸出的D/A控制信號來控制功率電源的輸出電壓，使其由0V升壓，并根據(jù)電氣設(shè)備試驗規(guī)程的要求，針對被試品不同的被測線圈，以1V的步進電壓分別對0.2Un、0.5Un、0.8Un、1.0Un、1.2Un、1.5Un、1.9Um等7個電壓值測量點進行不同組合的測量，自動將結(jié)果顯示并存儲在相應(yīng)設(shè)備上；新型快捷測試裝置，由漏電保護器、功率電源、D/A控制輸出電路、A/D測量電路、供電電源、E2存儲器、U盤存儲器、主芯片電路、顯示器、控制面板等組合構(gòu)成，裝置結(jié)構(gòu)緊湊，測試精度高，操作便捷，解決了目前人工測試存在的諸多問題。
文檔編號G01R31/00GK102998548SQ201110415189
公開日2013年3月27日 申請日期2011年12月14日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月14日
發(fā)明者李建民, 喬紅軍, 魏國輝, 王宏偉 申請人:魏國輝, 保定供電公司