專利名稱：Jtag測試鏈路及其超聲診斷儀的制作方法
JTAG測試鏈路及其超聲診斷儀
技術(shù)領域：
本發(fā)明涉及JTAG(Joint Test Action Group,聯(lián)合測試行為組織)測試,尤其是涉及一種JTAG測試鏈路及其超聲診斷儀。
背景技術(shù)：
在產(chǎn)品開發(fā)的各個階段，如果都能便利的通過JTAG端口，對器件進行測試和功能調(diào)試，會極大的提高開發(fā)效率和開發(fā)質(zhì)量。因此，超聲診斷儀中，在板卡上除了連接JTAG線纜的連接器，也會通過背板連接器，將整機系統(tǒng)的JTAG鏈路，也連接到板卡上，這樣無論是局部板卡調(diào)試階段，還是板卡裝入超聲診斷儀的整機機箱后(整機JTAG鏈路的接口會弓I出機箱)，都可以方便的使用JTAG工具。傳統(tǒng)的板卡上的局部板卡JTAG鏈路和整機系統(tǒng)JTAG鏈路，是將信號直接連接在一起，如圖1所示。將局部板卡JTAG和整機系統(tǒng)JTAG信號直接連接在一起，這種情況下，只能存在一個驅(qū)動源，如果在使用整機系統(tǒng)的JTAG鏈路時，不慎也連接了局部板卡JTAG的線纜，那器件和JTAG接口電路都存在損壞的風險。

發(fā)明內(nèi)容基于此，有必要提供一種能夠避免同時接入局部板卡測試信號和整機測試信號的JTAG測試鏈路。一種JTAG測試鏈路，包括局部板卡測試接口和整機測試接口，其特征在于，還包括多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關；所述局部板卡測試接口中的局部板卡測試數(shù)據(jù)輸入線接口、局部板卡測試時鐘輸入接口以及局部板卡測試模式選擇輸入接口連接至多路輸入選擇開關中的高電位端； 所述局部板卡測試接口中的局部板卡測試數(shù)據(jù)輸出線接口連接至多路輸出選擇開關中的高電位端；所述整機測試接口中的整機測試數(shù)據(jù)輸入線接口、整機測試時鐘輸入接口以及整機測試模式選擇輸入接口連接至多路輸入選擇開關中的低電位端；所述整機測試接口中的整機測試數(shù)據(jù)輸出線接口連接至多路輸出選擇開關中的低電位端；所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關包括電位控制端，當所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端為高電位時，所述局部板卡測試接口通過多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關分別輸入和輸出；當所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端為低電位時，所述整機測試接口通過多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關分別輸入和輸出。優(yōu)選地，所述局部板卡測試接口還包括電位選擇接口，所述電位選擇接口連接至所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端；所述JTAG測試鏈路還包括JTAG測試插頭，所述JTAG測試插頭具有與所述局部板卡測試接口對應的測試端子，其中與所述電位選擇接口對應的測試端子連接到高電位。優(yōu)選地，所述局部板卡測試接口還包括高電位接口，所述高電位接口連接到供電電源，所述電位選擇接口連接至所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端，并且通過電阻接地；所述JTAG測試鏈路還包括JTAG測試插頭，所述JTAG測試插頭具有與所述局部板卡測試接口對應的測試端子，其中與所述高電位接口對應的測試端子和與所述電位選擇接口對應的測試端子短接。優(yōu)選地，所述局部板卡測試接口還包括接地接口，所述接地接口連接到地，所述電位選擇接口通過反相器連接到所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端，并且在所述反相器和所述電位選擇接口之間通過電阻連接到供電電源；所述JTAG測試插頭具有與所述局部板卡測試接口對應的測試端子，其中與所述接地接口對應的測試端子和與所述電位選擇接口對應的測試端子短接。一種JTAG測試鏈路，包括局部板卡測試接口和整機測試接口，還包括多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關；所述局部板卡測試接口中的局部板卡測試數(shù)據(jù)輸入線接口、局部板卡測試時鐘輸入接口以及局部板卡測試模式選擇輸入接口連接至多路輸入選擇開關中的低電位端；所述局部板卡測試接口中的局部板卡測試數(shù)據(jù)輸出線接口連接至多路輸出選擇開關中的低電位端；所述整機測試接口中的整機測試數(shù)據(jù)輸入線接口、整機測試時鐘輸入接口以及整機測試模式選擇輸入接口連接至多路輸入選擇開關中的高電位端；所述整機測試接口中的整機測試數(shù)據(jù)輸出線接口連接至多路輸出選擇開關中的高電位端；所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關包括電位控制端，當所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端為低電位時，所述局部板卡測試接口通過多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關分別輸入和輸出；當所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端為高電位時，所述整機測試接口通過多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關分別輸入和輸出。優(yōu)選地，所述局部板卡測試接口還包括電位選擇接口，所述電位選擇接口連接至所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端；所述JTAG測試鏈路還包括JTAG測試插頭，所述JTAG測試插頭具有與所述局部板卡測試接口對應的測試端子，其中與所述電位選擇接口對應的測試端子連接到低電位。 優(yōu)選地，所述局部板卡測試接口還包括高電位接口，所述高電位接口連接到供電電源，所述電位選擇接口通過反相器連接至所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端，并且在所述反相器與所述電位選擇接口之間通過電阻接地；所述JTAG測試鏈路還包括JTAG測試插頭，所述JTAG測試插頭具有與所述局部板卡測試接口對應的測試端子，其中與所述高電位接口對應的測試端子和與所述電位選擇接口對應的測試端子短接。優(yōu)選地，所述局部板卡測試接口還包括局部板卡測試復位輸入線接口，所述整機測試接口還包括整機測試復位輸入線接口，所述局部板卡測試復位輸入線接口和整機測試復位輸入線接口分別連接至所述多路輸入選擇開關的低電位端和高電位端。優(yōu)選地，所述局部板卡測試接口還包括接地接口，所述接地接口連接到地，所述電位選擇接口連接至所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端，并且通過電阻連接到供電電源；所述JTAG測試插頭具有與所述局部板卡測試接口對應的測試端子，其中與所述接地接口對應的測試端子和與所述電位選擇接口對應的測試端子短接。一種超聲診斷儀，包括上述的JTAG測試鏈路。由于多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關每次只能處于一種狀態(tài)，因此每次只能引入一種測試信號，要么是局部板卡測試信號，要么是整機測試信號，能夠避免同時接入局部板卡測試信號和整機測試信號。進一步地，在局部板卡測試接口上面設有連接到多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端的電位選擇接口，且在JTAG測試插頭上設有與該電位選擇接口對應的測試端子，該與電位選擇接口對應的測試端子連接到高電位或低電位，因此當JTAG測試插頭插入局部板卡測試接口時，該JTAG測試插頭的與電位選擇接口對應的測試端子與該電位選擇接口電接觸，從而將該電位選擇接口連接到高電位或低電位，這樣，使多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端自動連接到高電位或低電位，從而自動選通局部板卡測試接口，避免了人工開關選擇電位選擇接口的高電位或低電位的步驟，方便操作。

圖1為傳統(tǒng)JTAG測試鏈路示意圖；圖2為第一實施例的JTAG測試鏈路示意圖；圖3為第一實施例的JTAG測試鏈路的電位控制方式示意·
圖4為另一實施例的JTAG測試鏈路的電位控制方式示意圖。
具體實施方式如圖2所示，為第一實施例的JTAG測試鏈路。該測試鏈路100用于向待測器件200提供測試信號以及接收反饋的輸出信號，提供的測試信號可以是局部板卡測試信號，也可以是整機測試信號。待測器件200中的TMS_DEVICE、TCK_DEVICE以及TDI_DEVICE分別表示輸入待測器件200的模式選擇信號、時鐘信號以及測試數(shù)據(jù)輸入信號，這些信號可以來自于局部板卡測試接口或者整機測試接口，TD0_DEVICE表示從待測器件200反饋的輸出信號，可以輸出到局部板卡測試接口或整機測試接口。通過輸入測試信號，檢查反饋的輸出信號便可以對待測器件進行測試和功能調(diào)試。本實施例的測試鏈路結(jié)構(gòu)100包括局部板卡測試接口 110、整機測試接口 120、多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140。局部板卡測試接口 110中的局部板卡測試數(shù)據(jù)輸入線接口(TDI_B0ARD)、局部板卡測試時鐘輸入接口(TCK_B0ARD)以及局部板卡測試模式選擇輸入接口(TMS_B0ARD)連接至多路輸入選擇開關130中的高電位端。局部板卡測試接口 110中的局部板卡測試數(shù)據(jù)輸出線接口(TD0_B0ARD)連接至多路輸出選擇開關140中的高電位端。整機測試接口 120中的整機測試數(shù)據(jù)輸入線接口(TDI_SYSTEM)、整機測試時鐘輸入接口(TCK_SYSTEM)以及整機測試模式選擇輸入接口(TMS_SYSTEM)連接至多路輸入選擇開關130中的低電位端。整機測試接口 120中的整機測試數(shù)據(jù)輸出線接口(TD0_SYSTEM)連接至多路輸出選擇開關140中的低電位端。多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140均設有電位控制端，通過該電位控制端的高低電位的選擇可以連通不同線路，可以設置為當電位控制端連接到高電位時，選通局部板卡測試接口 Iio ;當電位控制端連接到低電位時，選通整機測試接口 120。當然，本領域內(nèi)技術(shù)人員容易理解，也可以設置為當電位控制端連接到低電位時，選通局部板卡測試接口 110 ;當電位控制端連接到高電位時，選通整機測試接口 120。本實施例中以前者為例進行說明。多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位控制端可以設置為同時連接到高電位或同時連接到低電位。本實施例中，當多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位控制端為高電位時,選通局部板卡測試接口 110，此時局部板卡測試接口 110通過多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140分別輸入和輸出。本實施例中，當多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位控制端為低電位時，選通整機測試接口 120。此時整機測試接口 120通過多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140分別輸入和輸出。本實施例中，通過對多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的控制，從局部板卡測試接口 Iio輸入的測試信號和從整機測試接口 120輸入的測試信號每次只能有一種測試信號輸入待測器件200，因而避免了同時輸入局部板卡測試信號和整機測試信號。本實施例中，控制多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的方式是使多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位選擇端輸入高電平或低電平。使多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位選擇端輸入高電平或低電平可以采用多種方式實現(xiàn)。在本實施例中，如圖3所示，局部板卡測試接口 110除了包括局部板卡測試數(shù)據(jù)輸入線接口(TDI_B0ARD)、局部板卡測試時鐘輸入接口(TCK_B0ARD)、局部板卡測試模式選擇輸入接口(TMS_B0ARD)以及局部板卡測試數(shù)據(jù)輸出線接口(TD0_B0ARD)之外，還包括高電位接口(VDD2)和電位選擇接口(SEL)。高電位接口(VDD2)與局部板卡測試接口 110中的電源接口(VDDl)同時連接供電電源(VDD)。電位選擇接口(SEL)連接至多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位控制端(SEL)，并且同時也通過電阻R接地。JTAG測試鏈路100還包括JTAG測試插頭300，JTAG測試插頭300與局部板卡測試接口 110對應具有測試端子，其中與局部板卡測試數(shù)據(jù)輸入線接口(TDI_B0ARD)、局部板卡測試時鐘輸入接口(TCK_B0ARD)、局部板卡測試模式選擇輸入接口(TMS_B0ARD)、局部板卡測試數(shù)據(jù)輸出線接口(TD0_B0ARD)、接地接口(GND)以及電源接口(VDDl)對應的測試端子均通過線纜400連接至外部的測試信號接口。而與高電位接口(VDD2)和電位選擇接口(SEL)對應的兩個測試端子短接。本文中，描述為“對應”的端子是指當JTAG測試插頭接入局部板卡測試接口中時與局部板卡測試接口中某個接口電接觸的端子。因此，當JTAG測試插頭300未接入局部板卡測試接口 110時，多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位控制端(SEL)通過電阻R接地，為低電位，因此多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140選通了整機測試接口 120。此時整機測試接口 120可以通過多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140分別輸入和輸出。而當JTAG測試插頭300接入局部板卡測試接口 110時，電位選擇接口(SEL)與JTAG測試插頭300中與該電位選擇接口(SEL)對應的端子電連接，由于JTAG測試插頭300中與高電位接口(VDD2)和該電位選擇接口(SEL)對應的兩個測試端子短接，此時電位選擇接口(SEL)通過短接的兩個測試端子連接到高電位接口(VDD2)上的供電電源VDD，從而多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位控制端(SEL)為高電位，選通局部板卡測試接口 110。此時整機測試接口 120不能通過多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140分別輸入和輸出。而局部板卡測試接口 110則通過多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140分別輸入和輸出。在上述實施例的基礎上，局部板卡測試接口 110還可以包括局部板卡測試復位輸入線接口(TRST_B0ARD)，整機測試接口 120還可以包括整機測試復位輸入線接口(TRST_SYSTEM)，局部板卡測試復位輸入線接口(TRST_B0ARD)和整機測試復位輸入線接口(TRST_SYSTEM)分別連接至多路輸入選擇開關130的高電位端和低電位端。此外，還可以增加更多的測試信號種類以豐富測試功能。如前文所述，也可以設置為當電位控制端連接到低電位時，選通局部板卡測試接口 110 ;當電位控制端連接到高電位時，選通整機測試接口 120。例如，在其他實施例中，也可以將局部板卡的測試接口 110與多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的相應的低電位端連接。同時將整機測試接口 120與多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的相應的高電位端連接。電位選擇接口(SEL)通過反相器連接至多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位控制端(SEL)，并且在該反相器與該電位選擇接口之間通過電阻R接地。這樣，當JTAG測試插頭300未接入局部板卡測試接口 110時，電位控制端通過反相器接地，因此電位控制端為高電位，此時多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140選通了整機測試接口 120 ;當JTAG測試插頭300接入局部板卡測試接口 110時，電位選擇接口(SEL)與JTAG測試插頭300中與該電位選擇接口(SEL)對應的端子電連接，由于JTAG測試插頭300中與高電位接口(VDD2)和該電位選擇接口(SEL)對應的兩個測試端子短接，因此電位選擇接口(SEL)通過短接的兩個測試端子連接到高電位接口(VDD2)上的供電電源VDD，由于該電位選擇接口(SEL)通過反相器連接到多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位控制端，因此此時該電位控制端(SEL)為低電位，選通局部板卡測試接口 110。在另一實施例中，也可以將局部板卡測試接口 110與多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的相應的低電位端連接。同時將整機測試接口 120與多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的相應的高電位端連接。局部板卡測試接口 110中包括接地接口和電位選擇接口。其中接地接口接地，電位選擇接口連接到多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位控制端，并且同時也通過電阻R連接到供電電源VDD。并且，在JTAG測試插頭300中，對應于接地接口和電位選擇接口的端子短接。這樣，當JTAG測試插頭300未接入到局部板卡測試接口 110時，多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位控制端通過電阻R連接到供電電源VDD，為高電位，此時選通整機測試接口120 ;當JTAG測試插頭300接入到局部板卡測試接口 110時，多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位控制端通過JTAG測試插頭300上短接的對應于接地接口和電位選擇接口的端子連接到地，因此此時多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位控制端為低電位，選通局部板卡測試接口 110。在另一實施例中，也可以將局部板卡測試接口 110與多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的相應的高電位端連接。同時將整機測試接口 120與多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的相應的低電位端連接。局部板卡測試接口 110中包括接地接口和電位選擇接口。其中接地接口接地，電位選擇接口通過反相器連接到多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位控制端，并且在電位選擇接口與反相器之間通過電阻R連接到供電電源VDD。并且，在JTAG測試插頭300中，對應于接地接口和電位選擇接口的端子短接。這樣，當JTAG測試插頭300未接入到局部板卡測試接口 110時，多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位控制端通過反相器和電阻R連接到供電電源VDD，因此此時該電位控制端為低電位，此時選通整機測試接口 120 ;當JTAG測試插頭300接入到局部板卡測試接口 110時，多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位控制端通過反相器和JTAG測試插頭300上短接的對應于接地接口和電位選擇接口的端子連接到地，因此此時多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位控制端為高電位,選通局部板卡測試接口 110。在此基礎上，局部板卡測試接口 110還可以包括局部板卡測試復位輸入線接口(TRST_B0ARD)，整機測試接口 120還可以包括整機測試復位輸入線接口(TRST_SYSTEM)，局部板卡測試復位輸入線接口(TRST_B0ARD)和整機測試復位輸入線接口(TRST_SYSTEM)分別連接至多路輸入選擇開關130的低電位端和高電位端。此外，還可以增加更多的測試信號種類以豐富測試功能。在另一個實施例中，如圖4所示，局部板卡測試接口 710除了包括局部板卡測試數(shù)據(jù)輸入線接口(TDI_B0ARD)、局部板卡測試時鐘輸入接口(TCK_B0ARD)、局部板卡測試模式選擇輸入接口(TMS_B0ARD)以及局部板卡測試數(shù)據(jù)輸出線接口(TD0_B0ARD)之外，還包括電位選擇接口(SEL)。其中局部板卡測試數(shù)據(jù)輸入線接口(TDI_B0ARD)、局部板卡測試時鐘輸入接口(TCK_B0ARD)、局部板卡測試模式選擇輸入接口(TMS_B0ARD)以及局部板卡測試數(shù)據(jù)輸出線接口(TD0_B0ARD)的連接方式與上述實施例相同。JTAG測試插頭810與局部板卡測試接口 710連接，JTAG測試插頭810與局部板卡測試接口 710對應具有測試端子，測試端子通過信號線纜820連接至另一 JTAG測試插頭830。在該JTAG測試插頭830中，可以將電位選擇接口(SEL)引出連接到高電位或低電位，這樣，當JTAG測試插頭810接入局部板卡測試接口 710中時，即可使多路輸入選擇開關130和多路輸出選擇開關140的電位控制端連接到高電位或低電位，從而選通該局部板卡測試接口 710。這樣，可在另一端控制多路開關的電位，方便操作。前述實施例中，描述了幾種將局部板卡測試接口 110的電位選擇接口(SEL)連接到高電位或低電位的方法，應該理解，還可以用其它的方式使電位選擇接口(SEL)為高電位或低電位，例如直接連接到電源或連接到具有高電位的電路位置、或者接地或連接到具有低電位的電路位置等等，在此不再一一贅述。本發(fā)明另外的實施例中，可將上述的JTAG測試鏈路應用到超聲診斷儀中，以保證測試的安全性和提高測試效率。本發(fā)明實施例中，在局部板卡測試接口上面設有連接到多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端的電位選擇接口，且在JTAG測試插頭上設有與該電位選擇接口對應的測試端子，該與電位選擇接口對應的測試端子連接到高電位或低電位，因此當JTAG測試插頭插入局部板卡測試接口時，該JTAG測試插頭的與電位選擇接口對應的測試端子與該電位選擇接口電接觸，從而將該電位選擇接口連接到高電位或低電位，這樣，使多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端自動連接到高電位或低電位，從而自動選通局部板卡測試接口，避免了人工開關選擇電位選擇接口的高電位或低電位的步驟，方便操作。以上所述實施例僅表達了本發(fā)明的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對本發(fā)明專利范圍的限制。應當指出的是，對于本領域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本發(fā)明的保護范圍。因此，本發(fā)明專利的保護范圍應以所附權(quán)利要求為準。
權(quán)利要求
1.一種JTAG測試鏈路，包括局部板卡測試接口和整機測試接口，其特征在于，還包括多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關； 所述局部板卡測試接口中的局部板卡測試數(shù)據(jù)輸入線接口、局部板卡測試時鐘輸入接口以及局部板卡測試模式選擇輸入接口連接至多路輸入選擇開關中的高電位端；所述局部板卡測試接口中的局部板卡測試數(shù)據(jù)輸出線接口連接至多路輸出選擇開關中的高電位端; 所述整機測試接口中的整機測試數(shù)據(jù)輸入線接口、整機測試時鐘輸入接口以及整機測試模式選擇輸入接口連接至多路輸入選擇開關中的低電位端；所述整機測試接口中的整機測試數(shù)據(jù)輸出線接口連接至多路輸出選擇開關中的低電位端； 所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關包括電位控制端，當所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端為高電位時，所述局部板卡測試接口通過多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關分別輸入和輸出；當所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端為低電位時，所述整機測試接口通過多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關分別輸入和輸出。
2.按權(quán)利要求1所述的JTAG測試鏈路，其特征在于，所述局部板卡測試接口還包括電位選擇接口，所述電位選擇接口連接至所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端； 所述JTAG測試鏈路還包括JTAG測試插頭，所述JTAG測試插頭具有與所述局部板卡測試接口對應的測試端子，其中與所述電位選擇接口對應的測試端子連接到高電位。
3.按權(quán)利要求2所述的JTAG測試鏈路，其特征在于，所述局部板卡測試接口還包括高電位接口，所述高電位接口連接到 供電電源，所述電位選擇接口連接至所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端，并且通過電阻接地； 所述JTAG測試插頭具有與所述局部板卡測試接口對應的測試端子，其中與所述高電位接口對應的測試端子和與所述電位選擇接口對應的測試端子短接。
4.按權(quán)利要求2所述的JTAG測試鏈路，其特征在于，所述局部板卡測試接口還包括接地接口，所述接地接口連接到地，所述電位選擇接口通過反相器連接到所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端，并且在所述反相器和所述電位選擇接口之間通過電阻連接到供電電源； 所述JTAG測試插頭具有與所述局部板卡測試接口對應的測試端子，其中與所述接地接口對應的測試端子和與所述電位選擇接口對應的測試端子短接。
5.一種JTAG測試鏈路，包括局部板卡測試接口和整機測試接口，其特征在于，還包括多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關； 所述局部板卡測試接口中的局部板卡測試數(shù)據(jù)輸入線接口、局部板卡測試時鐘輸入接口以及局部板卡測試模式選擇輸入接口連接至多路輸入選擇開關中的低電位端；所述局部板卡測試接口中的局部板卡測試數(shù)據(jù)輸出線接口連接至多路輸出選擇開關中的低電位端; 所述整機測試接口中的整機測試數(shù)據(jù)輸入線接口、整機測試時鐘輸入接口以及整機測試模式選擇輸入接口連接至多路輸入選擇開關中的高電位端；所述整機測試接口中的整機測試數(shù)據(jù)輸出線接口連接至多路輸出選擇開關中的高電位端；所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關包括電位控制端，當所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端為低電位時，所述局部板卡測試接口通過多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關分別輸入和輸出；當所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端為高電位時，所述整機測試接口通過多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關分別輸入和輸出。
6.按權(quán)利要求5所述的JTAG測試鏈路，其特征在于，所述局部板卡測試接口還包括電位選擇接口，所述電位選擇接口連接至所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端； 所述JTAG測試鏈路還包括JTAG測試插頭，所述JTAG測試插頭具有與所述局部板卡測試接口對應的測試端子，其中與所述電位選擇接口對應的測試端子連接到低電位。
7.按權(quán)利要求6所述的JTAG測試鏈路，其特征在于，所述局部板卡測試接口還包括高電位接口，所述高電位接口連接到供電電源，所述電位選擇接口通過反相器連接至所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端，并且在所述反相器與所述電位選擇接口之間通過電阻接地； 所述JTAG測試插頭具有與所述局部板卡測試接口對應的測試端子，其中與所述高電位接口對應的測試端子和與所述電位選擇接口對應的測試端子短接。
8.按權(quán)利要求5所述的JTAG測試鏈路，其特征在于，所述局部板卡測試接口還包括局部板卡測試復位輸入線接口，所述整機測試接口還包括整機測試復位輸入線接口，所述局部板卡測試復位輸入線接口和整機測試復位輸入線接口分別連接至所述多路輸入選擇開關的低電位端和高電位端。
9.按權(quán)利要求6所述的JTAG測試鏈路，其特征在于，所述局部板卡測試接口還包括接地接口，所述接地接口連接到地，所述電位選擇接口連接至所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關的電位控制端，并且通過電阻連接到供電電源； 所述JTAG測試插頭具有與所述局部板卡測試接口對應的測試端子，其中與所述接地接口對應的測試端子和與所述電位選擇接口對應的測試端子短接。
10.一種超聲診斷儀，其特征在于:包括如權(quán)利要求1 9任一項所述的JTAG測試鏈路。
全文摘要
本發(fā)明公開一種JTAG測試鏈路，包括局部板卡測試接口和整機測試接口，其特征在于，還包括多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關；所述局部板卡測試接口中信號輸入接口連接至多路輸入選擇開關中的高電位端；所述局部板卡測試接口中的信號輸出接口連接至多路輸出選擇開關中的高電位端；所述整機測試接口中信號輸入接口連接至多路輸入選擇開關中的低電位端；所述整機測試接口中的信號輸出接口連接至多路輸出選擇開關中的低電位端。所述多路輸入選擇開關和多路輸出選擇開關同時選擇高電位端或同時選擇低電位端。上述JTAG測試鏈路能夠避免同時接入局部板卡測試信號和整機測試信號。
文檔編號G01R31/3185GK103091626SQ20111034601
公開日2013年5月8日 申請日期2011年11月4日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月4日
發(fā)明者程東彪, 陳筱勇, 李鑫 申請人:深圳邁瑞生物醫(yī)療電子股份有限公司